8 Muestreo Aceptacion Atr
8 Muestreo Aceptacion Atr
8 Muestreo Aceptacion Atr
En este capitulo se presentan los planes de muestreo de aceptacin lote por lote para atributos. Entre los tpicos clave se encuentran el diseo y operacin de los planes de muestreo nico, el uso de las curva caracterstica de operacin y los conceptos de inspeccin con rectificacin, calidad de salida promedio e inspeccin promedio total. Se hace una breve introduccin de los conceptos similares para los tipos de planes de muestreo cuando puede tomarse mas de una muestra para determinar el destino de un lote (muestreo doble, mltiple y secuencial). Se presentan asimismo dos sistemas de planes de muestreo estndares, los planes de estndares militares conocidos como ANSI ASQC Z1.4 1993 (MIL STD 105E) y los planes de Dodge-Romig. .Estos planes estn diseados alrededor de filosofas diferentes: el estndar ANSI ASQC Z1.4 1993 (MIL STD 105E) se enfoca en el nivel de calidad aceptable, mientras que los planes de Dodge-Romig se orientan en torno de la perspectiva de la tolerancia del porcentaje defectuoso en un lote o del limite de la calidad de salida promedio.
Mapa conceptual
MUESTREO
Clasificacin y diseo en Muestreo Aceptacin
Planes de muestreo
Fundamentos
Esquemas Muestreo
ndices
Inspeccin
Cantidad de muestras
Inspeccin
Inspeccin Rectificacin
General
Variables
Atributos
AOQ
ATI
LTPD
AQL
Curva OC
AOQL
Sencillo
Doble
Mltiple
Secuencial
Una aplicacin tpica del muestreo de aceptacin es para la disposicin de lotes, en ocasiones esto se refiere como la dictaminacin del lote aplicaci t aceptaci disposici dictaminaci para actividades de inspeccin de recibo. inspecci Los lotes aceptados se incorporan a la produccin. producci Los lotes rechazados pueden devolverse al proveedor o someterse a otra accin de disposicin del lote. acci disposici lote. Los mtodos de muestreo tambin pueden ser usados en varias etapas de la produccin. m tambi producci
Tres aspectos del muestreo son importantes: 1. 2. El propsito del muestreo de aceptacin es dictaminar los lotes, no estimar su calidad. La mayora de los planes de muestreo de aceptacin no se disean para fines de estimacin. Los planes de muestreo de aceptacin no proporcionan ninguna forma directa de control de calidad. El muestreo de aceptacin se limita a aceptar algunos lotes y a rechazar otros. Incluso si todos los lotes son de la misma calidad, el muestreo aceptara algunos y rechazara otros, sin que los lotes aceptados sean mejores que los rechazados. Los controles del proceso se usan para controlar y mejorar sistemticamente la calidad, pero no as el muestreo de aceptacin. El uso mas efectivo del muestreo de aceptacin no es para "inspeccionar la calidad de un producto", sino mas bien como una herramienta de auditoria a fin de asegurarse de que la salida de un proceso cumple con los requerimientos.
3.
El muestreo de aceptacin probablemente ser de mayor utilidad en las siguientes situaciones: 1. Cuando las pruebas son destructivas. 2. Cuando el costo de la inspeccin del 100% es muy alto. 3. Cuando la inspeccin del 100% no es tecnolgicamente factible o requerira tanto tiempo de calendario que se impactara seriamente la programacin de la produccin. 4. Cuando son muchos los artculos por inspeccionar y la tasa de los errores de inspeccin es tan elevada que la inspeccin del 100% podra hacer que se aprobara un porcentaje mas alto de unidades defectuosas que con la aplicacin de un plan de muestreo. 5. Cuando el proveedor tiene un historial de calidad excelente, y se desea cierta reduccin en la inspeccin del 100%, pero la capacidad del proceso del proveedor es lo suficientemente baja para hacer que la cancelacin de la inspeccin no sea una alternativa satisfactoria. 6. Cuando existen riesgos de responsabilidad legal del producto potencialmente serios y, aun cuando el proceso del proveedor sea satisfactorio, se necesita un programa de monitoreo continuo del producto. 5
1. 2. 3. 4. 5.
. Muestreo de aceptacin Vs inspeccin del 100%, . Desventajas del muestreo 1. 2. 3. Existe el riesgo de aceptar lotes "malos" y de rechazar lotes "buenos". Por lo general se genera menos informacin acerca del producto o acerca del proceso con que se fabric el producto. El muestreo de aceptacin requiere la planeacin y documentacin del procedimiento del muestreo de aceptacin, mientras que la inspeccin del 100% no.
1.
