DIFRAO DE RAIO-X

HISTRICO
Os raios-X foram descobertos no final do sculo XIX.

O fsico alemo Wilhelm Conrad Rntgen,foi o primeiro a

estudar os Raios-X, foi ele quem descobriu suas principais
propriedades .

Wilhelm Conrad Rntgen, fsico que Clssica radiografia feita

primeiramente estudou os raios- X. por Rntgen, em 1895,
mostrando a sua mo 2
 Principais caractersticas dos raios X

Sendo ondas eletromagntica, os raios X possuem todas as

propriedades gerais dessas ondas: reflexo, refrao, interferncia,
difrao e polarizao.

Propagam-se em linha reta, com velocidade igual da luz;

Tornam fluorescentes muitos corpos sobre os quais incidem;

Provocam ao qumica em certas substncias. Por exemplo,

impressionam chapas fotogrficas;

Atravessam grandes espessuras de materiais.

Ionizam as molculas dos gases por onde passam, isto , arrancam

eltrons dessas molculas;

3
 PRODUO DE RAIOS-X
Os Rios-X so gerados quando uma partcula de alta energia cintica
rapidamente desacelerada. O mtodo mais utilizado para produzir Raios-X
fazendo com que um eltron de alta energia (gerado no ctodo do tubo
catdico) colida com um alvo metlico ( nodo).

Produo de raios-X a nvel atmico

Eltron de
Fotoeltron Raio-X

Eltron altamente
energtico

(I) Eltron atinge o alvo; (II) Um eltron da camada K liberado na forma de

fotoeltron, gerando uma vacncia nessa camada; (III) Um eltron de uma camada mais
externa (L) ocupa o espao deixado na camada K; (IV) A energia liberada na forma de
um fton de Raio-X 4
Esquema da seo longitudinal de uma ampola de raio X

5
 COMPORTAMENTO DO ESPECTRO DE RAIOS-X
Para cada diferente transio de nveis de energia, um
comprimento de onda diferente emitido.

Equao para calcular

Os nveis atmicos de energia e as

emisses de radiao referente a
cada transio. 6
 O FENMENO DA DIFRAO DE RAIOS-X

A difrao ocorre quando uma onda encontra uma srie de

obstculos regularmente separados e estes so capazes de
dispersar a onda e possuem espaamentos comparveis em
magnitude ao comprimento da onda.

O espalhamento e a conseqente difrao de raios-X por um

eltron pode ocorre de duas maneiras: Coerente ou incoerente.

Espalhamento coerente: a onda espalhada tem direo definida,

mesma fase e mesma energia em relao a onda incidente.

Espalhamento Incoerente: a onda espalhada no tem direo

definida, no mantm a mesma fase e energia em relao a onda
incidente.
7
 O FENMENO DA DIFRAO DE RAIOS-X

Demonstrao de como duas ondas que possuem o mesmo

comprimento de onda (onda 1 e onda 2) e que permanecem em
fase aps o evento de disperso (onda 1 e 2) interferem de
maneira construtiva uma na outra. As amplitudes das ondas
dispersas se somam na onda resultante. 8
Demonstrao de como duas ondas que possuem o mesmo
comprimento de onda (onda 3 e onda 4) e que se tornam fora de
fase aps o evento de disperso (onda 3 e 4) interferem de
maneira destrutiva uma na outra. As amplitudes das duas ondas
dispersas cancelam-se entre si. 9
 DIFRAO DE RAIOS-X E A LEI DE BRAGG

Os raios X so uma fonte de radiao eletromagntica que

possuem elevadas energias e curtos comprimentos de onda-
comprimentos de onda da ordem dos espaamentos atmicos nos
slidos.
A interferncia construtiva caracteriza a difrao;

O tipo de raio X utilizado para difrao aquele que possui ondas

eletromagnticas com comprimentos entre 0,05 e 0,25 nm (0,5 e 2,5 ).
10
 DERIVAO DA LEI DE BRAGG

Lei de Bragg
n= 2d sen

Derivao da Lei de Bragg usando a geometria da reflexo e aplicando-se

trigonometria. O feixe inferior deve viajar a distncia extra (AB + BC) para
continuar viajando paralelo e adjacente ao feixe superior.
11
SITUAO QUE SATISFAZ A LEI DE BRAGG

