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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > マイクロソフト用語 > critical path methodの意味・解説 

critical path methodとは 意味・読み方・使い方

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意味・対訳 CPM; クリティカルパス法


「critical path method」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 25



例文

CRITICAL PATH TEST METHOD例文帳に追加

クリティカルパステスト方法 - 特許庁

CRITICAL PATH GENERATION METHOD AND UNIT例文帳に追加

クリティカルパス生成方法および装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR PREPARING CRITICAL PATH例文帳に追加

クリティカルパス作成装置および作成方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR CREATING CRITICAL PATH例文帳に追加

クリティカルパス作成装置および作成方法 - 特許庁

CRITICAL PATH TEST METHOD, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, CRITICAL PATH TEST SYSTEM, AND METHOD FOR MANUFACTURING INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

クリティカルパステスト方法、集積回路装置、クリティカルパステスト方式及び集積回路装置の製造方法 - 特許庁

To provide a test method for an integrated circuit device and a critical path capable of measuring easily the maximum operation frequency by a true critical path.例文帳に追加

真のクリティカルパスで最高動作周波数が簡単に測定化可能な集積回路装置、クリティカルパスのテスト方法を目的とする。 - 特許庁

例文

CRITICAL PATH EVALUATION METHOD AND DELAY-CONDITION MEASUREMENT CIRCUIT, AND LSI MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

クリティカル・パス評価方法及び遅延状態計測回路、並びにLSI製造方法 - 特許庁

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機械工学英和和英辞典での「critical path method」の意味

critical path method


critical path method (CPM)


JST科学技術用語日英対訳辞書での「critical path method」の意味

critical path method

Weblio専門用語対訳辞書での「critical path method」の意味

critical path method

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Weblio英和対訳辞書での「critical path method」の意味

critical path method


critical path method

CPM

critical path method


Critical Path Method


Critical path method

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ウィキペディア英語版での「critical path method」の意味

Critical path method

出典:『Wikipedia』 (2011/06/21 18:32 UTC 版)

英語による解説
ウィキペディア英語版からの引用
引用
The critical path method (CPM) is an algorithm for scheduling a set of project activities. It is an important tool for effective project management.

「critical path method」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 25



例文

METHOD AND DEVICE FOR SHORTENING CRITICAL PATH OF SEQUENCE ESTIMATION TECHNOLOGY REDUCING COMPLEXITY例文帳に追加

複雑性を低減した系列推定技術のクリティカルパスを短縮する方法および装置 - 特許庁

CRITICAL PATH ESTIMATION PROGRAM, ESTIMATION DEVICE, ESTIMATION METHOD, AND INTEGRATED CIRCUIT DESIGN PROGRAM例文帳に追加

クリティカルパス推定プログラム、推定装置、推定方法、および集積回路設計プログラム。 - 特許庁

To provide a design method for a scan test circuit allowing the inspection of a critical path of a semiconductor integrated circuit by a scan test.例文帳に追加

スキャンテストによって半導体集積回路のクリティカルパスの検査を可能にするスキャンテスト回路の設計方法を提供する。 - 特許庁

To provide an evaluation method capable of recognizing each delay condition outside an LSI easily, by regarding a combined logic circuit between flip-flops inside the LSI as a critical path.例文帳に追加

LSI内部のフリップフロップ間組合せ論理回路をクリティカル・パスとして、各々の遅延状態をLSI外部で容易に知る。 - 特許庁

The method creates one or more timing waveforms of the potential aggressor interconnection for each critical path, follows the starting point of the critical path to the ending point thereof and calculates second timing of each cell and each victim interconnection.例文帳に追加

本方法は各クリティカルパスについて潜在的なアグレッサ相互接続の1以上のタイミング波形を生成し、クリティカルパスの開始点から終点までをたどり及び各セル及び各ビクティム相互接続の第2タイミングを計算する。 - 特許庁

This method includes a stage for determining the operation time of the 1st critical path of the 1st circuit blocks and a stage for determining the operation time of the 2nd critical path of the 2nd circuit block.例文帳に追加

本方法は、第1の回路ブロックについて、第1の回路ブロックの第1のクリティカルパスの動作時間を決定する過程と、第2の回路ブロックについて、第2の回路ブロックの第2のクリティカルパスの動作時間を決定する過程とを含む。 - 特許庁

To provide fast output enable path and method for an integrated circuit device which effectively minimizes gate delay in the data of a critical integrated circuit device and a clock path.例文帳に追加

クリティカルな集積回路装置のデータおよびクロック経路におけるゲート遅延を有効に最小限にする集積回路装置のための高速出力イネーブル経路および方法を提供する。 - 特許庁

例文

To obtain a logic verifying device with a path delay inspecting function added thereto and a logic verifying method for efficiently generating a logic verification pattern only by specifying a critical path found from a timing verification result.例文帳に追加

タイミング検証結果よりわかったクリティカルパスの指定を行うことだけで、論理検証パターンを効率よく作成することのできるパス遅延検査機能付加論理検証装置及び論理検証方法を得ることを目的とする。 - 特許庁

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