産業技術総合研究所(産総研) フレキシブルエレクトロニクス研究センター フレキシブル有機半導体チーム 松井弘之 研究員、同センター 長谷川達生 副研究センター長らの研究グループは2月15日、住化分析センターなどと共同で、多結晶性有機トランジスタのキャリア(電子や正孔)の動きを評価・解析する新たな手法を開発したことを発表した。 同手法は、有機トランジスタ内を流れるキャリアが持つ電子スピンを利用して、多数の微結晶からなる有機半導体層内の、微結晶内部と微結晶粒界のキャリア輸送を分離して評価する(図1)。これにより、有機トランジスタの性能向上や信頼性向上の指標が得られ、フレキシブルデバイスの研究開発が大きく加速されると期待される。 有機トランジスタの核となる有機半導体層は、通常、数十nmから数μmの広がりを持つ微小な結晶の集まり(多結晶)で構成されている。半導体層内では、キャリアは微結晶内部の伝導