USB 3.0規格のFAQ(3) ―― SuperSpeed USBのテストはどのように行うか? 畑山 仁 Q.認証テストでは何を測定するのか? A.トランスミッタはアイの高さとジッタを測定し,レシーバはジッタ耐性テストを行う. データ・レートの高速化に伴い,ジッタの問題がクリティカルになってきています.高速シリアル・インターフェースのジッタは,クロック・リカバリ回路で再生されたクロックと実際のデータ・エッジの間のずれ(TIE:Time Interval Error)によって評価されます(図1).TIEを計測するためには再生されたクロックが必要ですが,クロック・リカバリ回路により再生されたクロックは,チップ内部でしか得られません.そのため,認証テストの測定の際には,1M-UI(ユニット・インターバル)のデータをオシロスコープに取り込み,ソフトウェアでクロック・リカバリの機能をエミュレートす