B - Dispersión de Rayos X A Bajos Ángulos SAXS

Tesis Apéndice B – Dispersión de rayos X a bajos ángulos (SAXS)
Apéndice B
Dispersión de rayos X a bajos

ángulos (SAXS)
Dispersión de rayos X a bajos ángulos

La dispersión de rayos X a bajos ángulos, o SAXS (Small Angle X-ray
Scattering) es una técnica basada en analizar la dispersión de rayos X producida por un
material al paso del haz, a ángulos muy próximos a cero.
Cualquier evento de dispersión está caracterizado por una ley recíproca entre
tamaño de partícula y ángulo de dispersión ([Kratky 1982]). La radiación
electromagnética incidente interactúa con los electrones en una muestra. Una parte de
ellos emitirá radiación coherente. Donde las ondas interfieren constructivamente
tendremos un máximo, que es lo que detectamos. El máximo de la intensidad estará en
la dirección de 2θ (siendo θ el ángulo de incidencia). Consideremos un objeto de
longitud del orden del angstrom. La interferencia constructiva ocurrirá cuando la
diferencia de camino sea igual a una longitud de onda λ. Para un objeto de tamaño
Leandro M. Socolovsky 124

mayor, la interferencia constructiva
de las ondas producidas por dos
electrones ubicados en extremos
opuestos del objeto ocurrirá para un
ángulo 2θ menor que antes, ya que
la diferencia de camino es menor
(ver figura 1). Los objetos que
tengan dimensiones características
del orden de los nanómetros
mostrarán máximos a ángulos muy
pequeños ([Porod 1982]). La forma Fig. 1: una onda incidente incidiendo sobre dos
esferas de diferente tamaño. La esfera de (a)
de la curva de dispersión puede ser producirá la curva de dispersión 1 del gráfico
inferior. La esfera mayor (b) producirá la curva
2.Tomado de [Kratky 1982] pág. 4.
calculada si conocemos la forma del
ente dispersante. Si se conoce la función distribución de electrones p(r) en el ente
dispersante, la curva de dispersión será:
∞
sen kr
I ( k ) = 4π ∫ p ( r ) dr
0
kr
sen θ
donde k = 4π .
λ
Para partículas pequeñas consideramos que tienen densidad electrónica uniforme.
Cuando tratamos con materiales reales debemos considerar que nuestro ente dispersante
está inmerso en otro. Es por eso que la densidad electrónica que nos dará la curva de
dispersión es la diferencia entre las densidades de los dos medios. Si no existiese
diferencia entre las densidades, no tendríamos dispersión. A esta densidad electrónica
efectiva se la suele llamar “contraste”.

En los sistemas muy diluídos el análisis es sencillo, ya que las intensidades
producidas por cada ente dispersante simplemente se suman. No es ese el caso donde
los sistemas presentan heterogeneidades, o son más densos. El problema del SAXS es
deducir forma, tamaño, masa y densidad electrónica de un sistema a partir de una curva
de dispersión. Uno debe proponer un modelo que pueda describir al sistema y que su
curva de dispersión coincida con la obtenida experimentalmente.
Una magnitud relevante en el análisis de un experimento SAXS es el invariante
∞
Q, definido como: Q = ∫ k 2 I ( k ) dk , que permanece constante ante deformaciones o
0
corrimientos en el sistema1
La forma de la curva de dispersión tiene dos zonas características: la de Guinier,
que está ubicada en la zona de pequeños valores de k, y la de Porod, que está ubicada
para valores de k→∞. La curva de dispersión de todo ente dispersante sigue una ley k-4 a
grandes valores de k.
De una fuente de luz sincrotrón es posible obtener un haz de rayos X
monocromático, bien colimado, puntual e intenso, cualidades que lo hacen inmejorable
para hacer medidas a bajos ángulos. Otra ventaja adicional es que se puede cambiar la
longitud de onda con facilidad. Hemos utilizado para nuestras medidas la estación
SAXS del Laboratorio Nacional de Luz Síncrotron2.
1
[Porod 1982] pág 22
2
Ubicado en Campinas, Brasil. Más detalles sobre esta línea se pueden encontrar en
[Kellerman 1997].