Se ha sealado que el muestreo de aceptacin es un "terreno intermedio" entre los extremos de la inspeccin del 100% y no hacer ninguna inspeccin. Muchas veces proporciona una metodologa para moverse entre estos dos extremos : Cuando se obtiene informacin suficiente sobre el control del proceso de manufactura con que se produce el producto. Aun cuando no existe un control de calidad directo en la aplicacin de un plan de muestreo de aceptacin en un lote aislado, cuando dicho plan se aplica a una serie de lotes de un proveedor, se convierte en un medio para brindar proteccin tanto para el productor del lote como para el consumidor. Proporciona asimismo una acumulacin del historial de calidad respecto del proceso que produce el lote, y puede brindar retroalimentacin que sea de utilidad en el control del proceso, como determinar cuando no son adecuados los controles del proceso en la planta del proveedor. Por ultimo, puede ejercer presin econmica o psicolgica sobre el proveedor para que mejore el proceso de produccin.
2.
Costo total de inspeccin del lote CT(NI)= Np Cd CT(IM)=n CI +[Pa(N-n)p]Cd +[(1-Pa)(N -n)]CI CT(Insp 100%)= N CI
Variables 1. Tipo de inspeccin Atributos 2. Cantidad de muestras Una Muestra: Muestreo sencillo Dos muestras: Muestreo doble Ms de dos muestras: Muestreo mltiple Muestra de tamao 1: Muestreo secuencial
Cantidad de muestras
Secuencial
Secuencial
Tipo de inspeccin
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Un plan de muestreo de aceptacin es un enunciado del tamao de la muestra que debe usarse y de los criterios de aceptacin o rechazo asociados para dictarninar los lotes individuales. Un esquema de muestreo se define como un conjunto de procedimientos que consisten en planes de muestreo de aceptacin en los que se relacionan el tamao del lote, el tamao de la muestra y los criterios de aceptacin o rechazo junto con la cantidad de inspeccin del 100% y muestral. Un sistema de muestreo es una coleccin unificada de uno o mas esquemas de muestreo de aceptacin.
11
Los planes de muestreo, sencillo, doble, mltiple y secuencial pueden disearse de tal modo que produzcan resultados equivalentes. Los factores a considerar en la implantacin de planes de muestreo son: Eficacia administrativa Tipo de informacin producida por el plan Cantidad media de inspeccin requerida por plan Impacto del procedimiento en fabricacin de flujo
12
1. 2. 3.
Muestreo aleatorio
13
Procedimiento seguido para clasificar un lote. Ejemplo 1. Extraiga del lote (N=1000) una muestra de 40 unidades (n=40) 2. Tome una Decisin:
a. Acepte Lote: si en la muestra encuentra 1 o menos piezas disconformes (C=1) b. Rechace Lote: Caso contrario (C>1)
14
Parametros de un plan de MA
Interpretacin de la definicin de un plan de muestreo Para definir un plan de muestreo se requiere definir sus parmetros Sencillo 2 parmetros: n, C (= Ac) Doble: 6 parmetros n1, C1 (=Ac1),n2, C2 (=Ac2), Re1, Re2 Mltiple Secuencial
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Decisin en el muestreo
Riesgo en el muestreo
Aceptar lote
Correcta
Error II
Aceptar lote
1 -
P(Error II) = 1-
Rechazar lote
Error I
Correcta
Rechazar lote
P(Error I)=
16
Consiste en evaluar el porcentaje de lotes aceptara el plan de muestreo (=Probabilidad de aceptacin= Pa) si los lotes tuvieran una calidad preestablecida (fraccin no conforme = P). Representa la capacidad de discriminacin del plan de muestreo Comentarios: Calidad preestablecida= supone posibles valores de la calidad, P que pueda tener el lote y que usted quiere ver como responde aceptando o no
17
2 Calcule la Pa asociada
3 Repita el paso 1 y 2,
k veces
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Procedimiento general para evaluar un MA, inspeccin atributos tipo clasificacin (p inspecci clasificaci constante)
Binomial (P constante)
C n nd d Pa = P(d C) = p (1 p) d d =0
2 Calcule la Pa asociada a p
3 Repita el paso 1 y 2,
k veces
19
Comentario de la binomial
nd n P(d) = Pd (1 p) d
EC1
n n! donde = d d!(n d )!
