Microscopio Eletronico

Microscopio electrónico
Un microscopio electrónico usa electrones en lugar de fotones o luz visible para formar

imágenes de objetos diminutos. Los microscopios electrónicos permiten alcanzar
amplificaciones mayores antes que los mejores microscopios ópticos, debido a que
la longitud de onda de los electrones es bastante menor que la de los fotones "visibles".
Existen dos tipos principales de microscopios electrónicos: el microscopio electrónico de
transmisión y el microscopio electrónico de barrido:
Microscopio electrónico de transmisión

Un microscopio electrónico de transmisión (TEM, por sus siglas en inglés, o MET, en español)
es un microscopio que utiliza un haz de electrones para visualizar un objeto, debido a que la
potencia amplificadora de un microscopio óptico está limitada por la longitud de onda de
la luz visible. Lo característico de este microscopio es el uso de una muestra ultrafina y que la
imagen se obtenga de los electrones que atraviesan la muestra.
Los microscopios electrónicos de transmisión pueden aumentar un objeto hasta un millón de
veces.
Debido a que los electrones tienen una longitud de onda mucho menor que la de la luz visible,
pueden mostrar estructuras mucho más pequeñas.
Las partes principales de un microscopio electrónico de transmisión son:
 Cañón de electrones, que emite los electrones que chocan o atraviesan el espécimen
(dependiendo que tipo de microscopio electrónico es), creando una imagen aumentada.
 Lentes magnéticas para crear campos que dirigen y enfocan el haz de electrones, ya
que las lentes convencionales utilizadas en los microscopios ópticos no funcionan con los
electrones.
 Sistema de vacío es una parte muy importante del microscopio electrónico. Debido a
que los electrones pueden ser desviados por las moléculas del aire, se debe hacer un
vacío casi total en el interior de un microscopio de estas características.
 Placa fotográfica o pantalla fluorescente que se coloca detrás del objeto a visualizar
para registrar la imagen aumentada.
 Sistema de registro que muestra la imagen que producen los electrones, que suele
ser un ordenador.
El microscopio electrónico de transmisión emite un haz de electrones dirigido hacia el objeto
que se desea aumentar. Una parte de los electrones rebotan o son absorbidos por el objeto y
otros lo atraviesan formando una imagen aumentada de la muestra.
Cañón de electrones
De arriba a abajo, el TEM consiste en una fuente de emisión, que puede ser
un filamento de tungsteno o bien una fuente de hexaboruro de lantano (LaB6). Para el caso del
tungsteno el filamento puede ser o bien en la forma de una horquilla de pelo o bien pequeño y
en forma de púa. Las fuentes de LaB6 utilizan un pequeño monocristal. Conectando dicho
cañón a una fuente de alto voltaje (~120kV para muchas aplicaciones) comenzará a emitir
electrones hacia el vacío. Esta extracción de electrones suele reforzarse con la ayuda de
un cilindro Wehnelt. Una vez extraídos, las lentes de la parte superior del TEM manipulan los
haces de electrones permitiendo su focalización al tamaño deseado y su localización sobre la
muestra.
La manipulación de los electrones se consigue mediante la combinación de dos efectos físicos.
La interacción de los electrones con un campo magnético hace que estos se muevan de
acuerdo a la fórmula vectorial F= (q.v) x B (siendo v y B, el vector velocidad del electro, B el
vector campo magnético y "x" el producto vectorial). Este efecto permite que los electrones
emitidos puedan ser manipulados por medio de electroimanes. Esta técnica permite la
formación de una lente magnética de distancia focal variable, dependiendo de la distribución
del flujo magnético. Además un campo eléctrico puede deflectar la trayectoria de los electrones
en un ángulo fijo. Mediante dos deflexiones seguidas pueden desplazarse lateralmente las
trayectorias de los electrones. Esta técnica permite el desplazamiento lateral de los haces de
electrones en el TEM, siendo esta operación especialmente importante para el barrido de los
haces en la variante STEM. De la combinación de estos dos efectos así como del empleo de un
sistema de visualización (tal como una pantalla de fósforo) se obtiene el nivel de control de los
haces requerido para la operación del TEM.
Las lentes del TEM permiten realizar la convergencia de los haces y el control del ángulo de la
misma. Dicho control se ejerce modificando la cantidad de corriente que fluye a través de las
lentes cuadrupolares y hexapolares y permite modificar los aumentos del TEM. La lente
cuadrupolar consiste en un conjunto de cuatro bobinas situadas en los vértices de un cuadrado.
La lente hexapolar simplemente incrementa el grado de simetría del campo resultante.
Típicamente un TEM contiene tres conjuntos de lentes con muchas posibles variantes en la
configuración de las lentes, en particular la de TEM con filtrado energético o EFTEM. Los
conjuntos se denominan respectivamente lentes condensadoras o condensador, lentes de
objetivo o simplemente objetivo y lentes de proyección o proyector. Las lentes condensadoras
se encargan de la formación inicial del haz tras la emisión de los electrones. Las lentes de
objetivo focalizan el haz sobre la muestra y finalmente las lentes de proyección se encargan de
expandir el haz reflejado hacia la pantalla de fósforo u otro dispositivo de visualización tal
como película. Los aumentos del TEM vienen dados por la razón de las distancias entre la
muestra y el plano imagen del objetivo.
Es de apreciar que la configuración de un TEM varía significativamente según su
implementación. Así algunos fabricantes usan configuraciones especiales de lentes, tales como
en instrumentos corregidos de aberración esférica, en particular en aplicaciones de alto voltaje
en TEM de emisión de campo.
El sistema de visualización en un TEM puede consistir en una pantalla de fósforo para
observación directa por el operador y opcionalmente en un sistema de registro de imágenes
tales como película o una retina CCD combinada con una pantalla de fósforo. Normalmente
estos sistemas de visualización pueden ser intercambiados a conveniencia del operador.
Sistema de vacío
Para conseguir el flujo ininterrumpido de electrones, el TEM debe operar a bajas presiones,
típicamente en el orden de a Pa. La necesidad de esto se debe a dos razones: primero,
permitir una diferencia de voltaje entre el cátodo y tierra sin que se produzca un arco voltaico.
Segundo, reducir la frecuencia de las colisiones de los electrones con los átomos del aire a
niveles despreciables. Ya que el TEM, contrariamente a un CRT, es un sistema que debe
permitir la reposición de componentes, la inserción de muestras y, particularmente en modelos
antiguos, el cambio de carrete de película, se hace imprescindible la posibilidad de reproducir el
vacío regularmente. Por ello los TEMs están equipados con sistemas de bombeo completos y
su sellado de vacío no es permanente.
El sistema de visualización en un TEM puede consistir en una pantalla de fósforo para
observación directa por el operador y opcionalmente en un sistema de registro de imágenes
tales como película o una retina CCD combinada con una pantalla de fósforo. Normalmente
estos sistemas de visualización pueden ser intercambiados a conveniencia del operador.
Microscopio electrónico de barrido

