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顕微鏡写真法の英語
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英訳・英語 photomicrography
「顕微鏡写真法」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 14件
顕微鏡写真装置および顕微鏡写真装置制御方法例文帳に追加
MICROPHOTOGRAPHIC DEVICE AND CONTROL METHOD THEREFOR - 特許庁
顕微鏡写真装置および顕微鏡写真装置制御方法例文帳に追加
MICROSCOPIC PHOTOGRAPHING DEVICE AND MICROSCOPIC PHOTOGRAPHING DEVICE CONTROL METHOD - 特許庁
光学顕微鏡写真の色むら除去方法例文帳に追加
METHOD FOR ELIMINATING COLOR UNEVENNESS OF OPTICAL MICROSCOPE PHOTOGRAPH - 特許庁
カード型顕微鏡とそのピント調整法及び写真用の補助器具例文帳に追加
CARD TYPE MICROSCOPE, ITS FOCUSING METHOD AND AUXILIARY TOOL FOR PHOTOGRAPH - 特許庁
光学顕微鏡写真に発生する種々の色むらを除去し、高度な画像解析を可能とする光学顕微鏡写真の色むら除去方法を提供する。例文帳に追加
To provide a method for eliminating color unevenness of an optical microscope photograph enabling high image analysis by removing the various color unevenness caused on the optical microscope photograph. - 特許庁
写真撮影位置にかかわらず、最適な領域で電子ビームの焦点合わせ等の調整動作を行うことができる透過型電子顕微鏡における電子ビーム調整方法を実現する。例文帳に追加
To realize a control method of an electron beam in a transmission type electron microscope which enables such a control that an electron beam can be focused in the optimal range irrespective of a photographing position. - 特許庁
複数の撮影範囲に対して多点タイムラプス撮影を行なう際、撮影間隔時間等に制限される事なく、各々の被検物の撮影を行なえる顕微鏡写真装置および制御方法を提供すること。例文帳に追加
To provide a microphotographic device capable of photographing each test object without restrictions of photographing intervals, etc. when implementing a multipoint time-lapse photography for a plurality of photographing ranges, and a control method thereof. - 特許庁
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「顕微鏡写真法」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 14件
複数の撮影範囲に対して多点タイムラプス撮影を行なう際、撮影間隔時間等に制限される事なく、各々の被検物の撮影を行なえる顕微鏡写真装置および制御方法を提供すること。例文帳に追加
To provide a microscopic photographing device which is capable of photographing each of specimens without restrictions of a photographic interval time in the case of multipoint time lapse photography for a plurality of photographic ranges, and to provide a control method thereof. - 特許庁
顕微鏡による観察像の撮像に適用される撮像装置において、前記顕微鏡(1)側の少なくとも対物レンズ(27)と写真接眼レンズ(35a)の投影倍率に係る光学系の組み合わせ、及び検鏡方法の少なくとも1つの状態に応じて、前記撮像装置で撮像された画像の合焦情報を表示する。例文帳に追加
The imaging device applied to imaging of the observed image by the microscope displays the focusing information of the image formed by the imaging device according to at least one state of the combinations of optical systems relating to at least objective lens (27) and photographic eyepiece (35a) on the microscope (1) side and a speculum method. - 特許庁
原子間力顕微鏡を用いたフォースカーブ法によって測定される、近距離反発力領域の厚さが、10nm以上であるハロゲン化銀粒子を粒子個数比率で50%以上含有することを特徴とするハロゲン化銀写真乳剤である。例文帳に追加
The silver halide photographic emulsion contains ≥50% by number of silver halide grains each having ≥10 nm thickness of a short-range repulsion region measured by a force curve method using an atomic force microscope. - 特許庁
特に、粒子表面に希土類元素(Sc、Yも希土類元素として扱う)を有するものが挙げられ、透過型電子顕微鏡写真より計測される平均長軸長が10〜200nm、BET法による比表面積が30〜200m^2/gであるものが好適な対象となる。例文帳に追加
Particularly, a preferable example is the powder having rare earth elements (Sc, Y can be treated as rare earth elements)on the particle surfaces, such as having an average long axis length of 10-200 nm when measured in the image photographed by using transmission electron microscope and a specific surface area of 30-200 m^2/g by the BET method. - 特許庁
(a)写真は,通常は適正な図面とはみなされない。写真は,出願日を取得する目的では受理されるが,一般に非公式の図面とみなされる。写真は,次項に記載する特別な範疇に該当する場合にのみ受理される。写真現像用の原版は,絶対に受理されない。 (b)庁は,墨による図面では正確に又は十分に描写することができない発明を例示するために,墨による図面の代わりに,感光紙に焼き付けた白黒の写真,又は(写真平版又はその他スクリーン印刷による写真の複製でない)顕微鏡写真を受理することが可能であるが,次の範疇のものに限定する。結晶構造,金属組織,織物地等,粒状構造及び装飾効果。写真又は顕微鏡写真は,墨による図面よりも発明を明瞭に示さなければならず,また,当該図面に関する規則に従うものとする。 (c)当該写真が受理されるためには,写真業界で一般に認められている次の特性を有する印画紙,すなわち表面が滑らかで,白無地の印画紙に焼き付けた写真,又は適切な寸法のブリストル紙を台紙にした写真でなければならない。例文帳に追加
(a) Photographs are not normally considered to be proper drawings. Photographs are acceptable for obtaining a filing date and generally considered to be informal drawings. Photographs are only acceptable where they come within the special categories as set forth in the paragraph below. Photolitographs of photographs are never acceptable. (b) The Office is willing to accept black and white photographs or photomicrographs (not photolitographs or other reproduction of photographs made by using screens) printed on sensitized paper in lieu of India ink drawings, to illustrate the inventions which are incapable of being accurately or adequately depicted by India ink drawings restricted to the following categories: crystalline structures, metallurgical microstructures, textile fabrics, grain structures and ornamental effects. The photographs or photomicrographs must show the invention more clearly than they can be done by the India ink drawings and otherwise comply with the rules concerning such drawings. (c) Such photographs to be acceptable must be made on photographic paper having the following characteristics which are generally recognized in the photographic trade: paper with a surface described as smooth, tint, white, or be photographs mounted on a proper sized Bristol board. - 特許庁
導電性支持体上に、少なくとも中間層、電荷発生層、電荷輸送層が順次積層されて成る電子写真用感光体の製造方法において、前記中間層が熱可塑性樹脂を含有し、且つ、原子間力顕微鏡による形態観察をして得られた微視的な十点平均粗さが3.2nm以下であることを特徴とする。例文帳に追加
In a method for manufacturing the electrophotographic photoreceptor obtained by sequentially stacking at least an intermediate layer, a charge generating layer and a charge transport layer on a conductive support, the intermediate layer contains a thermoplastic resin and a microscopic ten-point average roughness obtained by shape observation through an atomic force microscope is ≤3.2 μm. - 特許庁
(a):前記シリカ粒子の形状係数SF1が1.00〜1.20であること(b):前記シリカ粒子の窒素吸着法により求められる平均一次粒子径が5〜100nmであって、且つ透過型電子顕微鏡写真の画像解析から求められる粒子径変動係数CV値が0〜15%であること(c):前記ポリエチレングリコールは、数平均分子量が200〜15000であること例文帳に追加
(b) an average primary particle size of the silica particles measured by a nitrogen adsorption method is 5-100 nm and a coefficient of variation CV value of a particle size of the silica particles measured by an image analysis of a photograph obtained by using a transmission electron microscope is 0-15%; and (c) the polyethylene glycol has a number-average molecular weight of 200-15,000. - 特許庁
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