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Scribe Tableとは 意味・読み方・使い方
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「Scribe Table」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 10件
The brittle material substrate and a scribe head are moved relatively on the basis of the recipe data table, and an inner cutting scribe or an outer cutting scribe is carries out in each substrate.例文帳に追加
このレシピデータテーブルに基づいて脆性材料基板とスクライブヘッドとを相対的に移動させ、各基板毎に内切りスクライブ又は外切りスクライブを行う。 - 特許庁
A recipe data table previously set for the class of the inner cut scribing and the outer cut scribing is held for each scribe line.例文帳に追加
スクライブライン毎に内切りスクライブ及び外切りスクライブの種別をあらかじめ設定したレシピデータテーブルを保持しておく。 - 特許庁
Thus, the inner cut scribing or the outer cut scribing is carried out for each scribe line, based on the recipe data table.例文帳に追加
こうすればレシピデータテーブルに基づいてスクライブライン毎に内切りスクライブ又は外切りスクライブを行うことができる。 - 特許庁
In the adjusting method of a wafer carrying mechanism, an annular scribe line is formed on a wafer for test which is carried on a chuck table by means of the wafer carrying mechanism while rotating the chuck table.例文帳に追加
ウエーハ搬送機構の調整方法であって、ウエーハ搬送機構によりチャックテーブル上に搬送された試験用ウエーハにチャックテーブルを回転させながら環状罫書き線を形成する。 - 特許庁
Then the liquid crystal mother glass substrate 120 with scribe lines on both sides is set on a first break device 127, and either one table of the device is turned upside and downside.例文帳に追加
そして両面にスクライブラインが入った液晶マザーガラス基板120を第1のブレイク装置127にセットし、一方のテーブルを上側及び下側に回動させる。 - 特許庁
To simultaneously cut respective scribed grooves without moving a substrate on a work table in cutting the substrate along the scribed grooves by a scribe cutting method.例文帳に追加
基板をスクライブ切断法により複数本のスクライブ溝に沿って切断するにあたって、基板をワークテーブル上で移動させることなく各スクライブ溝を同時に切断できるようにする。 - 特許庁
The semiconductor wafer 1 where many elements 2 are formed is suctionally held on an x-y table 4 and irradiated with very short pulse laser light 7 whose pulse width is ≤1 picosecond along scribe lines between the elements 2 and 2, thereby cutting the wafer.例文帳に追加
多数の素子2を形成した半導体ウェーハ1をx−yテーブル4に吸着保持して、前記各素子2,2間のスクライブラインに沿って、パルス幅が1ピコ秒以下の超短パルスレーザ7を照射して切断する。 - 特許庁
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「Scribe Table」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 10件
The coordinate (X1, Y1) of the center of rotation of the chuck table is indexed from three arbitrary points of the annular scribe line, and the coordinate (X2, Y2) of the center of the wafer for test is indexed from three arbitrary points on the outer peripheral edge of the wafer for test.例文帳に追加
環状罫書き線の任意の3点からチャックテーブルの回転中心位置座標(X1,Y1)を割り出し、試験用ウエーハの外周縁の任意の3点から試験用ウエーハの中心位置座標(X2,Y2)を割り出す。 - 特許庁
When the second product table 14 is rotated, a shearing force and a tension are applied to the substrate G at scribe lines S on by the clamp bar as a pressing point.例文帳に追加
そして第2の製品テーブル14を回動させると、クランプバーを押圧点として基板GのスクライブラインSに対して剪断力と引張力が作用する。 - 特許庁
A scribing device 10 is equipped with a table 11 for placing and holding a semiconductor wafer 1 and is further equipped with a wheel cutter 24 for forming a scribe groove 2, corresponding to the contour of each sample piece on the surface of the wafer 1 held on the table 11, and a scriber 34 for engraving an identification mark by each region of respective sample piece.例文帳に追加
スクライブ装置10は、半導体ウェーハ1を載置し保持するテーブル11を備え、このテーブル11上に保持されたウェーハ1の表面に対し、各サンプル片の輪郭に対応してスクライブ溝2を形成するホイールカッター24と、各サンプル片の領域ごとに識別記号を彫刻する罫書針34と、を備える。 - 特許庁
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