Principios Fundamentales Optris
Principios Fundamentales Optris
Principios Fundamentales Optris
PRINCIPIOS
FUNDAMENTALES
de la medición de la temperatura sin contacto
Contenido
Página
Principios físicos fundamentales .................................... 4 – 9
Bibliografía ......................................................................... 32
3
Principios físicos fundamentales
4
Tecnología infrarroja innovadora
5
Principios físicos fundamentales
2πhc2 1 C1 1
MλS = –––––– –––––––– = ––– ––––––––
λ5 ehc/λkT –1 λ5 eC2/λT –1
c Velocidad de la luz
C1 3,74 * 10 W m
–16 2
C2 1,44 * 10 –2 K m
h Cuanto de acción de Planck
k Constante Boltzmann
Radiación específica espectral Mλs del cuerpo negro en función de la longitud
de onda.
La representación gráfica de la ecuación en función de λ se
muestra en la siguiente imagen con diversas temperaturas
como parámetros.
Se puede ver que el pico de la radiación específica espec-
tral se desplaza hacia longitudes de onda más cortas al La longitud de onda, para la cual se encuentra el pico de la
ir aumentando la temperatura. Se puede derivar un gran radiación, se desplaza al ir aumentando la temperatura hacia
número de otros coeficientes, de los que se van a nombrar el sector de onda corta.
dos brevemente a continuación. Integrando la intensidad de
la radiación espectral por todas las longitudes de onda de
cero a infinito, se obtiene el valor de la radiación total emitida
por el cuerpo. Esta relación se denomina ley de Stefan-Boltz-
mann.
MλS = σ · T4 [W · m-2] σ = 5,67 · 10–8 Wm–2 K–4
En general la radiación emitida de un cuerpo negro en el
rango total de longitud de onda, es proporcional a la cuarta
potencia de su temperatura absoluta. En la representa-
ción gráfica de la ley de radiación de Planck se puede ver
igualmente que la longitud de onda, por lo que la radiación
emitida de un cuerpo negro presenta el pico, y se desplaza
al modificar la temperatura. La ley de desplazamiento de
Wien se puede deducir a partir de la fórmula de Planck por
diferenciación.
λ máx · T = 2898 µm · K
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Tecnología infrarroja innovadora
Termopila
Esquema funcional de un termómetro de infrarrojo Detector piroeléctrico
Bolómetro (FPA) (para cámaras de infrarrojo)
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Principios físicos fundamentales
Detectores térmicos
Material
En estos detectores se cambia la temperatura del elemento piroeléc-
detector por absorción de radiación electromagnética. El trico Flujo de radiación
cambio de temperatura conlleva la modificación de una pro-
piedad dependiente de la temperatura de este detector, que
se evalúa eléctricamente y que constituye una medida para Amplificador previo
la energía absorbida.
Termopares de radiación (termopilas)
Si se calienta el punto de unión de dos metales diferentes, Electrodo de retorno Electrodo frontal (brazo de reflexión)
se generará una tensión eléctrica debida al efecto termoeléc-
trico. Este efecto se aprovecha, con ayuda de termopares, Estructura básica de un detector piroeléctrico
desde hace ya mucho tiempo en el sector industrial para la
medición de la temperatura con contacto. Si se genera el Detectores piroeléctricos
Esta imagen muestra la estructura básica de un detector
piroeléctrico. El elemento sensible consta de un material pi-
roeléctrico con dos electrodos metalizados al vacío. La carga
de la superficie se modifica debido al efecto piroeléctrico, por
medio del cambio de temperatura del elemento sensible que
se produce durante la absorción de la radiación infrarroja.
Resulta una señal de salida que se procesa en un amplica-
dor previo.
Debido al modo de generar la carga en el piroeléctrico, el
flujo de la radiación se tiene que interrumpir, con ello, de
modo continuado alternante (corte periódico). La ventaja de
la amplificación posterior con selección en frecuencia es la
buena relación señal/ruido.
Bolómetro
En los bolómetros se aprovecha la dependencia de la tempe-
Termopila TS80 ratura de la resistencia eléctrica. El elemento sensible consta
de una resistencia, cuyo valor cambia con la absorción de
calentamiento del punto de unión por absorción de radiación, radiación térmica. El cambio de la resistencia origina un cam-
este componente se denominará en este caso termopar de bio de la tensión de la señal en declive, mediante la resisten-
radiación. En la imagen se han representado termopares cia del bolómetro. Para alcanzar una sensibilidad alta y una
de bismuto/antimonio dispuestos de forma circular alrede- capacidad detectora específica importante, es imprescindible
dor de una superficie del detector sobre un chip. Al calentar usar ante todo un material con un coeficiente de temperatura
la superficie del detector, se genera una tensión de señal alto de la resistencia eléctrica. Los bolómetros que trabajan
proporcional a la temperatura, que se puede medir con los con temperatura ambiente aprovechan tanto el coeficiente de
adaptadores de unión. temperatura de la resistencia de metales (p. ej. bolómetros
de capa fina y capa negra) como también el de semiconduc-
tores (p. ej. bolómetros de termistor).
Dignos de mención son los siguientes desarrollos tecnoló-
gicos en los bolómetros usados en equipos de imágenes
infrarrojas:
La tecnología de semiconductor sustituye el escáner
mecánico. FPAs (Focal Plane Arrays) se producen tomando
como base bolómetros de capa fina. Para lo que se usa
VOX (óxido de vanadio) o silicio amorfo como tecnologías
alternativas. Estas tecnologías permiten mejoras drásticas
en la relación calidad-precio. En la actualidad, los tamaños
típicos de detectores son 160x120, 320x240 y 640x480 píxel.
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Tecnología infrarroja innovadora
U Señal de detector
Tobj Temperatura de objeto
Tamb Temperatura de la radiación de fondo
Tpyr Temperatura de dispositivo
C Constante específica del dispositivo
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Emisividad y medición de la temperatura
La emisividad depende, en teoría, del material, del acabado Medición de la temperatura en metales
de su superficie, de la temperatura, de la longitud de onda, del
ángulo de medición y, bajo determinadas circunstancias, tam-
bién de la estructura usada de medición. Pero un gran número
de materiales no metálicos presenta, por lo menos en el rango
espectral de onda larga, una emisividad alta y relativamente
constante, independientemente del acabado de su superficie.
