Práctica-1-Pruebas Dinámicas y Estáticas en Los Amplificadores Electrónicos
Práctica-1-Pruebas Dinámicas y Estáticas en Los Amplificadores Electrónicos
Práctica-1-Pruebas Dinámicas y Estáticas en Los Amplificadores Electrónicos
º 1
Pruebas dinámicas y estáticas en los amplificadores electrónicos.
Objetivo:
Que el alumno sea capaz de efectuar las pruebas dinámicas y estáticas a los
amplificadores más empleados con componentes activos como OPAMP
(Amplificador Operacional) en circuito integrado, BJT (Transistor de Juntura
Bipolar) y JFET (Transistor de Efecto de Campo); se expondrán 2
procedimientos, uno para conocer y trazar las curvas características
correspondientes y otro para determinar e identificar los dispositivos con sus
parámetros y que estos se puedan comparar con los que da el fabricante.
1
Introducción:
Trabajo de casa:
2
Material necesario:
1 Fuente de poder
1 Multímetro
1 Osciloscopio
1 Generador de funciones
1 Transistor JFET canal N 2N5457 o equivalente
1 Transistor NPN BC547A o equivalente
1 OPAMP LM741 o equivalente
4 Capacitores de 22µF
2 Capacitores de 220µF
4 Resistencias de 1 KΩ a 1/2 watt
2 Resistencias de 10 KΩ a 1/2 watt
2 Resistencias de 460 Ω a 1/2 watt
1 Resistencia de 100 KΩ a 1/2 watt
1 Resistencia de 1 MΩ a 1/2 watt
1 Resistencia de 39 KΩ a 1/2 watt
1 Resistencia de 3.3 KΩ a 1/2 watt
Trabajo de laboratorio:
VCC= 15 V
Vi = Vpp
Vo = Vpp
Figura
1.1
3
AMPLIFICADOR CON TRANSISTOR DE JUNTURA BIPOLAR (BJT)
Figura 1.2
= mV
Vi = mVpp
V CE= V
Vo= Vpp
I B= µA
I C= mA
β=
4
AMPLIFICADOR CON TRANSISTOR DE EFECTO DE CAMPO (JFET)
Figura1.3
Pruebas dinámicas
Vi = mVpp
Vo= mVpp
Pruebas estáticas
5
VDS= V
VGS= mV
ID= mA
f) Con las mediciones anteriores trace la recta de carga de corriente
directa.
Conclusiones.