Head measurementsとは 意味・読み方・使い方

The user inputs a head rank described in the patch adjacent to the patch inadequately printed among the patches adequately printed without being blurred, from an operation section 11 of a plotter 10 by visually observing the measurements patches.例文帳に追加

ユーザは測定用パッチを目視して、かすれずに正常に印字されているパッチのうち不正常に印字されたパッチの隣にあるパッチに記載されたヘッドランクをプロッタ１０の操作部１１から入力する。 - 特許庁

The head is controlled such that ink droplets are discharged from one dummy nozzle selected and the flying velocity of the discharged ink droplets is measured by the measurements (S11).例文帳に追加

測定（Ｓ１１）では、選択した１のダミーノズルからインク滴が吐出されるようヘッドを制御すると共に、当該吐出されたインク滴の飛翔速度の測定を行う。 - 特許庁

A recording head 1 is imparted with a color adjust ID based on the measurements when the driving pulse is supplied with one half of the maximum suppliable frequency in order to arrange the quantity of ink at the normal working frequency.例文帳に追加

記録ヘッド１には、使用時に常用される常用供給周波数でのインク量を揃えるため、最高供給周波数の１／２で駆動パルスを供給した際の測定結果に基づくカラーアジャストＩＤを付与する。 - 特許庁

Positional information in the moving plane of a wafer stage WST is measured using an encoder system, e. g. an X head 66_1 and Y heads 67_3 and 68_2, and drive control of the wafer stage is performed based on the measurements.例文帳に追加

エンコーダシステム、例えばＸヘッド６６_1及びＹヘッド６７_3，６８_2を用いて、ウエハステージＷＳＴの移動面内の位置情報を計測し、その計測結果に基づいて該ウエハステージを駆動制御する。 - 特許庁

A storing means 15 stores results of measurements using a measuring head 14, and if the measurement result stored in the storing means 15 does not exceed a predetermined specific value, the distance from a processed surface of a work 10 is measured to determine.例文帳に追加

測定ヘッド１４で測定した結果を蓄積手段１５に蓄積し、蓄積手段１５で蓄積した測定結果が予め定められている規定値を越えていない場合に、被加工体１０の加工面までの距離を測定して決定する。 - 特許庁

A plurality of offset measurements are performed for at least one secondary alignment head, so that the offset of the secondary alignment heads with respect to the primary alignment head can be measured, and used as correction data in subsequent wafer measurement calculations.例文帳に追加

複数のオフセット測定が少なくとも１つの副アライメントヘッドのために行われ、それにより副アライメントヘッドの主アライメントヘッドに対するオフセットが測定され、以降のウェーハ測定演算での補正データとして使用される。 - 特許庁

To arbitrarily control relative directions between an axis of a probe and an axis of a carbon nanotube being set at the head of a scanning probe microscope or held by a handling equipment such as carbon nanotube tweezers or the like, in order to improve its durability and precision and stability of measurements.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡先端のカーボンナノチューブや、カーボンナノチューブピンセットなどのハンドリング機器に把持されたカーボンナノチューブについて、プローブの軸とカーボンナノチューブの軸の相対方向を任意に制御し、測定の精度、安定性、耐久性等を向上させる。 - 特許庁

The printer for printing print information on a print sheet at a plurality of imaging sections by reciprocating a print head on the print sheet comprises a print period monitoring section 34 for measuring the print period of the print head, and a control section 31 for preventing a plurality of print heads from moving in the same direction at the same period with reference to the measurements of print period.例文帳に追加

印字ヘッドを印刷用紙上で往復動作させることにより印刷用紙上に印刷情報を印字する画像形成部を複数配置して成る印刷装置であって、印字ヘッドの印字周期を計測する印字周期監視部３４と、印字周期の計測結果を参照して、複数の印字ヘッドが同一周期、同一方向に移動することを防止する制御部３１とを具備する。 - 特許庁