Laboratorio 6

Difracci on de la luz
6.1 Objetivos
1. Estudiar el patron de difracci on dado por rendijas rectangulares sencillas,
dobles y m ultiples.
2. Medir las constantes correspondientes en cada caso
6.2 Preinforme
1. En que consiste el fenomeno de difracci on de la luz?
2. Que condiciones debe cumplir una fuente de luz para que produzca un
patr on de difraccion observable?
3. Cuales son las f ormulas que denen la posici on de los m aximos y mnimos
en un patr on de difracci on?
4. Cual es la diferencia entre la difracci on de Fresnel y la difracci on de Fraun-
hofer?. Estan fundamentadas en principios fsicos diferentes?
6.3 Materiales
L aser de Estado Solido = 670 10
9
m
Rendijas rectangulares sencillas.
Rendijas rectangulares dobles y m ultiples.
Xplorer GLX
Sensor de luz
51
52 LABORATORIO 6. DIFRACCI

ON DE LA LUZ
Banco optico
Sensor de traslacion
Rejilla colimadora
6.4 Fundamento Teorico
En general el fenomeno de la difraccion se presenta cuando una onda interact ua
con objetos cuyas dimensiones son comparables con su longitud de onda. Desde el
punto de vista de la teora, que considera la luz como un fen omeno ondulatorio, el
estudio de la optica se dividide en dos grandes campos: el de la optica geometrica
y el de la optica fsica. Si el objeto con el cual interact ua la luz posee dimensiones
muy grandes comparadas con su longitud de onda, se estara en el campo de la
optica geometrica; pero si las dimensiones del objeto son comparables con la lon-
gitud de onda de la luz se estar a en el campo de la optica fsica. La longitud de
onda de la luz visible est a en el rango entre 780 nm y 390 nm aproximadamente.
Para que la luz pueda producir un patr on de difraccion observable, esta debe in-
teractuar con objetos que posean dimensiones comparables con estos valores; es
por esta razon que el fenomeno no es facilmente apreciable a simple vista siendo
necesarias ciertas condiciones de laboratorio para ser observado.
A su vez el estudio de la difracci on puede dividirse en dos partes: la difracci on de
Fraunhofer y la difraccion de Fresnel. En la difraccion de Fraunhofer se supone
que las ondas incidentes al objeto son planas al igual que las ondas emergentes
del mismo. La distancia entre el objeto y la pantalla sobre la cual se observa el
patr on, debe ser grande comparada con las dimensiones del objeto. La difraccion
de Fresnel tiene lugar cuando la fuente puntual de las ondas incidentes, o el punto
de observacion desde el cual se las ve, o ambos, estan a una distancia nita del
objeto. El dispositivo experimental que se utiliza en este laboratorio coincide con
la concepcion de Fraunhofer de la difraccion.
6.4.1 Difraccion de Fraunhofer por una rendija rectangular
La teora asociada con la difracci on por una rendija rectangular considera una
rendija muy angosta (de las dimensiones de la longitud de onda de la luz) y muy
larga. En concordancia con el principio de Huygens, cada punto del frente de
onda plano se convierte en fuente de peque nas ondas esfericas secundarias; estas
ondas secundarias, llamadas ondas difractadas, luego se recombinan constructiva
o destructivamente en una pantalla sobre la cual es posible observar un patr on de
difraccion cuya distribucion de intensidad luminosa a lo largo de ella, corresponde
al dibujo de la gura 6.1.
6.4. FUNDAMENTO TE

