Atom probeとは 意味・読み方・使い方

ATOM PROBE DEVICE AND SAMPLE PRE-PROCESSING METHOD THEREOF例文帳に追加

アトムプローブ装置及びその試料予備加工方法 - 特許庁

To provide a laser atom probe system and a method for analyzing a specimen by laser atom probe tomography.例文帳に追加

優れたレーザーアトムプローブシステム、およびレーザーアトムプローブトモグラフィによって試料を分析するための方法を提供する。 - 特許庁

The atom position fixing device detects a change amount of a frequency of the probe 10 based on an inter-atomic force acting between the probe 10 and the atom 50 by vibrating the probe 10 or the atom 50 on the surface of the specimen in two directions parallel to the surface of the specimen.例文帳に追加

探針１０又は試料表面の原子５０を試料表面と平行な２方向に振動させ、探針１０と原子５０との間に作用する原子間力に基づく探針１０の周波数の変化量を検出する。 - 特許庁

When the atom (40) of the tip end of a probe is made access to the atom (50) of the surface of a sample, an interaction acting between the tip end atom and the surface atom becomes large and a physical quantity Q based on the interaction is gradually changed (area A).例文帳に追加

作用針の先端原子（４０）を試料の表面原子（５０）に近づけると、先端原子と表面原子との間に作用する相互作用が大きくなり、相互作用に基づく物理量Ｑが徐々に変化する（領域Ａ）。 - 特許庁

Alternatively, the change amount of the frequency of the probe 10 based on the atomic force acting between the probe 10 and the atom 50 is detected by rotating the probe 10 or the atom 50 on the surface of the specimen on the plane parallel to the surface of the specimen.例文帳に追加

または、探針１０又は試料表面の原子５０を試料表面と平行な平面で回転させ、探針１０と原子５０との間に作用する原子間力に基づく探針１０の周波数の変化量を検出する。 - 特許庁

A probe 10 or an atom 50 on a surface of a sample is vibrated in two directions parallel to the surface of the sample, and a frequency variation amount of the probe 10 based on interatomic force acting between the probe 10 and the atom 50 is detected.例文帳に追加

探針１０又は試料表面の原子５０を試料表面と平行な２方向に振動させ、探針１０と原子５０との間に作用する原子間力に基づく探針１０の周波数の変化量を検出する。 - 特許庁

Alternatively, the probe 10 or the atom 50 on the surface of the sample is rotated on a plane parallel to the surface of the sample, and the frequency variation amount of the probe 10 based on the interatomic force acting between the probe 10 and the atom 50 is detected.例文帳に追加

または、探針１０又は試料表面の原子５０を試料表面と平行な平面で回転させ、探針１０と原子５０との間に作用する原子間力に基づく探針１０の周波数の変化量を検出する。 - 特許庁

To provide an atom probe electric field ion microscope having such a function as an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡などの機能を備えたアトムプローブ電界イオン顕微鏡を提供すること。 - 特許庁