Considerando que el lote se acepta si se tiene C o menos piezas no conformes, la probabilidad de aceptacin equivale evaluar la ecuacin 1 considerando los diferentes valores que puede tomar d (d= 0, 1, ,C) y luego sumarlas. Es decir esto equivale a emplear la ecuacin 2. P(d C)= P(d= 0) + P(d= 1) + + P(d= C) = n0 n n1 nC n n = P0 (1 p) + P1(1 p) + ...+ PC (1 p) 0 1 C
P(d C )=
C d =0
nd n d P (1 p) X
EC2
20
(Calcula) Pa
P1
Pa1
Pk
Pak
P 0.001 0.01 0.03 0.05 0.07 0.09 0.11 0.13 0.15 0.17
Pa 0.99924 0.93926 0.66154 0.39906 0.22006 0.11397 0.05619 0.02657 0.01211 0.00533
21
1.00
0.80
Pa
0.60
0.40
0.20
P 0.001 0.01 0.03 0.05 0.07 0.09 0.11 0.13 0.15 0.17
Pa 0.9992 0.9393 0.6615 0.3991 0.2201 0.114 0.0562 0.0266 0.0121 0.0053
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Efecto de n y C en la curva OC
Probabilidad de aceptacin, Pa
Probabilidad de aceptacin, Pa
Probabilidad de aceptacin, Pa
Curva OC Ideal
En trminos generales, lo que ms afecta en el diseo del plan de muestreo es la definicin de n y C N tiene poco efecto
23
Las curvas OC que se construyeron en los ejemplos anteriores se llaman curvas OC tipo B. En la construccin de la curva OC se supuso que las muestras provenan de un lote grande o que el muestreo se estaba haciendo de un flujo de lotes de un proceso seleccionados al azar. En esta situacin, la distribucin binomial es la distribucin de probabilidad exacta para calcular la probabilidad de aceptacin del lote. Esta curva OC se conoce como curva OC tipo B. La curva OC tipo A se usa para calcular probabilidades de aceptacin de un lote aislado, de tamao finito. Suponer que el tamao del lote es N, que el tamao de la muestra es n y que el numero de aceptacin es c. La distribucin de muestreo exacta del numero de artculos defectuosos en la muestra es la distribucin hipergeomtrica.
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Hipergeomtrica
No
P= Cte
Si
Binomial
Forma de clculo
Forma de clculo
Exacta: OK Hipergeomtrica
Aproximada n/N0.1
Aproximada
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Es comn que el consumidor establezca un plan de muestreo para un abastecimiento continu de componentes o materia prima con referencia a un nivel de calidad aceptable o AQL. Obsrvese que el AQL es una propiedad del proceso de manufactura del proveedor; no es una propiedad del plan de muestreo. La LTPD es el nivel de calidad mas pobre que el consumidor esta dispuesto a aceptar en un lote individual. Obsrvese que la tolerancia del porcentaje defectuoso en un lote (LTPD) no es una caracterstica del plan de muestreo, sino un nivel de la calidad del lote especificado por el consumidor. Nombres alterativos de la LTPD son nivel de calidad rechazable (RQL, por sus siglas en ingles y nivel de calidad limite (LQL, por sus siglas en ingles). Es posible disear planes de muestreo de aceptacin que den probabilidades de aceptacin especificas en el punto LTPD, LTPD y AQL.
27
28
29
C
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15
np0.99
0.01 0.149 0.436 0.823 1.279 1.785 2.33 2.906 3.507 4.13 4.771 5.428 6.099 6.782 7.477 8.181
np0.95
0.051 0.355 0.818 1.366 1.97 2.613 3.286 3.981 4.695 5.426 6.169 6.924 7.69 8.464 9.246 10.035
np0.90
0.105 0.532 1.102 1.745 2.433 3.152 3.895 4.656 5.432 6.221 7.021 7.829 8.646 9.47 10.3 11.135
np0.50
0.693 1.678 2.674 3.672 4.671 5.67 6.67 7.669 8.669 9.669 10.668 11.668 12.668 13.668 14.668 15.668
np0.10
2.303 3.89 5.322 6.681 7.994 9.275 10.532 11.771 12.995 14.206 15.407 16.598 17.782 18.958 20.128 21.292
np0.05
2.996 4.744 6.296 7.754 9.154 10.513 11.842 13.148 14.434 15.705 16.962 18.208 19.442 20.668 21.886 23.098
np0.01
4.605 6.638 8.406 10.045 11.605 13.108 14.571 16 17.403 18.783 20.145 21.49 22.821 24.139 25.446 26.743
45.157
10.958 6.506 4.891 4.058 3.55 3.205 2.957 2.768 2.618 2.497 2.397 2.312 2.24 2.177 2.122
30
31
C d =0
Condicin 1 (p1, Pa1) = (0.01, 0.95) Condicin 2 (p2, Pa2) = (0.08, 0.10)
Condicin 2: Pa2 =P(d C|P = 0.08 )=
C d =0
a)
Calcule la R = p2 p1
0.08 = 8 0.01
np10 = 3.89 np95 =0.355 np10/np95=10.96 np10 = 5.322 np95=0.0.818 np10/np95 = 6.51
Opcin 1: C= 1 Opcin 2: C= 2
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Evaluacin de las opciones Usando la distribucin binomial para evaluar cada opcin se tiene
Plan A B C D n 49 36 67 82 C 1 1 2 2 Pa1 0.91 0.95 0.97 0.95 Pa2 0.1 0.21 0.1 0.04
Seleccione la opcin que mejor cumpla con sus condiciones: n= 67, C=2
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Rechaza
Fraccin no conforme: 0
Lotes aceptados: Pa Piezas conformes: n+ (1-p)(N-n) Acepta Piezas no conformes: p (N-n) Fraccin no conforme = Po: Po=Pa[p(N-n)]/N
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La calidad de salida promedio (AOQ) se usa ampliamente para la evaluacin de un programa de muestreo con rectificacin. La calidad de salida promedio es la calidad en el lote que resulta de la aplicacin de la inspeccin con rectificacin. Es el valor promedio de la calidad del lote que se obtendra en una secuencia larga de lotes de un proceso con fraccin defectuosa p. Es sencillo desarrollar una formula para la calidad de salida promedio Suponga que el tamao del lote es N y que todas las unidades defectuosas se reemplazan con unidades conforme a especificaciones. Entonces el lotes de tamao N, al inspeccionarse una muestra n,se tiene 1. n artculos en la muestra que, despus de la inspeccin, no contienen unidades defectuosas, debido a que todas las unidades defectuosas descubiertas se reemplazan por piezas conforme a especificaciones 2. Los N - n artculos remanentes sin inspeccionar, si el lote es rechazado, tampoco tendr unidades defectuosas, porque se reemplazan por piezas buenas. 3. Los N - n artculos remanentes sin inspeccionar, si el lote es aceptado, tendrn en promedio p (N n) unidades defectuosas.
