INTRODUCCION

En este trabajo hablaremos acerca del telescopio de efecto tunel de forma mas particula, se presentara sun composiciones y funcionamiento tanto como dar una definiccion sobre este miscroscopio el como trabaja y para que es mas utilizado. Precurando desglozar cada una de sus caracteristicasy haci comprender como es que funciona este miscroscopio de efecto tunel.

Microscopio de Efecto Tnel

CONCEPTO Un microscopio de efecto tnel (scanning tunneling microscope) o STM por sus siglas en ingles es un instrumento el cual permite ver superficies a nivel atmico. El instrumento toma mediciones basadas en los niveles de energa basadas en una corriente de tnel. Este concepto es de corriente de tnel viene a un fenmeno llamado tunelaje cuntico, este fenmeno ocurre a escalas nanometricas (nm) y que al haber una dualidad de ondapartcula, entonces los estados de energa de los tomos son discretos y cada sistema tiene una funcin de onda el cual nos indica la probabilidad de encontrar la partcula en cierto estado. Estas partculas al estar limitadas en un potencial finito presentan una probabilidad de penetracin y otra probabilidad de rebote de acuerdo a su funcin de onda.

Representacin de efecto tnel de una partcula a travs de una superficie.

Aplicando este concepto de tunalaje cuntico entonces supongamos que se coloca punta conductora sobre la superficie a ser examinada despus se establece una una barrera (fijada como un voltaje de polarizacin) y se mide una corriente de tnel que pasa a travs de la punta. Esta corriente se encuentra en funcin de la posicin de la punta, el voltaje de polarizacin (energa de la barrera) y lo que se conoce como Local Density of States. Al fijar la distancia y el voltaje de polarizacin entonces tenemos una corriente en funcin al estado atmico de la zona que se mide (LDOS). Tpicamente se hace un barrido con esta punta sobre la superficie a medir y se almacenan los datos de la corriente de tnel respecto a la posicin y as hacer un mappeo de esto y mostrarlo a manera de imagen. Este sistema basa su funcionamiento en un efecto cuntico que ocurre en distancias menores a la milmillonsima parte de un metro (10 -9 m = 1 nm, un nanmetro). El control de este tipo de fenmeno es lo que nos permite hacer topografa de superficies a nivel atmico.

Qu es el efecto tnel? Desde el punto de vista de la mecnica clsica un electrn no puede superar una barrera de potencial superior a su energa. Sin embargo, segn la mecnica cuntica, los electrones no estn definidos por una posicin precisa, sino por una nube de probabilidad. Esto provoca que en ciertos sistemas esta nube de probabilidad se extienda hasta el otro lado de una barrera de potencial. Por tanto el electrn puede atravesar la barrera, y generar una intensidad elctrica. Esta intensidad se denomina intensidad de tnel y es el parmetro de control que nos permite realizar la topografa de superficie. FUNCIONAMIENTO Los componentes de un STM bsico son: una punta de barrido, un sistema piezoelctrico para controlar la altura y la posicin respecto a la superficie a medir, una forma para poder acercar la muestra a la punta, aislamiento de vibracin y una pantalla para visualizar la imagen.

Componentes claves de un SMT.

Como el instrumento es muy sensible a pequeos cambios de distancia respecto la muestra y la punta, es requerido y muy recomendable tomar en consideracin la etapa de aislamiento de vibracin. El tubo de piezoelctrico con electrodos tiene como funcin el de actuar para establecer el posicionado de punta en los ejes del espacio [x, y, z] respecto a la muestra. Se utilizo un concepto denominado disk scanner inventado por John Alexander, Marco Tortonese y Thai Nguyen. El disk scanner esta construido por un unimorph disk que consiste en uno de los dispositivos piezoelctricos mas comunes (buzzers), estos estn construidos por un disco cermico y un disco de metal para hacerlos mas robustos. El piezoelctrico se expande o contrae al aplicarle un campo elctrico. Un unimorph disk tpico se dobla hacia arriba y hacia abajo.

El disco fue modificado para obtener un desplazamiento de la punta en los tres ejes espaciales. Se dividen los electrodos en 4 zonas como se muestra a continuacin: Si se cambia el voltaje en los electrodos opuestos (lo que se observa como parejas en la figura) se va obteniendo un desplazamiento en esas zonas capaz de simular un ligero movimiento en el plano x, y si se pone la punta al centro. Y al acomodar todos al mismo tiempo tambin podemos obtener un desplazamiento en el plano z. Para la construccin de este disco se extrae el disco de un buzzer comercial conociendo su sensibilidad y frecuencia de resonancia y con un cuchillo se divide en cuatro cuadrantes. La siguiente parte consiste en el diseo de la electrnica las cuales pueden ser divididas en varias etapas. Preamplificador de corriente de efecto tnel. Consiste en un amplificador de corriente a voltaje, el amplificador operacional intenta mantener la punta de medicin a nivel de tierra, con un acomodo de resistencias en el lazo de retroalimentacin para subir la resistencia de entrada a a 100 M.

