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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 百科事典 > Generation X (film)の意味・解説 

Generation X (film)とは 意味・読み方・使い方

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ウィキペディア英語版での「Generation X (film)」の意味

Generation X (film)

出典:『Wikipedia』 (2011/06/06 00:30 UTC 版)

英語による解説
ウィキペディア英語版からの引用

「Generation X (film)」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 13



例文

To provide a titanium silicide sputtering target for obtaining a TiSi_x film having reduced generation of particles.例文帳に追加

パーティクル発生の少ないTiSi_x膜を得るためのチタンシリサイドスパッタリングターゲットを提供すること。 - 特許庁

Therefore, the solution sample S is condensed on the carbon vapor deposition film 3, resulting in excellent generation of the fluorescent X-rays as the secondary X-rays.例文帳に追加

したがって溶液試料Sはカーボン蒸着膜3に凝縮し2次X線である蛍光X線の発生が良好となる。 - 特許庁

Since the generation position of the plasma 3 is positioned at the focus of a multi-layer film rotation parabolic mirror 4, the soft X-ray is reflected by the multi-layer film rotation parabolic mirror 4 to become an X-ray parallel light flux 5, which is emitted to the outside.例文帳に追加

プラズマ3の発生位置は、多層膜回転放物面鏡4の焦点に位置しているので、この軟X線は、多層膜回転放物面鏡4によって反射されてX線平行光束5となり外部に放射される。 - 特許庁

By the titanium silicide target for thin film deposition having a target composition expressed by TiSi_x (wherein, x=2.0 to 2.7), having a W content of <50 ppm, and also comprising no precipitates of W compounds, a TiSi_x film having reduced generation of particles is obtained by sputtering.例文帳に追加

薄膜形成用チタンシリサイドターゲットにおいて、ターゲット組成がTiSi_x(ここでx=2.0〜2.7)と表され、ターゲット中のW含有量が50ppm未満であり、かつW化合物の析出物を含まないことを特徴とするチタンシリサイドターゲットによって、パーティクル発生の少ないTiSi_x膜をスパッタリングによって得る。 - 特許庁

The cell window 25a comprises a polyethylene terephthalate film subjected to hydrophilic treatment and has not only the protective film 26a formed of a polyimide mounted to the X-ray generation part 26 but also the protective film 27a formed of polyethylene terephthalate mounted to the X-ray detection part 27.例文帳に追加

セル窓25aは親水処理されたポリエチレンテレフタレート製の膜からなり、X線発生部26に装着される、ポリイミド製の膜からなる保護膜26aを備えるとともに、X線検出部27に装着される、ポリエチレンテレフタレート製の膜からなる保護膜27aを備える。 - 特許庁

To provide a next-generation X-ray imaging device capable of enhancing a diagnosis and treatment efficiency not provided in a conventional film system, excellent in a space factor not found in a CCD system, high in an S/N ratio, and free from generation of moire.例文帳に追加

従来のフィルム方式では得られない診療効率の向上が図れ、CCD方式にはないスペースファクタに優れ、更に、高S/N比がとれ、モアレの発生のない次世代X線撮像装置を提供する。 - 特許庁

例文

To provide an interlayer insulation film of a semiconductor device which has a low dielectric constant, is free from generation of gases, including CF_x and SiF_4, and is stable, and to provide a wiring structure that includes the film.例文帳に追加

低誘電率で且つCF_x、SiF_4等のガスの発生がなく安定な半導体装置の層間絶縁膜とそれを備えた配線構造を提供する。 - 特許庁

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「Generation X (film)」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 13



例文

In addition, an X driver IC 16, etc. and a flexible board 3 as an electronic component and a circuit board are mounted and connected immediately after cleaning, thereby preventing generation of the oxide film 33 in the terminal for the electrode, etc. again after the oxide film 33 is removed by cleaning with the pure water 34.例文帳に追加

また、洗浄後直ちに電子部品や回路基板としてのXドライバIC16等やフレキシブル基板3を実装、接続することとしたので、酸化膜33が純水34の洗浄により除去された後に再び当該電極用端子等に酸化膜33が生じることを防ぐことができる。 - 特許庁

To obtain an EPMA analysis method using Monte Carlo simulation that can accurately analyze thin-film and minute-object samples that are smaller than an X-ray generation region, and can accurately carry out analysis by simulation with a small number of electrons.例文帳に追加

X線発生領域よりも小さい薄膜試料や微小物試料についても正確な分析ができ、少ない電子数のシミュレーションで正確な分析をすることができるモンテカルロシミュレーションを用いたEPMA分析法を提供する。 - 特許庁

To provide a flash memory for the next generation by applying the (Ta_2O_5)_1-x-(Al_2O_3)_x film which has a large dielectric constant and is stable from the viewpoint of stoichiometry to a cell transistor of flash memory and thereby improves electrical characteristic and reliability of the cell transistor.例文帳に追加

誘電定数が大きく且つ化学量論的に安定した(Ta_2O_5)_1-x−(Al_2O_3)_x膜をフラッシュメモリのセルトランジスタに適用してセルトランジスタの電気的特性及び信頼性を向上させ、次世代フラッシュメモリを実現すること。 - 特許庁

To provide a mask case which eliminates the need to use a pellicle film to be stuck on a surface of a mask and prevents the generation of dust, dirt, static electricity and gas in the transportation and storage of the mask, the mask being used for a process of manufacturing a semiconductor circuit of a new generation which is formed using a short wavelength of a soft X-ray range etc. and has high integration.例文帳に追加

軟X線領域等の短波長を使用して形成される、より集積度の高い新世代の半導体回路の製造工程で使用されるマスクの運搬時及び保管時において、マスク表面に貼り付けるペリクル膜の使用を不要にすると共に、塵、埃、静電気、及びガスの発生を防止すること。 - 特許庁

The method for processing a silicon-based insulating film 2 formed on a silicon substrate 1 and having a hole k comprises a step for deforming the hole k by sputter etching using inert gas to which CxHyFz-based reactive gas (x>0, y≥0, z>0) is added, and suppressing generation of a space (Void) in the silicon-based insulating film 2.例文帳に追加

シリコン基板1上に形成された、孔部kを有するシリコン系絶縁膜2の加工方法であって、不活性ガスにCxHyFz系の反応性ガス(x>0,y≧0,z>0)を添加したガスを用いたスパッタエッチングにより孔部kを変形させて、シリコン系絶縁膜2内に空間部(Void)が発生するのを抑制する工程を含む。 - 特許庁

例文

The formation of the dot pattern in the state of stabilizing the energy of a laser beam LB by triggering a laser oscillator 44 to start irradiation earlier than the time for forming the dot pattern and therefore the unnecessary sensitization to an X-ray film 12 by the excess output energy can be prevented and the generation of the dot pattern having the lower visibility by the dot pattern formation by the insufficient energy can be prevented.例文帳に追加

レーザー発振器44をドットパターン形成時期よりも早く照射を開始することで、レーザービームLBのエネルギーを安定させた状態でドットパターンを形成することができるため、過度の出力エネルギーによってXレイフィルム12への不必要な感光が防止でき、不足したエネルギーによるドットパターン形成による視認性の低いドットパターンの発生が防止できる。 - 特許庁

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