ORICO 53
Figura 6.1: Distribucion de intensidad en el diagrama de difracci on de una rendija
angosta y larga.
En la practica lo que se observa en la pantalla es una zona muy brillante central
acompa nada de una serie de zonas brillantes y oscuras (las brillantes cada vez de
intensidad menor), alternadamente alrededor de dicho m aximo. (Figura 6.2.)
Puede demostrarse que la condicion para que haya interferencia destructiva en la
pantalla se puede expresar mediante la ecuacion:
b Sen = m m = 1, 2, 3, .... (6.1)
Donde: b es el ancho de la rendija, es la separaci on angular entre el centro del
maximo central y el centro de los mnimos o regiones oscuras observados, m
es el orden del patron de difracci on para los mnimos de intensidad (m aumenta
hacia los extremos del patron de difraccion) y es la longitud de onda de la luz
incidente.
6.4.2 Difraccion de Fraunhofer por una rendija doble
El patr on de difraccion por dos rendijas paralelas iguales, resulta de la interferencia
de los dos patrones de difraccion provenientes de cada una de las rendijas. Lo que
se observa en la pantalla es un patron de interferencia de Young producido por dos
rendijas rectangulares modulado por un patron de difracci on de Fraunhofer por
una rendija rectangular. En este caso los maximos de interferencia estan dados
por la siguiente expresion:
d Sen = m m = 1, 2, 3 (6.2)
Donde: d es la distancia entre las dos rendijas, es la separacion angular entre el
maximo de interferencia central y los maximos secundarios, m es el orden del
54 LABORATORIO 6. DIFRACCI

ON DE LA LUZ
Figura 6.2: Diagrama de difracci on de Fraunhofer producido por una rendija an-
gosta y larga.
Figura 6.3: Diagrama de difraccion de Fraunhofer debido a dos rendijas paralelas
angostas y largas.
patr on de difraccion para los maximos de interferencia y la longitud de onda
de la luz.
6.4.3 Difraccion por m ultiples rendijas - Rejillas
La rejilla de difraccion consiste en un gran n umero de rendijas paralelas identicas
de ancho b y separadas una distancia d. Cuando la rejilla es iluminada conve-
nientemente, el patr on observado en la pantalla consiste en la distribucion de
interferencia producida por N rendijas, modulado por un patr on de difraccion de
una sola rendija. En la practica lo que se observa es una forma parecida al patr on
de difracci on para la rendija doble extendida al caso de N rendijas. En este caso
la condicion para interferencia constructiva esta dada por la expresion:
d Sen = m. (6.3)
6.5. PROCEDIMIENTO 55
Figura 6.4: Distribucion de intensidad producida por una red de difracci on sobre
un plano normal a la luz incidente y paralelo a la red.
Donde: d es la distancia entre las rendijas o constante de la rejilla, es la separaci on
angular entre los m aximos secundarios y el m aximo central, m es el orden del
patr on de difraccion para maximos de intensidad, es la longitud de onda de la
luz utilizada para obtener el patron de difraccion.
6.5 Procedimiento
IMPORTANTE: MANIPULAR LAS RENDIJAS CON SUMO CUIDADO
Y SOLO GIRANDO LA RUEDA SELECTORANO TOCAR LAS
RENDIJAS DIRECTAMENTE.
6.5.1 Difraccion por una rendija rectangular
1. Coloque el accesorio de rejillas simples en el banco optico. Debe sujetarlo
lateralmente y hacer poca presion para que se acople al banco. No forze el
accesorio pues lo puede quebrar. Sit uelo a 1.00 m de distancia del sensor de
luz.
2. Encienda el diodo l aser y asegurese que la luz incida sobre la primera y mas
estrecha de las rejillas rectangulares.
3. Aseg urese que el colimador situado en frente del sensor de luz este colocado
correctamente. Debe estar en la abertura m as estrecha (0,1 mm) para mi-
nimizar la luz ambiental incidente sobre el sensor. Ademas aseg urese que el
56 LABORATORIO 6. DIFRACCI

