Asme Seccion V Artículo 7 - 2013

ARTCULO 7
EXAMINACIN POR PARTCULAS

MAGNTICAS CDIGO ASME
SECCION V 2013
Preparado por: Ing. William Jos Mendoza

C.I.V: 202734, CAWI/AWS N 98080574
Prohibida la reproduccin de este material por cualquier va,wmendozaws@gmail.com,04163332202

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CONTENIDO
Pag.
Artculo 7 Examinacin por Partculas Magnticas4

T-710 ALCANCE.4
T-720 GENERAL..4
T-721 Requerimientos de los procedimientos escritos4
T-721.1 Requerimientos4
T-721.2 Calificacin de procedimientos.5
T-730 EQUIPOS..5
T-731 Medio de examinacin5
T-740 REQUERIMIENTOS DIVERSOS.5
T-741.1 Preparacin..5
T-741.2 Aumento de contraste superficial No magntico7
T-750 TCNICA7
T-751 Tcnicas7
T-752 Tcnicas de las pinzas (Prods)7
T-752.1 Procedimiento de magnetizacin7
T-752.2 Corriente magnetizante.7
T-752.3 Separacin de las pinzas7
T-753 Tecnica de magnetizacin longitudinal8
T-753.1 Procedimiento de magnetizacin..8
T-753.2 Densidad de campo magntico8
T-753.3 Corriente magnetizante9
T-754 Tecnicas de magnetizacin circular..9
T-754.1 Tcnicas de contacto directo9
T-754.2 Tcnica del conductor central..10
T-755 Tcnica del Yugo.11
T-756 Tcnica de magnetizacin multidireccional.11
T-756.1 Procedimiento de magnetizacin..11
T-756.2 Densidad del campo magntico. 12
T-760 CALIBRACIN12
T-761 Frecuencia de la calibracin..12
T-761.1 Equipos de magnetizacin.12
T-761.2 Medidores de luz.12
T-762 Energa de levante de los Yugos..12
T-763 Gausmetros..13
T-764 Suficiencia y direccin del campo magntico..13
T-764.1 Suficiencia del campo magntico13
T-764.1.1 Indicadores de campo de partculas magnticas de forma de torta..14
T-764.1.2 Shims de falla artificial..15
T-764.1.3 Exploracin del campo tangencial del efecto Hall..15
T-764.2 Direccin del campo magntico..15
T-764.2.1 Para las tcnicas de magnetizacin multidireccional 16
T-764.3 Determinacin de la suficiencia16
T-765 Contaminacin y concentracin de las partculas magnticas.16
T-765.1 Concentracin..16
T-765.2 Volmenes de la sedimentacin..17
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T-765.3 Contaminacin.17
T-766 Ejecucin de sistemas de unidades horizontales..18
T-770 EXAMINACIN..19
T-771 Examinacin primaria..19
T-772 Direccin de la magnetizacin.19
T-773 Mtodo de examinacin.19
T-774 Cobertura de la examinacin20
T-775 Corriente rectificada..20
T-776 Remocin del exceso de partculas.21
T-777 Interpretacin21
T-777.1 Partculas magnticas visibles (contraste de color)..21
T-777.2 Partculas magnticas fluorescentes con luz negra..21
T-777.3 Partculas magnticas fluorescentes con otras longitudes de ondas de
excitacin fluorescentes22
T-778 Desmagnetizacin22
T-779 Limpieza posterior a la examinacin..23
T-780 EVALUACIN23
T-790 DOCUMENTACIN..23
T-791 Magnetizacin Multidireccional23
T-792 Registro de las indicaciones.23
T-792.1 Indicaciones No rechazables..23
T-792.2 Indicaciones rechazables..23
T-793 Registros de la examinacin.23
Figuras
T-754.2.1 Tcnica de Conductor Central de Paso Simple y Doble.10
T-754.2.2 La Examinacin de la Regin Efectiva Cuando se Usa un Conductor Central
Descentrado.11
T-764.1.1 Indicador de Campo de Forma de Torta de Partculas Magnticas.13
T-764.1.2.1 Shims de Falla Artificial..14
T-764.1.2.2 Shims de Falla Artificial..16
T-766.1 Anillo de Ensayo Ketos (Betz).20
Tablas
T-721 Requerimientos de un Procedimiento por Partculas Magnticas6

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ARTCULO 7 EXAMINACIN POR PARTCULAS MAGNTICAS

T-710 ALCANCE
Cuando se especifica mediante la seccin del Cdigo de referencia, las tcnicas de
examinacin por partculas magnticas descritas en este artculo debern ser usadas.
En general, este artculo esta en conformidad con SE-709, Guia estndar Para la
Examinacin Por Partculas Magnticas. Este documento suministra detalles a ser
considerados en el procedimiento usado. Cuando este artculo esta especificado
mediante una seccin del Cdigo de referencia, el mtodo por partculas magnticas
descrito en este artculo deber ser usado junto con el Artculo I, Los requerimientos
generales. La definicin de trminos usados en este artculo esta en el apndice
obligatorio II.
T-720 GENERAL
El mtodo de examinacin por partculas magnticas es aplicado para detectar
grietas y otras discontinuidades en las superficies de materiales ferromagnticos. La
sensibilidad es la mayor para discontinuidades superficiales y disminuye
rapidamente con el aumento de la profundidad de las discontinuidades por debajo
de la superficie. Los tipos tpicos de discontinuidades que pueden ser detectados por
este mtodo son grietas, solapes, costuras, colds Shuts, y laminaciones.
Al principio, este mtodo trae consigo magnetizar un rea para ser examinada, y
aplicar las partculas ferromagnticas (el medio de examinacin) a la superficie. El
patrn de partculas se forma sobre la superficie donde el campo magntico es
forzado a salir de la pieza y sobre las discontinuidades para causar un campo de fuga
que atrae las partculas. Los patrones de partculas son por lo general caractersticos
del tipo de discontinuidad que es detectada.
Cualquiera que sea la tcnica usada para producir el flujo magntico en la pieza, la
sensibilidad mxima ser para las discontinuidades lineales orientadas perpendicular
a las lneas de flujo. Para la efectividad optima en la deteccin de todos los tipos de
discontinuidades, cada rea que va a ser examinada se debe magnetizar al menos
dos veces, con las lneas de flujo durante una examinacin que sea
aproximadamente perpendicular a las lneas de flujo durante la otra.
T-721 Requerimientos de los Procedimientos Escritos
T-721.1 Requerimientos. La examinacin por partculas magnticas deber ser
desarrollada en concordancia con un procedimiento escrito, el cual contendr, como
mnimo, los requerimientos listados en la tabla T-721. El procedimiento escrito
establecer un solo valor, o rango de valores, para cada requerimiento.

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T-721.2 Calificacin de Procedimientos. Cuando la calificacin de procedimiento es

especificada por la seccin del Cdigo de referencia, un cambio de un requerimiento
en la tabla T-721.2 identificado como una variable esencial requerir recalificacin
del procedimiento escrito mediante demostracin. Un cambio de un requerimiento
identificado como una variable no esencial no requiere recalificacin del
procedimiento escrito. Todos los cambios de las variables esenciales o no esenciales
de aquellas especificadas dentro del procedimiento escrito requerir revisin de, o
una adenda para, el procedimiento escrito.
T-730 EQUIPOS
Deber ser empleado medios disponibles y apropiados para producir el flujo
magntico necesario en la pieza, usando una o ms de las tcnicas listadas y
descritas en T-750.
T-731 Medio de Examinacin
Las partculas divididas en forma menuda usadas para la examinacin debern
presentar los siguientes requerimientos.
(a) Tipos de partculas. Las partculas debern ser tratadas para impartir color
(pigmentos fluorescentes, pigmentos no fluorescentes, o ambos) a fin de
hacerlas altamente visibles (contraste) contra el fondo de la superficie que va
a ser examinada.
(b) Las partculas. Las partculas secas y hmedas y vehculos en suspensin
debern estar en concordancia con SE- 709.
(c) Limitaciones de temperatura. Las partculas debern ser usadas dentro de las
limitaciones de los rangos de temperaturas establecidas por el fabricante de
las partculas. Alternativamente, las partculas pueden ser usadas fuera de las
recomendaciones del fabricante de las partculas siempre que el
procedimiento este calificado en concordancia con el Artculo 1, T-150 a la
temperatura propuesta.
T-740 REQUERIMIENTOS DIVERSOS
T-741 Condicionamiento Superficial
T-741.1 Preparacin.
(a) Se obtiene por lo general resultados satisfactorios cuando las superficies
estan en las condiciones soldadas, laminadas, fundidas o forjadas. Sin
embargo, la preparacin superficial mediante esmerilado o maquinado puede
ser necesaria donde las irregularidades superficiales pudieran enmascarar las
indicaciones debido a las discontinuidades.
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TABLA T-721
REQUERIMIENTOS DE UN PROCEDIMIENTO DE EXAMINACIN POR PARTCULAS
MAGNTICAS
Requerimientos
Variable Esencial
X
X
Variable No Esencial
Partculas magnticas (Fluorescente/visible, color, tamao

de partcula, hmedo / seco)
Mtodo de aplicacin de las partculas
Mtodo de la remocin del exceso de partcula
X
X
Revestimientos existente, mayores que el espesor

demostrado
Aumento del contraste superficial No magntico, cuando
es utilizado
Demostracin de ejecucin, cuando sea requerido
Temperatura superficial de la pieza de examinacin fuera

del rango de temperatura recomendado por el fabricante
de las partculas o como se calific previamente.
Forma y tamao del objeto sometido a ensayo
X
X
Tecnica de limpieza post ensayo
Requerimientos de calificacin del personal
Tecnica Magnetizante
Tipo de corriente magnetizante o amperaje fuera del rango
especificado por este artculo o como se especific
previamente
Preparacion de la superficie
Intensidad mnima de luz
Equipo del mismo tipo