ελ
ελ
8
LT
7
G5
6 MT
5 3M
Error [%]
2M
4
1M
3 0,5M
0
0 250 500 750 1000 1250 1500 1750 2000 2250 2500
Emisividad de metales: 1 Plata, 2 Oro 3 Platino, 4 Rodio, 5 Cromo, 6 Tántalo, 7 Error de medición a un 10 por ciento de emisividad mal ajustada en función de la
Molibdeno longitud de onda y temperatura del objeto (LT: 8 – 14 µm; G5: 5 µm; MT: 3,9 µm;
3M: 2,3 µm; 2M: 1,6 µm; 1M: 1,0 µm); 05M: 525 nm.
80
Los fabricantes de dispositivos de infrarrojo pueden determi-
nar el rango espectral óptimo para la medición con ayuda de
una prueba del material plástico. El grado de reflexión se en- 60
20
0
2 3 4 5
Longitud de onda en µm
12
Tecnología infrarroja innovadora
optris® LS-PTB
13
Emisividad y medición de la temperatura
La lente de los termómetros infrarrojos se describen gene- Por este motivo, todos los fabricantes de termómetros de
ralmente mediante el coeficiente de la distancia al campo de infrarrojo utilizan geometrías definas para calibrar, o sea, en
medición (E:M o D:S). En función de la lente, el termómetro función del diámetro del orificio de la fuente de radiación se
de infrarrojo recibe, no obstante, también cuotas de radiación determina una distancia respecto al cuerpo de referencia. En
fuera del campo de medición específica. El valor máximo la documentación técnica se puede ver que, para el tamaño
corresponde así a la radiación emitida por la fuente de del campo de medición de los dispositivos, se indica un valor
radiación hemisférica (semiespacio). El cambio respectivo de porcentual definido del pico nombrado antes – generalmente
la señal en relación con el cambio de magnitud de la fuente un 90 % o un 95 %, respectivamente.
de radiación se describe mediante el factor entorno (SSE:
Optris GmbH dispone de propios laboratorios modernos.
Size-of-Source Effect).
Al elaborar los certificados de calibración se protocoliza,
junto a la temperatura ambiente y humedad del aire del labo-
ratorio de calibración, también la distancia de medición y el
orificio del cuerpo (geometría de calibración).
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Tecnología infrarroja innovadora
Lentes y ventanas
Al inicio de la cadena de medición hay un sistema óptico que
consta, en la mayoría de los casos, de una lente. Esta lente
capta la energía infrarroja emitida por un punto a medir y la
enfoca en un detector. Al realizar las mediciones es impor-
tante que el objeto a medir sea más grande o igual al campo
visual del sensor, porque sino se alterará el valor medido.
La relación de la distancia describe el tamaño del punto
a medir para una separación determinada. Se ha definido
como E:M – la relación de la distancia de medición (separa-
ción del dispositivo de medición al objeto a medir) al diá-
metro del punto a medir. La resolución óptica es mejor con Transmisión de materiales infrarrojos típicos (1 mm de espesor) 1 Vidrio,
relaciones de mayor magnitud. 2 Germanio, 3 Silicio 4 KRS5
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Óptica, tecnología de puntero y electrónica
Material de ventanas / Propiedades AI2O3 SiO3 CaF2 BaF3 AMTIR ZnS ZnSe KRS5 GE Si
Rango recomendado de longitud de onda
1 ... 4 1 ... 2,5 2 ... 8 2 ... 8 3 ... 14 2 ... 14 2 ... 14 1 ... 14 2 ... 14 1,5 ... 8
infrarroja in µm
Temperatura máx. de ventanas 1800 900 600 500 300 250 250 s. i. 100 250
Transmisión en el sector visible
sí sí sí sí no sí sí sí no no
Resistencia a la humedad,
muy buena muy buena poca poca buena buena buena buena buena muy buena
ácidos y combinaciones de amoníaco
Apropiado para vacío ultraalto sí sí sí sí s. i. sí sí sí sí sí
Las ventanas con capas antireflejo poseen una transmisión Para visualizar puntos a medir en su tamaño correcto, se
considerablemente más alta (hasta un 95 por ciento). han introducido punteros ópticos, que tienen una marcación
La pérdida de transmisión puede corregirse junto con el de tamaños en su retículo cruzado; permiten apuntar con
ajuste de la transmisión en la ventana, siempre y cuando el precisión. Los pirómetros láser son considerablemente más
fabricante haya indicado la transmisión para el rango corres- cómodos y seguros en su manejo y, por lo tanto, se usan con
pondiente de longitud de onda. En otro caso, se puede deter- ayuda de tecnologías de iluminación láser para visualizar el
minar experimentalmente con el termómetro de infrarrojo con tamaño del punto a medir, independientemente de la distan-
el que se está midiendo y un cuerpo comparativo. cia, según los coeficientes representados en el diagrama del
punto a medir.
Los dos rayos láser curvados y que parten de la lente des-
criben aprox. el estrechamiento del rayo de medición, o de
Últimas tendencias en la tecnología de visión su ensanchamiento a distancias grandes. Sin embargo, la
Los nuevos principios de medición y tecnologías de visión indicación del diámetro del punto a medir se efectúa en este
permiten una aplicación más precisa de dispositivos de caso sólo con dos puntos en su perímetro. A causa del dise-
medición de la temperatura por infrarrojo. Los productos ño cambia la posición del ángulo de estos puntos láser en el
desarrollados del sector de láser de estado sólido se adap- círculo de medición, lo que define la función del puntero.
tan marcando los tamaños del punto a medir con ayuda de Los pirómetros vídeo constituyen productos perfeccionados
disposiciones láser múltiples. Para este fin los tamaños ver- que permiten una marcación precisa del campo de medición,
daderos del punto a medir se indican en el campo del objeto, utilizando al mismo tiempo un módulo vídeo y un puntero de
p. ej., por medio de tecnologías de puntero de láser cruzado. láser cruzado.
En otros dispositivos, los chips de cámara vídeo sustituyen
los costosos sistemas ópticos de visión.
Desarrollo de lentes de alto rendimiento en combinación
con tecnologías de visión de láser cruzado
Los termómetros de infrarrojo portátiles, simples y econó-
micos emplean punteros láser de un punto, para marcar el
centro del punto a medir con un cierto error de paralelismo.
El usuario asume en este caso la evaluación del tamaño del
punto a medir con ayuda del diagrama del punto a medir y de
la distancia estimada.
