Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/943382505 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | On the test complexity of VLSI systems / von Hongzhong Wu |
| Person(en) | Wu, Hongzhong (Verfasser) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1994 |
| Umfang/Format | X, 136 S. : graph. Darst. ; 30 cm |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Online-Ausgabe: On the test complexity of VLSI systems |
| Hochschulschrift | Saarbrücken, Univ., Diss., 1994 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Schlagwörter | VLSI ; Schaltnetz ; Baum <Mathematik> ; Testbarkeit ; Komplexität |
| DDC-Notation | 621.381537 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 28 Informatik, Datenverarbeitung ; 37 Elektrotechnik |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: H 1994 B 2588 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: H 1994 B 2588 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Leipzig |
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