Por tanto, los lotes en la etapa de salida de la inspeccin tienen un nmero esperado de unidades defectuosas igual a Pa p(N- n), que puede expresarse como una fraccin defectuosa promedio, llamada la calidad de salida promedio o
35
AOQ =
Pap ( N n ) N
Si N >>n
AOQ Pap
36
Interpretacin Si los lotes recibidos tienen siempre el 1% de piezas no conformes a especificaciones, a la larga se espera que los lotes inspeccionados tengan aproximadamente el 0.97% de piezas no conformes a especificaciones 4) Repita el paso 1,2 y 3 tantas veces como sea necesario. Esto se presenta en la tabla 6 5) Construya la curva AOQ graficando (X,Y) = (P, AOQ). Esto se ilustra en la figura 5
37
p 0.000 0.005 0.010 0.015 0.020 0.0205 0.025 0.030 0.040 0.050 0.060 0.070 0.080 0.090 0.100 0.120
AOQ 0.0000 0.0049 0.0096 0.0137 0.0169 0.0171 0.0190 0.0201 0.0197 0.0170 0.0135 0.0100 0.0070 0.0047 0.0031 0.0012 AOQL = Max (AOQ)
Considerando los datos del ejemplo 4, para n= 67 y C=2 el AOQL calculado usando los resultados de la tabla 7 (para C= 2, el valor de Max(Pa*P*n) = 1.372) y ecuacin 6 es
AOQL
1.372 = 0.02047761 67
El plan de muestreo de aceptacin n= 67 y C=2 cuando tendr lotes inspeccionados con una calidad de 2.047% de bolsas o mejor
c 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Max Papn 0.3679 0.8408 1.372 1.946 2.544 3.172 3.81 4.465 5.15 5.836 6.535
C 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
Max Papn 7.234 7.948 8.677 9.404 10.12 10.87 11.63 12.38 13.14 13.88
39
40
EC 7
Para ilustrar esto considere el plan de muestreo N= 10,000, n= 67, C=2, se obtiene de la tabla 5 que cuando p= 0.01 la Pa = 0.9702, por lo tanto el ATI es ATI = n + (1 Pa)(N-n) = 67 + (1 0.9702) = 363.2527
Interpretacin Si los lotes siempre tuvieran el 1% de bolsas no conforme a especificaciones, se espera inspeccionar en promedio 363 bolsas por lote de 10,000 bolsas
41
Curva ATI
p 0.000 0.005 0.010 0.015 0.020 0.020 0.025 0.030 0.040 0.050 0.060 0.070 0.080 0.090 0.100 0.120 ATI 67.00 113.86 363.25 859.90 1563.01 1638.37 2402.13 3305.66 5081.99 6596.30 7753.43 8573.63 9123.50 9476.37 9694.86 9902.92
42
Fraccin defectuosa del late, p Figura 14-12 Curvas de inspeccin promedio total para el plan de muestreo n = 89, c = 2, para tamaos del lote de 1000, S 000 Y 10 000.
43
44
Si
d1 Ac1
d1 Re1
Acepte el lote
Rechace el lote
d1+d2 A c2
45
Comentarios en PMDA
La ventaja principal del plan de muestreo doble con respecto al de muestreo sencillo es que puede reducir la cantidad total de inspeccin requerida. Suponga que se extrae la primera muestra en un plan de muestreo doble entonces si:
un lote es aceptado o rechazado en la primera muestra, el costo de la inspeccin ser mas bajo Tambin es posible rechazar un lote sin hacer la inspeccin completa de la segunda muestra.
