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atomic emission methodとは 意味・読み方・使い方
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「atomic emission method」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 10件
METHOD FOR SPARK DISCHARGE ATOMIC EMISSION SPECTROMETRIC ANALYSIS AND SPECTRAL ANALYSIS SYSTEM OF THE SAME例文帳に追加
スパーク放電発光分光分析方法及びその分光分析システム - 特許庁
The emission probe includes both an atomic group capable of oxidizing and reducing and an emission lanthanide chelate group with a long emission lifetime in one molecule, and the method uses the emission probe.例文帳に追加
酸化又は還元が可能な原子団、及び長い発光寿命を有する発光ランタニドキレート原子団の両原子団を、一分子内に含むことを特徴とする発光プローブ、並びに、この発光プローブを用いる検出方法。 - 特許庁
The amount of hexavalent chromium in the sample solution 5 is measured by an absorptiometric method, an ICP emission method or an atomic absorption method to determinate hexavalent chromium contained in the sample 1.例文帳に追加
吸光光度法、ICP発光法または原子吸光法により、試料溶液5内の6価クロム量を測定して、試料1に含まれる6価クロムを定量する。 - 特許庁
As a surface analysis method, an XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) analysis method or the like is enumerated, and when being used together with an ICP-AES (Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectroscopy) analysis, a result which is unmeasurable in the ICP-AES analysis can be supplemented.例文帳に追加
表面分析方法としては、XPS分析法等が挙げられ、ICP−AES分析と併用すれば、ICP−AES分析では測定不可能だった結果を補足することも出来る。 - 特許庁
A grow discharge atomic emission spectrometry method is preferable for this analyzing method, and the components contained in the molten metal can be analyzed with high accuracy up to the limit of a very small amount and all elements are simultaneously analyzed on line.例文帳に追加
分析方法としてはグロー放電発光分光法が好ましく、溶融金属に含有される成分を微量域まで高精度で全元素同時にオンライン分析することができる。 - 特許庁
To achieve an atomic absorption photometer according to an electrical heating oven analysis method for improving analysis accuracy by limiting the reflection light of the light emission of a graphite pipe entering a spectroscope and minimizing the reduction in the quantity of measured light.例文帳に追加
分光器に入射する黒鉛管発光の反射光を制限し測定光量の低下を最小限として分析精度を向上できる電気加熱炉分析法による原子吸光光度計を実現する。 - 特許庁
To provide a plasma condition monitoring and/or controlling method in a plasma spectrometer, for example, an inductively coupled plasma optical- emission spectrometer or an inductively coupled plasma atomic-spectrometer (ICP-OES or ICP-MS), and a spectrometer for executing the method.例文帳に追加
プラズマ・スペクトロメーター、例えば、プラズマ光学放射スペクトロメーター又は原子スペクトロメーター(ICP−OES又はICP−MS)におけるプラズマの状態を監視及び/又は制御する方法、及びそのような方法を実行するスペクトロメーターに関する。 - 特許庁
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「atomic emission method」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 10件
To provide a method for spark discharge atomic emission spectrometric analysis for maximizing a measurement region as an analysis point configured on a surface of a sample, implementing a component analysis of a sample according to a multiple-analysis logic, and improving the accuracy of the component analysis and a speed of an analysis process.例文帳に追加
本発明は、試料面上に設定される分析点である測定領域の最大化を図り、多回分析ロジックに従った試料の成分分析を行い、成分分析の高精度化、分析処理の高速化を実現したスパーク放電発光分光分析方法に関する。 - 特許庁
To provide an analytical method capable of easily and highly accurately determining metal (M1), by atomic absorption analysis or plasma emission analysis, in an organic phase sample (X) containing an organic solvent (S1) in which metal components are dissolved and which is slightly soluble in water even in the case of a very small amount of metal contents.例文帳に追加
金属成分が溶解した、水に難溶な有機溶媒(S1)を有する有機相試料(X)中の金属(M1)を、該金属量が微量な場合でも、原子吸光分析又はプラズマ発光分析により容易に、且つ高精度で定量できる分析方法を提供すること。 - 特許庁
To provide radial clusters of sharp-ended multiwalled carbon nanotubes, which are new carbon nanostructures useful as a probe for STM (scanning tunneling microscope) or AFM (atomic force microscope), a field emission electron source of a display element, a display, or the like, and to provide a method for preparing the radial clusters.例文帳に追加
STMやAFM用探針、表示素子、ディスプレイ等の電界放出電子源などとして有用な、新規なカーボンナノ構造物である鋭端多層カーボンナノチューブ放射状集合体とその製造方法鋭端多層カーボンナノチューブ放射状集合体とその製造方法を提供する。 - 特許庁
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