Si el objeto a medir ocupa sólo una parte del punto a medir,
se representarán los incrementos de temperatura sólo como
valor medio entre la parte de superficie caliente y la parte fría
El software Compact Connect ofrece múltiples opciones de ajuste para piróme-
que rodea esta superficie. Si, por ejemplo, una unión eléctri- tros vídeo
ca, debido a un contacto oxidado, tiene una resistencia óhmi-
ca más alta y se calienta, por lo tanto, de modo no admisible,
se representará este hecho, en el caso de objetos pequeños
y puntos a medir demasiado grandes, sólo como un calenta-
miento insignificativo, de tal modo que no se podrán detectar
situaciones potencialmente peligrosas.
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Tecnología infrarroja innovadora
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Óptica, tecnología de puntero y electrónica
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Tecnología infrarroja innovadora
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Termómetros de infrarrojo y aplicaciones
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Tecnología infrarroja innovadora
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Termómetros de infrarrojo y aplicaciones
Al contrario de los termómetros portátiles, se emplean los 1. Medición de la temperatura en el temple por inducción
sensores fijos de temperatura IR con frecuencia para asegurar
la calidad de las líneas de producción. Además de la medición
de la temperatura sin contacto e indicación de los datos de
medición se pueden también controlar las temperaturas de
procesos.
La amplia gama de opciones para adaptar los sensores de
temperatura IR a la aplicación de medición permite tanto un re-
equipamiento sin problemas en plantas de producción existen-
tes, como también la dotación a largo plazo de plantas nuevas
en colaboración estrecha con clientes OEM en la construcción
de maquinaria. Se pueden encontrar aplicaciones múltiples:
Industria automotriz Medicina Producción de Debido a las fuertes cargas electromagnéticas, el optris®
alimentos CTlaser 1M, 2M ó 3M es particularmente ideal para este fin
porque la electrónica está alejada del cabezal con su lente
y así queda protegida.
optris® CTlaser
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Tecnología infrarroja innovadora
Cabezal de sensado pequeño optris® CT LT con sistema de purga de aire laminar Medición de la temperatura por infrarrojo en la producción de papel y cartón
en una máquina de termoconformado
Los elaboradores de plásticos producen una amplia gama de Las altas velocidades de producción dde bandas de papel con
productos plásticos de diferentes dimensiones, espesores, modernas máquinas laminadoras requieren un control preciso
texturas, colores y muestras estampadas. y rápido de la temperatura, del producto de encolado y del
Para este fin la fabricación de productos está expuesta producto base a laminar. Sólo observando estrictamente los
a numerosos procesos térmicos. Si se conocen los puntos coeficientes de temperatura determinados por la tecnología
críticos en el proceso, se emplean termómetros de infrarrojo entre los componentes del producto se consigue una lamina-
para medir y regular la temperatura. ción exacta y que no se deforma.
Una aplicación importante es la integración en máquinas de La vigilancia de la temperatura y el control de la temperatura
termoformado. En el termoformado se calienta el material de superficie plana con sensores de temperatura de infrarrojo
inicial con radiadores y se homogeneiza térmicamente. Una miniaturizados de Optris en puntos de medición difícil trans-
alta homogeneidad por la superficie y un ajuste correcto de versalmente a la banda en el rodillo prensa y en el rodillo de
la temperatura de conformación conllevan resultados de encolado, garantizan una alta uniformidad del laminado. Los
excelente calidad. dispositivos de purga de aire y limpieza en la sonda óptica
de los sensores de infrarrojo permiten una medición sin
Para el control del perfil de la temperatura se instalan, p. ej.,
mantenimiento. La evaluación inteligente de las señales de
los termómetros de infrarrojo optris® CT LT en una línea en
los sensores de infrarrojo en el borde del curso de la banda
la salida de la zona calentamiento y así visualizan posibles
es garantía, además, de un control posterior geométrico del
gradientes de temperatura.
dispositivo de encolado.
optris® CSmicro
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Termómetros de infrarrojo y aplicaciones
Medición de la temperatura por infrarrojo en plaquitas y componentes electrónicos Medición de la temperatura por infrarrojo en soldadura láser
Los fabricantes de elementos constructivos electrónicos y pla- Los procedimientos de soldadura y separación por láser
cas de circuitos impresos usan cada vez más la medición de representan una tecnología eficiente y práctica de última
la temperatura sin contacto para incrementar su productividad, generación. En estos procedimientos se aprovechan las
así como para registrar y controlar el comportamiento térmico ventajas de la precisión del rayo láser y de su alta densidad
de sus productos. energética. Al mismo tiempo, la mayor precisión de corte
o soldadura y el tiempo de espera más corto a una tempera-
Con ayuda de cámaras de infrarrojo es posible realizar un
tura simultáneamente más alta son factores decisivos para
análisis detallado en tiempo real del comportamiento térmi-
la calidad de la manipulación de productos y, por lo tanto, las
co de placas de circuitos impresos, tanto en el sector R&D
rutinas de compensación respectivas. La causa de cambios
como también en la producción en serie. Bajo determinadas
que disminuyen la precisión es, entre otras, la dilatación
circunstancias y debido al alto número de piezas producidas y
longitudinal en función de la temperatura del material.
de puestos de test y prueba resulta el empleo de cámaras ter-
mográficas de infrarrojo en varias estaciones demasiado caro Con los sensores de temperatura de infrarrojo miniaturizados
o costoso. En estos casos es ideal el control de la temperatura optris® CT LT se puede medir rápidamente la temperatura del
de elementos constructivos críticos en plantas de producción producto justamente en el punto de separación o soldadura
mediante sensores de temperatura de infrarrojo miniaturizados y generar las señales respectivas de corrección.
optris® CT LT . Así se registran los componentes críticos, que Se pueden registrar puntos a medir muy pequeños de hasta
– en una producción en serie – se pueden clasificar reprodu- 0,6 mm utilizando el optris® CT LT con su cabezal de sensor
cibles desde el lugar de medición (posición sobre placa de cir- respectivo. Los ingenieros de producción disponen así de un
cuitos impresos), por un sensor de temperatura de infrarrojo, y sistema de medición y control de servicio continuo para el
la medición de la temperatura se aporta a la rutina de posición comportamiento térmico de sus productos con los siguientes
de pruebas para tomar las medidas necesarias. Para este fin resultados:
se pueden registrar con un cabezal de sensor del optris® CT
• Ajuste y carga rápidos de las plantas para cambio de lote,
LT los puntos a medir más pequeños de hasta 0,6 mm.