Temperatura (dentro de aquellas especificadas por el
fabricante o como se calific previamente)
Tecnica de desmagnetizacin
(b) Antes de la examinacin por partculas magnticas, la superficie que va a ser

examinada y todas las reas adyacentes dentro de al menos de 1 (25 mm)
deber estar seca y libre de todo sucio, grasa, pelusas, cascarillas de
fundicin, fundentes de soldadura, salpicaduras, aceites y otras materias
extraas que pudieran interferir con la examinacin.
(c) La limpieza puede llevarse a cabo usando detergentes, solventes orgnicos,
soluciones de decapado, removedores de pintura, desengrase al vapor,
chorro de arena o granalla o mtodos de limpieza por ultrasonido.
(d) Si se dejan revestimientos no magnticos sobre la pieza en el rea que va a
ser examinada, se deber demostrar que las indicaciones pueden ser
detectadas a travs del espesor mximo del revestimiento aplicado. Cuando

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se usa la tecnica de magnetizacin por Yugo con CA, la demostracin deber

estar en concordancia con el Apndice I obligatorio de este Artculo.
T- 741.2 Aumento del Contraste Superficial No Magntico.
Los contrastes superficiales no magnticos pueden ser aplicados por el examinador
para superficies no revestidas, solo en cantidades suficientes para incrementar el
contraste de las partculas. Cuando se usa el aumento del contraste superficial no
magntico, deber demostrarse que las indicaciones pueden ser detectadas a travs
del incremento. No es requerida la medicin del espesor de este incremento de
contraste superficial no magntico.
Nota: Referirse a T-150 (a) para guiarse para la demostracin requerida en T-741.1 (d) y T-741.2.
T-750 TCNICA
T-751 Tcnicas
Una o ms de las siguientes cinco tcnicas de magnetizacin debern ser usadas:
(a)
(b)
(c)
(d)
(e)
Tcnica de Pinzas (Prods)

Tcnica de magnetizacin longitudinal
Tcnica de magnetizacin circular
Tcnica del Yugo (Yoke)
Tcnica de magnetizacin Multidireccional.
T- 752 Tcnica de las Pinzas (Prods).

T- 752.1 Procedimiento de magnetizacin. Para la tcnica de pinzas, la magnetizacin
se lleva a cabo mediante contactos elctricos tipo pinzas porttiles presionadas
contra la superficie del rea que va a ser examinada. Para evitar arcos, se debe
suministrar un interruptor de control remoto, el cual puede ser incorporado en los
mangos de las pinzas, para permitir que la corriente sea aplicada despus que las
pinzas hayan sido posicionadas de manera apropiada.
T- 752.2 Corriente Magnetizante. Se deber usar corriente magnetizante directa o
rectificada. La corriente deber ser de 100 amperios/pulgs. (mnimo) (4
amperios/mm) hasta 125 amperios /pulgs. (mximo) (5 amperios/mm) de
separacin de las pinzas para secciones de . (19 mm) de espesor o mayores. Para
secciones menores de (19 mm) de espesor, la corriente deber ser de 90 amperios
/pulgs. (3.6 amperios /mm) hasta 110 amperios /pulgs. (4.4 amperios/mm) de
separacin de las pinzas.
T-752.3 Separacin de las Pinzas. La separacin de las pinzas no deber exceder de 8
(200 mm). Se pueden usar separaciones mas cortas para adaptarse a las limitaciones
geomtricas del rea que va a ser examinada o para incrementar la sensibilidad,
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pero las separaciones de las pinzas menores de 3 (75 mm) son por lo general poco
prctico debido a la acumulacin de partculas alrededor de las pinzas. Las puntas
delas pinzas debern conservarse limpias y ahusadas. Si el voltaje de circuito abierto
de la fuente de la corriente magnetizante es mayor que 25 voltios, se recomienda
pinzas con extremos de plomo, acero, o aluminio (ms que cobre) para evitar
depsitos de cobre sobre la pieza que va a ser examinada.
T-753 Tcnica de Magnetizacin Longitudinal
T-753.1 Procedimiento de magnetizacin. Para esta tcnica, la magnetizacin se lleva
a cabo por el paso de la corriente a travs de una bobina fija de mltiples vueltas (o
cables) que se enrollan alrededor de la pieza o seccin de la pieza que va a ser
examinada. Esto produce un campo magntico longitudinal paralelo al eje de la
bobina. Si se usa una bobina pre- devanada fija, la pieza deber estar ubicada cerca
del lado de la bobina durante la inspeccion. Esto es de vital importancia cuando la
abertura de la bobina es ms de 10 veces el rea de la seccin transversal de la pieza.
T- 753.2 Densidad de Campo Magntico. La corriente directa o rectificada deber ser
usada para magnetizar las partes examinadas por esta tcnica. La densidad de campo
requerida deber ser calculada basada en la longitud L y el dimetro D de la pieza en
concordancia con (a) y (b), o como se establece en (d) y (e), ms adelante. Las piezas
largas debern ser examinadas en secciones que no excedan 18 (450 mm), y deber
usarse 18 (450 mm) para la parte L para calcular la densidad de campo requerida.
Para las partes no cilndricas, el dimetro D deber ser la mxima diagonal de la
seccin.
(a)
Piezas con la relacin L/D igual o mayor que 4. La corriente

magnetizante deber estar dentro del 10% del valor vuelta-amperios
determinado como sigue:
Amperios - Vuelta = 35.000 / [(L/D)+2], por ejemplo una pieza de 10

(250 mm) de largo X 2 (50 mm) de dimetro tiene una relacin L/D de 5. Por lo
tanto,
Amperios Vueltas= 35.000/[(10/2) +2]=5000

(b)
Piezas con la relacin L/D menor que 4 pero no menor de 2. La corriente

magnetizante amperiosvueltas deber estar dentro del 10% del valor
amperios - vuelta determinado como sigue:
Amperios Vueltas = 45.000/ (L/D)

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(c)
(d)
(e)
Piezas con la relacin L/D menor que 2. No se puede usar la tecnica de

magnetizacin con bobina.
Si el rea que va ser magnetizada de extiende mas all de 9 (225 mm)
en cualquier lado del centro de la bobina, se deber demostrar la
suficiencia del campo usando un indicador de campo magntico o
Shims de fallas artificiales. Segn T-764.
Para grandes piezas debido a su forma y tamao, la corriente
magnetizante deber ser de 1200 amperios-vuelta hasta 4500 amperiosvueltas. La suficiencia del campo deber ser demostrada usando Shims
de falla artificial o un indicador de campo magntico en forma de torta
en concordancia con T-764. Un Gausmetro de prueba de Efecto Hall no
deber ser usado con las tcnicas de magnetizacin de bobina
envolvente.
T-753.3 Corriente Magnetizante. La corriente requerida para obtener la densidad de

campo necesario deber ser determinada por dividir las vueltas-amperios obtenidas
en los pasos T-753.2 (2) (b) entre el nmero de vueltas en la bobina como sigue:
Amperios (lectura en metros)= (vueltas amperios) /vueltas

Por ejemplo, si se usa una bobina de 5 vueltas y las vueltas- amperios requeridas
son 5000, usar
5000/5= 1000 ( 10)

T-754 Tcnicas de Magnetizacin Circular
T-754.1 Tcnica de Contacto Directo
(a) Procedimiento de magnetizacin. Para esta tcnica, la magnetizacin se lleva
a cabo mediante el paso de corriente a travs de la pieza a examinar. Esto
produce un campo magntico circular que es perpendicular a la direccin del
flujo de corriente en la pieza.
(b) Corriente magnetizante. Deber usarse corriente magnetizante directa o
rectificada (media onda rectificada onda completa rectificada)
(1) La corriente deber ser de 300 amper/pulgs. (12 Amps/mm) para 800
amp/pulg. (31 Amps/mm) de dimetro exterior.
(2) Las piezas con formas geomtricas diferentes a las redondas con la
diagonal seccional transversal ms grande en un plano en un ngulo
recto al flujo de corriente determinar las pulgadas que van a ser usadas
en T-754.1 (b) (1) antes mencionado.
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(3) Si los niveles de corriente requeridos por (b) (1) no pueden ser obtenidos,
se debe usar la mxima corriente asequible y la suficiencia del campo
deber ser demostrada en concordancia con T-764.
T-754.2 Tcnica del Conductor Central
(a) Procedimiento magnetizante. Para esta tcnica, se usa un conductor central
para examinar las superficies internas de las piezas de forma de anillo o
cilndricas. La tcnica del conductor central tambin pueden ser usadas para
examinar las superficies externas de estos tipos de formas. Donde los
cilindros de gran dimetro van a ser examinados, el conductor deber ser
posicionado cerca de la superficie interna del cilindro. Cuando en conductor
no est centrado, la circunferencia del cilindro deber ser examinado en
pequeas porciones. Se deber usar las mediciones de la densidad de campo
en concordancia con T-764
FIG. T-754.2.1 TECNICA DE CONDUCTOR CENTRAL DE PASO SIMPLE Y DOBLE
para determinar la extensin del arco que puede ser examinado para cada posicion
del conductor o las reglas en T-754.2 (c) antes mencionado puede aplicarse. Las
barras o cables, que pasan a travs del hueco de un cilindro, pueden ser usadas para
inducir la magnetizacin circular.
(b) Corriente Magnetizante. La densidad de campo requerida deber ser igual a
aquella determinada en T-754.1 (b) para un conductor central de una sola
vuelta. El campo magntico aumentar en proporcin al nmero de veces que
el cable del conductor central pasa a travs de la parte hueca. Por ejemplo, si
se requieren 6000 amperios para examinar una pieza usando un conductor
central de pase simple, entonces son requeridos 3000 amperios cuando se
use un conductor de pase doble, y 1200 amperios son requeridos si se usan 5
pases (Ver Figura T-754.2.1). Cuando se use la tcnica del conductor central,

