意味 | 例文 (8件) |
vaccを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8件
The surface potential Vs is determined by expression: (Vacc-Vsub).例文帳に追加
表面電位Vsを(Vacc−Vsub)から求める。 - 特許庁
A plurality of potentials to be applied to the back of the sample S are set, and the Vth distribution when some position on the sample S surface is put on a boundary between reflection and absorption of the electron beam is defined by expression: (Vacc-Vsub) from an acceleration voltage Vacc and an application voltage Vsub to the back.例文帳に追加
試料S裏面に加える電位を複数設定し、試料Sの表面のある位置が電子ビームが反射するか吸収される境界となった場合のVth分布を加速電圧Vaccと、裏面の印加電圧Vsubから、Vacc-Vsub により定義する。 - 特許庁
An accelerator requested air quantity Vacc is calculated based on the opening degree of the accelerator (S7).例文帳に追加
アクセル開度に基づいてアクセル要求空気量Vaccを算出する(S7)。 - 特許庁
A voltage divider circuit 28 divides the voltage of accessory power supply Vacc supplied from an on-vehicle battery 3 through a fuse 5b and outputs it to an input port PI of the microcomputer 25.例文帳に追加
分圧回路28は車載バッテリ3からヒューズ5bを介して供給されるアクセサリ電源Vaccの電圧を分圧して、マイクロコンピュータ25の入力ポートPIへ出力する。 - 特許庁
The surface potential Vs of the photoreceptor sample S is measured by discriminating a boundary (|Vacc|=|Vs|) between a secondary electron image and an inverted electron image.例文帳に追加
2次電子像と反転電子像の境界(|Vacc|=|Vs|)を識別することにより感光体試料Sの表面電位Vsを計測する。 - 特許庁
An acceleration voltage Vacc of incident electrons is fixed, and an application voltage Vsub to the under surface of the sample S is changed.例文帳に追加
入射電子の加速電圧Vaccを固定して試料Sの下面の印加電圧Vsubを変えていく。 - 特許庁
The accelerator requested air quantity Vacc is added to the target idling air quantity Qmv, and a target air quantity Vcyl is calculated (S8).例文帳に追加
アクセル要求空気量Vaccと目標アイドル空気量Qmvとを加算して、目標空気量Vcylを算出する(S8)。 - 特許庁
The method comprises irradiating the surface of a sample 71 with an electron beam, while modifying acceleration voltage Vacc of the electron beam, emitted from an electron gun 10 and detecting primary repulsive electrons made to repulse in the neighborhood of the surface of the sample with a detector before reaching the surface of the sample.例文帳に追加
電子銃10から放出される電子ビームの加速電圧Vaccを変更しながら、電子ビームを試料71の表面に照射し、試料表面に到達する前に試料表面近傍で反発された一次反発電子を検出器で検出する。 - 特許庁
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