reducción de tiempos de marcha en vacío y materiales de
prueba
• Opción de protocolo para producción de lotes
• G
arantía de una calidad de producción alta y uniforme
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Tecnología infrarroja innovadora
Introducción
Semejantes cámaras trabajan como cámaras normal digita-
les: tienen un campo visual, el denominado field of view, que
puede ser de 6º (tele lente) y 90º (lente de gran angular). Cámara termográfica, suministrada con
Cuanto más lejos está el objeto, más grande es el sector corriente a través de una USB de un tablet
registrado de imagen pero, por lo tanto, también el recorte
de la imagen registrado por un píxel individual. La ventaja
consiste en que la luminosidad de la iluminación es indepen-
Semejantes lentes mejoradas siguen constituyendo un factor
diente de la distancia en superficie suficientemente grandes.
económico considerable en cámaras termográficas frente
Así, las mediciones de la temperatura son neutrales en gran
a los objetivos en el rango espectral visible, convencionales
parte frente a la distancia al objeto a medir. [1]
y fabricados en grandes series. Están hechos como sistemas
La radiación térmica puede enfocarse en el sector infrarrojo esféricos de 3 lentes o asféricas de 2 lentes y tienen que
de onda larga sólo por lentes de germanio, aleaciones de calibrarse para las mediciones correctas termográficamen-
germanio, sales de cinc o espejos que reflejan en superficie. te, ante todo en cámaras con objetivos intercambiables, en
cuanto a su acción en cada píxel individual.
0,5
1,20 m
m
4m
4m 2m
2,0
VFOV
OV
DF
m
1,61
V
HFO
Los tamaños del campo de medición pueden ser calculados para una distancia cualquiera en línea en:
http://www.optris.es/calculador-optico
25
Cámaras termográficas y aplicaciones
El corazón de una cámara de infrarrojo es, en el mayor nú- necesitan una calibración bastante costosa, durante la cual se
mero de todos los sistemas termográficos aplicados a escala asignan una serie de parámetros de sensibilidad a cada píxel
mundial, un focal plane array (FPA), un sensor de imagen a diversas temperaturas del chip o cuerpo negro. A fin de au-
integrado con tamaños de 20.000 a 1 millón de píxel. Cada mentar la precisión se termostatizan los FPAs del bolómetro
píxel mismo es un microbolómetro con un tamaño de 17 x 17 a temperaturas definidas y con alta precisión de regulación.
a 35 x 35 µm². Tales receptores térmicos tienen un espesor
Gracias al desarrollo de laptops, UMPCs, notebooks y tablets
de 150 nanómetros y se calientan por radiación térmica en
cada vez más potentes, pequeños y, al mismo tiempo, más
el plazo de 10 ms en aprox. un quinto de la diferencia de
económicos, es posible desde hace poco, utilizar su(s)
temperatura entre la temperatura del objeto y propia. Una
sensibilidad tan alta se alcanza por una capacidad térmica • pantallas grandes para representar imágenes térmicas,
extremadamente pequeña en combinación con un aislamien- • pilas de ión-litio para el suministro de corriente,
to excelente en relación con el entorno evacuado. El grado • capacidad
de cálculo para representación flexible y de alta
de absorción de la superficie receptora semitransparente se calidad de señales en tiempo real,
incrementa con la fuente de luz siguiente mediante la onda
• capacidad
de memoria para grabación vídeo de imágenes
de luz dejada pasar por interferencia y luego refleja sobre la
térmicas prácticamente ilimitadas temporalmente, así como
superficie del chip de silicio. [3]
• interfaces
Ethernet, Bluetooth, WLAN y software para
A fin de aprovechar este efecto de interferencia propia se ha integración del sistema de termografía en el entorno de la
de posicionar la superficie existente del bolómetro, hecha aplicación.
de óxido de vanadio o silicio amorfo, por medio de técnicas
especiales de ataque, a una distancia de aprox. 2 µm del
circuito de conmutación selectiva. La detectividad específica La interfaz USB 2.0 estandarizada y disponible en todas
según superficie y anchura de banda de los FPAs descritos partes permite así cuotas de transmisión de datos de
aquí alcanza valores alrededor de 109 cm Hz1/2 / W. Por lo • 32 Hz con 640 x 480 píxel de resolución de imagen y de
tanto, es superior en una orden de magnitud frente a otros • 120 Hz para tamaños de imagen de 20.000 pixel.
sensores térmicos, que se emplean p. ej. en pirómetros.
La técnica USB 3.0 es incluso apta para resoluciones de
Con la temperatura propia del bolómetro cambia, a su vez, imágenes térmicas XGA de hasta 100 Hz de frecuencia vídeo.
su resistencia, que se transforma en una señal de tensión Aplicando el principio de cámara de red en el sector de termo-
eléctrica. Los convertidores rápidos A/D de 14 bit digitalizan grafía resultan propiedades del producto totalmente nuevas
la señal vídeo ampliada y serializada antes. Un procesamien- y con una relación muy mejorada entre precio/calidad.
to digital de señales calcula, para cada píxel individual, un La cámara de infrarrojo está conectada a través de la interfaz
valor de temperatura y genera en tiempo real las imágenes de 480 Mbaudios en tiempo real con el ordenador basado en
de colores falsos conocidas. Las cámaras termográficas Windows©, que asume también el suministro de corriente.
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Tecnología infrarroja innovadora
El hardware de cámaras USB de infrarrojo El montaje de actuadores con velocidad respectiva permite,
en la cámara USB de infrarrojo, una comparación propia en
El USB se consideraba antes como puro medio de comu-
250 ms. Lo que se puede comparar con el parpadeo del ojo
nicación en oficinas. La difusión sumamente grande, en
y así aceptar para muchos los procesos de medición. En
comparación con la de FireWire, de esta interfaz estándar ha
procesos sobre cinta, en los que se han detectar puntos
sido punto de partida de numerosos desarrollos, que han me-
calientes repentinos, se pueden aprovechar, a menudo y a
jorado la idoneidad industrial de la interfaz y, por lo tanto, la
corto plazo, imágenes de referencia generadas “buenas”,
utilidad de terminales USB 2.0 – y en este caso, sobre todo,
como una medición de imagen diferencial dinámica. Así es
de cámaras USB –. Entre los que cinfiguran:
posible un servicio permanente sin elemento con movimiento
• cables
aptos para cadenas de arrastre y hasta 200 ºC con
longitudes de línea de hasta 10 m [4]
• Cat.