46
Curva OC en PMD
Pa = Pa1 + Pa2 EC 11 Donde Pa1 = P(d1 Ac1|n1,p) EC 12 Pa2 =P(posponer la decisin a la segunda muestra y aceptar en la segunda) Pa2 = P(Ac1 <d1< Re1, d1 +d2 Ac2) Pa2 = P(d1 = Ac1 +1| n1,p)P(d2 Ac2- d1 |n2,p) EC 13 = P(d1 = Ac1 +2| n1,p)P(d2 Ac2- d1|n2,p) + : : = P(d1 = Re1 -1| n1,p)P(d2 Ac2- d1|n2,p)
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Ejemplo de curva OC
P= 0.01 n1 = 63 n2 = 63 Ac1= 0 Re1= 3 Ac2= 3 Re2= 4
P 0 0.005 0.01 0.02 0.03 0.04 0.05 0.06 0.07 0.08 Pa 1 0.994 0.952 0.738 0.468 0.256 0.126 0.058 0.026 0.011
Pa2 = P(d1 = 1| n1= 63,p= 0.01)P(d2 3 1)|n2= 63,p= 0.01) + = P(d1 = 2| n1=63,p= 0.01)P(d2 32)|n2,p) Pa2 = 0.338(0.975) + 0.106(0.869) = 0.421 Pa = Pa1 + Pa2 = 0.531 + 0.421 = 0.952
48
Fraccin defectuosa del late, p Figura 14-14 Curvas OC para el plan de muestreo doble n1 = 50, c1 = 1, n2 = 100 y c2 = 3.
49
Curva ASN
La cantidad de unidades a inspeccionar al usar muestreo doble es variable porque en ocasiones se toma la decisin final en la muestra uno y otras hasta la muestra 2. Esta variacin depende de la calidad, p, del lote inspeccionado. La cantidad de piezas a inspeccionar por muestra considerando que siempre se inspecciona la primera muestra y que la segunda se inspeciona totalmente cuando se pospone la decisin es:
ASN= n1 +n2 P(posponer la decisin) ASN= n1 +n2 P(Ac1<X1<Re1)
50
Inspeccin completa
Muestreo nico
Inspeccin cercenada
Fraccin defectuosa del late, p Figura 14.15 Curvas del nmero promedio de las muestras para el muestreo nico y el muestreo doble.
51
Un plan de muestreo mltiple es una extensin del muestreo doble por cuanto pueden requerirse mas de dos muestras para dictaminar un lote. Se presenta a continuacin un ejemplo de un plan de muestreo mltiple con cinco etapas. Tamao de la muestra acumulado Nmero de aceptacin Nmero de rechazo
Este plan operara como sigue: si, al termino de cualquier etapa del muestreo, el nmero de artculos defectuosos es menor o igual que el numero de aceptacin, el lote se acepta. Si: durante cualquiera de las etapas, el nmero de artculos defectuosos es igual o excede el nmero de rechazo, el lote se rechaza; en caso contrario, se toma la siguiente muestra. El procedimiento de muestreo mltiple continua hasta que se toma la quinta muestra, momento en el que debe tomarse una decisin en cuanto al destino del lote. Suele hacerse una inspeccin del 100% de la primera muestra, aun cuando las muestras subsecuentes por lo general se someten al cercenado.
52
El muestreo secuencial es una extensin del concepto del muestreo doble y del muestreo mltiple. En un muestreo secuencial, se toma una secuencia de muestras del lote y se deja que el nmero de muestras lo determinen por completo los resultados del proceso de muestreo. En teora, el muestreo secuencial puede continuar de manera indefinida, hasta que se hace la inspeccin del 100% del lote. En la practica, los planes de muestreo secuencial suelen truncarse despus de que el nmero inspeccionado es igual a tres veces el numero que se habra inspeccionado utilizando el plan de muestreo nico correspondiente. Si el tamao de la muestra seleccionado en cada etapa es mayor que uno, al proceso suele llamrsele muestreo secuencial grupal. Si el tamao de la muestra inspeccionado en cada etapa es uno, al procedimiento suele llamrsele muestreo secuencial articulo por articulo. Nmero de artculos defectuosos
Aceptaci n
53
54
Para ilustrar el uso de estas ecuaciones, suponer que quiere encontrarse un plan de muestreo secuencial para el que p1= 0.01, = 0.05, p2 = 0.06 y = 0.10. Por tanto,
55
En lugar de utilizar una grfica para determinar el destino del lote, el plan de muestreo secuencial puede desplegarse en una tabla como la tabla 14-3. Las entradas de la tabla se encuentran sustituyendo los valores de n en las ecuaciones de las lneas de aceptacin y rechazo y calculando los nmeros de aceptacin y rechazo. Por ejemplo, los clculos para n =45 son (aceptacin)
(rechazo)
56
Curva OC y ASN
La curva OC para un muestreo secuencial puede obtenerse con facilidad. Dos puntos de la curva son (p1, 1 - ) y ( p2, ). Un tercer punto, cerca de la parte media de la curva, es p = s y Pa = h1 (h1 + h2). El nmero promedio de las muestras tomadas en el muestreo secuencial es
donde
57
1 Sistemas de muestreo
2 Esquema de muestreo
Esquema Sencillo
Esquema Doble
Esquema Mltiple
Procedimiento de inspeccin compuesto por una o ms muestras y criterios de decisin. No establece que hacer si se Ac o Re demasiados lotes
Plan de muestreo y curva OC. Indicadores: AQL, LTPD, AOQ, AOQL, ATI, ASN
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Sistemas de muestreo
2 N, 3Nivel de inspeccin
Tipo de inspeccin
Para los tres esquemas: El Plan de muestreo mismo, Esquema Sencillo: AOQL (Tabla V A,B), Curva OC (Tabla X Letra del plan)
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Esquemas de muestreo contenidos: muestreo sencillo, doble y mltiple. Base del diseo. El es el nivel de calidad aceptable (AQL%).
