統合テストの英語

次いで該設計方法論は、統合化された設計をテストダイ及び製品ダイへと分割する(104)。例文帳に追加

The design methodology then partitions the unified design into the test die and the product die (104). - 特許庁

本発明は、混合信号処理回路をテストインターフェースに統合する試験機を提供する。例文帳に追加

To provide a testing device which integrates a mixed signal processing circuit with a test interface. - 特許庁

開発者成果物統合手段１４は、単体テストが終了して統合可能である開発者別成果物を開発者別成果物格納手段１１から取り出し、統合済成果物格納手段１６に格納する。例文帳に追加

A developer result integrating means 14 fetches from the developer result storage means 11 each developer's results that can be integrated after completion of the single test, and stores the results in an integrated result storage means 16. - 特許庁

統合受信システム１は、テストモード（故障診断モード）のときテストデータ送信部２５からテストデータＳ８が出力され、送信アンテナ１５からこのテストデータＳ８が送信される。例文帳に追加

In an integral reception system 1, test data S8 are outputted from a test data transmitter 25 in a test mode (fault diagnosis mode) for transmitting the test data S8 from a transmission antenna 15. - 特許庁

混合信号処理回路をテストインターフェースに統合し、特に混合信号処理回路をプローブカードまたは被試験素子カードのテストインターフェースに統合し、かつ混合信号処理回路と試験機のピン電気チャンネルを統合し、混合信号処理回路の動作プロセスを試験機のシステムソフトウェアに統合する。例文帳に追加

The mixed signal processing circuit is integrated with the test interface, especially the mixed signal processing circuit is integrated with the test interface of a probe card or a device under test, moreover the mixed signal processing circuit is integrated with the pin electric channel of the testing device, and the motion process of the mixed signal process circuit is integrated with the system software of the test device. - 特許庁

該テストダイは、テスト回路及び製品回路を統合化された設計に同時に設計するステップを含むテストダイ及び製品ダイに関する設計方法論に従って設計可能である。例文帳に追加

The test die can be designed according to a design methodology for a test die and a product die that includes a step of concurrently designing test circuitry and product circuitry in a unified design. - 特許庁

入力信号を解析する入力解析テストベンチと出力信号を解析する出力解析テストベンチを、以上２つを関連付けし統合する入出力解析テストベンチを設ける。例文帳に追加

An input/output analysis test bench is provided which associates and integrates an input analysis test bench for analyzing the input signals and an output analysis test bench for analyzing the output signals. - 特許庁

該テストダイは、テスト回路(202A,402,404)及び製品回路を統合化された設計(102)に同時に設計するステップを含むテストダイ及び製品ダイに関する設計方法論(100)に従って設計可能である。例文帳に追加

The test die may be designed, in accordance with a design methodology (100) for a test die and a product die that includes the step of concurrently designing test circuitry (202A, 402, 404) and product circuitry in a unified design (102). - 特許庁