5e (Ethernet) de hasta 100 mm – prolongaciones de
cable con amplificadores de señal
• módems
con USB ópticos de fibra óptica para longitudes
de línea de hasta 10 km [5]
Debido a la amplia gama de buses USB, es posible conectar
con el laptop, p. ej., cinco cámaras de infrarrojo de 120 HZ Para referenciar la desviación se cierra brevemente el campo visual del conjunto
del sensor de infrarrojo
con un hub estándar por una línea Ethernet de 100 m.
Los dispositivos termográficos a prueba de agua, vibraciones
y choques satisfacen la clase de protección IP 67 y, por lo mecánico.
tanto, son también aptos para su empleo intenso en bancos Justo en el empleo de la cámara en la tecnología de proce-
de pruebas y ensayos. 4 x 5 x 4 cm³ de tamaño y 200 g de samiento láser 10,6 µm-CO2 se ha probado su eficiencia la
peso reducen, para este fin los gastos para envolventes de opción de cerrar por control externo el canal óptico, para una
enfriamiento y sistemas de purga de aire. señalización independiente al mismo tiempo del estado de
Todas las cámaras de infrarrojo, comercializadas a escala servicio protegido opto-mecánicamente de la cámara. Las
mundial, requieren regularmente una corrección de desvia- mediciones de la temperatura en todos los otros láseres de
ción de la medida, debida a la variación térmica de los bo- procesamiento que trabajan en el rango 800 nm a 2,6 µm se
lómetros y su procesamiento de señal on-chip. Para este fin pueden realizar in situ gracias al buen blocaje de filtración.
se mueve por motor una pieza metálica ennegrecida delante
del sensor de imagen. Así se referencia cada elemento de Los campos de empleo principales del dispositivo termo-
imagen a la misma temperatura conocida. Mientras se calibra gráfico descrito aquí son:
tal desviación, huelga decir que las cámaras termográficas
son ciegas. A fin de minimizar este molesto efecto se puede • Análisis
de procesos térmicos dinámicos en el desarrollo
iniciar, a través de un pin de mando, una corrección de de productos y procesos
desviación en el momento apropiado. Además, las cámaras • Empleo
estacionario para observación y regulación conti-
se han concebido de modo que la duración de la calibración nuadas de procesos térmicos
propia sea lo más corta posible: • Uso
ocasional de dispositivo de medición portátil en el sec-
tor de mantenimiento y para la detección de fugas térmicas
27
Cámaras termográficas y aplicaciones
Las ventajas de una grabación vídeo de 120 Hz se pueden El software ofrece también un modo Layout, que almacena
constatar en la aplicación en el sector de I+D. Así se pueden y restaura los modos de representación más diferentes. El
analizar más tarde a cámara lenta los procesos térmicos editor vídeo permite el procesamiento de archivos AVI (.ravi).
que están sólo brevemente en el campo visual de la cámara. Tales archivos pueden analizarse también fuera de línea con
De esta manera se pueden extraer imágenes individuales el software utilizable varias veces en paralelo. Entre los mo-
posteriormente desde esta secuencia de video con plena dos de grabación vídeo figuran modos de servicio intermiten-
resolución geométrica y térmica. Además, las lentes inter- tes que permiten la grabación de procesos térmicos lentos
cambiables, inclusive un sistema de microscopio, ofrecen y de su observación rápida.
numerosas opciones para adaptar el dispositivo a diferentes
La transmisión de datos en tiempo real a otros programas
tareas de medición. Mientras que 6 objetivos se usan más
se efectúa con un archivo DLL documentado en detalle
bien para observar detalles a gran distancia, con un sistema
como parte de un kit de desarrollo de software. A través de
de microscopio se pueden medir objetos con un tamaño de
la interfaz DLL se pueden controlar también todas las otras
4 x 3 mm² y una resolución geométrica de 25 x 25 µm.
funciones de la cámara. Como alternativa, el software puede
Una interfaz de procesos con aislamiento galvánico es ideal comunicar con un puerto serial (COM) y, así p. ej., activar
para cámaras USB de infrarrojo con montaje fijo, donde la directamente una interfaz RS422.
información de temperatura generada por la imagen térmica
se transmite como tensión de señal. Además, las emisivida-
des referidas a la superficie o las temperaturas referenciadas Aplicaciones
y medidas sin contacto o con contacto se pueden comunicar
A continuación se van a tratar a modo de ejemplo cinco apli-
al sistema de cámara a través de una entrada de tensión.
caciones típicas que describen el campo de aplicación de las
Para documentar la calidad, otra entrada digital puede emitir
cámaras USB de infrarrojo
instantáneas o secuencias vídeo. Tales imágenes térmicas
según el producto individual pueden almacenarse automáti-
camente en servidores centrales. 1. Optimización de procesos de producción
La fabricación de piezas de plástico, como botellas PET, re-
quiere un calentamiento definido de las llamadas preformas,
El software de análisis garantiza flexibilidad para garantizar un espesor homogéneo del material duran-
No se requiere instalación de un driver, desde que las cáma- te el soplado de las botellas. En la planta de producción se
ras USB de infrarrojo usan el tipo de vídeo USB estándar y el fabrica a modo de ensayo con piezas brutas de tan sólo unos
draiver HID ya integrados a partir de Windows XP. La correc- 20 mm de espesor a plena velocidad de trabajo de aprox.
ción en tiempo real según píxel individual de los datos vídeo un m/s.
y cálculo de la temperatura tienen lugar en el ordenador. La
Cuando los cuerpos de prueba a la hora de pasar puede
calidad de las imágenes, es impresionantemente buena para
variar su temperatura, se tiene que grabar una frecuencia
un sensor de 20.000 píxel, que se alcanza por un complejo
vídeo de 120 Hz para poder medir el perfil térmico de una
algoritmo de renderización, con base informática, que calcula
preforma. La cámara se posiciona de tal modo que sigue el
los campos de temperatura en formato VGA.
El software de usuario destaca por su alta flexibilidad
y portabilidad. Además de las funciones estándares,
el software ofrece las siguientes propiedades:
• Numerosas funciones de exportación de datos
e imágenes térmicas para respaldar informes
y análisis fuera de línea
• Paletas de colores mezcladas y escalables
• Representación de perfil de posicionamiento
libre
• Número ilimitado de campos de medición
con opciones separadas de alarma y
• Representaciones vídeo diferenciales
basadas en imágenes de referencia.
