Zusammenfassung
Für die Inspektion von spiegelnden Oberflächen ist die Deflektometrie eine der bekanntesten Methoden. Eine automatische Defektdetektion, Klassifikation und Bewertung der Daten von deflektometrischen Messungen gibt es allerdings noch nicht. In diesem Artikel werden neue Methoden basierend auf der Wavelet-Analyse vorgestellt, die in der Lage sind, Fehler in unterschiedlichen Skalen zu erkennen. Um die Erkennungsrate zu erhöhen, werden die Filterbänke in Hinsicht auf Eigenschaften gegebener Defektklassen sowie an dominante Merkmalsausdehnungen optimiert. Die Verfahren wurden mit realen Messdaten evaluiert, bei denen verschiedene Defektklassen auftraten.
Abstract
For the inspection of specular surfaces, deflectometry is one of the most popular methods. However, there is still no method for automated detection of defects, classification and evaluation of the data from deflectometric measurements. In this paper new methods based on wavelet analysis are introduced, which are able to detect defects at different scales. For better recognition rates the filter banks are optimized on given defect classes as well as on dominant feature sizes. The methods are evaluated with real data of various defect classes.
Über die Autoren
Prof. Dr. Thomas Greiner ist wissenschaftlicher Direktor des Instituts für Smart Systems und Services an der Hochschule Pforzheim und einer der Sprecher des in Zusammenarbeit mit der Universität Tübingen angebotenen Promotionskollegs „Entwurf und Architektur Eingebetteter Systeme“, Hauptarbeitsgebiete: Bildverarbeitung, Entwurf und Architektur Eingebetteter Systeme.
Hochschule Pforzheim, Institut für Smart Systems und Services, Tiefenbronner Straße 65, 75175 Pforzheim, +49 7231 28-6689
Dipl.-Inf. Tan-Toan Le ist wissenschaftlicher Mitarbeiter am Institut für Smart Systems und Services der Hochschule Pforzheim. Hauptarbeitsgebiete: Bildverarbeitung und Deflektometrie.
Hochschule Pforzheim, Institut für Smart Systems und Services, Tiefenbronner Straße 65, 75175 Pforzheim, +49 7231 28-6857
Dipl.-Inf. Mathias Ziebarth ist wissenschaftlicher Angestellter am Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme (IES), Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR), Karlsruher Institut für Technologie (KIT). Hauptarbeitsgebiete: Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung, Deflektometrie.
Karlsruher Institut für Technologie, Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme, Adenauerring 4, 76131 Karlsruhe, +49 721 6091-267
Prof. Dr.-Ing. Michael Heizmann leitet das Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) am Karlsruher Institut für Technologie (KIT). Hauptarbeitsgebiete: Mess- und Automatisierungstechnik, Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung, Bild- und Informationsfusion.
Karlsruher Institut für Technologie, Institut für Industrielle Informationstechnik – IIIT, Hertzstraße 16, 76187 Karlsruhe und Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung IOSB, Fraunhoferstr. 1, 76131 Karlsruhe, +49 721 608-44598
Danksagung
Die beschriebenen Ergebnisse und Methoden sind im Rahmen des Projekts MID-Wave entstanden, das durch die Baden-Württemberg Stiftung gGmbH finanziert wurde.
©2016 Walter de Gruyter Berlin/Boston
