polarized light microscopeとは 意味・読み方・使い方

A differential interference microscope 1 includes: a light source 2; and a lateral deviation variable device 20 capable of varying a lateral deviation between first polarized light and second polarized light.例文帳に追加

光源２と、前記光源から射出された光のうち試料４表面上での第１の偏光と第２の偏光との横ズレ量を可変可能な横ズレ量可変装置２０と、を備えた微分干渉顕微鏡１に関する。 - 特許庁

To provide a microscope cable of compensating the rotation of polarized light with a simple configuration even in the case of using a high- performance objective lens.例文帳に追加

高性能な対物レンズを用いる場合であっても、簡単な構成で偏光の回転を補償することのできる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a polarization control element capable of keeping light in a predetermined polarized state, a method for manufacturing the polarization control element and a laser microscope using the polarization control element.例文帳に追加

所定の偏光状態にすることができる偏光制御素子及びその製造方法、並びにそれを用いたレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a polarizing unit by which switching between observation using polarized light and the one without using the polarized light can be performed by one operation and which is economically constituted, and a microscope to which the polarizing unit is attached.例文帳に追加

偏光を使用する観察と偏光を使用しない観察との切り換えを一つの動作ででき、かつ経済的に構成できる偏光ユニットおよびこれが取り付けられる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The metal foreign matter is observed in an appearance color close to black by polarized light observation of a stereoscopic microscope or a metallurgical microscope and the internal pore and cut are observed in an appearance color close to white.例文帳に追加

金属異物は実体顕微鏡あるいは金属顕微鏡の偏向観察等で黒色に近い外観色にて観察され、また内部ポアおよびキレは白色に近い外観色にて観察される。 - 特許庁

In the atomic force microscope that separates the light from a light source 21 into S-polarized light and P-polarized light by a lotion prism 28 to measure the relative displacement of the article 1 to be inspected and the cantilever 12, the function for measuring the displacement of the cantilever 12 by using a reference mirror 63 as a measurement standard is provided.例文帳に追加

光源２１からの光をローションプリズム２８によってＳ偏光とＰ偏光に分離して、被検物１とカンチレバー１２との相対変位を計測する原子間力顕微鏡において、参照ミラー６３を計測基準としてカンチレバー変位を計測する機能を設ける。 - 特許庁

This scanning probe microscope is provided at least with a polarization modulator which lets circularly-polarized light in a rotating polarizer to modulate and irradiate the P-polarized component of linear polarization on the probe tip, and a photodetector for detecting scattered light between the probe tip and the sample at the time point, when P-polarized light is irradiated on the probe tip.例文帳に追加

円偏光としたレーザーを回転する偏光子に通してプローブ先端へ直線偏光のＰ偏光成分を変調して照射する偏光変調装置と、プローブ先端にＰ偏光が照射されたタイミングでプローブ先端と試料との間の散乱光を検出する光検出部とを少なくとも有することを特徴とする走査型プローブ顕微鏡。 - 特許庁