El microscopio electrónico de barrido (MEB o SEM, por Scanning Electron Microscope) es
una técnica de microscopía electrónica capaz de producir imágenes de alta resolución de
la superficie de una muestra utilizando las interacciones electrón-materia. Utiliza un haz
de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen.
os MEB poseen una gran profundidad de campo, que permite enfocar a la vez gran parte
de la muestra. También producen imágenes de alta resolución, de forma que las
características más ínfimas de la muestra pueden ser examinadas con gran amplificación.
La preparación de las muestras es relativamente fácil ya que la mayoría de los MEB sólo
requieren que estas sean conductoras. La muestra generalmente se recubre con una capa
de carbono o una capa delgada de un metal, como el oro, para darle carácter conductor.
Posteriormente, se barre la superficie con electrones acelerados que viajan a través del
cañón. Un detector formado por lentes basadas en electroimanes, mide la cantidad e
intensidad de los electrones que devuelve la muestra, siendo capaz de mostrar figuras en
tres dimensiones mediante imagen digital.
Funcionamiento:
En el microscopio electrónico de barrido es necesario acelerar los electrones en un campo
eléctrico, para aprovechar de esta manera su comportamiento ondulatorio, lo cual se lleva
a cabo en la columna del microscopio, donde se aceleran mediante una diferencia de
potencial que puede ir desde 50 hasta 30 000 voltios. Los electrones acelerados por un
voltaje pequeño se utilizan para muestras muy sensibles, como podrían ser las
muestras biológicas sin preparación adicional o muestras muy aislantes. Los voltajes
elevados se utilizan para muestras metálicas, ya que éstas en general no sufren daños
como las biológicas y de esta manera se aprovecha la menor longitud de onda para tener
una mejor resolución. Los electrones acelerados salen del cañón, y se enfocan mediante
las lentes condensadora y objetiva, cuya función es reducir la imagen del filamento, de
manera que incida en la muestra un haz de electrones lo más pequeño posible (para así
tener una mejor resolución). Con las bobinas deflectoras se barre este fino haz de
electrones sobre la muestra, punto por punto y línea por línea.
Cuando el haz incide sobre la muestra, se producen muchas interacciones entre los
electrones del mismo haz y los átomos de la muestra; puede haber, por ejemplo,
electrones que reboten como las bolas de billar. Por otra parte, la energía que pierden los
electrones al "chocar" contra la muestra puede hacer que otros electrones salgan
despedidos (electrones secundarios), y producir rayos X, electrones Auger, etc. El más
común de éstos es el que detecta electrones secundarios, y es con el que se hacen la
mayoría de las imágenes de microscopios de barrido.
También podemos adquirir la señal de rayos X que se produce cuando se desprenden
estos mismos de la muestra, y posteriormente hacer un análisis espectrográfico de la
composición de la muestra.

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