Qué Es El Microscopio

La microscopía se define como el conjunto de técnicas y métodos destinados a hacer visibles los
objetos de estudio que, por su pequeñez, no son accesibles para el ojo humano. Para ello, se usa el
microscopio.
¿Qué es el microscopio? El microscopio es una herramienta que permite observar objetos, que
son demasiado pequeños para ser observados a simple vista, el más común y el primero en ser
inventado es el microscopio óptico. Se trata de un instrumento que contiene dos lentes que
permiten obtener una imagen aumentada del objeto y que funciona por refracción
Microscopio Electrónico: Para poder sobrepasar el límite de resolución de un microscopio óptico

es necesario diseñar instrumentos que utilicen otras radiaciones diferentes a la luz visible para
formar la imagen. En la década de 1920 diversos descubrimientos comprobaron que un haz de
electrones acelerados en el vacío, además de recorrer trayectorias rectas, se comportaba también
como una onda similar a la luz visible caracterizada por una longitud de onda 100.000 veces más
pequeña. Más aún, se encontró que el comportamiento de los electrones frente a campos
eléctricos y magnéticos era similar al de la luz visible en espejos y lentes. Precisamente, un haz de
electrones acelerados por un alto potencial eléctrico (25.000 Voltios) constituye la fuente de
radiación de un microscopio electrónico de barrido.
Se pueden obtener así imágenes de todo tipo de materiales estructurales o de material biológico
con un mínimo de preparación previa y observar directamente todo tipo de superficies con una
gran profundidad de foco. Para esto solamente es necesario asegurar que las muestras sean
limpias, secas, resistentes al alto vacío del instrumento y buenas conductoras eléctricas. Si se trata
de observar un material no conductor, normalmente se recubren las muestras con una delgada
capa metálica, p.ej. oro, o desecando previamente las muestras que tuviesen altos contenidos de
vapor de agua. Este nuevo tipo de instrumentos permite entonces la observación de toda clase de
muestras no conductoras, así como muestras biológicas hidratadas o contaminadas, superando las
restricciones originales debidas al alto vacío exigido de la columna del microscopio.
Existen dos tipos básicos de microscopios electrónicos:
Microscopio electrónico de transmisión (MET) : Emite un haz de electrones dirigido hacia el

objeto cuya imagen se desea aumentar. Una parte de los electrones rebotan contra la muestra
formando así una imagen aumentada. Para utilizar un microscopio de transmisión debe cortarse la
muestra en capas finas, no mayores de unos 2000 angstroms. Los microscopios electrónicos de
transmisión pueden aumentar la imagen de un objeto hasta un millón de veces.
Imagen cortesía de WebPath

(www-medlib.med.utah.edu/WebPath/webpath.html)
Microscopio electrónico de barrido: En el microscopio electrónico de barrido la muestra es
recubierta con una capa de metal delgado, y es barrida con electrones enviados desde un cañón.
Un detector mide la cantidad de electrones enviados que arroja la intensidad de la zona de
muestra, siendo capaz de mostrar figuras en tres dimensiones, proyectados en una imagen de una
TV. Su resolución esta entre 3 y 20 nm, dependiendo del microscopio. permite obtener imágenes
de gran resolución en materiales pétreos, metálicos y orgánicos. La luz se sustituye por un haz de
electrones, las lentes por electroimanes y las muestras se hacen conductoras metalizando la
superficie.
Restricciones de la Muestra: Para poder obtener imágenes electrónicas de una muestra en un

microscopio electrónico de barrido convencional debe asegurarse que la muestra sea resistente y
pueda conservarse en el entorno de alto vacío del microscopio y que tenga buena conductividad
eléctrica. Es claro que toda muestra metálica cumple con ambas condiciones. Este no es el caso de
una muestra biológica o volátil. En estos casos se puede recurrir a un recubrimiento metálico o un
proceso de deshidratación pero la observación de muestras de este tipo es generalmente un
problema complejo. Además, la muestra no debe degradar el alto vacío de la columna (“vacuum
friendly”).
Cualquier alteración de la muestra que produzca vapores contaminantes puede dejar depósitos
sobre los detectores o aperturas del sistema, degradando así la calidad de las imágenes. Es
también claro que siempre es necesario poder asegurar una buena conexión eléctrica entre la
muestra y la platina del microscopio. En toda observación, el haz de electrones va cargando
continuamente la muestra. Si la muestra es buena conductora, la carga eléctrica descarga a masa a
través del portamuestras y la platina. Pero si la muestra es aislante o no existe una buena conexión
eléctrica, las cargas se acumulan sobre la muestra y pueden llegar a desviar completamente el haz
de electrones incidente.
Para eliminar estos posibles efectos de carga, se recurre normalmente a un metalizado de la

superficie de la muestra con una delgada capa de oro con lo que se asegura un continuo camino de
descarga a tierra. Además, con un metalizado con elementos pesados se obtiene una mayor
emisión de electrones secundarios y por lo tanto una mejor imagen. Este es un procedimiento
normal en toda observación en un SEM. Solamente es necesario asegurar que la capa del
recubrimiento metálico no afecte la estructura de la muestra observada, p.ej. que no cubra algún
pequeño escalón o cavidad de la superficie. El efecto de carga eléctrica disminuye al bajar la
tensión de aceleración del haz pero entonces empeora la focalización del haz sobre la muestra
disminuyendo por lo tanto la resolución de la imagen.
Imagen cortesía de WebPath