ON DE LA LUZ
Figura 6.5: Montaje experimental.
patr on de interferencia observado incida horizontalmente en la parte blanca
del colimador. Guese por la Figura 6.6
4. Conecte el Xplorer a los sensores de luz y traslaci on. Utilize dos de las cuatro
conexiones superiores del Xplorer.
5. Aseg urese del correcto posicionamiento del sensor de traslaci on. Encienda
el Xplorer. Inicialmente el explorer mostrar a una lista de sensores a escojer.
Busque y seleccione la opcion LIGHT SENSOR.
6. Vaya a la pantalla HOME del explorer y luego seleccione DATA FILES.
Ah encontrar a el archivo difracci on. Seleccionelo y oprima la opcion OPEN.
Ahora ya tendr a cargadas las conguraciones necesarias para tomar sus
datos.
7. Vaya de nuevo al HOME y seleccione el cono GRAPH. Una vez ah
observara unos ejes de voltaje vs posicion. Este voltaje es proporcional a la
intensidad de la luz medida por el sensor y la posicion dara el valor relativo
de la misma para cada maximo o mnimo del patron de difraccion.
8. El sensor de traslaci on tiene un tope asegurado con tornillo. Muevalo de tal
forma que el sensor de luz se encuentre justo en uno de los extremos visibles
6.5. PROCEDIMIENTO 57
Figura 6.6: Correcto alineamiento del patr on de interferencia.
del patr on de difraccion. En ese punto asegure el tope con el tornillo. Todas
sus medidas para ese patron se haran a partir de ese punto.
9. Para tomar la primera medida, un miembro del grupo deber a rotar las poleas
del sensor de traslaci on lentamente para mover todo el sistema desde el tope
plastico hasta el otro extremo del patr on de difraccion. Otro miembro del
equipo deber a iniciar la medida presionando la tecla cuando empieze la
traslaci on del sistema y deber a dar n a la medida presionando de nuevo
la tecla cuando se llegue al extremo del patr on. La forma sugerida de
trasladar el sistema se puede observar en la Figura 6.7
10. En la pantalla del Xplorer deber a observarse un patr on de difracci on similar
al de la Figura 6.2. Si no lo observa repita su medida. Intente mover m as
lentamente el sistema del sensor de luz. El recorrido total del sensor no debe
ser menor a 10 segundos ni mayor a un minuto.
11. Repita sus medidas ahora para la segunda rendija. Para localizarla aoje el
tornillo del accesorio y traslade suavemente la plaqueta con rendijas hasta
que la luz l aser incida sobre la segunda.
12. Recuerde que cada vez que usted presiona la tecla para tomar nuevos
datos, el Xplorer crea un nuevo gr aco con una nueva tabla de datos asociada.
Estos datos se salvan bajo el nombre de RUN 1, RUN 2, ... etc. Si alguna
toma de datos no es buena puede borrarla seleccionando el texto run 1, run
2, ... etc. en la pantalla, lo cual se logra oprimiendo el bot on mientras
se esta observando el graco.
58 LABORATORIO 6. DIFRACCI

ON DE LA LUZ
Figura 6.7: Forma recomendada para trasladar el sistema del sensor de luz.
6.5.2 Difraccion por rendija doble
1. Monte el accesorio con m ultiples rendijas en lugar del accesorio de rendijas
simples.
2. Escoja en primer lugar una de las rendijas dobles disponibles en el accesorio.
Rote el accesorio para hacer incidir la luz laser sobre ella.
3. Repita la toma de datos de la misma forma que para la rendija sencilla.
Ahora su patron de difracci on deber a ser parecido al de la Figura 6.3.
Recuerde que puede repetir su toma de datos hasta obtener el patr on de
difracci on mas claro posible. Puede que sea necesario modicar la sensibili-
dad del sensor de luz. Para hacer esto vaya a la pantalla HOME y luego
seleccione el cono SENSORS. Una vez ah navegue por los men us hasta en-
contrar la opci on de LOW (1X), MEDIUM (10X) y HIGH (100X). Modique
esta sensibilidad para intentar mejorar sus medidas.
4. Repita su toma de de datos para otra rendija doble con una separacion entre
rendijas diferente.
5. Recuerde de anotar que medidas (run 1, run 2, ... etc.) corresponden a cada
rendija. Deben anotar tambien los parametros de las rendijas anotados en
6.6. AN

