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    Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)

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    La microscopía electrónica de transmisión (TEM) permite obtener imágenes y difracciones de muestras ultradelgadas mediante un haz de electrones. La longitud de onda de los electrones se puede cambiar variando la diferencia de potencial de aceleración, y el ángulo de incidencia del haz sobre la muestra depende de las lentes condensadoras.

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    La microscopía electrónica de transmisión (TEM) permite obtener imágenes y difracciones de muestras ultradelgadas mediante un haz de electrones. La longitud de onda de los electrones se puede cambiar variando la diferencia de potencial de aceleración, y el ángulo de incidencia del haz sobre la muestra depende de las lentes condensadoras.

    Descripción original:

    TEM

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    1. 
    Podemos cambiar la longitud de onda del electrón incidente cambiando

    a) La intensidad que pasa por las lentes

    b) La posición de las aperturas

    c) La diferencia de potencial con la que aceleramos los electrones

    Correcto 
    (En efecto, la longitud de onda depende de la energía cinética de los electrones y por tanto del voltaje de
    aceleración. Reꖠ�exione adicionalmente sobre la relevancia de este parámetro en el poder de resolución del
    microscopio electrónico.)
    d) El campo magnético en el TEM

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    2. 
    El ángulo de incidencia del haz sobre la muestra viene determinado por

    a) Las lentes condensadoras

    b) La lente objetivo

    Esto no debería estar seleccionado 


    (No es correcta. Reꖠ�exione sobre qué lentes son las que dirigen el haz de electrones hacia la muestra y cuáles
    las que intervienen en la formación de la imagen y la difracción.)

    c) La lente intermedia

    d) La lente proyectora

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    3. 
    La aberración crómatica

    a)Es un sinónimo de la aberración esférica


    b) No afecta a los electrones

    c) Proviene del hecho de que hay electrones con distintas energías en el haz

    Correcto 
    (efectivamente, una lente con aberración cromática tiene diferente distancia focal para electrones con energías
    distintas. Reꖠ�exione adicionalmente sobre el posible origen de esta variación de energía inicial de los
    electrones.)

    d) Proviene del hecho de que hay electrones distribuídos en distintos ángulos en el haz

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    4. 
    La base atómica

    a) Contiene todos los átomos del cristal

    b) Se puede de聒nir a partir de 3 vectores de traslación fundamentales

    c) Se asocia a cada nudo de la red de Bravais

    d) Consiste siempre en un sólo átomo

    Esto no debería estar seleccionado 


    (No es correcta. Una base atómica puede contener varios átomos que se sitúan de una forma determinada
    respecto a cada uno de los nudos de la red. )
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    5. 
    En 3 dimensiones, cuántas clases de redes de Bravais hay?

    a) 10

    b) 12

    c) 14

    Correcto 
    (sí. Reꖠ�exione adicionalmente sobre cuántos son los sistemas cristalinos)

    d) 15

    0/1
     puntos

    6. 
    El modelo de Bragg

    a) Requiere entender el electrón como una onda

    b) Requiere entender el electrón como una partícula

    Esto no debería estar seleccionado 


    (no es correcta. Reꖠ�exione sobre la dualidad onda-partícula, y qué concepción es la adecuada para explicar los
    fenómenos de difracción e interferencia que intervienen en el modelo de Bragg.)
    c) Indica que todos los electrones recorren el mismo camino ótico al ser difractados por el cristal

    d) Indica que los planos del cristal no difractan nunca los electrones

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    7. 
    En el TEM podemos detectar

    a) sólo electrones

    Esto no debería estar seleccionado 


    (No es correcta. Reꖠ�exione sobre la interacción electrón-materia y sobre la generación fotones de rayos-X o de
    luz visible que también pueden ser detectados en el TEM)

    b) sólo fotones

    c) electrones y fotones

    d) sólo electrones que hayan perdido energía

    0/1
     puntos

    8. 
    En el TEM
    a) la imagen de la muestra se forma en el plano imagen de la lente objetivo y la difracción en el plano focal
    imagen de la lente objetivo

    b) la imagen de la muestra se forma en el plano focal imagen de la lente objetivo y la difracción en el plano
    imagen de la lente objetivo

    Esto no debería estar seleccionado 


    (No es correcta. Reꖠ�exione sobre el signi聒cado de plano focal de una lente.)

    c) la imagen de la muestra se forma en el plano imagen de la lente condensadora y la difracción en el plano


    focal imagen de la lente condensadora

    d) la imagen de la muestra se forma en el plano focal imagen de la lente condensadora y la difracción en el


    plano imagen de la lente condensadora

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    9. 
    La apertura de selección de área

    a) nos permite seleccionar la zona de la muestra de la que hacer difracción

    b) nos permite seleccionar la zona de la muestra de la que hacer imagen

    Esto no debería estar seleccionado 


    (nos permite seleccionar la zona de la muestra de la que hacer difracción)

    c) nos permite seleccionar electrones que hayan perdido energía


    d) nos permite seleccionar electrones que no hayan perdido energía

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     puntos

    10. 
    Si seleccionamos el haz directo para obtener una imagen

    a) obtendremos una imagen de campo oscuro

    b) obtendremos una imagen de campo claro

    c) podremos obtener una imagen tanto de campo oscuro como de campo claro

    Esto no debería estar seleccionado 


    (No es correcto, no podemos tener imágenes en campo claro y oscuro seleccionando un único haz.)

    d) no podremos observar la imagen en la pantalla

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    11. 
    Las imágenes de alta resolución

    a) son imágenes de campo oscuro

    b) nos muestran la periodicidad de los planos cristalinos de la muestra

    c) se forman en el plano focal imagen de la lente objetivo

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