荷電交換の英語

試料を有するカートリッジを受け取るように備えられたその場試料ホルダを用いた試料の交換、及び全体が取り外されるホルダを用いた試料の交換に適した荷電粒子光学系のより簡便な構成を提案する。例文帳に追加

To provide a simple structure for a charged-particle optical system which is suitable for exchange of specimens, using a specimen holder prepared to receive a cartridge having a specimen and exchange of specimens, using a holder removed as a whole. - 特許庁

分散媒と、色材を少なくとも含む荷電粒子と、荷電調整剤とを含有する静電インクジェット用インク組成物であって、前記荷電調整剤が金属塩を含むとともに、前記荷電粒子が、前記金属塩と錯体を形成するイオン交換部位を有することを特徴とする静電インクジェット用インク組成物。例文帳に追加

This ink composition for the electrostatic inkjet, containing a dispersing medium, electrically charged particles containing at least a coloring material and an electric charge-adjusting agent is characterized in that the charge-adjusting agent contains a metal salt and the charged particles contain ion exchanging sites capable of forming a complex with the metal salt. - 特許庁

荷電粒子光学系の汚染によって分析対象の正常な検出、測定ができないという問題を生じても、荷電粒子光学系の真空を破って解体、洗浄、部品交換などを行なうことなく、誰でも簡単に荷電粒子光学系のクリーニングを行ない、性能の回復を図れるような荷電粒子線装置のイオン源を提供する。例文帳に追加

To provide an ion source for a charged-particle beam device capable of cleaning a charged particle optical system easily by any person to restore performance, without breaking vacuum in the charged particle optical system to conduct disassembling, cleaning, and component replacement, even when a problem that normal detection and measurement for an analytical object get impossible is generated caused by contamination in the charged particle optical system. - 特許庁

荷電粒子線装置で試料において、試料表面の観察や加工部位に妨げとなる付着物等のゴミや異物を除去することを目的としており、荷電粒子線装置の試料交換装置に除去機能を有することで試料の観察，加工時直前に実施でき付着物を着実に除去できる。例文帳に追加

To provide a charged particle beam device capable of removing extraneous matter like dust or foreign substances obstructing observation of a sample surface or a processing position in a sample just before the observation and processing of the sample, by providing a sample exchanging device of the charged particle beam device with a removing function. - 特許庁

透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）等の荷電粒子線装置において、試料室の上下（電子線の入射側及び出射側）に設置される絞り（オリフィス）の口径変更、交換、着脱が容易に行えるようにする。例文帳に追加

To facilitate a diameter change, an exchange, and mounting and dismounting of an orifice arranged above and below a sample chamber (an incident side and an emitting side of an electron beam) in a charged particle beam device such as a transmission electron microscope (TEM). - 特許庁

外気に開放された常圧雰囲気に配置された試料に、電子線等の荷電粒子線を照射して試料検査を行うことにより、試料検査における試料交換を迅速に行う。例文帳に追加

To carry out exchange of a test piece promptly at the exchange of the test piece, by performing inspection of the test piece by irradiating charged particle beams such as electron beams on the test piece arranged in a normal pressure atmosphere opened to the outside air. - 特許庁

電磁的に絞り開口の選択を行う場合であっても絞りの交換を可能とし、また、差動排気の絞りが存在していても、電磁的な絞り開口の選択が可能な荷電粒子ビーム装置を実現する。例文帳に追加

To provide a charged particle beam device allowing exchange of irises even when electromagnetically selecting a diaphragm aperture and electromagnetical selection of the iris aperture even if a diaphragm for differential exhaust throttle exists. - 特許庁

荷電粒子線装置の試料交換装置９内にノズル状構造物１２を設けた荷電粒子線装置で、前記ノズル状構造物１２内部に窒素等の高圧ガス１５を注入し、その先端にあるガス噴出口１４から試料８表面上に向けて噴出し、ゴミや異物等を弾き飛ばして除去する方法。例文帳に追加

In the charged particle beam device having a nozzle-shaped structure 12 in the sample exchange device 9 thereof, a high pressure gas 15 of nitrogen or the like is injected into the nozzle-shaped structure 12 and blown out from a gas jetting port 14 disposed at its tip part toward the surface of a sample 8, and the dust and foreign substances are blow off and removed. - 特許庁