Calculando el error de la seal. Se encuentra un amplificador de diferencias despus de la etapa de preamplificacin, se le resta el punto de calibracin a la corriente de efecto tnel para obtener una seal de error.

Etapa de control integradora. Un amplificador integrador con periodo de integracin ajustable determinado por el arreglo RC de la retroalimentacin. Al incrementar el periodo de integracin se obtiene mejor estabilidad pero aumenta el nmero de errores.

OPERACIN Para este diseo, se requieren dos generadores de funciones y un osciloscopio con canales X, Y (posicin) y Z (intensidad). Los generadores de seales producen el barrido de X y Y al provocar un desplazamiento de acuerdo a nuestro disk scanner y tambin van conectados a los canales X y Y del osciloscopio para determinar el posicionamiento de cada pxel a evaluar. Mientras que la salida de la etapa de control integradora (que no es nada mas que un voltaje proporcional a la corriente de efecto tnel filtrado) va conectada la terminal Z del osciloscopio y su vez al eje vertical Z del disk scanner para retroalimentar a variable a medir y obtener un barrido de la superficie.

A la izquierda se puede observar el osciloscopio y los dos generadores de funciones, y a la derecha una prueba de este diseo de STM obteniendo una imagen de un difractor recubierto por una capa de 1mm de oro, las lneas de la imagen representan trazas de este recubrimiento que sirven para provocar difraccin en el haz de luz.

Lmite de resolucin La dependencia exponencial de IT con S implica que una pequea variacin de S se traduce en un gran cambio de la corriente IT, lo que confiere al microscopio de efecto tnel una gran resolucin (de hasta 0.01 ) en la direccin perpendicular a la superficie. La gran resolucin horizontal (por debajo de los 2 ) se debe a que la punta macroscpica siempre tiene mini puntas (si no las tiene inicialmente se crean in situ). Dada la dependencia exponencial de IT con S, slo la mini punta ms prxima a la muestra contribuye de manera importante a la corriente tnel. Para conseguir resolucin atmica, esta mini punta debe terminar en un slo tomo. Los resultados experimentales indican que esto es lo que ocurre en la realidad.

APLICACIONES Reconstrucciones atmicas en las superficies de semiconductores Topografa de la superficie: escalones y terrazas Impurezas en la superficie Localizacin de los estados de la BC y de la BV Ejemplos en metales Limitacin bsica: incertidumbre posicin-momento

La MET es ampliamente utilizada tanto en investigaciones industriales como tericas para obtener imgenes a escala atmica de superficies metlicas. Actualmente la microscopia de efecto tnel es muy importante en muchas ciencias. El estudio de superficies es una parte importante de la fsica, con aplicaciones particulares en la fsica de semiconductores y microelectrnica. En qumica, reacciones superficiales tambin cumplen un rol importante, por ejemplo, catlisis. El microscopio de efecto tnel trabaja mejor con materiales conductores, pero es tambin posible preparar molculas orgnicas en una superficie y estudiar sus estructuras. Por ejemplo, esta tcnica ha sido usada en el estudio de Molculas de ADN. La MET, dio lugar a grandes avances en la llamada Nanoingenieria. Cuantos ms pequeos se disean los dispositivos, mayor es la influencia en su comportamiento y desempeo del orden atmico de sus materiales constituyentes. Estos detalles incluyen arreglos de tomos en estructuras cristalinas, presencia, tamao y densidad de bordes de granos, impurezas, dislocaciones o imperfecciones. Aplicaciones donde estos hechos cobran gran importancia pueden ir desde el diseo de componentes optoelectrnicas de capas atmicas alternadas de diferentes

a) Esquema de un microscopio de Efecto tnel (T electrodo con punta sujeta sobre tres piezoelctricos ortogonales, X, Y y Z; B muestra y L sistema de acercamiento de la muestra a la punta). b) Modo de operacin en el que se mantiene constante la corriente tnel.

CIBERGRAFIA http://www.geocities.com/spm_stm http://ina.unizar.es/equipos/microscopioSTM.htm http://www.mda.cinvestav.mx/labs/fisica/micros/laboratorio/articulos%20pdf/Interna cionales/7.pdf