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la suficiencia del campo magntico deber ser verificada usando un indicador

de campo de partculas magnticas en concordancia con T-764.
(c) Conductor Central Desalineado. Cuando el conductor pasa a travs del
interior de la pieza es ubicado contra la pared interior de la pieza, los niveles
de corriente, as dados en T-754.1 (b) (1) aplicarn, excepto aqul dimetro
usado para el clculo de la corriente deber ser la suma del dimetro del
conductor central y dos veces el espesor de la pared. La distancia a lo largo de
la circunferencia de la pieza (exterior) que es efectivamente magnetizado
deber ser tomado como cuatro veces el dimetro del conductor central,
como se ilustra en la figura T-754.2.2. La circunferencia completa deber ser
inspeccionada mediante la rotacin de la parte en el conductor, dejando
aproximadamente un solape de campo magntico del 10%.
T-755 Tcnica de Yugo
Para esta tcnica, se debern usar los yugos electromagnticos de corriente alterna o
directa, o yugos de imanes permanentes
T-756 Tcnica de Magnetizacin Multidireccional
T-756.1 Procedimiento de Magnetizacin. Para esta tcnica, la magnetizacin se lleva
a cabo mediante paquetes de energa de alto amperaje que operan tanto como tres
circuitos que son energizados uno a la vez en rpida sucesin.
FIG. T-754.2.2 LA EXAMINACIN DE LA REGIN EFECTIVA CUANDO SE USA UN
CONDUCTOR CENTRAL DESALINEADO
El efecto de estas corrientes magnetizante alternas rpidas es producir una

magnetizacin total de la pieza en mltiples direcciones. Los campos magnticos

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circular o longitudinal pueden ser generados en cualquier combinacin usando las

tecnicas diversas descritas en T-753 y T-754.
T-756.2 Densidad de Campo Magntico. Solamente corriente rectificada de onda
completa, de tres fases deber ser usada para magnetizar la pieza. Los
requerimientos de la corriente magnetizante inicial para cada circuito deber ser
establecido usando las guas descritas previamente (Ver T-753 y T-754). La suficiencia
del campo magntico deber ser demostrada usando Shims de fallas artificiales o un
indicador de campo de partculas magnticas de forma de torta en concordancia con
T-764. Un Gaussmetro explorador del efecto Hall no deber ser usado para medir la
suficiencia del campo para la tcnica de magnetizacin multidireccional. Un campo
adecuado deber obtenerse al menos en dos direcciones perpendiculares
aproximadamente, y las intensidades del campo deberan estar balanceadas a fin de
que un campo fuerte en una direccin no domine el campo en la otra direccin. Para
las reas donde las densidades de campo adecuado no pueden ser demostradas,
debern ser usadas tecnicas de partculas magnticas adicionales para obtener la
cobertura requerida en dos direcciones.
T-760 CALIBRACIN
T-761 Frequencia de Calibracin
T-761.1 Equipos de Magnetizacin
(a) Frecuencia. El equipo de magnetizacin deber ser calibrado con un
ampermetro al menos una vez al ao, o todas las veces que el equipo haya
estado sometido a una reparacin elctrica mayor, revisin peridica, o
daos. Si el equipo no ha estado en uso por un ao o mas, debe hacerse la
calibracin antes del primer uso.
(b) Procedimiento. La precisin del medidor de la unidad deber ser verificado
anualmente mediante la trazabilidad del equipo a un estndar nacional.
Deben ser tomadas lecturas comparativas por lo menos a tres diferentes
niveles de salida de corriente que abarca el rango usual.
(c) Tolerancia. La lectura del medidor de la unidad no deber desviarse por ms
del 10% de la escala completa, relativo al valor de la corriente actual como
se muestra por el medidor de ensayo.
T-761.2 Medidores de luz. Los medidores de luz debern ser calibrados al menos una
vez al ao o todas las veces que el medidor haya sido reparado. Si los medidores no
han estado en uso por un ao o ms, la calibracin deber ser hecha antes de su uso.
T- 762 Energa de Levante de los Yugos
(a) Antes de usar, la energa magnetizante de los yugos electromagnticos
deber revisarse anualmente. La energa magnetizante de los yugos
magnticos permanentes deber ser inspeccionada diariamente antes de
usar. La energa magnetizante de todos los yugos deber ser revisada todas
las veces que el yugo haya sido daado o reparado.
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(b) Cada yugo electromagntico de corriente alterna deber tener una energa de
levante de al menos 10 libras (4.5 Kgs.) en la separacin mxima del polo que
ser usada.
(c) Cada yugo magntico permanente o de corriente directa deber tener una
energa de levante de al menos 40 libras (18 Kgs) en la separacin mxima del
polo que ser usado.
(d) Cada peso deber ser pesado con una balanza de un fabricante respetable y
calibrado con un peso nominal aplicable antes de su primer uso. Un peso solo
requiere ser verificado de nuevo si se daa de una manera que pudiera haber
causado perdida potencial de material.
FIG. T-764.1.1 INDICADOR DE CAMPO DE PARTCULAS MAGNTICAS DE FORMA DE
TORTA.
T-763 Gausmetros
Los Gausmetros de prueba del efecto Hall usados para verificar la densidad del
campo magnetizante en concordancia con T-754 deber estar calibrado al menos una
vez al ao p todas las veces que el equipo hay sido sometido a una reparacin mayor,
revisin peridica, o dao. Si el equipo no ha sido usado por un ao o ms, la
calibracin deber ser realizada antes de su primer uso.
T-764 Suficiencia y Direccin del Campo Magntico
T-764.1 Suficiencia del Campo Magntico. El campo magntico aplicado deber tener
suficiente densidad para producir indicaciones satisfactorias, pero no deber ser tan
fuerte porque puede enmascarar las indicaciones relevantes mediante
acumulaciones no relevantes de partculas magnticas. Los factores que influencian
la densidad de campo requerido incluyen el tamao, forma, y la permeabilidad del
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material de la pieza; la tcnica de magnetizacin; los revestimientos; el mtodo de

aplicacin de las partculas; y el tipo de ubicacin de las discontinuidades para ser
detectadas. Cuando es necesario verificar la suficiencia de la densidad del campo
magntico, se deber verificar por el uso de uno o ms de los tres mtodos
siguientes.
T-764.1.1 Indicador de Campo de Partculas Magnticas de Forma de Torta. El
indicador, mostrado en la figura T-764.1.1, deber ser posicionado sobre la superficie
que va a ser examinada, tal que el lado de la placa de cobre est alejada de la
superficie inspeccionada. Se indica una densidad de campo apropiada cuando una
lnea (o lneas) claramente definida de partculas magnticas se forman
transversalmente a la cara de cobre del indicador cuando las partculas magnticas
son aplicadas simultneamente con la fuerza magnetizante. Cuando no se forma una
lnea de partculas claramente definidas, deber ser cambiada
la tecnica
magnetizante cuando sea requerida. Los indicadores del tipo torta se usan mejor con
los procedimientos de partculas secas.
FIG. T-764.1.2.1 SHIMS DE FALLA ARTIFICIAL

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NOTA GENERAL: Lo anterior son ejemplos de Shims de falla artificial usados en la verificacin del
sistema de inspeccin por partculas magnticas (el dibujo no esta a escala). Los Shims son
construidos de acero de bajo contenido de carbono (Hoja de Acero 1005). La falla artificial es atacada
o maquinada en un lado de la hoja a una profundidad del 30% del espesor de la hoja.
T- 764.1.2 Shims de Falla Artificial. Uno de los Shims mostrados en la figura T764.1.2.1 o la figura T- 764.1.2.2 cuya orientacin es tal que puede tener un
componente perpendicular al campo magntico aplicado deber ser usado. Los
Shims con muescas lineales deberan estar orientadas a fin de que al menos una
muesca sea perpendicular al campo magntico aplicado. Los Shims solo con muescas
circulares pueden ser usados en cualquier direccin. Los Shims debern estar
sujetados a la superficie para ser examinados, tal que el lado de la falla artificial del
Shim este hacia la superficie inspeccionada. La densidad del campo apropiado es
indicada cuando una lnea claramente definida (o lneas) de partculas magnticas,
representando el 30% de profundidad de la falla, aparecen en la cara del Shim
cuando las partculas magnticas son aplicadas simultneamente con la fuerza
magnetizante. Cuando una lnea de partculas claramente definida no se forma,
deber cambiarse la tcnica de magnetizacin as requerida. Los indicadores tipo
Shims son mejores usados con procedimientos de partculas hmedas.
Nota: Los Shims circulares mostrados en la figura T-764.1.2.2 ilustracin (b) tambien tienen
profundidades de fallas menores y mayores del 30%.
T-764.1.3 Exploracin del campo tangencial del efecto Hall. Un gausmetro y una
sonda de campo tangencial del efecto Hall debern ser usados para medir el valor
pico de un campo tangencial. La sonda deber ser ubicada sobre la superficie que va
a ser examinada, de manera tal que la densidad mxima del campo sea determinada.
Se indica una densidad de campo apropiada cuando el campo medido esta dentro
del rango de 30 G hasta 60 G (2.4 kAm-1 hasta 4.8 kAm-1) mientras la fuerza
magnetizante esta siendo aplicada. Ver el Artculo 7, Apndice A No obligatorio.
T-764.2 Direccin del Campo Magntico. La direccin de la magnetizacin deber ser
determinada mediante las indicaciones de partculas obtenidas usando un indicador
o Shims como se muestra en la figura T-764.1.1 o la figura T-764.1.2. Cuando no se
forma una lnea de partculas claramente definidas en la direccin deseada, la
tcnica magnetizante deber cambiarse as requerida.

