dew point lineとは 意味・読み方・使い方

As a result of this constitution, the dew point of the moisture in the gas to be measured flowing through the main piping 300 can be measured directly without mediating a branch pipe line.例文帳に追加

これにより、分岐管路を介することなく、直接、主配管３００を流れる被測定気体中の水分の露点が計測される。 - 特許庁

Dew point temperature Tw of air for air conditioning can be calculated from a crossing point S of an absolute humidity X of the air for air conditioning (sucking air) at a time point and a saturation line at a time point.例文帳に追加

ある時点における冷房対象空気（吸込み空気）の絶対湿度（Ｘ）と飽和線の交点Ｓから、冷房対象空気の露点温度Ｔｗを求めることができる。 - 特許庁

A fuel cell evaluation system 1000 includes first and second branching lines 10 and 20 which are placed in a charging line 201 connected to a fuel cell FC to be evaluated and are branched in parallel each other, and a dew-point recorder 13 which detects the dew point temperature of the gas to be measured which flows into the first branching line 10.例文帳に追加

燃料電池評価システム１０００は、評価対象である燃料電池ＦＣと接続される供給配管２０１に設けられ、互いに並列に分岐した第１と第２の分岐配管１０，２０と、第１の分岐配管１０に流入する計測対象ガスの露点温度を検出する露点計１３とを備える。 - 特許庁

To provide a dry chamber capable of keeping only a necessary part of a work area as an area of a prescribed low dew point, and further improving a degree of freedom in work inside thereof, and superior in the replacement performance of a manufacturing line.例文帳に追加

作業領域の必要な部分のみを所定の低露点領域にすることができるのみならず、その内部での作業の自由度を高めることができると共に、製造ラインの入れ替え性にも優れたドライチャンバを提供する。 - 特許庁

In order to control the bedewing on an apparatus in a casting chamber 20, gases 28, 30, and 48 are sprayed to a bead back 23b, the surface 22c between the stripping line 22b and the landing line 22a, a support rotary shaft 41, and a bearing 42 to prevent the air in each atmosphere from reaching a dew point to prevent bedewing.例文帳に追加

流延室２０内の装置に結露が生じることを抑制するために、ビード背面２３ｂ，剥取線２２ｂから着地線２２ａの間の面２２ｃ，支持体回転軸４１、軸受け４２にガス２８，３０，４８を吹き付け、各雰囲気中の大気が露点に達することを防ぎ、結露を防止する。 - 特許庁

To provide a filter capable of being regenerated even in a line that is used in a production process for a semiconductor or liquid crystal and can remove basic compounds such as ammonia contained as impurities in high pressure gases of a low dew point such as compressed air and a compressed inert gas without causing secondary pollution by the filter itself.例文帳に追加

半導体や液晶を製造する工程で使用され、圧縮空気や圧縮不活性ガス等の、低露点高圧ガス中に不純物として含まれるアンモニア等の塩基性化合物を除去可能なフィルタで、フィルタ自体からの二次汚染の問題がなく、インラインでも再生可能なフィルタを提供する。 - 特許庁