burn-in timeとは 意味・読み方・使い方

To provide a semiconductor device for which a burn-in time can be shortened by performing burn-in of a logic circuit and burn-in of a DRAM- macro in a logic mix memory of a logic circuit and a DRAM-macro.例文帳に追加

論理回路とＤＲＡＭマクロのロジック混載メモリにおいて、論理回路のバーンインとＤＲＡＭマクロのバーンインとを並列的に行い、バーンイン時間を短縮することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To enable testing read-out after burn-in including an access time in a flash memory.例文帳に追加

フラッシュメモリにおいて、アクセスタイムを含むバーイン後の読み出しの検査ができるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which word lines can be fully driven at the time of water-burn-in.例文帳に追加

ウェーハバーンイン時にワードラインを十分駆動できる半導体メモリ装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an inexpensive burn-in method for a surface emitting semiconductor laser device in a short time.例文帳に追加

短時間かつ低コストで面発光型半導体レーザ素子をバーンインする方法を提供する。 - 特許庁

Further, at the time of the burn-in test, the voltage drop circuits 43, 45 are made non-activation.例文帳に追加

なお、バーンイン試験時には、電圧降下回路４３，４５は非活性化される。 - 特許庁

To impress a boost voltage to plural word lines at the time of burn-in test without increasing a chip area, to simultaneously perform the burn-in test to a lot of cells in a short time, to shorten time required for the burn-in test and to improve the processing efficiency of the burn-in test in production.例文帳に追加

チップ面積を増加させることなく、バーンインテスト時に複数のワード線に昇圧電圧を印可でき、より短時間に多数を同時にバーンインテスト可能とし、バーンインテストに必要な時間を短縮させ、製造におけるバーンインテストの処理効率を向上させることが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To freely change burn-in time by using a factor other than a process constant of a semiconductor element as a setting element for changing the burn-in time, related to a semiconductor inspecting device for performing burn-in with a semiconductor element in wafer.例文帳に追加

ウエハー状態の半導体素子にバーンインを実施するための半導体検査装置において、バーンイン時間を変更できる設定要素として、半導体素子のプロセス定数以外の要素を用いて、バーンイン時間を自由に変更する。 - 特許庁

To provide a burn-in system, capable of reducing the time needed for storing determination result in a determination result memory and of shortening the burn-in test time.例文帳に追加

判定結果を判定結果メモリに格納するのに要する時間を短縮し、バーンイン試験時間の短縮化を図ることのできるバーンイン装置を提供する。 - 特許庁