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T-764.2.1 Para las tecnicas de magnetizacin multidireccional, la orientacin de las

lneas de flujo debern estar en al menos dos direcciones casi perpendicularmente.
Cuando las lneas de partculas claramente definidas no se forman en al menos dos
direcciones casi perpendiculares, la tecnica magnetizante deber ser cambiada as
requerida.
T- 764.3 Determinacin de la suficiencia y direccin de los campos magnticos
usando indicadores de campos magnticos o Shims de falla artificial se permiten
solamente cuando son especficamente referenciadas mediante tecnicas
magnetizantes en T-753.2 (d), T-753.2 (e), T-754.1 (b) (3), T- 754.2(a), T-754.2(b), y T756.2.
T-765 Contaminacin y Concentracin de las Partculas Hmedas.
Las unidades horizontales para baos hmedos debern tener la contaminacin y
concentracion del bao determinado mediante la medicin de su volumen de
sedimentacin. Esto se lleva a cabo a travs del uso de un Mtodo de ensayo ASTM
D 96 de un tubo centrfugo en forma de pera con una espiga de 1-mL (divisiones 0.05mL) para suspensiones de partculas fluorescentes o una espiga de 1.5-mL (divisiones
0.1-mL) para suspensiones no fluorescente. Antes del muestreo, la suspensin
deber fluir a travs de un sistema de recirculacin por al menos 30 min. para
asegurar la mezcla completa de todas las partculas las cuales pudieran haberse
sedimentado en el tamz del sumidero y a lo largo de los lados o en la base del
tanque.
T-765.1 Concentracin. Tomar una porcin de 100-mL de la suspensin de la
manguera o boquilla, desmagnetizar y permitir que sedimente por
aproximadamente 60 minutos con suspensiones de petrleo destilado 30 minutos,
con suspensiones a base de agua antes de la interpretacin. El volumen sedimentado
en la base del tubo es indicativo de la concentracin de las partculas en el bao.
FIG. T-764.1.2.2 SHIMS DE FALLA ARTIFICIAL

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T-765.2 Volmenes de la Sedimentacin. Para las partculas fluorescentes, el

volmen de sedimentacin requerido es de 0.1 hasta 0.4 mL en una muestra de bao
de 100-mL y de 1.2 hasta 2.4 mL por 100 mL de vehculo para partculas no
fluorescentes a menos que se especifique lo contrario por el fabricante. La inspeccion
de la concentracion deber hacerse al menos cada ocho horas.
T-765.3 Contaminacin. Tanto las suspensiones fluorescente y las no fluorescentes
debern ser inspeccionadas peridicamente por si tienen contaminantes tales como
sucio, cascarillas de fundicin, aceite, pelusas, prdida de pigmentos fluorescentes,
agua (en el caso de las suspensiones a base de aceite), y aglomerado de partculas las
cuales pueden afectar adversamente la ejecucin del proceso de examinacion por
partculas magnticas. El ensayo para detectar la contaminacin deber desarrollarse
al menos una vez a la semana.

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(a) Contaminacin Portadora. Para baos fluorescentes, el lquido

directamente sobre el precipitado deber ser examinado con luz de
excitacin fluorescente. El lquido tendr poca fluorescencia. Su color
puede ser comparado con una muestra recin hecha usando los mismos
materiales o con una muestra sin usar del bao original que fue retenida
para este propsito. Si la muestra usada es evidentemente ms
fluorescente que el estndar de comparacin, el bao deber ser
reemplazado.
(b) Contaminacin de las Partculas. La porcin graduada del tubo deber ser
examinada bajo luz de excitacin fluorescente si el bao es fluorescente y
bajo la luz visible (tanto para partculas fluorescentes y no fluorescentes)
para las estras o bandas, se diferencia en el color o apariencia. Las
bandas o estras pueden indicar la contaminacin. Si el volumen total de
los contaminantes, incluyendo las bandas o estras que exceden el 30%
del volumen de las partculas magnticas, o si el lquido es evidentemente
fluorescente, el bao deber ser reemplazado.
T-766 Ejecucion de Sistemas de Unidades Horizontales.
La muestra de anillo Ketos (Betz) (Ver la figura. T-766.1) deber ser usada en la
evaluacin y comparacin de la ejecucion y sensibilidad total tanto de las tcnicas
por partculas magnticas no fluorescentes y fluorescentes, secas y hmedas usando
una tcnica de magnetizacin de conductor central.
(a) El Material del Anillo de Ensayo Ketos (Betz). El anillo de acero de
herramientas (Ketos) deber ser maquinado del material AISI 01 en
concordancia con la Figura T-766.1. Cualquier anillo maquinado o modelo de
acero deber ser revenido a 1650F (900C), enfriado a 50F (28C) por hora a
1000 (540C) y luego enfriado al aire a temperatura ambiente para dar
resultados comparables que usan anillos similares que hayan tenido el mismo
tratamiento. El material y el tratamiento trmico son importantes. La
experiencia indica que solo es insuficiente el control del ablandamiento del
anillo mediante la dureza (90 a 95 HRB).
(b) Uso del Anillo de Ensayo. El anillo de ensayo (Ver la Figura T-T66.1), es
magnetizado circularmente con corriente CA de media onda rectificada
pasndolo a travs de un conductor central con un hueco de 1 pulgada hasta
11/4 (25mm a 32mm) de dimetro ubicado en el centro del anillo. El
conductor deber tener una longitud mayor de 16 (400 mm). La corrientes
usadas debern ser de 1400, y 3400 amperios. El nmero mnimo de huecos
mostrados debern ser tres, cinco y seis, respectivamente. El borde del anillo
deber ser examinado con cualquier luz negra o luz visible, dependiendo del
tipo de partcula involucrada. Este ensayo deber ser realizado en tres
intensidades de corrientes si se debe usar la unidad en estos tipos de
amperajes o mayores. Los valores del amperaje establecidos no debern
excederse en el ensayo. Si el ensayo no revela el nmero requeridos de
huecos, el equipo deber ser sacado de servicio y la causa de la prdida de
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sensibilidad determinada y corregida. Este ensayo deber ser realizado al

menos una vez por semana.
T-770 EXAMINACIN
T-771 Examinacin Primaria
Antes de que la examinacin por partculas magnticas sea llevada a cabo, se deber
conducir una revisin de la superficie sometida a la examinacin para localizar
cualquier discontinuidad abierta a la superficie en la cual las partculas magnticas
no puedan ser atradas y sostenidas debido a su ancho.
T-772 Direccin de la Magnetizacin
Al menos dos examinaciones separadas debern ser efectuadas sobre cada rea.
Durante la segunda examinacin, las lneas del flujo magntico debern ser
aproximadamente perpendiculares a aquellas usadas durante la primera
examinacin. Una tecnica diferente para la magnetizacin deber ser usada para la
segunda examinacion.
T-773 Mtodo de Examinacin.
Las partculas magnticas usadas en un medio de examinacin pueden ser de
cualquier tipo secas o hmedas, y pueden ser fluorescentes o no fluorescentes.
(a) Partculas secas. La corriente magnetizante deber permanecer mientras el
medio de examinacin est siendo aplicado y mientras cualquier exceso del
medio de examinacin es eliminado.
(b) Partculas hmedas. La corriente magnetizante deber ser aplicada despues
que las partculas hayan sido aplicadas. El flujo de partculas deber
detenerse con la aplicacin de la corriente. Las partculas hmedas aplicadas
desde envases presurizados pueden ser aplicados antes y/o despus que la
corriente magnetizante sea aplicada. Las partculas hmedas pueden ser
aplicadas durante la aplicacin de la corriente magnetizante si no son
aplicadas directamente al rea de examinacin y se permite que fluyan sobre
el rea de examinacin o son aplicadas directamente al rea de examinacin
con velocidades insuficientemente bajas para remover las partculas
acumuladas.

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FIG. T-766.1 ANILLO DE ENSAYO KETOS (BETZ)
Hueco
(mm)
10
11
12
Dim.
[Nota(1)]
0.07
(1.8)
0.07
(1.8)
0.07
(1.8)
0.07
(1.8)
0.07
(1.8)
0.07
(1.8)
0.07
(1.8)
0.07
(1.8)
0.07
(1.8)
0.07
(1.8)
0.07
(1.8)
0.07
(1.8)
D
[Nota(2)]
0.07
(1.8)
0.14
(3.6)
0.21
(5.3)
0.28
(7.1)
0.35
(9.0)
0.42
(10.8)
0.49
(12.6)
0.56
(14.4)
0.63
(16.2)
0.70
(18.0)
0.77
(19.8)
0.84
(21.6)
NOTAS GENERALES:
(a) Todas las dimensiones son 0.03 ( 0.8 mm) o como se nota en (1) y (2).
(b) Todas las dimensiones estan en pulgadas, a excepcin como se nota ( ).
(c) El material es acero de herramienta ANSI 01 de annealed round stock.
(d) El anillo puede ser tratado trmicamente como sigue: Calentar de 1400F hasta 1500F (760C hasta
790C). Mantener esta temperatura por una hora. Enfriar a la velocidad mnima de 40 F/h (22C/h)
hasta bajarla a 1000F (540C). Enfriar en horno o al aire a temperatura ambiente. Terminar el anillo a
RMS 25 y protegerlo de la corrosin.
Notas:
(1) Todos los dimetros de los huecos son 0.005 ( 0.1 mm). Los nmeros de los huecos del 8
hasta el 12 son opcionales.
(2) La tolerancia en la distancia D es 0.005 (0.1 mm).
T-774 Cobertura de la Examinacin

Todas las examinaciones debern ser dirigidas con solape suficiente del campo para
asegurar el 100% de cobertura a la sensibilidad requerida (T-764).
T-775 Corriente Rectificada
(a) Donde quiera que la corriente directa sea requerida la corriente rectificada
puede ser usada. La corriente rectificada para la magnetizacin deber ser
cualquier corriente trifsica (rectificada de onda completa), o corriente de
fase simple (rectificada de media onda).