Fig. 2: Esquema de la estación SAXS del LNLS. El haz de rayos X proveniente del anillo
del sincrotrón es monocromatizado para luego pasar por las rejillas de colimación (fendas).
Dos espejos semitransparentes (espalhador) envían parte de la luz a detectores de
centelleo que permiten calcular la intensidad absorbida en la muestra (amostra). La luz
atraviesa perpendicularmente a la muestra para luego incidir sobre el detector
unidimensional. Ese detector almacena los datos en un multicanal. Esquema realizado por el
personal de la estación
Utilizamos longitudes de onda por debajo de los bordes de absorción de los
elementos presentes en la muestra, ya que la amplitud de scattering f depende3 de la
longitud de onda de los rayos X:
f ( λ ) = f 0 + f ' (λ ) +i f " ( λ )
donde f’ y f” son las correcciones a la amplitud de scattering y son conocidas como los
factores de scattering anómalo. Ambas son significativas en proximidades de las
longitudes de onda correspondientes a los bordes de absorción
Tratamiento de los datos

En un experimento de SAXS obtenemos el número de cuentas detectado en
función del canal. Estos datos obtenidos tienen que ser tratados para poder ser
analizados. Al paso del haz de rayos X por la muestra se produce una absorción que
debe ser tenida en cuenta. Para separar la intensidad que efectivamente interactúa en
forma coherente con los electrones de la muestra normalizamos los datos dividiendo por

− µd , donde h es la respuesta del detector para cada canal, µ es el coeficiente de

I T he
absorción, d es el espesor de la muestra, IT es la intensidad integrada al tiempo de
adquisición. Evaluamos el factor exponencial detectando la intensidad antes y después
de la muestra con centelladores (fig.2). Restamos la dispersión parásita usando una
medida registrada en las mismas condiciones pero sin muestra. Además, removimos la
contribución constante causada por la dispersión incoherente (que se produce por
fluorescencia o por dispersión Raman resonante). Para ello usamos la ley de Porod, que
establece que a k grandes, la intensidad decrece según k-4. Ajustamos cada espectro (en
el rango 0,1 ≤ k ≤ 0,20 Å-1 ) con:
A+ B/k4
De esta manera obtuvimos el valor de A, que sustrajimos del espectro.
3
[Feigin 1987] pág. 16

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Tesis Apéndice B – Dispersión de rayos X a bajos ángulos (SAXS)

Dispersión de rayos X a bajos

Dispersión de rayos X a bajos ángulos

Scattering) es una técnica basada en analizar la dispersión de rayos X producida por un

material al paso del haz, a ángulos muy próximos a cero.

tamaño de partícula y ángulo de dispersión ([Kratky 1982]). La radiación

ellos emitirá radiación coherente. Donde las ondas interfieren constructivamente

tendremos un máximo, que es lo que detectamos. El máximo de la intensidad estará en

la dirección de 2θ (siendo θ el ángulo de incidencia). Consideremos un objeto de

longitud del orden del angstrom. La interferencia constructiva ocurrirá cuando la

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mayor, la interferencia constructiva

de las ondas producidas por dos

electrones ubicados en extremos

opuestos del objeto ocurrirá para un

ángulo 2θ menor que antes, ya que

la diferencia de camino es menor

(ver figura 1). Los objetos que

tengan dimensiones características

del orden de los nanómetros

mostrarán máximos a ángulos muy

ente dispersante. Si se conoce la función distribución de electrones p(r) en el ente

dispersante, la curva de dispersión será:

dispersión es la diferencia entre las densidades de los dos medios. Si no existiese

diferencia entre las densidades, no tendríamos dispersión. A esta densidad electrónica

efectiva se la suele llamar “contraste”.

Leandro M. Socolovsky 125

En los sistemas muy diluídos el análisis es sencillo, ya que las intensidades

curva de dispersión coincida con la obtenida experimentalmente.

Una magnitud relevante en el análisis de un experimento SAXS es el invariante

La forma de la curva de dispersión tiene dos zonas características: la de Guinier,

De una fuente de luz sincrotrón es posible obtener un haz de rayos X

monocromático, bien colimado, puntual e intenso, cualidades que lo hacen inmejorable

SAXS del Laboratorio Nacional de Luz Síncrotron2.

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Utilizamos longitudes de onda por debajo de los bordes de absorción de los

elementos presentes en la muestra, ya que la amplitud de scattering f depende3 de la

longitud de onda de los rayos X:

factores de scattering anómalo. Ambas son significativas en proximidades de las

longitudes de onda correspondientes a los bordes de absorción

Tratamiento de los datos

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− µd , donde h es la respuesta del detector para cada canal, µ es el coeficiente de

absorción, d es el espesor de la muestra, IT es la intensidad integrada al tiempo de

adquisición. Evaluamos el factor exponencial detectando la intensidad antes y después

de la muestra con centelladores (fig.2). Restamos la dispersión parásita usando una

contribución constante causada por la dispersión incoherente (que se produce por

el rango 0,1 ≤ k ≤ 0,20 Å-1 ) con:

De esta manera obtuvimos el valor de A, que sustrajimos del espectro.

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