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testpieceとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 供試体; 試験片
「testpiece」を含む例文一覧
該当件数 : 134件
TESTPIECE POSITIONING DEVICE例文帳に追加
試料位置決め装置 - 特許庁
TESTPIECE DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡の試料装置 - 特許庁
When a sectional processing is carried out as a pre-treatment to observe a cross section of a testpiece, the testpiece is processed with the testpiece inclined to a first angle with regard to the angle of incidence of the ion beam, and after processing is finished, the testpiece is observed with the testpiece inclined to a second angle.例文帳に追加
試料断面観察の前処理としての断面加工を行う際、イオンビームの入射角に対し、試料を第一の角度に傾斜して加工を行い、加工終了後、試料を第二の角度に傾斜して観察する。 - 特許庁
The testpiece chamber 1 is made as a dual structure and an inner testpiece chamber 10a for maintaining low vacuum is provided inside the outer testpiece chamber 10b of high vacuum.例文帳に追加
１試料室を二重構造とし、高真空の外側試料室１０ｂ内に低真空を保持するための内側試料室１０ａを設ける。 - 特許庁
To provide a testpiece edge processor and a testpiece edge processing method that can detect the edge of a testpiece with less efforts.例文帳に追加
少ない労力で試料のエッジを検出することができる試料エッジ処理装置及び試料エッジ処理方法を提供する。 - 特許庁
TESTPIECE HOLDER, SEMICONDUCTOR MANUFACTURING DEVICE, SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, AND HOLDING METHOD OF TESTPIECE例文帳に追加
試料保持機，半導体製造装置，半導体検査装置、および試料の保持方法 - 特許庁
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「testpiece」を含む例文一覧
該当件数 : 134件
METHOD OF AND DEVICE FOR PUNCHING TESTPIECE AND TESTPIECE TESTING MACHINE INCORPORATING THE METHOD AND THE DEVICE例文帳に追加
試験片打ち抜き方法、試験片打ち抜き装置、及びその方法又はその装置を備えた試験片試験機。 - 特許庁
TESTPIECE EDGE PROCESSOR, TESTPIECE EDGE PROCESSING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
試料エッジ処理装置、試料エッジ処理方法、及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
ION SOURCE TESTPIECE PLATE IRRADIATION SYSTEM例文帳に追加
イオン源試料プレート照射システム - 特許庁
TESTPIECE COOLING SYSTEM OF FOCUSED ION BEAM APPARATUS例文帳に追加
集束イオンビーム装置の試片冷却システム - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND TESTPIECE OBSERVATION METHOD USING IT例文帳に追加
走査電子顕微鏡及びそれを用いた試料観察方法 - 特許庁
INSPECTION METHOD AND APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR WAFER TESTPIECE例文帳に追加
半導体ウェハ試料の検査方法および装置 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE APPLICATION DEVICE, AND TESTPIECE INSPECTION METHOD例文帳に追加
電子顕微鏡応用装置および試料検査方法 - 特許庁
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