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(b) El amperaje requerido con corriente de fase triple, rectificada de onda

completa deber ser verificada mediante la medicin de la corriente
promedio.
(c) El amperaje requerido con corriente de fase simple (rectificada de media
onda) deber ser verificada mediante la medicin de la salida de corriente
promedio durante la conduccin solamente del medio ciclo.
(d) Cuando se mide la corriente rectificada de media onda con un medidor de
ensayo de corriente directa deber ser multiplicada por dos.
T-776 Remocin del Exceso de Partculas
Las acumulaciones del exceso de las partculas secas en las examinaciones debern
ser removidas con un chorro de aire ligero desde un bulbo o jeringa u otras fuentes
de flujo de aire seco a presin. La corriente o energa de la examinacin deber ser
mantenida mientras se remueve el exceso de partculas.
T-777 Interpretacin
La interpretacin deber identificar si una indicacin es falsa, no relevante, o
relevante. Las indicaciones falsas y no relevantes debern ser comprobadas como
falsas o no relevantes. La interpretacin deber ser llevada a cabo para identificar la
ubicacin de las Indicaciones y la caracterstica de la indicacin.
T-777.1 Partculas Magnticas Visibles (Contraste de color). Las discontinuidades
superficiales se indican mediante las acumulaciones de partculas magnticas las
cuales deberan contrastar con la superficie de la examinacin. El color de las
partculas magnticas debern ser lo suficientemente diferentes que el color de la
superficie de la examinacin. Se requiere una intensidad mnima de luz de 100 fc
(1000Lx) sobre la superficie que va a ser examinada para asegurar la sensibilidad
adecuada durante la examinacin y evaluacin de las indicaciones. Se requiere que la
fuente de luz, la tcnica usada, y la verificacin del nivel de luz sea demostrada a
tiempo, y mantenida en archivo.
T-777.2 Partculas Magnticas Fluorescentes Con Luz Negra. Con las partculas
magnticas fluorescentes, el proceso es esencialmente el mismo como en T-777.1,
con la excepcin que la examinacin se ejecuta usando una luz ultravioleta (es decir,
365nm nominal), llamada luz negra. La examinacin deber desarrollarse como
sigue:
(a) Deber ejecutarse en un rea oscura.
(b) Los examinadores debern estar en un rea oscura por al manos 5 min.
Antes de ejecutar las examinaciones para permitir que sus ojos se adapten
a la inspeccin en ambiente oscuro. Las gafas o lentes usados por los
examinadores no debern ser fotocromticos o mostrar cualquier
fluorescencia.

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(c) Las luces negras debern alcanzar un mnimo de 1000 W/cm2 sobre la
superficie de la pieza que va a ser examinada en todas las partes de la
examinacion.
(d) Los reflectores, filtros, gafas, y lentes debern ser inspeccionados y, si es
necesario, limpios antes de ser usados. Reflectores, filtros, gafas, o lentes
agrietados o rotos debern ser reemplazados inmediatamente.
(e) La intensidad de la luz negra deber ser medida con un medidor de luz
negra antes de usarla, todas las veces que la fuente de luz negra sea
interrumpida o cambiada, y al culminar la examinacin o series de
examinaciones.
T-777.3 Partculas Magnticas Fluorescentes Con Otras Longitudes de Ondas de
Exitacin Fluorescentes.
Por otra parte los requerimientos en T.777.2, las examinaciones pueden ser
ejecutados usando fuentes de luz de longitud de ondas alternas las cuales causan
fluorescencias en revestimientos de partculas especficos. Cualquier designacin de
partculas especficas y fuentes de luz de longitud de onda de luz alterna usadas
debern estar calificadas en concordancia con el Apendice Obligatorio IV. La
examinacin deber ser desarrollada como sigue:
(a) Deber ejecutarse en un rea oscura.
(b) Los examinadores debern estar en un rea oscura por al manos 5 min. Antes
de ejecutar las examinaciones para permitir que sus ojos se adapten a la
inspeccin en ambiente oscuro. Las gafas o lentes usados por los
examinadores no debern ser fotocromticos o mostrar cualquier
fluorescencia.
(c) Si la fuente de luz de excitacin fluorescente emite intensidades de luz
mayores que 2 fc (20 Lx), el examinador deber llevar lentes filtros que
aumentan-la fluorescencia aprobado por el fabricante de fuentes de luz para
usarse con aquella fuente de luz.
(d) Las fuentes de luz de excitacin fluorescente debern alcanzar al menos el
mnimo de intensidad de luz sobre la superficie de la pieza en todas partes de
la examinacin as calificada en los ensayos del Apndice Obligatorio IV.
(e) Los reflectores, filtros, gafas, y lentes debern ser inspeccionados y, si es
necesario, limpios antes de ser usados. Reflectores, filtros, gafas, o lentes
agrietados o rotos debern ser reemplazados inmediatamente.
(f) La intensidad de la luz de excitacin fluorescente deber ser medida con un
medidor de luz de excitacin fluorescente antes de usarla, todas las veces que
la fuente de energa de luz sea interrumpida o cambiada, y al culminar la
examinacin o series de examinaciones.
T-778 Desmagnetizacin
Cuando el magnetismo residual en la pieza pudiera interferir con el procesamiento
subsecuente o uso, la parte deber ser desmagnetizada alguna vez despus de
culminar la examinacin.
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T-779 Limpieza Posterior a la Examinacin.

Cuando se requiere la limpieza posterior a la examinacin, debera ser dirigida tan
pronto como prctico sea usando un proceso que no afecte adversamente la pieza.
T-780 EVALUACIN
(a) Todas las indicaciones debern ser evaluadas en trminos de los estndares
de aceptacin de la Seccin del Cdigo de referencia.
(b) Las discontinuidades sobre o prximas a la superficie se indican mediante la
retencin del medio de examinacion. Sin embargo, las irregularidades
superficiales localizadas debido a las marcas de maquinado u otras
condiciones superficiales pueden producir indicaciones falsas.
(c) reas amplias de acumulaciones de partculas, las cuales podran enmascarar
las indicaciones de las discontinuidades, estan prohibidas, y tales reas
debern ser limpias y reexaminadas.
T-790 DOCUMENTACIN
T-791 Magnetizacin Multidireccional
Tecnica del Croquis
Deber prepararse una tecnica de croquis para cada geometra examinada,
mostrando la geometra de la pieza, arreglos del cable y conexiones, corriente
magnetizante para cada circuito, y las reas de examinacion donde se obtienen las
densidades del campo magntico adecuado. Las partes con geometras repetidas,
pero de dimensiones diferentes, pueden ser examinadas usando un croquis simple
siempre que la densidad de campo magntico sea adecuada cuando se demuestre en
concordancia con T-755.2.
T-792 Registro de las Indicaciones
T-792.1 Indicaciones No Rechazables. Las indicaciones no rechazables debern ser
registradas como se especifica por la Seccin del Cdigo en referencia.
T-792.2 Indicaciones Rechazables. Las indicaciones rechazables debern ser
registradas. Como mnimo, el tipo de indicaciones (lineal o redondeadas), la
ubicacin y extensin (longitud, dimetro o alineada) debern ser registradas
T-793 Registros de la Examinacin
Para cada examinacin, la informacin siguiente deber ser registrada:
(a) Identificacin y revisin del procedimiento.
(b) Equipos y tipo de corriente de partculas magnticas
(c) Partculas magnticas (visible o fluorescente, hmedo o seco)
(d) La identificacin del personal de examinacin y si se requiere mediante el
Cdigo en referencia, el nivel de calificacin.
(e) Mapa o registros de identificacin para T-792.
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(f) Material y espesor

(g) Equipo de iluminacin
(h) Fecha de la examinacin

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ARTICLE 7
APENDICES OBLIGATORIOS
CONTENIDO
Pag.
APNDICE I Examinacin por partculas magnticas que usa la tecnica del yugo con
CA en materiales revestidos ferrticos con recubrimientos no magnticos 27
I-710 ALCANCE27
I-720 GENERAL27
I-721 Requerimientos de Procedimientos Escritos.27
I-722 Calificacion del Personal.27
I-723 Procedimiento/Demostracin de la Tcnica.27
I-730 EQUIPOS.27
I-740 REQUERIMIENTOS DIVERSOS..28
I-741 Medicion del Espesor del Revestimiento.28
I-750 TECNICA.29
I-751 Calificacin de la Tcnica29
I-760 CALIBRACION.30
I-761 Fuerza Mxima de Levante del Yugo..30
I-762 Medicion de la Intensidad de la Luz.30
I-760 EXAMINACION..31
I-780 EVALUACION..31
I-790 DOCUMENTACION..31
I-791 Registro de la Examinacion31
APENDICE II GLOSARIO DE TERMINOS PARA LA EXAMINACION POR PARTCULAS
MAGNTICAS..32
II-710 ALCANCE..32
II-720 RQUERIMIENTOS GENERALES32
II-730 REQUERIMIENTOS.32
APENDICE III EXAMINACION POR PARTICULAS MEGNETICAS USANDO LA TECNICA
DEL YUGO CON PARTICULAS FLUORESCENTES EN UN AREA NO OSCURA.33
III-710 ALCANCE.33
III-720 GENERAL.34
III-721 Requerimientos de Procedimiento Escrito34
III-723 Demostracin de Procedimiento.34
III-750 TECNICA..34
III-751 Estndar de Calificacion..34
III-760 CALIBRACION34
III-761 Medicin de la Intensidad de la Luz Negra34
III-762 Medicin de la Intensidad de la Luz Blanca..34
III-770 EXAMINACION.34
III-777 Interpretacin35
III-790 DOCUMENTACION35
Pgina 25
III-791 Registro de Examinacin.35

APNDICE IV CALIFICACIN DE FUENTES DE LUZ DE LONGITUD DE ONDA ALTERNA
PARA LA EXCITACIN DE PARTCULAS FLUORESCENTES36
IV-710 ALCANCE36
IV-720 GENERAL36
IV-721 Requerimientos de Procedimientos Escritos..36
IV-723 Demostracin de Procedimiento.36
IV-750 TECNICA..36
IV-751 Estndar de Calificacion..36
IV-752 Cristales de Filtro.36
IV-770 EXAMINACIONES DE LA CALIFICACION36
IV-771 Intensidad de la Luz Negra.36
IV-772 Requerimientos de la Examinacion.37
IV-773 Calificacion de la Fuente de Luz de Longitud de Onda Alterna y Partculas
Magnticas.37
IV-790 DOCUMENTACION.37
IV-791 Registro de Examinacion..37