ALISIS 59
los accesorios de rendijas simples y m ultiples.
6. Recuerde adem as que usted puede escojer cualquier par de rendijas dobles del
conjunto disponible. Cada grupo escogera as rendijas diferentes en general.
6.5.3 M ultiples rendijas de Difraccion
1. Con el mismo montaje utilizado en el numeral anterior haga incidir la luz del
l aser sobre alguna de las posiciones del accesorio con mas de dos rendijas.
2. Realize la toma de datos teniendo en cuenta los pasos seguidos anteriormente.
3. Recuerde siempre anotar que medidas (run 1, run 2, ... etc.) corresponden
a cada rendija.
6.5.4 Transferencia de Datos
Para salvar sus datos de la practica, el Xplorer se debe conectar al puerto USB
del computador. Una vez hecho esto encienda el computador y localize el cono
de PASCO en la parte inferior derecha de windows. Haga click derecho en este
cono y seleccione abrir. Aparecer a una ventana en donde debe seleccionar abrir
DataStudio.
Una vez abierto el programa DataStudio seleccione el bot on SETUP y aparecera
otra ventana. En esta ventana aparece un dibujo del Xplorer y al lado un cono
de archivos. Seleccione este cono y cargue los datos del archivo difraccion. El
programa abrira los datos y gr acos guardados en el Xplorer.
Ahora busque cada uno de sus gracos obtenidos y haga click en el men u superior
DISPLAY y luego EXPORT DATA (Exportar Datos). Esta opci on le permite
exportar sus datos en un archivo plano con extension TXT, el cual puede ser ledo
por un programa como el EXCEL. Salve as todos sus datos de gr acos en archivos
diferentes y enveselos por correo electr onico o paselos a una memoria ash.
6.6 Analisis
Utilizando un programa como el EXCEL, mida gracamente las distancias entre
el maximo central y mnimos a cada lado en el caso de difracci on por una sola
rendija. Para dos o m as rendijas mida la distancia entre el m aximo central y los
maximos y mnimos secundarios laterales.
Con los datos obtenidos en el numeral 6.5.1 y con la ecuaci on 6.1. Encuentre
el ancho de la rendija rectangular usada. Compare el valor obtenido con el
proporcionado por el fabricante. Estime el error en la medida de b, teniendo
en cuenta que b es funcion de .
60 LABORATORIO 6. DIFRACCI

ON DE LA LUZ
Con los datos obtenidos en el numeral 6.5.2 y con las ecuaciones 6.1 y 6.2,
encuentre la separaci on d y el ancho b para cada una de las rendijas dobles.
Halle el error respectivo. Compare con los valores escritos en las rendijas.
Con los datos obtenidos en el numeral 6.5.3 y con la ecuaciones 6.1 y 6.3,
encuentre el n umero de rendijas y sus par ametros. Compare estos resultados
con los proporcionados por el fabricante.
BIBLIOGRAFA
ALONSO, Marcelo y FINN, Edward J. Fsica. Campos y Ondas. Vol. 2.
Mexico : Fondo Educativo Interamericano, 1976.
ALONSO, Marcelo y FINN, Edward J. Fsica. Mecanica. Vol. 1. Mexico :
Fondo Educativo Interamericano, 1976.
Raymond A. Serway,Fsica tomo II: McGraw-Hill,1997
GOLDEMBERG, Jose. Fsica general y experimental. Vol. 3. Mexico :
Interamericana, 1974.
GOTTLIEB, Herbert H. Metrologic Instruments Inc. Experiments using a
helium-neon laser. 11 ed. New Jersey, 1984.
HECHT, Eugene y ZAJAC, Alfred.

Optica. Wilmington, Delaware : Addison-
Wesley Iberoamericana, 1986.
GRAFTON, Stephen y John W. Experiments in Nuclear Science. Second.
edition. Alpha Editions. USA. 1971.
58