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test testing differenceとは 意味・読み方・使い方
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Weblio例文辞書での「test testing difference」に類似した例文 |
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test testing difference
test…by [through] experiment
a range for conducting tests
the test-match
a test
during the examination
「test testing difference」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 16件
To provide an automatic flat-plate load testing apparatus for flexibly controlling the load applied to a sinking test ground, reducing the workload of a testing person, and which is able to suppress errors, in a test result, due to the capability and individual difference in the testing person.例文帳に追加
沈下する試験地盤に対して柔軟な荷重制御が可能であり、試験員の労力を減らし、かつ、試験員の能力や個人差による試験結果の誤差を極力抑えることが可能な自動平板載荷試験装置の提供。 - 特許庁
To provide a test tool and a test method for efficiently testing basic software corresponding to the difference of the specifications of hardware.例文帳に追加
ハードウェアの仕様の違いに対応した基本ソフトウェアを効率的にテストする、テストツール及びテスト方法を提供することができる。 - 特許庁
To obtain a solderability-testing method and device for improving the accuracy and reliability of test data by reducing influence due to the temperature difference between the temperature of a metal test piece and that of solder paste when testing solderability and the difference between a setting temperature and actually measured temperature of the testing device.例文帳に追加
はんだ濡れ性試験時の金属試料片温度とはんだペーストとの温度差及び、試験装置の設定温度と実測温度との差による影響を減少させ、試験データの精度及び信頼性を向上させるはんだ濡れ性試験方法及びはんだ濡れ性試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a method and a testing system capable of generating common test-condition data to a plurality of testing apparatuses, and generating the test-condition data in each apparatus by taking into consideration a difference in the performance of an apparatus in a short period of time, in the method for generating the test-condition data of the wafer visual testing apparatus.例文帳に追加
ウエーハ外観検査装置の検査条件データを生成する方法において、複数台の検査装置に対する共通の検査条件データを生成し、機差を考慮した装置毎の検査条件データを短時間で生成できる方法及び検査システムを提供する。 - 特許庁
Then, a test target data matching the additional correct answer data pattern differing from the correct answer data pattern because of slight difference in timing at the time of testing but supposed to be test OK under normal circumstances is to be test OK.例文帳に追加
従って、検証時に、タイミングの微妙なずれにより、正解データパターンと異なるものになってしまったが、本来検証OKとなるべき追加正解データパターンと一致する検証対象データは検証OKとなる。 - 特許庁
To shorten the time required in testing the determination of a semiconductor device testing apparatus, capable of performing capacity evaluation test for detecting specific relation of phase difference, between a clock and data in a semiconductor device which outputs clock synchronized with data.例文帳に追加
データに同期してクロックを出力する半導体デバイスにおいて、クロックとデータの位相差が特定の関係にあることを検出する性能評価試験を実行することができる半導体デバイス試験装置において、この判定を行う試験に要する時間を短縮する。 - 特許庁
The thermal shock testing device 1 stores a difference time between a time until an ambient temperature in a testing environment detected by an environment temperature detecting sensor 9 reaches a prescribed temperature, and a time until a temperature of the sample W itself reaches the prescribed temperature, in a preliminary test.例文帳に追加
冷熱衝撃試験装置1は、予備試験において環境温度検知センサ9によって検知される試験環境の雰囲気温度が所定の設定温度に到達するまでの時間と、試料W自身の温度が所定の設定温度に到達するまでの時間との差異時間を記憶しておく。 - 特許庁
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「test testing difference」の部分一致の例文検索結果
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To provide a rubber friction/abrasion characteristic testing method and a rubber friction/abrasion characteristic testing apparatus in which, when rolling a rubber test member on a turn table, evaluation accuracy can be improved by excluding influences of a lateral force with a circumferential speed difference within a contact area.例文帳に追加
回転台の台上でゴム試験部材を転動させる際に、接地面内の周速差に伴う横力の影響を排除して評価精度を高めることができるゴム摩擦・摩耗特性試験方法とゴム摩擦・摩耗特性試験装置を提供する。 - 特許庁
In the thermal shock testing device 1, the sample W is exposed under the testing environment over a prescribed exposure time counted from a time point with the lapse of the difference time, after the detection temperature by the environment temperature detecting sensor 9 reaches the prescribed set temperature, in an objective test.例文帳に追加
冷熱衝撃試験装置1は、本試験において、環境温度検知センサ9の検知温度が所定の設定温度に到達した後、差異時間が経過した時点から所定の晒し時間にわたって試料Wを試験環境下に晒す。 - 特許庁
To provide a main signal load testing device etc., capable of conducting a load test in the device even if the difference between the packet transfer processing capability in the device and the packet transmission and reception capability of a CPU is ≥255 times.例文帳に追加
装置内のパケット転送処理能力とCPUのパケット送受信能力の差が255倍以上であっても、装置内での負荷試験が可能な主信号負荷試験装置等を提供する。 - 特許庁
In an environmental acceleration cracking monitoring device and a method, a positioning mechanism 14 of a testing tool 12 is provided, for equalizing each relative position of a test piece 11 to a current supply terminal 15 and a potential difference measuring terminal 16.例文帳に追加
環境助長割れ監視装置および方法において、電流供給端子15、電位差計測端子16に対する試験片11の相対位置を同一にする試験冶具12の位置決め機構14を設けたことを特徴とする。 - 特許庁
In addition to a correct answer data pattern collected in collecting correct answer data, a test target data turning out to be test NG because of slight difference in timing in testing but supposed to be test OK under normal circumstances is registered into a correct answer data pattern storage part 52 as a correct answer data pattern or an additional correct answer data pattern.例文帳に追加
正解データパターン記憶部52には、正解データ収集時に収集した正解データパターン以外にも、検証時に、微妙なタイミングのずれにより検証NGとはなったが、本来なら検証OKとなるべき検証対象データが正解データパターン(追加正解データパターン)として登録されている。 - 特許庁
To provide a probe block of a probe device for testing a liquid crystal panel, which facilitates alignment of a probe block electrode with an electrode, has high flexibility to cope with a difference in size of a liquid crystal panel and enables a test with reliability.例文帳に追加
液晶パネル検査用のプロ−ブ装置のプロ−ブブロックにおいて、プロ−ブブロック電極3と電極12との位置合わせし易く、液晶パネル11の大きさの違いがあっても対応できる汎用性が高く信頼性のある検査ができるようにする。 - 特許庁
To evaluate the lift amount of a coil without manufacturing a test piece by utilizing an electromagnetic analysis device, and to obtain a material constant directly from the testing material to dealing with the time sequential change of the metallic material or the material difference adjacent to a crack.例文帳に追加
試験片を製作することなく、電磁気解析装置を利用し、テストコイルの浮き上がり量を評価すること、また、金属材料の時系列変化、あるいはき裂近傍の材料の違いにも対応するために、被検査材から直接材料定数を求めること。 - 特許庁
The test transistors A, B that have at least two kinds or more of insulating films 13, 15 and different configurations are manufactured, and the electrostatic capacity film can be guaranteed with the easy measurement using a testing method for determining whether insulating films 13, 15 have been formed normally from the difference of the sub-threshold characteristics of two kinds of test transistors.例文帳に追加
少なくとも2種類以上の絶縁膜13,15の構成が異なるテスト用トランジスタA,Bを製造し、2種類のテスト用トランジスタのサブスレッショルド特性の差から、絶縁膜13,15が正常に形成されたか否かを判定するというテスト方法を用いて、簡単な測定で静電容量膜の保証が行える。 - 特許庁
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