Pueden asignarse diferentes valores del AQL(%) para diferentes tipos de defectos: crticos, importantes menores. Especificado generalmente por la autoridad responsable del muestreo El tamao de la muestra es determinado por el tamao del lote y por la eleccin del nivel de inspeccin.. El AQL<=10, representa el porcentaje de unidades no conformes El AQL>10, representa el nmero de disconformidades por cien unidades inspeccionadas
60
Inicio.
tipo de inspeccin Normal
Continuacin
Segn los resultados de la inspeccin de . 1. Normal a Rigurosa. 2. Rigurosa a Normal. 3. Normal a Reducida. 4. Reducida a Normal
61
Inicio 1. Produccin estable 2. 10 lotes consecutivos aceptados y Nmero Piezas no conformes<= nmero tabla VIII 3. Aprobacin de la Autoridad responsable
Reducida
Normal
Rigurosa
Lote rechazado Produccin irregula Un lote no cumple con los criterios de aceptacin ni de rechazo Otras condiciones garantizan el regreso a la inspeccin normal
Descontinuar la inspeccin
Figura 14-17 .Reglas para cambiar entre inspeccin normal, rigurosa y reducida, MIL STD 105E.
62
1. Elegir el AQL(%) 2. Elegir el Nivel de inspeccin.(Por principio GII) 3. Determinar el tamao del lote. 4. Encontrar la letra de cdigo apropiada para el tamao de la muestra en la tabla I, partiendo del AQL(%) y N. 5. Seleccione el esquema de muestreo que debe usarse (Sencillo, doble, mltiple). 6. Consultar la tabla apropiada para encontrar el esquema para los tres tipos de inspeccin (A, B, C). 7. Determinar los planes de muestreo para la: inspeccin normal, rigurosa y reducida.
63
NIVELES DE INSPECCION ESPECIAL TAMAO DE LOTE 2 a 9 a 16 a 26 51 91 151 281 501 1201 3201 10001 35001 150001 500001 Tabla 17 a a a a a a a a a a a en S-1 A A A A B B B B C C C C S-2 A A A B B B C C C D D D S-3 A A B B C C D D E E F F S-4 A A B C C D E E F G G H
150000 D E G J 500000 D E G J H K adelante D E LETRAS CODIGO DEL TAMAO DE MUESTRA ( Tabla Maestra I
64
10 11 14 15 21 22 30 31
10 11 14 15 21 22 30 31 44 45
10 11 14 15 21 22 30 31 44 45
10 11 14 15 21 22 30 31 44 45
10 11 14 15 21 22 30 31 44 45
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
K L M N P Q
0 1 1 2 1 2 1 2 2 3 3 4 2 3 3 4 5 6 2 3 3 4 5 6 7 8
1 2 2 3 3 4 5 6 7 8
2 3 3 4 5 6 7 8
3 4 5 6 7 8
5 6 7 8
7 8
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
10 11 14 15 21 22
2000
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
10 11 14 15 21 22
= use el primer plan de muestreo debajo de la flecha, si la m uestra es igual o exede el tam ao del lote haga el 100% de inspeccion = use el primer plan de muestreo sobre la flecha AC = Numero de aceptacion Re = Num ero de rechazo
65
T A B LA 15 P LA N E S D E U N S O LO M U E S T R O D E IN S P EC C IO N A P R E T A D A (T A BLA M A E S T R A II-B )
LETRA S C O D IG O TA M A O DE L 0.010 DE TA M A O M UE S TRA DE M U E STRA Ac Re A B C D E F G H J K L M N P Q R S 2 3 5 8 13 20 32 50 80 125 200 315 500 800 1250 2000 3150 0 1
