Aplicaciones de La Difracción de Rayos X

APLICACIONES DE LA DIFRACCIÓN DE RAYOS X.
4.1 Identificación de fases.

Una fase cristalina dada siempre produce un patrón de difracción característico,
bien esté en estado puro o como constituyente de una mezcla. Este hecho es la
base para el uso de la difracción como método de análisis químico. El análisis
cualitativo se realiza mediante la identificación del patrón de esa fase. Para la
identificación cualitativa se usa la Powder Diffraction File, esta base de datos
contiene datos de d-I además de información cristalográfica y bibliográfica para
gran cantidad de fases cristalinas, de materiales inorgánicos, minerales,
productos farmacéuticos, etc.
4.2 Pureza de muestras.
En una mezcla de compuestos cada fase
cristalina presente va a contribuir al patrón de
difracción de r-x global. En química preparativa
de materiales ésto puede utilizarse para
identificar el grado de avance de una reacción
y la pureza del producto. La difracción de r-x
también puede utilizarse para identificar
impurezas, bien sean reactivos que no han
reaccionado completamente o subproductos
de reacción. Sin embargo ésto tiene una
limitación: la impureza debe ser cristalina,
además la capacidad para detectar una
impureza depende de la capacidad de ésta
para dispersar la radiación y eso depende de
Z.
4.5 Determinación de diagramas de fase.

La difracción de r-x junto con el análisis térmico y la microscopía son las técnicas
más utilizadas para establecer los diagramas de fase. Consideremos por ejemplo
una aleación formada por dos metales A y B con dos soluciones sólidas
terminales α y β ambas cúbicas centradas en las caras y una fase intermedia γ
cúbica centrada en el cuerpo. La determinación del diagrama de fases mediante
rayos-x normalmente comienza con la determinación de los equilibrios a T
ambiente. El primer paso es preparar una serie de aleaciones de composición (8
en el ejemplo de la diapositiva) conocida a las que se deja alcancen el equilibrios
con un enfriamiento lento y se registra el patrón de difracción de r-x. Una vez
determinado el diagrama a T ambiente para el estudio a elevada T se deja que
la aleación alcance el equ. a esa T y se enfría rápidamente, entonces se registra
el patrón de difracción a T ambiente. En algunos casos las fases estables a alta
T no son estables al enfriar y hay que utilizar cámaras de alta T para registrar el
patrón in situ.
4.6 Determinación de estructuras cristalinas
El proceso de determinación de una estructura mediante drx comienza con la
toma de datos con suficiente precisión en un intervalo amplio de 2θ. La siguiente
etapa es el indexado, los programas más habituales para llevar a cabo el
indexado son ITO, TREOR y DICVOL entre otros. La siguiente etapa, ajuste de
perfil, permite asignar intensidades, forma y anchura de picos, background;
existen dos técnicas diferentes: el método de Le Bail y el método de Pawley. Una
vez obtenidas las intensidades de las reflexiones es necesario obtener una
aproximación inicial de la estructura, para ello se pueden emplear métodos
tradicionales como los de Patterson o directos así como métodos basados en el
espacio directo. Por último se realiza el refinamiento de la estructura utilizando
el método de Rietveld en el que se minimiza la diferencia entre la intensidad
calculada y la medida experimentalmente.
4.8 Difracción de R-X a Temperatura variable.
La drx puede realizarse sometiendo la muestra a un programa de T controlado.
De esta manera es posible realizar estudios como los siguientes. - Seguimiento
del grado de avance de una reacción química. - Seguimiento de transiciones de
fase. - Estudio de disoluciones sólidas. - Determinación de coeficientes de
expansión térmica. - Estudios de crecimiento de grano.
4.9 Dispersión de rayos X a bajo ángulo.

La dispersión de r-x a bajo ángulo (SAXS) es una técnica analítica empleada
para la caracterización estructural de materiales en el rango de los nanometros.
La muestra es irradiada con un haz de r-x monocromático y a partir de la
distribución de intensidades a muy bajo ángulo es posible obtener información
sobre tamaño o distribución de tamaños de partículas, forma de partículas y
estructura interna. Esta técnica se emplea en partículas con un tamaño
comprendido entre 0.5 y 50 nm en materiales tales como: cristales líquidos,
películas de polímeros, microemulsiones, catalizadores, proteinas, virus etc.
El equipo necesario para realizar este tipo de análisis tiene diferencias notables
respecto a un difractómetro convencional. Normalmente se trabaja en
transmisión. Es necesario un haz de r-x muy fino de manera que pueda ser
interceptado sin bloquear la intensidad dispersada, una mayor distancia de la
muestra al detector permite que se separe el haz dispersado del incidente y
disminuye el background. Es necesario también que exista vacío desde la fuente
de r-x hasta el detector, además se utiliza un detector PSD.

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4.1 Identificación de fases.

4.5 Determinación de diagramas de fase.

4.9 Dispersión de rayos X a bajo ángulo.

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