28
Tecnología infrarroja innovadora
29
Cámaras termográfica y aplicaciones
Cámara de infrarrojo
Producto
Pirómetro de referencia
Control de la temperatura en plantas solares
30
Tecnología infrarroja innovadora
31
Bibliografía
[2] VDI/ VDE Richtlinie Technische Temperaturmessungen, 2. Stahl, Miosga: Grundlagen Infrarottechnik, 1980,
Strahlungsthermometrie – Kalibrierung von Strahlungs- Dr. Alfred Hütthig Verlag Heidelberg
thermometern, 2004, VDI/ VDE 3511, Blatt 4.3
3. Walther, Herrmann: Wissensspeicher Infrarotmesstech-
[3] Trouilleau, C. et al.: High-performance uncooled amor- nik, 1990, Fachbuchverlag Leipzig
phous silicon TEC less XGA IRFPA with 17 μm pixel-
pitch; “Infrared technologies and applications XXXV”, 4. Walther, L., Gerber, D:. Infrarotmesstechnik, 1983,
Proc. SPIE 7298, 2009 Verlag Technik Berlin
[4] Schmidgall, T.; Glänzend gelöst – Fehlerdetektion an 5. De Witt, Nutter: Theory and Practice of Radiation
spiegelnden Oberflächen mit USB2.0 – Industriekame- Thermometry, 1988, John Wiley & Son, New York, ISBN
ras, A&D Kompendium 2007/2008, S. 219 0-471-61018-6
[5] Icron Technology Corp.; Options for Extending USB, 6. Wolfe, Zissis: The Infrared Handbook, 1978, Office of
White Paper, Burnaby; Canada, 2009 Naval Research, Department of the Navy, Washington
DC.
32
Apéndice: Glosario Tecnología infrarroja innovadora
Absorción (grado de absorción) Relación entre la radiación absorbida por un objeto y la radiación incidente. Una cifra
entre 0 y 1.
Filtro Material, que sólo es transparente para determinadas longitudes de onda de infrarrojo.
Cuerpo gris Un objeto que emite una cuota determinada de cantidad de energía de un cuerpo
negro para cada longitud de onda.
IFOV Ángulo visual momentáneo: una medida para la resolución geométrica de una cámara
de infrarrojo.
NETD Ruido equivalente de la diferencia de temperatura. Una medida para el ruido de imá-
genes de una cámara de infrarrojo.
Parámetros del objeto Una serie de valores, con los que se describen las condiciones, bajo las cuales se
han de realizar las mediciones, así como el objeto a medir mismo (p. ej. emisividad,
temperatura ambiente, distancia, etc.)
Señal de objeto Un valor no calibrado, que se refiere a la cantidad de radiación, que la cámara recibe
del objeto a medir.
Temperatura de referencia Una temperatura con la que se pueden comparar los valores medidos regulares.
Grado de reflexión Relación entre la radiación reflexión por un objeto y la radiación incidente. Una cifra
entre 0 y 1
Cuerpo negro Objeto con un grado de reflexión de cero. Toda radiación es debida a su propia tempe-
ratura.
Radiación específica espectral Cantidad de energía emitida por un objeto, referida a tiempo, superficie y longitud de
onda (W / m² / µm)
Radiación específica Cantidad de energía emitida por un objeto por unidad de tiempo y superficie (W / m²)
Radiación Cantidad de energía emitida por un objeto, referida a tiempo, superficie y ángulo
sólido (W / m² / sr)
Flujo de radiación Cantidad de energía emitida por un objeto por unidad de tiempo (W)
Diferencia de temperatura Un valor que se calcula por substracción de dos valores de temperatura.
Rango de medición de la tempera- El rango de medición de la temperatura actual de una cámara de infrarrojo. Las
tura cámaras pueden disponer de varios rangos. Se indican con ayuda de dos valores de
temperatura de cuerpo negro, que sirven de valores límite para la calibración actual.
Transmisión (grado de transmisión) Los gases y cuerpos sólidos presentan una transparencia diferente. La transmisión
indica la cantidad de la radiación infrarroja, que dejan pasar. Una cifra entre 0 y 1.
33
Apéndice: Tabla de emisividad
Referencias
1. Mikaél A. Bramson: Infrared Radiation, A Handbook for 6. Paljak, Pettersson: Thermography of Buildings, Swedi-
Applications, Plenum Press, N.Y. sh Building Research Institute, Stockholm 1972
2. William L. Wolfe, George J. Zissis: The Infrared Hand- 7. Vlcek, J.: Determination of emissivity with imaging
book, Office of Naval Research, Department of Navy, radiometers and some emissivities at λ = 5 µm. Photo-
Washington, D.C. grammetric Engineering and Remote Sensing.
3. Madding, R.P.: Thermographic Instruments and Sys- 8. Kern: Evaluation of infrared emission of clouds and
tems. Madison, Wisconsin: University of Wisconsin ground as measured by weather satellites, Defence
– Extension, Department of Engineering and Applied Documentation Center, AD 617 417.
Science
9. Öhman, Claes: Emittansmätningar med AGEMA E-Box.
4. William L. Wolfe: Handbook of Military Infrared Tech- Teknisk rapport, AGEMA 1999. (Mediciones de emisión
nology, Office of Naval Research, Department of Navy, con AGEMA E-Box. Informe técnico, AGEMA 1999.)
Wahsington, D.C.