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CONTENIDO
APNDICE I EXAMINACIN POR PARTCULAS MAGNTICAS QUE USA LA TECNICA DEL
YUGO CON CA EN MATERIALES REVESTIDOS FERRTICOS CON RECUBRIMIENTOS NO
MAGNTICOS
I-710 ALCANCE
Este apndice suministra la metodologa de la examinacin de Partculas Magnticas
y los requerimientos de los equipos aplicables para ejecutar la examinacin por
Partculas Magnticas en materiales ferrticos con revestimientos no magnticos.
I - 720 GENERAL
Los requerimientos del Artculo 7 aplican a menos que sean modificados por este
Apndice.
I 721 Requerimientos de Procedimientos Escritos
I 721.1 Requerimientos. La examinacin por Partculas Magnticas deber ser
desarrollada en concordancia con un procedimiento escrito el cual deber, como
mnimo, contener los requerimientos listados en las tablas T- 721 y I 721. El
procedimiento escrito deber establecer un solo valor, o rango de valores, para cada
requerimiento.
I 721.2 Calificacin de Procedimiento/Validacin de la Tcnica.
Cuando se especifica la calificacin de procedimiento, un cambio de un
requerimiento en la tabla T- 721 I 721 identificado como una variable esencial del
valor especificado, o rango de valores, deben requerir recalificacin del
procedimiento escrito y la validacin de la tcnica. Un cambio de un requerimiento
identificado como una variable no esencial del valor especificado, o rango de valores,
especificado mediante el procedimiento escrito deber requerir revisin de, o una
adenda para, el procedimiento escrito.
I 722 Calificacin del Personal
Los requerimientos de calificacin del personal debern estar en concordancia con la
Seccin del Cdigo en referencia.
I 723 Procedimiento/Demostracin de la Tecnica.
El procedimiento/Tecnica deber ser demostrado para la satisfaccin del inspector
en concordancia con los requerimientos de la Seccin del Cdigo en referencia.
I 730 EQUIPOS
I 730.1 El equipo de magnetizacin deber ser estar concordancia con el Articulo 7.

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I 730.2 Cuando se usa la tecnica del polvo seco, deber ser utilizado un soplador de
polvo para la aplicacin del polvo. No deber ser usado aplicadores de partculas
exprimidas manualmente cuando se use la tecnica del polvo seco.
I 730.3 Las partculas magnticas deber contrastar con el fondo del componente.
I 730.4 Los materiales No conductores tales como un shim plstico disponible
puede ser usado para simular revestimientos no magnticos no conductores para
calificacin de procedimiento y personal.
I 740 REQUERIMIENTOS DIVERSOS
I 741 Medicin del Espesor del Revestimiento
El procedimiento de la demostracin y ejecucin de las examinaciones deberan ser
precedidos por la medicion del espesor del revestimiento en las reas que van a ser
examinadas. Si el revestimiento es no conductor, se debe usar una tcnica de
corriente de Eddy o tcnica magntica para medir el espesor del revestimiento. La
tecnica magntica deber estar en concordancia con SD-1186, Mtodos de Ensayos
Estndar para la Medicin de Espesores de Revestimientos Delgados Secos de
Revestimientos No Magnticos Aplicados a una Base Ferrosa. Cuando los
revestimientos son conductores y no magnticos, deber ser usada un tecnica
espesor de revestimiento en concordancia con SD-1186. Se deber usar el equipo de
medicion de revestimiento en concordancia con las instrucciones del fabricante del
equipo. Debern ser tomadas las mediciones del espesor del revestimiento en las
intersecciones de un patrn cuadrcula maximo de 2 (50 mm) sobre el rea de
examinacin y al menos una mitad de la mxima separacin de los apoyos del yugo
ms all del rea de examinacin. El espesor deber ser la media de las tres lecturas
separadas dentro de (6 mm) de cada interseccin.

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TABLA I-721
REQUERIMIENTOS DE LA TECNICA DEL YUGO CON CA EN COMPONENTES FERRITICOS
REVESTIDOS
Requerimientos
Identificacin de las configuraciones de la superficie a ser
examinada, incluyendo los materiales del revestimiento, el
maximo espesor de revestimiento calificado, y las formas del
producto (ejemplo., material base o superficie soldada)
Requerimientos de la condicin superficial y mtodos de
preparacin.
Fabricante y Modelo de Yugo CA
Fabricante y tipo de las partculas magnticas
Separacin mnima y mxima de los polos
Identificacin de los pasos en la ejecucin de la examinacin
Intensidad mnima de la iluminacin y los requerimientos de
energa de levante [como se midi en concordancia con la
Tcnica de Calificacin (I-721.2)]
Mtodos de identificacin de fallas y distinguir entre las
indicaciones producidas por discontinuidades e indicaciones
falsas o no relevantes (ejemplo., registro magntico, o
partculas retenidas por irregularidades superficiales).
Instrucciones para la identificacin y confirmacin de
indicaciones de fallas bajo sospechas.
Mtodo de medicin de espesores de revestimientos
Variable Esencial
Variable No Esencial
---------------------
---------------------
X
X
X
X
---------------------------------------------------------------------------------
---------------------
---------------------
---------------------
--------------------Criterio de registro
--------------------Requerimientos nico de calificacin de personal para esta ---------------------
X
X
X
---------------------
tcnica
Referencia a los registros de calificacin de procedimiento
I-750 TCNICA
I-751 Calificacin de la tcnica
(a) Se requiere una muestra de calificacin. La muestra deber ser de
geometra similar o perfil de soldadura y que contenga al menos una
grieta superficial no mayor que el tamao mximo de falla permitido en
el criterio de aceptacin aplicable. El material usado para la muestra
deber ser de la misma especificacin y tratamiento trmico como el
material ferromagntico revestido que va a ser examinado. Como una
alternativa a los requerimientos del material, otros materiales y
tratamientos trmicos pueden ser calificados con tal que:
(1) La mxima fuerza de levante del yugo medida en el material a ser examinado
sea igual o mayor que la fuerza mxima de levante en la calificacin del
material de la muestra. Ambos valores debern ser determinados con el
mismo o equipo comparable y deber ser documentado como se requiera en
I-751 (c).
(2) Todos los requerimientos de I-751 (b) hasta (g) son presentados para el
material alterno.
Pgina 29
(b) Examinar la muestra descubierta en la mayora de la orientacin

desfavorable esperada durante la ejecucin de la examinacin de
produccin.
(c) Documentar la mxima energa de levante del yugo medido, niveles de
iluminacin, y los resultados.
(d) Medir el espesor mximo de revestimiento en el artculo a ser examinado
en concordancia con los requerimientos de I-741.
(e) Cubrir la muestra con el mismo tipo de recubrimiento, conductor o no
conductor, para el mximo espesor en el artculo de produccin que va a
ser examinado Alternativamente, se pueden usar shim disponible no
conductor para simular revestimientos no conductores.
(f) Examinar la muestra revestida en la orientacin desfavorable esperada
durante la ejecucin de la examinacion de produccin. Documentar la
mxima energa medida de levante del yugo, nivel de iluminacin, y los
resultados de examinacion.
(g) Comparar la longitud de la indicacion resultante de la falla mas larga no
mayor que el tamao de falla maximo permitido por el criterio de
aceptacin aplicable, antes y despus del revestimiento. Se califica el
espesor del revestimiento cuando la longitud de la indicacin en la
superficie revestida es de al menos del 50% de la longitud de la indicacin
correspondiente antes del revestimiento.
(h) Se requiere la recalificacin del revestimiento para una disminucin en
cualquier energia de levante del yugo CA o el nivel de examinacion, o
para un aumento en el espesor de recubrimiento.
I-760 CALIBRACIN
I-761 Fuerza Mxima de Levante del Yugo
La mxima fuerza de levante del yugo CA deber ser determinada en la separacin
normal de los apoyos del yugo a ser usada en la examinacion. Esto puede ser llevado
a cabo por mantener el yugo con un peso ferromagntico de 10 libras (4.5Kgs) entre
los apoyos (piernas) del yugo y agregando pesos adicionales, calibrados en una
postage u otra escala, hasta que el peso ferromagntico sea retirado. La energa de
levante del yugo deber ser el peso combinado del material ferromagntico y los
pesos agregados, antes de que el peso ferromagntico haya sido retirado. Pueden
ser usados otros mtodos tales como indicadores de presiones.
I-762 Medicin de la Intensidad de Luz
La intensidad de la luz negra o blanca (as apropiada) sobre la superficie del
componente no deber ser menor que aquel usado en el ensayo de calificacin. Un
medidor de luz blanca y/o luz negra calibrado apropiado deber ser usado para los
ensayos. Las intensidades de luz blanca o luz negra mnima debern cumplir con los
requerimientos de T-777.1 o T-777.2 as aplicable.

Pgina 30
I-762.1 Luz blanca. La intensidad de luz blanca deber ser medida en la superficie de
inspeccin. La intensidad de luz blanca para la examinacin no deber ser menor que
la que fue usada en la examinacin.
I-762.2 Luz Negra. La intensidad de luz negra deber ser medida en la distancia de la
luz negra en la calificacin del procedimiento y en la misma distancia de la muestra
de la examinacin. La intensidad de la luz negra no deber ser menor que aquella
usada para calificar el procedimiento. En resumen, la mxima intensidad de la luz
blanca deber ser medida como luz de fondo en la superficie de inspeccin. La luz
blanca de fondo para la examinacin no deber ser mayor que la que fue usada en la
calificacin.
I-770 EXAMINACIN
(a) Las superficies que van a ser examinadas, y todas las reas adyacentes dentro
de al menos 1 (25 mm), deber estar libre de todo sucio, grasas, pelusas,
cascarillas, fundentes y salpicaduras de soldaduras, aceites, y descascarillados
sueltos y soplados, hojuelas, o revestimiento desconchado.
(b) Examinar el artculo revestidos en concordancia con el procedimiento
calificado.
I-780 EVALUACIN
Si una indicacin mayor que el 50% del tamao mximo de falla permisible es
detectada, el recubrimiento en el rea de la indicacin deber ser removido y
repetida la examinacion.
I-790 DOCUMENTACIN
I-791 Registro de la Examinacin
Para cada examinacin, la informacion requerida en la seccin de los registros de T793 y la siguiente informacin deber ser registrada:
(a) La identificacin del procedimiento/tecnica
(b) La identificacin del personal que ejecuta y es testigo de la calificacin
(c) La descripcin y dibujos o esquemas de la muestra de calificacin, incluyendo
las mediciones del espesor del revestimiento y dimensiones de la falla.
(d) Equipos y materiales usado
(e) Nivel de iluminacin y energa de levante del yugo
(f) Resultados de la calificacin, incluyendo el espesor de revestimiento mximo
y fallas detectadas.

