Rayos X y Su Aplicación en Los Sólidos Cristalinos

Hernndez Zenteno Aldo
Rayos X y su aplicacin en los slidos cristalinos.

Hoy en da la herramienta ms importante histricamente utilizada para el anlisis
de las estructuras cristalinas son los rayos x. Sin embargo, esto no siempre fue as,
ya que cuando esta rama de la ciencia empez, se limitaba a estudiar la estructura
externa de los cristales.
Los rayos X nos proporcionan la imagen ms adecuada que podemos tener de las
estructuras cristalinas. Los mtodos de difraccin de rayos X constituyen la
herramienta ms poderosa que se dispone para identificar las formas que
constituyen internamente la materia del cristal, esto ha dejado una extensa base de
resultados que han servido a la qumica, mineraloga y biologa.
De Broglie y Thompson, cada uno por su cuenta, demostraron que era posible
difractar la luz, separarla en haces mediante una rejilla de difraccin que consiste
en una serie de lneas muy cercanas generalmente trazadas en una superficie
plana.
En 1912, el fsico alemn Max Von Laue y su equipo, sugirieron que los tomos de
un cristal, estn espaciados a una distancia tan pequea que les permite servir
como elementos de una rejilla de difraccin tridimensional para los rayos X.
Ley de Bragg.
Con los estudios propiciados por Laue, Bragg se dio cuenta que la difraccin en una
direccin dada se debe esencialmente a la relacin entre las fases de todas las
ondas reflejadas por cada celda unitaria del cristal en esa direccin. Los rayos que
han atravesado distintos puntos del cristal siguen caminos pticos de diferente
longitud y esta diferencia da lugar a un cambio en la amplitud de la onda resultante;
cuando la diferencia de fase es de 180 grados, las ondas se anulan entre s. Por el
contrario, cuando las ondas estn en fase, la amplitud de la onda final es la suma
de las amplitudes para cada onda.
La condicin de mxima intensidad contenida en la ley de Bragg de arriba, nos
permite calcular detalles sobre la estructura cristalina, o si se conoce la estructura
cristalina, determinar la longitud de onda del rayo X incidente sobre el cristal.
La condicin para que las ondas estn en fase es que la diferencia de sus caminos
pticos sea cero o un mltiplo entero n de la longitud de onda. En un cristal, la
diferencia en el camino ptico entre tomos situados en posiciones equivalentes en
distintas celdas unidad es 2 donde d es la distancia entre los planos
imaginarios que unen los puntos equivalentes de la red cristalina. Es decir, para que
se observe interferencia constructiva de rayos X a un ngulo de observacin 2, se
debe cumplir la expresin conocida como Ley de Bragg:
= 2
Donde:
n=nmero entero
= Longitud de onda en angstroms.
d = Espacio interatmico en angstroms.
= ngulo de difraccin en grados.
Mtodo de Laue:
El mtodo de Laue se utiliza para determinar la orientacin de la celda de un
monocristal de estructura conocida. Para determinar la estructura se prefiere utilizar
otra tcnica ms adecuada para el efecto. En el mtodo de Laue se estudia un cristal
con una orientacin que es fija (no rota) con respecto a un haz de rayos X
policromtico (luz blanca, espectro no filtrado). El mtodo consiste en hacer incidir
en un cristal un espectro continuo de rayos X, de tal manera que para cada longitud
de onda se cumple la ley de Bragg para diferentes puntos de la red recproca. Esto
posibilita medir todas o casi todas las reflexiones sin cambiar la orientacin del
cristal.
Existen dos variantes del mtodo de Laue: transmisin y reflexin. En el mtodo de
Laue por transmisin, el cristal se emplaza entre la fuente de rayos X y el detector.
En mtodo de reflexin, el detector se encuentra entre la fuente y el cristal, para
detectar los haces difractados hacia atrs
TRANSMISIN REFLEXIN
Muchas propiedades fsicas y mecnicas varan con la orientacin cristalina

(anisotropa), en trmino de planos y/o direcciones involucradas. El estudio de las
propiedades de los cristales requiere del conocimiento de la orientacin reticular en
los mismos.
Como hay infinitos familias de planos cristalinos, uno podra pensar que podra
haber infinitas reflexiones. Sin embargo, aqu se aprovecha que los planos ms
densos difractan de manera ms intensa que los planos menos densos.
Cada punto (mancha) detectada en la imagen plana (pelcula), corresponde cada
una a la reflexin de un plano cristalogrfico (infinitos planos paralelos e idnticos).
Las manchas ms intensas corresponden a los planos ms densos, esto, a los de
ndices bajos.
Cuando hay manchas alineadas, ello revela que el haz estaba orientado
perpendicularmente al Eje de Zona correspondiente a los planos de esas manchas.
Un eje de zona es un eje comn a (una direccin contenida en) varios planos
cristalinos no paralelos. Por ejemplo, en un cristal cbico simple, la direccin [100]
est en zona con los planos (100) (110) y (010). Se dice que estos ltimos planos
estn en zona con dicho eje.
Espectrmetro de rayos X.
Existen varios diseos eficientes para analizar un espectro de emisin de rayos X
en la regin de los rayos X ultra ligeros. La cifra de valor para estos instrumentos es
el rendimiento espectral, es decir, el producto de la intensidad detectada y el poder
de resolucin espectral. Por lo general, es posible cambiar los parmetros dentro
de un cierto rango, mientras se mantiene su producto constante.
Espectrmetros de rejilla
Normalmente, los rayos X que emergen de una muestra deben pasar una hendidura
que define la fuente, y luego los elementos pticos (espejos y/o rejillas) los
dispersan por difraccin segn su longitud de onda y, por ltimo, se coloca un
detector en sus puntos focales.
Monturas de rejilla esfrica
Henry Augustus Rowland (1848-1901) desarroll un instrumento que permita el uso
de un solo elemento ptico que combina la difraccin y la concentracin: una rejilla
esfrica. La reflectividad de los rayos X es baja, independientemente del material
utilizado y, por tanto, la incidencia sobre la rejilla es necesaria.
Imaginemos un crculo con la mitad del radio R tangente al centro de la superficie

de la rejilla. Este pequeo crculo se llama crculo de Rowland. Si la hendidura de
entrada est en cualquier parte de este crculo, un haz de luz que pase por la
hendidura y golpee la rejilla se dividir en un haz reflejado especularmente, y en
haces de todos los rdenes de difraccin, que van a concentrarse en determinados
puntos en el mismo crculo.
Monturas de hendidura plana
Los espectrmetros de hendidura plana son similares a los espectrmetros
pticos. En primer lugar, necesita una ptica que convierta los rayos divergentes
emitidos por la fuente de rayos X en un haz paralelo. Esto puede lograrse
mediante la utilizacin de un espejo parablico. Los rayos paralelos que salen de
este espejo golpean una rejilla plana (con una distancia de ranura constante) en el
mismo ngulo, y son difractados en funcin de su longitud de onda. Un segundo
espejo parablico, a continuacin, recoge los rayos difractados en un cierto ngulo
y crea una imagen en un detector.
Interfermetros
En lugar de utilizar el concepto de interferencia de haz mltiple que producen las
rejillas, se puede dejar simplemente que dos rayos interfieran. Registrando la
intensidad de dos de esos rayos co-lineales en algn punto fijo y cambiando su
fase relativa, se obtiene una intensidad del espectro en funcin de la diferencia de
longitud de ruta. Se puede demostrar que esto es equivalente a una transformada
de Fourier del espectro en funcin de la frecuencia. Estos espectrmetros logran
mayor definicin con un diseo ms compacto.

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