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    Taller EDS WDS

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    Alvaro Diaz Avila
    Los rayos X característicos provienen de transiciones electrónicas entre los niveles electrónicos de los átomos. La energía de los rayos X emitidos corresponde a la diferencia de energía entre los niveles electrónicos involucrados. La energía crítica de ionización es la energía mínima requerida para expulsar un electrón de un nivel electrónico. La técnica EDS detecta los rayos X emitidos mediante un detector de dispersión de energía, mientras que la técnica WDS los separa mediante la difracción de ray

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    Los rayos X característicos provienen de transiciones electrónicas entre los niveles electrónicos de los átomos. La energía de los rayos X emitidos corresponde a la diferencia de energía entre los niveles electrónicos involucrados. La energía crítica de ionización es la energía mínima requerida para expulsar un electrón de un nivel electrónico. La técnica EDS detecta los rayos X emitidos mediante un detector de dispersión de energía, mientras que la técnica WDS los separa mediante la difracción de ray

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    Los rayos X característicos provienen de transiciones electrónicas entre los niveles electrónicos de los átomos. La energía de los rayos X emitidos corresponde a la diferencia de energía entre los niveles electrónicos involucrados. La energía crítica de ionización es la energía mínima requerida para expulsar un electrón de un nivel electrónico. La técnica EDS detecta los rayos X emitidos mediante un detector de dispersión de energía, mientras que la técnica WDS los separa mediante la difracción de ray

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    Los rayos X característicos provienen de transiciones electrónicas entre los niveles electrónicos de los átomos. La energía de los rayos X emitidos corresponde a la diferencia de energía entre los niveles electrónicos involucrados. La energía crítica de ionización es la energía mínima requerida para expulsar un electrón de un nivel electrónico. La técnica EDS detecta los rayos X emitidos mediante un detector de dispersión de energía, mientras que la técnica WDS los separa mediante la difracción de ray

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    A.

    1. Que son rayos X característicos y de donde provienen.


    Los rayos X característicos son producidos por transiciones de electrones entre los distintos
    niveles. Los electrones en cada nivel y subnivel tienen energías de ionización específicas, y
    éstas son diferentes para cada elemento, es decir, la energía de ionización para el nivel K en
    el Si (1.84 keV) es diferente de la energía de ionización del nivel K en el Pt (78.4 keV).

    La producción de rayos X característicos es un proceso de dos etapas: ionización seguida de


    relajación. En primer lugar, se elimina un electrón de una de las capas internas del átomo
    para que el átomo esté ionizado y en un estado inestable. En segundo lugar, el átomo recupera
    la estabilidad cuando un electrón de una capa externa llena la vacante de la cubierta interna
    y se liberan rayos X en un patrón que es "característico" para cada elemento. La energía de
    los rayos X emitidos es igual a la diferencia entre las energías de ionización de los electrones
    involucrados en la transición.

    4. Explique la energía crítica de ionización.


    Es la energía requerida para sacar un electrón de un nivel o subnivel estable.

    La ionización de un nivel interno se produce cuando un electrón se expulsa del átomo. Debido
    a que la energía de cada nivel y subnivel se define claramente, la energía mínima necesaria
    para sacar un electrón de un nivel específico también tiene un valor claramente definido, la
    llamada energía de ionización crítica (también conocida como energía de excitación crítica
    o energía de absorción de rayos X). Cada nivel y subnivel de una especie de átomo requiere
    una energía de ionización crítica diferente.

    B.
    5. Explique el principio de operación de las técnicas EDS y WDS.
    EDS
    La espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (EDS, EDX o XEDS) es una técnica
    microanalítica de rayos X cualitativa y cuantitativa que puede proporcionar información
    sobre la composición química de una muestra para elementos con número atómico (Z) > 3.

    Un haz de electrones se enfoca en la muestra, ya sea en un microscopio electrónico de barrido


    (SEM) o en un microscopio electrónico de transmisión (TEM). Los electrones del haz
    primario penetran en la muestra e interactúan con los átomos a partir de los cuales se produce.
    Dos tipos de rayos X resultan de estas interacciones: los rayos X de Bremsstrahlung,
    "radiación de frenado" y los rayos X característicos.
    Los rayos X son detectados por un detector de dispersión de energía que muestra la señal
    como un espectro, o histograma, de intensidad (número de rayos X o tasa de recuento de
    rayos X) versus energía de rayos X. Las energías de los rayos X característicos permiten
    identificar los elementos que forman la muestra, mientras que las intensidades de los picos
    de rayos X característicos permiten cuantificar las concentraciones de los elementos.

    WDS
    Los sistemas WDS utilizan la difracción de rayos X como el medio por el cual separan los
    rayos X de diferentes longitudes de onda. El espectrómetro consiste en un cristal analizador
    y un detector. Esos rayos X que golpean el cristal y difractan entrarán en el detector. Si un
    fotón de rayos X difractará depende de su longitud de onda, la orientación del cristal y el
    espaciado de la red del cristal. Solo los rayos X de una longitud de onda dada entrarán al
    detector en cualquier momento. Para medir los rayos X de otra longitud de onda, el cristal y
    el detector se mueven a una nueva posición. Dado que un espectrómetro WD específico
    puede medir solo una longitud de onda de rayos X a la vez, es importante que un sistema
    WDS tenga una serie de espectrómetros para funcionar de manera eficiente. Las microsondas
    electrónicas suelen tener hasta cinco espectrómetros WD, lo que les permite medir cinco
    elementos simultáneamente. Cada espectrómetro tiene típicamente entre dos y cuatro
    cristales analizadores, cada uno con un espaciado de red diferente, porque cada tipo de cristal
    puede difractar solo un rango dado de longitudes de onda.

    6. Realice un cuadro comparativo teniendo en cuenta las principales características y


    diferencias existentes entre las técnicas EDS y WDS.
    EDS vs WDS.
    7. Muestre y compare los espectros obtenidos por EDS y WDS.

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