Der Einsatz von inversen Mustern zur schnellen und robusten Prüfung spiegelnder Freiformflächen wird vorgestellt. Beobachtet man bekannte Muster, die z.B. in einem LC-Display dargestellt werden, über eine spiegelnde Oberfläche, erscheinen diese dem Betrachter deformiert und verzerrt. Mittels bekanntem 3D-Modell des Prüfobjekts bzw. Messung an einem Referenzobjekt können vorab sogenannte inverse Muster berechnet werden. Diese Muster erzeugen über die Abbildung des Prüfobjekts unverzerrte Muster in der Kameraebene. Damit ist die Oberflächentopographie im inversen Muster implizit vorhanden. Die automatische Oberflächenprüfung beschränkt sich jetzt auf die Auswertung eines Musters, womit ein deutlicher Geschwindigkeitsvorteil zu den bisherigen deflektometrischen Verfahren erzielt wird.
The application of inverse patterns to fast and robust mirror surface evaluation is shown. In a well controlled environment, one observes via the mirror surface a screen onto which a well-defined pattern is displayed. Evaluation of the deflected pattern is used to determine surface defects of the object under test. In some cases it is possible to calculate inverse patterns in advance, in which the surface topography is given implicitly. Using these inverse patterns results in bottom-of-the-range and fast surface examination, which is a benefit compared to the commonly used deflectometric methods.
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