= use el prim er plan de m uestreo debajo de la flecha, si la m uestra es igual o exede el tam ao del lote haga el 100% de inspeccion = use el prim er plan de m uestreo sobre la flecha AC = N um ero de aceptacion R e = N um ero de rechazo
66
TABLA 16 PLANES DE UN SOLO MUESTRO DE INSPECCION REDUCIDA (TABLA MAESTRA II-C) NIVELES DE CALIDAD ACEPTABLE (INSPECCION REDUCIDA)* LETRAS CODIGO TAMAO DE 0.010 0.015 0.025 0.040 0.065 0.10 0.15 0.25 0.40 0.65 1.0 1.5 2.5 4.0 6.5 10 15 25 40 65 100 150 250 400 650 1000 DEL MUESTRA TAMAO DE MUESTRA Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re A B C D E F G H J K L M N P Q 2 2 2 3 5 8 13 20 32 50 80 125 200 315 500 0 1 0 1 0 1 0 2 0 2 1 3 0 1 0 1 0 1 0 2 1 3 1 4 0 2 1 3 1 4 2 5 0 2 1 3 1 4 2 5 3 6 0 1 0 1 0 1 0 2 1 3 1 4 2 5 3 6 5 8 0 2 1 3 1 4 2 5 3 6 5 8 7 10 0 2 1 3 1 4 2 5 3 6 0 1 0 1 0 1 0 2 1 3 1 4 2 5 3 6 5 8 0 2 1 3 1 4 2 5 3 6 5 8 7 10 0 2 1 3 1 4 2 5 3 6 0 1 0 1 0 1 0 2 1 3 1 4 2 5 3 6 5 8 0 2 1 3 1 4 2 5 3 6 5 8 7 10 0 2 1 3 1 4 2 5 3 6 1 2 1 3 1 4 2 5 3 6 5 8 2 3 2 4 2 5 3 6 5 8 7 10 3 4 3 5 3 6 5 6 5 6 5 8 7 8 7 8 7 10 10 11 14 15 21 22 30 31 10 11 14 15 21 22 30 31 10 13 14 17 21 24
5 8 7 10 10 13 14 17 21 24 7 10 10 13 14 17 21 24 10 13
5 8 7 10 10 13 7 10 10 13 10 13
5 8 7 10 10 13 7 10 10 13 10 13
5 8 7 10 10 13 7 10 10 13 10 13
800
0 2
1 3
1 4
2 5
3 6
5 8
7 10
10 13
= use el primer plan de muestreo debajo de la flecha, si la muestra es igual o exede el tamao del lote haga el 100% de inspeccion = use el primer plan de muestreo sobre la flecha AC = Numero de aceptacion Re = Numero de rechazo * = Si el numero de aceptados se excede, pero el numero de rechazos no se alcanza, acepte el lote y regrese a inspeccion normal.
67
FACTORES DEL LIMITE DE LA CALIDAD PROMEDIO DE SALIDA (AOQL) PARA INSPECCION NORMAL (MUESTREO SENCILLO. TABLA MAESTRA V-A
LETRAS CODIGO TAMAO DE MUESTRA 0.010 0.015 0.025 0.040 0.065
2 3 5 8 13 20 32 50 80 125 200 315 500 800 1250 0.074 0.046 0.029 0.067 0.11 0.11 0.29 0.18 0.12 0.17 0.17 0.16 0.27 0.27 0.24 0.25 0.42 0.44 0.39 0.4 0.36 1.2 0.74 0.46 0.67 0.69 0.62 0.63 0.56 0.52 1.1 1.1 0.97 1.00 0.9 0.82 0.75 1.7 1.7 1.6 1.6 1.4 1.3 1.2 1.2 4.6 2.8 1.8 2.6 2.7 2.4 2.5 2.2 2.1 1.9 1.8 4.2 4.3 3.9 4.0 3.6 3.3 3.00 2.9 6.5 6.9 6.1 6.3 5.6 5.2 4.7 4.7
A B C D E F G H J K L M N P Q
2000
0.042
0.069
0.097
0.16
0.22
0.33
0.47
0.73
NOTA:
68
FACTORES DEL LIMITE DE LA CALIDAD PROMEDIO DE SALIDA (AOQL) PARA INSPECCION AJUSTADA (MUESTREO SENCILLO. TABLA MAESTRA V-B
LETRAS CODIGO DEL TAMAO DE MUESTRA
A B C D E F G H J K L M N P Q R S
28 27 24 24 26 25 25
NOTA:
69
0.15 * * *
0.25 * * *
0.40 * * *
0.65 * * *
1.00 * * *
1.50 * * *
2.50 * * *
4.00 * * 0
6.5 * 0 0
10 0 0 2
15 0 1 3
25 2 3 7
40 4 7 14
65 8 13 25
100 14 22 40
150 22 36 63
250 40 63 110
* * *
* * *
* * *
* * *
* * *
* * *
* * *
* * *
* * *
* * *
* * 0
* 0 0
0 0 2
0 2 4
2 4 8
4 7 14
7 13 22
14 25 40
24 42 68
42 72 115
68 115 181
297 490
* * *
* * *
* * *
* * *
* * *
* * *
* * *
* * 0
* 0 0
0 0 2
0 2 4
1 3 7
4 7 14
8 14 24
14 25 42
24 40 68
39 63 105
68 110 181
113 181
189
* * *
* * *
* * *
* * *
* * 0
* 0 0
0 0 1
0 2 4
2 4 8
4 8 14
7 14 24
13 22 38
24 40 67
