3番地コードの英語

テストモードを有する半導体装置であって、所定番地にテストモード制御コードを記憶する不揮発性メモリ１と、テストモード禁止／許可を示す固定値を発生する発生部３と、前記制御コードと前記固定値とのハミング距離が所定数以下であるか否かに応じて前記テストモードへの移行を制御するハミング距離判定回路４とを備える。例文帳に追加

The semiconductor device having a test mode comprises a non-volatile memory 1 for storing a test mode control code at a specific address, a generator 3 for generating a fixed value indicating test mode prohibition/permission, and a hamming distance judging circuit 4 for controlling shift to the test mode according to whether the hamming distance between the control code and the fixed value is lower than a specific value or not. - 特許庁