10. V
DI/VDE – Richtlinien 3511, Blatt 4, technische Tem-
5. Jones, Smith, Probert: External thermography of peraturmessungen, Strahlungsthermometrie, Dez.
buildings …, Proc. Of the Society of Phot-Optical 2011
Instrumentation Engineers, vol. 110, Industrial and Civil
Applications of Infrared Technology, Juni 1977 London
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Tecnología infrarroja innovadora
Aluminio Anodizado, gris claro, romo 70 WS 0,61 9 Bronce Bronce fosforoso 70 LW 0,06 9
Aluminio Anodizado, gris claro, romo 70 LW 0,95 9 Bronce Bronce fosforoso 70 SW 0,08 1
Aluminio Chapa anodizada 100 T 0,55 2 Bronce Poroso, rugoso 50 – 100 T 0,55 1
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Apéndice: Tabla de emisividad
Material Especificación Temp. ºC Espectro Emisividad R Material Especificación Temp. ºC Espectro Emisividad R
Hierro y acero Oxidado 1227 T 0,89 4 Hierro fundido Pulido 40 T 0,21 2
Hierro y acero Pulido 100 T 0,07 2 Hierro fundido Pulido 200 T 0,21 1
Hierro y acero Pulido 400 – 1000 T 0,14 – 0,38 1 Hierro fundido No trabajado 900 – 1100 T 0,87 – 0,95 1
Hierro y acero Chapa pulida 750 – 1050 T 0,52 – 0,56 1 Piel Persona 32 T 0,98 2
Hierro y acero Rugoso, superficie plana 50 T 0,95 – 0,98 1 Madera 17 SW 0,98 5
Hierro y acero Oxidado, rojo 20 T 0,69 1 Madera 19 LLW 0,962 8
Hierro y acero Rojo de óxido, chapa 22 T 0,69 4 Madera Cepillada 20 T 0,8 – 0,9 1
Hierro y acero Fuertemente oxidado 50 T 0,88 1 Madera Roble cepillado 20 T 0,9 2
Hierro y acero Fuertemente oxidado 500 T 0,98 1 Madera Roble cepillado 70 LW 0,88 9
Hierro y acero Fuertemente herrumbroso 17 SW 0,96 5 Madera Roble cepillado 70 SW 0,77 9
Chapa recubierta fuertemente Madera Esmerilada 0 T 0,5 – 0,7 1
Hierro y acero 20 T 0,69 2
de herrumbre
Madera Pino, 4 muestras diferentes 70 LW 0,81 – 0,89 9
Hie.estaño Chapa 24 T 0,064 4
Madera Pino, 4 muestras diferentes 70 SW 0,67 – 0,75 9
Esmalte 20 T 0,9 1
Madera Madera chapa, lisa, seca 36 SW 0,82 7
Esmalte Laca 20 T 0,85 – 0,95 1
Madera Madera chapa, sin tratar 20 SW 0,83 6
Tierra Saturada con agua 20 T 0,95 2
Madera Blanca, húmeda 20 T 0,7 – 0,8 1
Tierra Seca 20 T 0,92 2
Cal T 0,3 – 0,4 1
Placa fibrosa Dura, sin tratar 20 SW 0,85 6
Carbono Grafito, superficie limada 20 T 0,98 2
Placa fibrosa Otrelita 70 LW 0,88 9
Carbono Polvo de grafito T 0,97 1
Placa fibrosa Otrelita 70 SW 0,75 9
Carbono Polvo de carbón vegetal T 0,96 1
Placa fibrosa Plancha de partículas 70 LW 0,89 9
Carbono Hollín de velas 20 T 0,95 2
Placa fibrosa Plancha de partículas 70 SW 0,77 9
Carbono Hollín de lámparas 20 – 400 T 0,95 – 0,97 1
Placa fibrosa Porosa, sin tratar 20 SW 0,85 6
Laminado de fibras de
Barniz Sobre parquet de roble 70 LW 0,90 – 0,93 9 Plástico vidrio (placa de circuitos 70 LW 0,91 9
impresos)
Barniz Sobre parquet de roble 70 SW 0,9 9
Laminado de fibras de
Barniz Mate 20 SW 0,93 6 Plástico vidrio (placa de circuitos 70 SW 0,94 9
impresos)
Yeso 20 T 0,8 – 0,9 1
Plancha aislante de
Revoque yeso 17 SW 0,86 5 Plástico 70 LW 0,5 9
poliuretano
Revoque yeso Plancha de yeso, sin tratar 20 SW 0,9 6 Plancha aislante de
Plástico 70 SW 0,29 9
poliuretano
Revoque yeso Superficie rugosa 20 T 0,91 2
PVC, suelo de plástico,
Vidrio Delgado 25 LW 0,8 – 0,95 10 Plástico 70 LW 0,93 9
romo, estructurado
Oro Pulido al brillo 200 – 600 T 0,02 – 0,03 1 PVC, suelo de plástico,
Plástico 70 SW 0,94 9
romo, estructurado
Oro Altamente pulido 100 T 0,02 2
Cobre Electrolítico, pulido al brillo 80 T 0,018 1
Oro Pulido 130 T 0,018 1
Cobre Electrolítico, pulido –34 T 0,006 4
Granito Pulido 20 LLW 0,849 8
Cobre Rascado 27 T 0,07 4
Granito Rugoso 21 LLW 0,879 8
Granito Rugoso, 4 muestras diferentes 70 LW 0,77 – 0,87 9 Cobre Fundido 1100 – 1300 T 0,13 – 0,15 1
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Tecnología infrarroja innovadora
Material Especificación Temp. ºC Espectro Emisividad R Material Especificación Temp. ºC Espectro Emisividad R
3 colores rociados sobre Molibdeno 1500 – 2200 T 0,19 – 0,26 1
Laca 70 LW 0,92 – 0,94 9
aluminio
Molibdeno Hilo 700 – 2500 T 0,1 – 0,3 1
3 colores rociados sobre
Laca 70 SW 0,50 – 0,53 9
aluminio Mortero 17 SW 0,87 5
Aluminio sobre superficie Mortero Seco 36 SW 0,94 7
Laca 20 T 0,4 1
rugosa
Níquel Alambre 200 – 1000 T 0,1 – 0,2 1
Laca Baquelita 80 T 0,83 1
Níquel Electrolítico 22 T 0,04 4
Resistente a altas tempe-
Laca 100 T 0,92 1
raturas Níquel Electrolítico 38 T 0,06 4
Negra, brillante, rociada Níquel Electrolítico 260 T 0,07 4
Laca 20 T 0,87 1
sobre hierro
Níquel Electrolítico 538 T 0,1 4
Laca Negra, mate 100 T 0,97 2
Níquel Galvanizado, pulido 20 T 0,05 2
Laca Negra, roma 40 – 100 T 0,96 – 0,98 1
Galvanizado sobre hierro,
Laca Blanca 40 – 100 T 0,8 – 0,95 1 Níquel 20 T 0,11 – 0,40 1
no pulido
Laca Blanca 100 T 0,92 2 Galvanizado sobre hierro,
Níquel 22 T 0,11 4
no pulido
8 colores y calidades
Lacas 70 LW 0,92 – 0,94 9
diferentes Galvanizado sobre hierro,
Níquel 22 T 0,045 4
8 colores y calidades no pulido
Lacas 70 SW 0,88 – 0,96 9
diferentes
Níquel Claro, mate 122 T 0,041 4
Lacas Aluminio, edad diferente 50 – 100 T 0,27 – 0,67 1
Níquel Oxidado 200 T 0,37 2
A base de aceite, valor
Lacas 100 T 0,94 2 Níquel Oxidado 227 T 0,37 4