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APENDICE II GLOSARIO DE TRMINOS PARA LA EXAMINACIN POR PARTCULAS

MAGNTICAS
II-710 ALCANCE
Este Apndice obligatorio es usado para el propsito de establecer los trminos
estndar y definiciones de los trminos los cuales aparecen en el Artculo 7,
Examinacin por Partculas Magnticas.
II- 720 REQUERIMIENTOS GENERALES
(a) La Terminologa Estndar para las Examinaciones No Destructivas (ASTME
1316) ha sido adoptada por el comit SE-1316.
(b) La Seccin SE-1316 7 suministra las definiciones de trminos listados el II-730
(a).
(c) Para los trminos generales, tales como Indicacion, Falla, Discontinuidad,
Evaluacion, etc., Referirse al Artculo 1, Apendice I Obligatorio
(d) El pargrafo II-730(b) suministra una lista de trminos y definiciones, los
cuales son en adicion para SE-1316 y son especficos del Cdigo.
II-730 REQUERIMIENTOS
(a) Los siguientes trminos SE-1316 son usados conjuntamente con este Artculo:
Vuelta-amperios, luz negra, conductor central, magnetizacin circular,
desmagnetizacin, polvo seco, corriente directa de onda completa, corriente
de media onda, magnetizacin longitudinal, campo magntico, densidad de
campo magntico, examinacion por partculas magnticas, indicador de
campo de partculas magnticas, partculas magnticas, magnetizacin
multidireccional, imanes permanentes, pinzas, sensibilidad, suspensin, yugo.
(b) Los siguientes trminos del Codigo son usados conjuntamente con este
Artculo:
Intensidad de luz negra: Es una expresin cuantitativa de la irradiacin
ultravioleta.
Flujo magntico: Es el concepto en que el campo magntico fluye a lo largo de
la fuerza que sugiere que estas lneas son por lo tanto lneas de flujo, y son
llamado flujo magntico. La densidad del campo se define por el nmero de
lneas de flujo que atraviesan una unidad de rea tomada en ngulos rectos a
la direccin de las lneas.
Corriente magntica rectificada: Por medio de un dispositivo llamado
rectificador, el cual permite que la corriente fluya solo en una direccin, la
corriente alterna puede ser convertida a una corriente unidireccional. Esto se
diferencia de la corriente directa en que el valor de la corriente vara de un
nivel estable. Esta variacin puede ser extrema, como en el caso de la CA de
fase simple de media onda rectificada, o de poca importancia, como en el
caso de la CA rectificada trifsica.

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TABLA III-721
REQUERIMIENTOS PARA UNA TECNICA DE YUGO DE CDMO (HWDC) O CA CON
PARTCULAS FLUORESCENTES EN UN REA NO OSCURECIDA
REQUERIMIENTOS
Identificacin de las configuraciones superficiales a
ser examinadas y formas de productos
( ejemplo,. Material base o superficie soldada)
Requerimiento dela condicin superficial y mtodos
de preparacin
Fabricante y modelo del yugo
Fabricante y designacin de partculas
Separacin de los polos maximo y mnimo
Identificacin de los pasos en la ejecucin de la
examinacin
Mxima intensidad de la luz blanca
Mxima intensidad de la luz negra
Requerimientos para la calificacin del personal
Referencia a los registros de calificacin de
procedimientos
VARIABLE ESENCIAL
VARIABLE NO ESENCIAL
----------------------
----------------------
X
X
X
X
-------------------------------------------------------------------------------------
X
X
-------------------------------------------
------------------------------------------X
X
Corriente rectificada de media onda CA: Cuando una corriente alterna de fase simple
es rectificada en la manera mas simple, la inversin del ciclo es bloqueado
completamente. El resultado es una corriente pulsatoria unidireccional con
intervalos cuando la corriente no esta fluyendo en su totalidad. Esto a menudo es
referido como corriente directa de media onda o corriente directa pulsatoria.
Corriente rectificada de onda completa: Cuando la mitad del ciclo inverso cambia de
posicion fluye en la misma direccin como en la mitad de avance directo. El
resultado es una corriente rectificada de onda completa. Cuando la corriente alterna
trifsica es rectificada de onda completa es unidireccional con muy poca pulsacin;
solo una tensin de variacin de ondulacin la diferencia de la CD de fase simple.
APENDICE III EXAMINACIN POR PARTCULAS MAGNTICAS USANDO LA TCNICA
DEL YUGO CON PARTCULAS FLUORESCENTES EN UN REA NO OSCURA
III- 710 ALCANCE
Este Apndice suministra la metodologa y requerimientos de equipos para
examinacin por Partculas Magnticas aplicables para ejecutar las examinaciones
por partculas magnticas que usan un yugo con partculas fluorescentes en un rea
no oscura.

Pgina 33
III-720 GENERAL
Los requerimientos del Artculo 7 aplican a menos que sea modificado por este
Apndice.
III-721 Requerimientos de Procedimiento Escrito
III-721.1 Requerimientos. Los requerimientos de las tablas T-721 y III-721 aplican.
III-721.2 Calificacion de Procedimiento. Los requerimientos de la tabla T-721 y III-721
aplican.
III-723 Demostracin de Procedimiento
El procedimiento deber ser demostrado para la satisfaccin del inspector en
concordancia con los requerimientos de la Seccin del Cdigo en referencia.
III-750 TCNICA
III-751 Estndar de Calificacin
Un Shim(s) ranurado estndar como se describe en T-764.1.2 deber ser usado como
el estndar de calificacin.
III-760 CALIBRACIN
III-761 Medicin de la Intensidad de luz negra.
La intensidad de la luz negra sobre la superficie del componente deber ser no
menor que el usado en el ensayo de calificacin.
III-762 Medicin de la Intensidad de la luz Blanca
La intensidad de la luz blanca sobre la superficie del componente deber ser no
mayor que el usado en el ensayo de calificacin.
III-770 EXAMINACIN
El estndar de calificacin deber ser ubicado sobre una plancha de acero al carbono
y examinado en concordancia con el procedimiento a ser calificado y un
procedimiento que haya sido previamente demostrado como apropiado para el uso.
El procedimiento estndar puede utilizar una tecnica fluorescente o visible. Las
indicaciones de falla debern ser comparadas; si aparece la misma la indicacin
obtenida bajo las condiciones propuestas o mejor que la obtenida bajo las
condiciones estndar, el procedimiento propuesto deber ser considerado calificado
para su uso.

Pgina 34
TABLA IV-721
REQUERIMIENTOS PARA LA CALIFICACIN DE FUENTES DE LUZ DE LONGITUD DE
ONDAS ALTERNAS PARA LA EXITACIN DE PARTCULAS FLUORESCENTES ESPECFICAS
REQUERIMIENTOS
VARIABLES ESENCIAL
VARIABLE NO ESENCIAL
Fabricante y designacin de partculas
-------------------------
Vehculo (agua, o aceite); Si es aceite, fabricante

y tipo de designacin.
Fabricante y modelo de la fuente de luz de
longitud de onda alterna
Medidores, fabricante y modelo de la fuente de
luz de longitud de onda alterna
Cristal de filtro ( si es necesario)
-------------------------
-------------------------
-------------------------
-------------------------
Intensidad de luz de longitud de onda alternativa

mnima
Registros de calificacin
-------------------------
-------------------------
III-777 Interpretacin
Para la interpretacin, tanto la intensidad de luz negra y blanca debern ser medida
con medidores de luz.
III-790 DOCUMENTACIN
III-791 Registro de la Examinacin
Para cada examinacin, la informacin requerida en T-793 y la siguiente informacin
deber ser registrada:
(a)
(b)
(c)
(d)
(e)
(f)
(g)
Identificacin y revisin del procedimiento calificado.

Identificacin y revisin del procedimiento estndar.
Identificacin estndar de la calificacin.
Identificacin del personal que ejecuta y es testigo de la calificacin.
Equipos y materiales usados.
Niveles de iluminacin (luz negra y blanca).
Resultados de la calificacin.

