length testとは 意味・読み方・使い方

The propagation stopping performance to the long brittle fracture having a fracture propagation length of ≥1 m is evaluated using a test piece having a width of ≥2 m with a test piece length or a distance between the tips of a tab plate in a test apparatus on which the test piece is placed, of 2.8 times or more of the test piece width.例文帳に追加

試験片幅２ｍ以上の試験片を用いて、き裂伝播長１ｍ以上の長大脆性き裂に対する伝播停止性能を、試験片長さもしくは試験片を取り付ける試験装置のタブ板先端間距離を試験片幅の２．８倍以上として評価する。 - 特許庁

The excitation coil 71 generates a magnetic field perpendicular to the test object in the length direction within the test object 13.例文帳に追加

励磁コイル７１は、被検体１３の内部に、被検体の長さ方向に対して略垂直の磁界を生じさせる。 - 特許庁

To reduce the scale of a circuit to be added for a test by reducing a test series length in a strong possibility inspection DFT method.例文帳に追加

強可検査ＤＦＴ法において、テスト系列長を短縮し、テストのために付加される回路の規模を削減する。 - 特許庁

To reduce a test series length and an area of an additional circuit when facilitating a test of a controller for a PTL circuit.例文帳に追加

ＲＴＬ回路のコントローラのテスト容易化にあたり、テスト系列長および付加回路の面積を削減する。 - 特許庁

The disk access system, the length of test data and the data pattern are set as parameters at the time of performing the operation test.例文帳に追加

動作テストを行う際のパラメータとして、ディスクアクセス方式、テストデータ長及びデータパターンを設定させる。 - 特許庁

To attain a higher trouble coverage with a shorter test length by reducing the number of necessary hardwares.例文帳に追加

必要なハードウェアが少なく、短いテスト長で高い故障カバレージを達成する。 - 特許庁

To provide a macro test circuit that can reduce test cost by reducing a test pattern length, shortening a test time and effectively using scan flip-flop circuits in a SCAN test including a high function macro.例文帳に追加

高機能マクロを含むＳＣＡＮテストにおいて、テストパターン長を削減し且つテスト時間を短縮し、然もスキャンフリップフロップ回路を有効に利用し、その結果としてテストコストを下げることが可能なマクロテスト回路を提供すること。 - 特許庁

The frequency band converting circuit 30 limits the frequency band of the input signal of the frame length from the unit length dividing circuit 20 to a frequency band testable by a test circuit 40 and passes it to the test circuit 40.例文帳に追加

帯域変換回路３０は単位長分割回路２０からのフレーム長の入力信号が持つ周波数帯域を、検定回路４０が検定可能な周波数帯域に制限し検定回路４０に渡す。 - 特許庁