medio de 16 colores
Lacas Verde de cromo T 0,65 – 0,70 1 Níquel Oxidado 1227 T 0,85 4
Chapa, frotada con papel de 20 Papel Revestido con laca negra T 0,93 1
Latón T 0,2 1
esmerilar
Papel Azul oscuro T 0,84 1
Latón Altamente pulido 100 T 0,03 2
Papel Amarillo T 0,72 1
Latón Oxidado 70 SW 0,04 – 0,09 9
Papel Verde T 0,85 1
Latón Oxidado 70 LW 0,03 – 0,07 9
Papel Rojo T 0,76 1
Latón Oxidado 100 T 0,61 2
Papel Negro T 0,9 1
Latón Oxidado a 600 ºC 200 – 600 T 0,59 – 0,61 1
Papel Negro, romo T 0,94 1
Latón Pulido 200 T 0,03 1
Papel Negro, romo 70 LW 0,89 9
Latón Romo, manchado 20 – 350 T 0,22 1
Papel Negro, romo 70 SW 0,86 9
Molibdeno 600 – 1000 T 0,08 – 0,13 1
37
Apéndice: Tabla de emisividad
Material Especificación Temp. ºC Espectro Emisividad R Material Especificación Temp. ºC Espectro Emisividad R
Papel Blanco 20 T 0,7 – 0,9 1 Titanio Oxidado a 540 ºC 200 T 0,4 1
Acero inox. Chapa, sin tratar, algo rayada 70 LW 0,28 9 Ladrillo Óxido de aluminio 17 SW 0,68 5
Acero inox. Chapa, sin tratar, algo rayada 70 SW 0,3 9 Dinas-Óxido de silicio, pro-
Ladrillo 1000 T 0,66 1
ducto resistente al fuego
Acero inox. Laminado 700 T 0,45 1
Dinas-Óxido de silicio,
Ladrillo 1100 T 0,85 1
Acero inox. Aleación, 8 % Ni, 18 % Cr 500 T 0,35 1 esmaltado, rugoso
Acero inox. Tratado con chorro de arena 700 T 0,7 1 Dinas-Óxido de silicio, sin
Ladrillo 1000 T 0,8 1
esmaltar, rugoso
Acero inox. Tipo 18 - 8, brillante 20 T 0,16 2
Ladrillo Prod.resis.fuego,cor. 1000 T 0,46 1
Acero inox. Tipo 18 - 8, oxidado a 800 ºC 60 T 0,85 2
Ladrillo Prod.resis.fuego, magn. 1000 – 1300 T 0,38 1
Arena T 0,6 1
Ladrillo Producto resistente al 500 – 1000 T 0,65 – 0,75 1
Arena 20 T 0,9 2 fuego, radiante débil
38
Apéndice: Criterios de selección Tecnología infrarroja innovadora
Criterios de selección para dispositivos de Material y propiedad de la superficie del objeto a medir
infrarrojo para la medición de la temperatura La emisividad depende, entre otras cosas, del material y pro-
Para la medición de la temperatura sin contacto hay dispo- piedad de la superficie del objeto a medir. Por regla general
nibles un gran número de sensores de infrarrojo. A fin de se- se aplica: cuanto más alta es la emisividad, más fácil será
leccionar el dispositivo de medición ideal para su aplicación medir con precisión la temperatura con un sensor de infrarro-
personal, se deberán tener en cuenta antes los siguientes jo. La emisividad se puede ajustar en muchos dispositivos de
criterios: medición con infrarrojo. Los valores apropiados se pueden
• Objetivo de la aplicación consultar, p. ej., en la tabla de emisividad en el apéndice.
• Rango de temperatura
• Condiciones ambientales Tiempo de reacción del termómetro de infrarrojo
• Tamaño del punto a medir Los tiempos de reacción de los sensores de infrarrojo son
• Material y propiedad de la superficie del objeto a medir pequeños en comparación con sensores por contacto. Están
en el rango de 1 ms a 250 ms y según el elemento detector
• Tiempo de reacción del termómetro de infrarrojo
empleado. El tiempo de reacción está limitado hacia abajo
• Interfaz por el elemento detector, pero se puede adaptar con ayuda
• Emisividad de la electrónica a la tarea de medición (p. e. formación del
valor medio o mantenimiento del valor máximo).
Objetivo de la aplicación
La pregunta básica es: ¿Medición de puntos o medición de Interfaces para la salida de señales
superficie? En función del objetivo de la aplicación se ha La interfaz permite evaluar los resultados de la medición.
de elegir previamente sólo entre un termómetro de infrarro- Están disponibles:
jo o una cámara de infrarrojo. A continuación se tiene que • Interfaz de corriente 0/4 – 20 mA
especificar el producto. En casos extraordinarios hay también
• Salida de tensión 0 – 10 V
aplicaciones en las que los dos son recomendables, en estos
casos aconsejamos consultar a ingenieros especializados en • Termopar (tipo J, tipo K)
la aplicación correspondiente. • Interfaces:
CAN, Profibus-DP, RS232, RS485, USB, Relé,
Ethernet
Rango de temperatura
El rango de temperatura del sensor se deberá elegir de tal
modo que se alcance la resolución más alta posible de la
temperatura del objeto. Los rangos de medición de las cáma-
ras IR se pueden adaptar manualmente o por interfaz digital
Una vista en conjunto de los datos
a la tarea de medición.
técnicos de todos los productos
Optris la puede encontrar en nuestro
Condiciones ambientales folleto de productos:
La temperatura ambiente máxima admisible de los sensores www.optris.es/descargas
tiene que considerarse a la hora de elegir el dispositivo. Es
de hasta 250 °C en la serie optris® CT. Aplicando un enfria-
miento por aire o agua se puede garantizar la función de
los dispositivos de medición también a altas temperaturas
ambiente. Si hubiera además contaminación por polvo en la
atmósfera, se deberá mantener la lente libre de suciedad por
medio de un sistema de purga de aire.
Para más información consulte nuestro calculador del punto a medir en línea:
www.optris.es/calculator-del-punto-de-medicion
39
Salvo modificaciones · Grundlagen-BR-D2017-11-A
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