40 68 111
69 115 186
110 181
169
* * *
* * 0
* 0 0
0 0 2
0 2 4
2 4 7
3 7 13
7 14 24
14 24 40
25 42 69
40 68 110
63 105 169
110 181
181
20000-31499 31500 o ms
0 0
0 1
2 4
4 8
8 14
14 24
22 38
40 67
68 111
115 186
181
* Denota que el nmero de unidades en la muestra de los ltimos 10 lotes no es suficiente para inspeccin reducida para este AQL. En este caso, ms de 10 lotes pueden ser usados para el clculo, siempre y cuando los lotes usados sean los ms recientes en la secuencia de inspeccin normal y que ninguno de ellos ha sido rechazado en dicha inspeccin.
70
Ejemplo . Enunciado
Ejemplo 12. ilustracin bsica del uso de la norma ANSI/ASQC Z.14:1993
En una fbrica de focos, estos se empacan en cajas Cajas conteniendo 1000 Unidades. Se quiere revisar las cajas usando un esquema de muestreo sencillo desarrollado con la norma ANSI/ASQC Z.14:1993. La inspeccin del foco consiste en probar si prende o no. Para este fin se considera como aceptable el contenido de la caja si el AQL es del 1%. El nivel de inspeccin pactado es el general tipo II. a. Desarrolle del esquema de muestreo sencillo:
71
2 Usando como base el cdigo de letra J, el diseo del plan de muestreo sencillo para inspeccin normal, rigurosa y reducida, requiere el uso de la tabla 18, 19 y 20 (= tabla IIA, IIB y IIC del manual), de donde se obtiene: Inspeccin Normal : Inspeccin Apretada: Inspeccin reducida: n= 80, Ac= 2, Re=3 n= 80, Ac=1, Re=2 n= 32, Ac= 1, Re=3.
72
Inicio 1. Produccin estable 2. 10 lotes consecutivos aceptados y Nmero Piezas no conformes<= 4 3. Aprobacin de la Autoridad responsable n=32 Ac1 Re=3 n=80 Ac 2 Re=3 5 lotes Consecutivos aceptados
n= 80 Ac1 Re=2
Lote rechazado Produccin irregula Un lote no cumple con los criterios de aceptacin ni de rechazo Otras condiciones garantizan el regreso a la inspeccin normal
Descontinuar la inspeccin
Figura 14-17 .Reglas para cambiar entre inspeccin normal, rigurosa y reducida, MIL STD 105E.
73
74
P(d C=2 )=
d =0
p 0.01 0.02 0.03 0.04 0.05 0.06 0.07 0.08 0.09 Pa 0.9534 0.7844 0.5681 0.3748 0.2306 0.1344 0.0750 0.0404 0.0211
0.1 0.0107
1.03 95.0
1.39 90.0
2.16 75.0
3.33 50.0
4.84 25.0
6.52 10.0
7.66 5.0
10.1 1.0
75
76
Otro ejemplo
Ejemplo 13 Ejemplo complementario para uso de las tablas Suponga que los lotes contienen 250 focos y el AQL es de 0.65 %, usando inspeccin general tipo II. El esquema de muestreo sencillo que se usara es el indicado en la tabla 24. En este respecto se hacen los comentarios siguientes
Normal (J) Rigurosa (K) Reducida (J) n= 80 n= 125 n= 32 Ac= 1 Ac=1 Ac= 0 Re= 2 Re= 2 Re= 2
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Muestreo doble
El diseo del esquema de muestreo doble equivalente al sencillo del ejemplo 12, (usando las tablas III del manual) se presenta en la tabla 25, considerando que el cdigo de letra es J. n1= 50 Ac1= 0 Re1= 3 Normal (Tabla IIIA) n2= 50 Ac2= 3 Re2= 4 Rigurosa n1= 50 Ac1= 0 Re1= 2 (Tabla IIIB) n2= 50 Ac2= 1 Re2= 2 Reducida n1= Ac1= Re1= (Tabla IIIC) n2= Ac2= Re2= Tabla 25 Esquema muestreo doble del ejemplo 14
78