(www-medlib.med.utah.edu/WebPath/webpath.html)
Partes de un microscopio electrónico y sus funciones.
Algunas de las principales partes de un microscopio electrónico son aquellas que se usan para
generar electrones y dirigirlos a las muestras. A continuación, te diremos algunas de ellas.
Fuente de electrones: Podríamos compararlo con la fuente de luz en un microscopio óptico,

aunque en este caso se necesita un emisor de electrones. Para ello, generalmente, se utiliza un
filamento de tungsteno que al calentarlo sus átomos y electrones aumentan. Cuando llega a cierto
tope de energía los electrones poseen suficiente carga y escapar de sus átomos.
Lentes electromagnéticas: En lugar de los lentes de vidrio que encontramos en los microscopios
electrónicos, aquí se utilizan lentes electromagnéticas. Estos generan campos eléctricos y
magnéticos de modo que su interacción con los electrones hace que las trayectorias diverjan o
converjan en un punto.
Cámara de vacío: Los procedimientos que ya hemos mencionado se llevan a cabo dentro de una
cámara de vacío. De no ser así, los electrones interactuarían con moléculas de aire y determinar las
trayectorias no sería posible. Es por eso que las muestran se colocan dentro de las cámaras de
vacío y por ello no se puede observar muestras vivas con los telescopios electrónicos.
Detector: Cuando los electrones impactan contra la muestra se hace necesario medio algún tipo
de información para poder reconstruir la imagen. Una de las mejores opciones es utilizar una
pantalla fluorescente, la cual reacciona de manera diferente según el número de electrones que en
ella impacten.
Lentes Electrónicas y Aperturas Las lentes electrónicas (magnéticas): Son las que desvían las
trayectorias del haz de electrones de manera análoga a una lente óptica que desvía un haz de luz.
Los electrones producidos por el filamento emisor son focalizados por el campo magnético de la
lente electrónica. El objetivo del sistema óptico electrónico es proyectar sobre la muestra un haz
de dimensiones mínimas.
Las lentes magnéticas, al igual que las lentes ópticas, presentan aberraciones. La aberración
esférica proviene del hecho que los rayos no paraxiales, los que forman ángulos mayores con el eje
óptico del sistema, son más desviados que los rayos que forman pequeños ángulos con dicho eje.
La aberración cromática proviene de los distintos ángulos de desviación de electrones que no
tienen la misma energía.
Debido a estas aberraciones no todos los electrones provenientes de la fuente convergen

exactamente sobre el mismo punto de la muestra. Las aperturas, que están centradas en el eje
óptico del sistema, limitan la divergencia angular y definen el diámetro final del haz de electrones
sobre la muestra. También limitan los haces que forman altos ángulos con el eje óptico reduciendo
de esta manera el efecto adverso de la aberración esférica. Para cada valor de la corriente del haz
existe un diámetro óptimo de las aperturas para minimizar los efectos de las aberraciones sobre el
diámetro final del haz. A medida que el haz de electrones es focalizado por las distintas lentes,
cada apertura elimina los electrones que se apartan del eje óptico mejorando el diámetro final del
haz pero disminuyendo la intensidad del mismo.
Es claro entonces que siempre existe un compromiso entre el tamaño final del haz sobre la
muestra y la intensidad de la corriente electrónica. Aperturas más grandes y lentes menos
potentes contribuyen a aumentar la intensidad de la corriente del haz pero a expensas de un
aumento del diámetro final proyectado sobre la muestra. Para obtener imágenes de alta resolución
se necesita un haz de sección mínima sobre la muestra. Por otro lado, es necesario tener en cuenta
que la información mediante la cual se forma la imagen en un microscopio electrónico de barrido
proviene de variaciones de una dada señal.
Para corrientes de haz bajas, las fluctuaciones estadísticas en su intensidad comienzan a influir en
la calidad de la imagen y a cobrar importancia frente a las fluctuaciones de los detectores o
amplificadores de la señal. Es decir que debajo de un cierto valor de la corriente o de la sección del
haz, el ruido electrónico enmascara la mejora teórica de la resolución. También es necesario
aclarar que la corriente del haz electrónico, tal como se mediría después de la última apertura del
microscopio, es en realidad mayor que la corriente real que incide sobre la muestra. Esto es debido
a la dispersión del haz por las moléculas de gas remanentes alrededor de la muestra. En el caso del
microscopio SEM convencional, con una columna de alto vacío, el proceso de dispersión
mencionado es mínimo, pero no sucede lo mismo en un microscopio ambiental ESEM.
Caracterización de defectos. La microscopía electrónica es la técnica ideal para estudiar los

defectos en los sólidos reales. No solo las frontera de grano y discriminar entre fases, visto
anteriormente, sino para entender los defectos en un rango muy amplio desde el orden de µm
hasta escala casi atómica (nm). Se emplea tanto las técnicas SEM como la TEM o STEM. Mediante
ME se puede visualizar defectos puntuales (Frenkel y Schottky) así como los defectos lineales (o
dislocaciones) siendo los más comunes las dislocaciones de borde y las dislocaciones en espiral. El
estudio de estos defectos lineales es muy importante para entender la respuesta de los materiales
a esfuerzos mecánicos principalmente en el caso de metales y aleaciones. En la figura 14.8 se
muestra una foto TEM donde se observan dislocaciones en GaAs. Las microgrietas (defectos) son
claramente visibles en el estudio que analizó el fallo de la aleación. Se han dado dos ejemplos de
observación de defectos (dislocaciones y microgrietas) pero se pueden observar muchos más como
límites de grano, entrecrecimiento de estructuras relacionadas, dislocaciones en espiral, maclas,
etc.
Imagen de un circuito integrado aumentado 2000 ve
n el mundo de lo más pequeño, no existe el color con la longitud de onda electrónica

y, por lo tanto, las imágenes aparecen en blanco y negro.

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