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    Comparación Entre Microscopía Sem y Tem - Infografía - Grupo C

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    joel aranda
    Este documento presenta información sobre la microscopía electrónica de barrido (SEM) y de transmisión (TEM). Describe las invenciones del SEM y TEM, sus ventajas y desventajas, y provee detalles técnicos sobre cómo funcionan ambos microscopios electrónicos. Finalmente, incluye referencias bibliográficas sobre la historia de la microscopía electrónica.

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    joel aranda
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    Este documento presenta información sobre la microscopía electrónica de barrido (SEM) y de transmisión (TEM). Describe las invenciones del SEM y TEM, sus ventajas y desventajas, y provee detalles técnicos sobre cómo funcionan ambos microscopios electrónicos. Finalmente, incluye referencias bibliográficas sobre la historia de la microscopía electrónica.

    Título original

    COMPARACIÓN ENTRE MICROSCOPÍA SEM Y TEM - INFOGRAFÍA - GRUPO C

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    Este documento presenta información sobre la microscopía electrónica de barrido (SEM) y de transmisión (TEM). Describe las invenciones del SEM y TEM, sus ventajas y desventajas, y provee detalles técnicos sobre cómo funcionan ambos microscopios electrónicos. Finalmente, incluye referencias bibliográficas sobre la historia de la microscopía electrónica.

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    FACULTAD DE INGENIERÍA QUÍMICA

    ESCUELA DE INGERIERÍA AMBIENTAL


    BIOLOGÍA GENERAL GRUPO C

    ALIPIO GONZALES, ROSA NAGHELY


    ARANDA HORNA, JOEL HENDERSON
    CELIS GOICOCHEA, DANIELLA FERNANDA GISSELE
    CHÁVEZ ROMERO, BRAULIO FERNANDO
    DE LA CRUZ HERRERA, CRISTIAN ALEJANDRO
    GARCIA MENDIETA, SOLEDA JANETH
    JURADO PACHAMANGO, LILÍ SOFIA
    LAIZA CUEVA, BRAYAN JESUS
    LÁZARO PAREDES, VALERIA ALESSANDRA
    RODRIGUEZ VARGAS, JESSICA LIZETH
    VALDEZ ARÉVALO, VALERIA JOSEFINA
    VELA LAMADRID, MIGUEL ANGEL
    VITTERY RONCAL, RODRIGO ALONSO
    MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA
    DE BARRIDO (SEM) DE TRANSMISIÓN (TEM)
    INVENCIÓN Manfred von Ardenne INVENCIÓN Ernst Ruska y Max Knoll
    20 de enero de 1907 (1931)
    26 de mayo de 1997 Basado en las ideas de
    físico, investigador e inventor alemán Louis de Broglie, en 1929

    Ernest Ruska ganó el


    premio Nobel (1986)
    por su invención
    VENTAJAS VENTAJAS
    Imágenes tridimensionales y topografía detalladas Permite la observación ultramicroscópica y
    Versatilidad dada por su alta resolución de 20 a 50 nanoscópica de muestras. Ideal para analizar
    estructuras subcelulares, moléculas y partículas muy
    Å
    pequeñas.
    Operación rápida y fácil manejo
    Posee hasta 7 correctores de aberraciones, lo cual
    Posibilidad de observan objetos mas grandes que
    hace que la imagen sea más nítida que la de barrido.
    en un TEM También tiene usos para la creación de nanoobjetos
    Requiere menos preparación de muestras y la difracción de electrones (Cigarroa, 2021).

    DESVENTAJAS DESVENTAJAS
    Alto costo de equipo por los diferentes piezas utilizados
    Es más costosa que la SEM.
    en el microscopio y complejo mantenimiento.
    Solo se puede usar en una gama limitada de muestras,
    Pérdida de contraste de la imagen cuando se trabaja
    ya que requiere que sean ultrafinas, con un grosor
    con humedades relativas heladas.
    menor a 150 nm.
    Al utilizar el microscopio se requiere de un
    Demanda mucho tiempo y es más complicado preparar
    mantenimiento cuidadoso de la muestra de células
    una muestra en TEM que en SEM. Gleichmann, N. (2020)
    vivas.

    DESCRIPCIÓN DESCRIPCIÓN

    Este instrumento tiene desde 10 aum Es un instrumento con un peso aproximado de una tonelada y con
    Presenta una profundidad de campo desde 0.4 una columna de alrededor 1.5 metros de altura donde se utiliza alto
    micras hasta los 4 mm. voltaje para producir y enfocar un haz de electrones acelerados en
    Alcanza una resolución de 0.4 nm con algunos alto vacío que al impactat en una de las caras de una muestra de
    modelos y lentes. tejido ultradelgada forman una imagen al emerger por la cara
    Utilizan un haz de electrones para generar la
    contraria.
    imagen.
    Con este instrumento que alcanza aumentos de 100 000x hoy en
    Sólo requiere que las muestras sean conductoras
    día es posible ver desde los cromosomas y las moléculas de ADN,
    Se puede estudiar distintos tipos de materiales:
    metales, cerámica, polímeros, etc hasta átomos con un poder de resolución de 0.2 nm.
    REFERENCIAS BIBLIOGRÁFICAS

    Gleichmann, N. (2020). SEM frente a TEM. News-courier. Recuperado


    de http://www.news-courier.com/analysis/articles/sem-vs-tem-
    331262
    Reyes J.(2020). "Brief history of electron microscopy in Mexico and
    the world." Universidad Nacional Autónoma de Mexico.
    Atria I. (2020) "Microscopía electrónica de barrido"

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