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diffraction peaksとは 意味・読み方・使い方
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「diffraction peaks」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 86件
This crystal polymorphism gives a powder X-ray diffraction pattern having strong diffraction peaks at the diffraction angles (2θ±0.1) of 10.2, 12.7, 18.4 and 22.3°.例文帳に追加
粉末Ｘ線回折図形で、回折角（２θ±０．１）において、１０．２、１２．７、１８．４及び２２．３度に強い回折ピークを示す結晶多形。 - 特許庁
To provide a diffraction grating reducing the occurrence of abnormal peaks of diffraction light occurring by repeated exposure to allow sharp spectroscopy with few abnormal peaks, and to provide a highly precise spectral analysis device by using the diffraction grating.例文帳に追加
繰り返し露光で生じる回折光の異常ピークの発生を抑制し、急峻で異常ピークの少ない分光が可能な回折格子を実現し、この回折格子を用いることで高精度な分光分析装置を提供する。 - 特許庁
The most intensive diffraction peaks are observed at 10.5; 18.0; 18.4; 19.4; 21.1; 21.7; 22.9; 23.3; 27.1; 31.6±0.2° by 2θ.例文帳に追加
最も強い回折ピークが、２θで１０．５；１８．０；１８．４；１９．４；２１．１；２１．７；２２．９；２３．３；２７．１；３１．６±０．２°に見られる。 - 特許庁
When the surface layer is subjected to X-ray diffraction, a primary diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane is observed as the diffraction peaks corresponding to polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C, and no other primary diffraction peaks having diffraction intensity of 10% or more that of the primary diffraction peak corresponding to the (111) crystal plane is observed.例文帳に追加
表層のＸ線回折により、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、（１１１）結晶面に対応した１次回折ピークが観察され、（１１１）結晶面に対応した１次回折ピークの回折強度の１０％以上の回折強度を有する他の１次回折ピークが観察されない。 - 特許庁
The target for ion plating used for forming the zinc oxide-based electroconductive film comprises a sintered compact mainly containing zinc oxide and has diffraction peaks by (100), (002) and (101) planes in X-ray diffraction pattern, wherein any of the diffraction peaks has a half-value width of ≤0.110°.例文帳に追加
酸化亜鉛主体の焼結体からなり、Ｘ線回折パターンにおいて（１００）、（００２）、（１０１）面による回折ピークを有し、該回折ピークの何れかの半値幅が０．１１０度以下である酸化亜鉛系導電膜形成用のイオンプレーティング用ターゲットを開示する。 - 特許庁
When the surface layer is subjected to X-ray diffraction, a diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane and a diffraction peak other than the diffraction peak corresponding to the (111) crystal plane are observed as diffraction peaks corresponding to polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C.例文帳に追加
表層のＸ線回折により、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、（１１１）結晶面に対応した回折ピークと、（１１１）結晶面に対応した回折ピーク以外の回折ピークとが観察される。 - 特許庁
This crystal polymorphism gives a powder X-ray diffraction pattern having strong diffraction peaks at the diffraction angles (2θ+0.1) of 3.4, 10.2, 13.7, 17.1 and 20.7°.例文帳に追加
粉末Ｘ線回折図形で、回折角（２θ±０．１）において、３．４、１０．２、１３．７、１７．１及び２０．７度に強い回折ピークを示す結晶多形。 - 特許庁
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「diffraction peaks」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 86件
The hydrobromide salt of the donepezil or a crystal of a solvate thereof has diffraction peaks at 6.6° and 26.9° diffraction angles (2θ±0.2°), etc., in powder X-ray diffraction.例文帳に追加
粉末Ｘ線回折において、回折角度（２θ±０．２°）６．６°及び２６．９°などに回折ピークを有する、１−ベンジル−４−［（５，６−ジメトキシ−１−インダノン）−２−イル］メチルピペリジンの臭化水素塩又はその溶媒和物の結晶。 - 特許庁
This crystal polymorphism gives a powder X-ray diffraction pattern having strong diffraction peaks at the diffraction angles (2θ±0.1) of 10.1, 10.4, 15.5, 17.0, 20.0 and 20.2°.例文帳に追加
粉末Ｘ線回折図形で、回折角（２θ±０．１）において、１０．１、１０．４、１５．５、１７．０、２０．０及び２０．２度に強い回折ピークを示す結晶多形。 - 特許庁
This polymorphic crystal exhibits strong diffraction peaks at 5.0, 16.1,18.8,19.1,20.7,21.1 and 23.9 degree at a diffraction angle (2θ±0.1 in a powder X-ray diffraction figure.例文帳に追加
粉末Ｘ線回折図形で、回折角（２θ±０．１）において、５．０、１６．１、１８．８、１９．１、２０．７、２１．１および２３．９度に強い回折ピークを示す結晶多形。 - 特許庁
This polymorphic crystal exhibits strong diffraction peaks at 17.7, 18.9, 19.3, 20.2, 20.7, 21.3 and 25.5 degree at a diffraction angle (2θ±0.1) in a powder X-ray diffraction figure.例文帳に追加
粉末Ｘ線回折図形で、回折角（２θ±０．１）において、１７．７、１８．９、１９．３、２０．２、２０．７、２１．３および２５．５度に強い回折ピークを示す結晶多形。 - 特許庁
A grid pattern 107a of the hologram lens 107 is constituted with a plurality of inclined surfaces to have at least two peaks within one period of a diffraction grid and, thereby, the effect due to unnecessary -1-order diffraction light and +2-order diffraction light is reduced.例文帳に追加
ホログラムレンズ１０７の格子パターン１０７ａを、回折格子の１周期内で少なくとも２つの山を有するように複数の斜面で構成し、不要な−１次回折光及び＋２次回折光の回折効率を低減させる。 - 特許庁
To provide a sample position adjusting device, capable of detecting the diffraction peaks of radiation, such as X rays, neutron beams, etc. with high accuracy in short time, a radiation diffraction device and a radiation diffraction method.例文帳に追加
Ｘ線及び中性子線等の放射線の回折ピークを高精度且つ短時間で検出可能とする試料位置調整装置、放射線回折装置及び放射線回折法を提供する。 - 特許庁
The crystal of (2R,4R)-monatin potassium salt shows an X-ray powder diffraction pattern having characteristic peaks at diffraction angles 2θ of 5.5°, 7.2°, 8.1°, 8.9° and 16.3°, by powder X-ray diffraction (Cu-Kα ray).例文帳に追加
Ｃｕ−Ｋα線による粉末Ｘ線回折で得られるＸ線回折パターンにおいて、５．５°、７．２°、８．１°、８．９°および１６．３°に回折角２θの特徴的ピークを有する、（２Ｒ，４Ｒ）−モナティンのカリウム塩結晶。 - 特許庁
This crystalline titanium oxide has diffraction peaks at Sleast 2θ=24.10°, 2θ=28.22°例文帳に追加
Ｘ線回折において、少なくとも２θ＝２４．１０°、２θ＝２８．２２°、２θ＝４８．１６°に回折ピークを有する結晶質酸化チタン。 - 特許庁
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