Pgina 35
APNDICE IV CALIFICACIN DE FUENTES DE LUZ DE LONGITUD DE ONDA ALTERNA

PARA LA EXCITACIN DE PARTCULAS FLUORESCENTES.
IV-710 ALCANCE
Este Apndice suministra la metodologa para calificar le ejecucin de las
examinaciones de partculas fluorescentes que usan fuentes de longitud de ondas
alternas.
IV-720 GENERAL
Los requerimientos del Artculo 7 aplican a menos que sea modificado por este
Apndice.
IV-721 Requerimientos de Procedimiento Escritos.
IV-721.1 Requerimientos. Los requerimientos de la tabla IV-721 aplican a los
requerimientos de los procedimientos escritos (T-721.1) y cuando se especifican
mediante la Seccin del Cdigo de referencia para la calificacin (T-721.2).
IV-723 Demostracin del Procedimiento
El procedimiento deber ser demostrado para la satisfaccin del inspector
concordancia con los requerimientos de la Seccin del Cdigo en referencia.
en
IV-750 TCNICA
IV-751 Estndar de Calificacin
Los Shims ranurados (s) de 0.002 (0.05 mm) de espesor que tengan el 30% de
profundidad de material removido descrito as en T-764.1.2 debern ser usados para
calificar la fuente de luz de longitud de onda alterna y partculas especficas. Los
Shims debern estar sellados con cinta a una superficie de objetos ferromagnticos
y usados como se describe en 7-764.1.2 con la muesca contra la superficie del objeto.
IV-752 Cristales de filtro
Si la fuente de luz de longitud de onda alternativa emite en una porcin visible del
espectro (Longitud de onda de 400 nm o mayor), el examinador deber llevar
puestos lentes de filtros que hayan sido suministrado por el fabricante de la fuente
de luz para bloquear la luz de excitacin visible reflejada mientras se transmite la
fluorescencia de las partculas.
IV-770 EXAMINACIONES DE LAS CALIFICACIONES
IV-771 Intensidad de la Luz Negra.
Pgina 36
La intensidad de luz negra sobre la superficie de examinacin deber ser ajustada

mediante la variacin de la distancia o energa a fin de que tenga una intensidad
mnima de 1.100 W /cm2.
IV-772 Requerimientos de la Examinacin
Los parmetros de la examinacin para el objeto seleccionado debern ser
determinados por las reglas de T-750 aplicable al objeto seleccionado y al mtodo de
magnetizacin. Cualquier tcnica de magnetizacin listada en T-751 puede ser usada.
Las mismas indicaciones de las discontinuidades del Shim debern ser usadas tanto
para la luz negra y para las examinaciones de luz de longitud de onda alterna
IV-772.1 Examinaciones con Luz Negra. El estndar de calificacin con el shim(s)
sujetado deber ser examinado con los parmetros establecidos y partculas
especficas en un rea oscura con iluminacin de luz negra. Las indicaciones de
partculas resultantes debern ser fotografiadas.
IV-772.2 Examinacin con Luz de Longitud de Onda Alterna. Usando las mismas
indicaciones examinadas en IV.772.1, encender la fuente de luz de longitud de onda
alterna y ajustar la intensidad de luz mediante la variacin de la distancia o energa,
para establecer las indicaciones de partculas esencialmente iguales a aquella
(aquellas) que se obtuvieron con la luz negra segn como se realiz antes. La
intensidad de la luz deber ser medida con un medidor de luz de longitud de onda
alternativa. La indicacion(s) de partculas resultantes deber ser fotografiada usando
las tcnicas fotogrficas idnticas como la usada para la luz negra. Sin embargo, para
usar filtros de lentes de camara apropiados con la fuente de luz de longitud de onda
alterna debera ser usado para registrar la indicacion(s), cuando sea requerida.
IV-773 Calificacin de la Fuente de Luz de Longitud de Onda Alterna y Partculas
Especficas.
Cuando la misma indicacion(s) de partculas as logradas con la luz negra pueden
obtenerse con la fuente de luz de onda alterna, la fuente de luz de longitud onda
alterna puede ser usada para las examinaciones por partculas magnticas. La fuente
de luz de longitud de onda alterna con al menos la mnima intensidad de luz
calificada deber ser usada con la designacin de partculas especificas empleadas en
la calificacin.
IV-790 DOCUMENTACIN
IV-791 Registro de la Examinacin. Para cada examinacin, la informacin requerida
en T-793 y la siguiente informacin deber ser registrada:
(a)
(b)
(c)
(d)
La fuente de luz de longitud de onda alterna, fabricante y modelo.

El medidor de fuente de luz de longitud de onda alterna, fabricante y modelo.
Cristales filtro, cuando sea necesario
Fabricante y designacin de las partculas fluorescentes.

Pgina 37
(e)
(f)
(g)
(h)
(i)
(j)
Identificacin del estndar de la calificacin.

Detalles tcnicos.
Identificacin del personal que ejecuta la calificacin y testigos de la misma.
Equipos y materiales usados.
Intensidad de luz de longitud de onda alterna mnima.
Luz negra y fotos de la calificacin de luz de longitud de onda alterna,
calibraciones de la exposicin, y filtros, si son usados.

Pgina 38
ARTICULO 7
APNDICE NO OBLIGATORIO
CONTENIDOPag.
APNDICE A MEDICIN DE LA DENSIDAD DEL CAMPO TANGENCIAL CON
GAUSMETROS.40
A-710 ALCANCE40
A-720 REQUERIMIENTOS GENERALES..40
A-730 EQUIPOS40
A-750 PROCEDIMIENTOS..40
A-790 DOCUMENTOS/REGISTROS..41

Pgina 39
APNDICE A MEDICIN DE LA DENSIDAD DEL CAMPO TANGENCIAL CON

GAUSMETROS
A-710 ALCANCE
Este Apndice No obligatorio es usado con el propsito de establecer procedimientos
y especificaciones delos equipos para medir la densidad de campo magntico
tangencial aplicado.
A-720 REQUERIMIENTOS GENERALES
Los requerimientos de calificacin del personal debern estar en concordancia con el
Artculo 1.
Los gausmetros y equipos relacionados debern estar en concordancia con T-763 del
Artculo 7.
Definiciones: La terminologa estndar para las examinaciones por partculas
magnticas se presenta en SE-1316.
A-730 EQUIPOS
El gausmetro que tiene la capacidad de ser ajustado para leer los valores tpicos de
la intensidad de campo. La respuesta de la frecuencia del gausmetro deber ser de
al menos de O Hz hasta 300 Hz.
La sonda de campo tangencial del Efecto Hall debera ser no mayor de 0.2 (5mm) X
0.2 (5 mm) y debera tener una ubicacin del centro mximo de 0.2 (5 mm) de la
superficie de la pieza. Los cables de la sonda debern ser protegido o enrollados para
evitar errores en la lectura debido al voltaje inducido durante los grandes cambios de
campos encontrados durante las examinaciones por partculas magnticas.
A-750 PROCEDIMIENTO
Se deber tener precaucin cuando de mida las densidades del campo tangencial
aplicado en T-764.1.3. El plano de la sonda puede ser perpendicular a la superficie
de la pieza en la ubicacin de la medicin dentro de 5 . Esto puede ser difcil de
llevar a cabo mediante la orientacin manual. Puede ser usado una matriz o
accesorio para asegurar que esta orientacin sea alcanzada y mantenida. La direccin
y magnitud del campo tangencial sobre la superficie de la pieza puede ser
determinada mediante la ubicacin de la sonda de campo tangencial de Efecto Hall
sobre la superficie de la parte en el rea de inters. La direccin del campo puede
ser determinada durante la aplicacin del campo magnetizante por la rotacion de la
sonda de campo tangencial mientras esta en contacto con la pieza hasta que se
obtenga la mayor lectura del campo en el Gausmetro. La orientacin de la sonda,
cuando se obtiene el mayor campo, indicar la direccin del campo en ese punto.
Los Gausmetros no se pueden usar para determinar la suficiencia de los campos
magnticos para las tcnicas de magnetizacin de bobina y multidireccionales.
Pgina 40
Una vez que la densidad del campo suficiente ha sido demostrada con los Shims de
falla artificial, la lectura de los Gausmetros puede ser usada para el aclope del Shim
en piezas idnticas o configuraciones similares para verificar la intensidad y direccin
del campo.
A-790 DOCUMENTACIN /REGISTROS
La documentacion debera incluir lo siguiente:
(a) Modelo del equipo y descripciion de la sonda.
(b) Esquemas o dibujos mostrando donde son realizadas las mediciones
(c) Intensidad y direccin de la medicion del campo .

Pgina 41

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ARTCULO 7

EXAMINACIN POR PARTCULAS

Preparado por: Ing. William Jos Mendoza

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Artculo 7 Examinacin por Partculas Magnticas4

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ARTCULO 7 EXAMINACIN POR PARTCULAS MAGNTICAS

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T-721.2 Calificacin de Procedimientos. Cuando la calificacin de procedimiento es

Partculas magnticas (Fluorescente/visible, color, tamao

Mtodo de la remocin del exceso de partcula

Revestimientos existente, mayores que el espesor

Temperatura superficial de la pieza de examinacin fuera

Tecnica de limpieza post ensayo

Requerimientos de calificacin del personal

Intensidad mnima de luz

Equipo del mismo tipo

(b) Antes de la examinacin por partculas magnticas, la superficie que va a ser

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se usa la tecnica de magnetizacin por Yugo con CA, la demostracin deber

Tcnica de Pinzas (Prods)

T- 752 Tcnica de las Pinzas (Prods).

Piezas con la relacin L/D igual o mayor que 4. La corriente

Amperios - Vuelta = 35.000 / [(L/D)+2], por ejemplo una pieza de 10

Amperios Vueltas= 35.000/[(10/2) +2]=5000

Piezas con la relacin L/D menor que 4 pero no menor de 2. La corriente

Amperios Vueltas = 45.000/ (L/D)

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Piezas con la relacin L/D menor que 2. No se puede usar la tecnica de

T-753.3 Corriente Magnetizante. La corriente requerida para obtener la densidad de

Amperios (lectura en metros)= (vueltas amperios) /vueltas

5000/5= 1000 ( 10)

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la suficiencia del campo magntico deber ser verificada usando un indicador

El efecto de estas corrientes magnetizante alternas rpidas es producir una

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circular o longitudinal pueden ser generados en cualquier combinacin usando las

material de la pieza; la tcnica de magnetizacin; los revestimientos; el mtodo de

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T-764.2.1 Para las tecnicas de magnetizacin multidireccional, la orientacin de las

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T-765.2 Volmenes de la Sedimentacin. Para las partculas fluorescentes, el

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(a) Contaminacin Portadora. Para baos fluorescentes, el lquido

sensibilidad determinada y corregida. Este ensayo deber ser realizado al

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FIG. T-766.1 ANILLO DE ENSAYO KETOS (BETZ)

T-774 Cobertura de la Examinacin

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(b) El amperaje requerido con corriente de fase triple, rectificada de onda

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T-779 Limpieza Posterior a la Examinacin.

(f) Material y espesor

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III-791 Registro de Examinacin.35

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