12
SITUAO QUE NO SATISFAZ A LEI DE BRAGG

13
 Primeiro Experimento de Raio-X em cristais
A idia de Max Von Laue se muitos slidos so um arranjo
peridico de tomos (cristais) e se os raios x so ondas
eletromagnticas com comprimento de onda comparvel ao
espaamento interatmico, quando um feixe de raios x incidir sobre
um cristal deve,para determinadas condies, ocorrer interferncia
construtiva (difrao).
Em 1914, Max Von Laue montou um experimento em que um feixe de
raio-X incidia em um cristal de sulfato de cobre e por trs do cristal
havia uma chapa fotogrfica onde foi registrada a figura de difrao.
O artigo cientifico descrevendo a experincia foi publicado em
junho de 1912. Por este trabalho, Max Von Laue foi laureado com o
premio Nobel da fsica em 1914.

Graas as colaboraes de Laue e Bragg, naquela mesma poca a

estrutura de vrios compostos, tais como: NaCl, KCl, CaF2, NaNO3 e
CaCo3, foram determinadas. At ento, as estruturas cristalinas de
metais, j extensivamente utilizados como Fe e Cu eram
desconhecidas 14
 Experimento de Max Von Laue

Quando a lei de
Bragg obedecida ,
h um pico de
intensidade ,
responsvel pelos
pontos mais claros Padro de difrao
no padro de Laue de Laue impresso na
Interferncia entre chapa fotogrfica
raios a nvel planar.
15
 Princpio de funcionamento do difractmetro de raio X
O difratmetro um aparelho usado para determinar os ngulos nos
quais ocorre a difrao em amostras pulverizadas.

A plataforma e a amostra
ngulo de incidncia esto acopladas
mecanicamente, de tal modo
que uma rotao da amostra
por um ngulo
acompanhada por uma rotao
do contador que equivale a 2 ;
isso assegura que os ngulos
de incidncia e reflexo sejam
mantidos iguais um ou outro.
ngulo de difrao

Diagrama esquemtico de um difratmetro de raios X, onde T= fonte de radiao,

S= amostra, C= detetor e O= o eixo em torno do qual a amostra e o detetor giram.
16
Difratogramas tpicos e esquemticos de alguns materiais

2
2

2 17
Difratmetro de raios X

18
Principais aplicaes da tcnica de difrao de raios- X

Empregadas na caracterizao de materiais cristalinos:

metais, ligas metlicas, cermicas, minerais, polmeros, etc.

Informaes: identificao de fases, textura, tamanho de

gros, tamanhos de cristalitos e perfeio dos cristais.

No geral, as tcnicas so por difratometria de p ou

difratometria de monocristais.

19
 Determinao de parmetros de clula unitria

Considerando se que o padro do difratograma de um material

cristalino funo da sua estrutura cristalina, possvel
determinar os parmetros do seu retculo (a, b, c e , e da
clula unitria).

Para isso, necessrio dispor de informaes referentes aos

sistema cristalino, grupo espacial, ndices de Miller (hkl) e
respectivas distncias interplanares dos picos difratados.

A magnitude das distncias entre dois planos de tomos

adjacentes e paralelos (dhkl) funo dos ndices de Miller, bem
como dos parmetros de rede

20
 Frmulas da distncia interplanar de alguns sistemas
cristalino

a
d hkl Sistemas cbicos
h k l
2 2 2

1 h2 k 2 l 2
2
2 2 2 Sistemas ortorrmbico
d hkl a b c

a
d hkl
4 2
(h hk k 2 ) l 2 (a 2 / c 2 ) Sistemas hexagonais
3

21
Frmulas das distncias interplanares dos SISTEMA CRISTALINO RELAO
CBICO 2 +
1
= h k 2 + l2
d2 a2
TETRAGONAL 1 2 + 2 2
= h 2 k + l2
d2 a c
HEXAGONAL 1 4 h2 + hk + k 2 l2
= +
d2 3 a2 c2
ROMBODRICO 1 ( h 2 + k 2 + l 2) sen 2 + 2(hk + kl + hl)(cos2 - cos )
=
d2 a 2 (1 - 3 cos2 + 2 cos3 )
ORTORRMBICO 1 2 2 2
= h2 + k2 + l 2
d2 a b c
MONOCLNICO 1 1 h2 k2 sen2 + l2
= +
sistemas cristalinos

d2 sen2 a2 b2 c2

S11 h2
TRICLNICO 1 1
2
= 2
+ S22 k 2 + S33 l 2 + 2 S12 hk + 2 S23 kl + 2 S13 hl
d V
V=Volume da clula;
S11=b2c 2sen2
S22=a2c 2sen2
S33=b2c 2sen2
S12 =abc 2(cos cos - seng)
S23 =a2bc(cos cos - sen)
S13 =ab2c(cos cos sen)
Exemplo 1: Para o ferro com estrutura cristalina CCC, compute
(a) o espaamento interplanar , e (b) o ngulo de difrao para o
conjunto de planos (220). O parmetro de rede para o Fe
equivale a 0,2866 nm (2,866). Ainda, admita que uma radiao
monocromtica com comprimento de onda de 0,1790 nm (1,790
) seja usada, e que a ordem de reflexo seja de 1 (n=1)

a
d hkl
h2 k 2 l 2 2d hkl sen
Sistemas cbicos Lei de Bragg

23
Exemplo 2: O metal rubdio possui uma estrutura
cristalina CCC. Se o ngulo de difrao para o conjunto de
planos (321) ocorre a 27,00 (reflexo de primeira ordem,
n=1) quando usada radiao X monocromtica com
comprimento de onda de 0,071 nm, calcule (a) o
espaamento interplanar para este conjunto de planos e
(b) o raio para o tomo de rubdio.

24
Exemplo 3: Para qual conjunto de planos cristalogrficos
ir ocorrer um pico de difrao de primeira ordem em um
ngulo de difrao (2) de 46,21 para o ferro CCC quando
for usada radiao monocromtica com comprimento de
onda de 0,0711 nm? Raio do ferro: 0,1241 nm

25
 REGRAS DE REFLEXO DA DIFRAO
PARA AS ESTRUTURAS DOS METAIS

ESSAS REGRAS DE REFLEXO MOSTRAM QUAIS CONJUNTOS DE

INDICE DE MILLER NO PRODUZEM DIFRAO CONFORME PREVISTA
PELA LEI DE BRAGG.
26
27
Interpretao dos resultados experimentais de
difrao de raios-X, em metais com estruturas
cristalinas cbicas
Podemos usar os resultados de difrao de raios-X para determinar estruturas
cristalinas. Um caso simples para ilustrar como esta anlise pode ser utilizada
consiste na distino entre as estruturas cristalinas CCC e CFC de um metal
cbico.
Vamos considerar o difratograma do tungstnio.

28
Se combinarmos a equao da distncia interplanar dos sistema cristalino
Cbicos.

Se elevarmos os dois membros da equao ao quadrado teremos:

29
A partir dos resultados de difrao de raios-X podemos obter os
valores experimentais de 2 para um conjunto de planos difratores
(h k l). Dado que o comprimento de onda da radiao incidente e o
parmetro de rede so constantes, podemos eliminar estas
quantidades, obtendo a razo entre dois valores de sen2

A e B so dois ngulos de difrao associados aos planos

difratores {hA kA lA} e {hB kB lB}, respectivamente. So os dois
primeiros picos no difratograma.

Ento, se: A estrutura cristalina ser CCC

Ento, se: A estrutura cristalina ser CFC

30
Exemplo 4: O difratograma do molibdnio foi obtido com =
0,1542 x10-9 m. Sabendo que tal elemento possui estrutura
cbica CCC ou CFC e que os valores 2A e 2B so
respectivamente, 40 e 58. Determine:
a) O tipo da estrutura cubica;
b) o primeiro plano a apresentao difrao
c) a distncia interplanar relaiva a esse plano
d) o parmetro de rede dessa estrutura
e) o raio atmico do molibdnio.

31
Outras aplicaes da tcnica de raio X
Determinao da cristalinidade de Polmeros;

Onde:
%C a frao de cristalinidade;
Ic: Resultado da integrao dos picos de difrao
Ia: rea da regio amorfa
K: Constante de proporcionalidade caracterstica de cada polmero

32
 Determinao do tamanho de cristalitos

Onde:
t: tamanho do cristalito;
: comprimento de onda do raio x
B: largura do pico a meia altura ( em radianos)
B: o grau

33