Collection Technique ..........................................................................

Cahier technique n 149

La CEM : la compatibilit
lectromagntique

F. Vaillant
J. Delaballe

Merlin Gerin Modicon Square D Telemecanique

Les Cahiers Techniques constituent une collection dune centaine de titres

dits lintention des ingnieurs et techniciens qui recherchent une
information plus approfondie, complmentaire celle des guides, catalogues
et notices techniques.
Les Cahiers Techniques apportent des connaissances sur les nouvelles
techniques et technologies lectrotechniques et lectroniques. Ils permettent
galement de mieux comprendre les phnomnes rencontrs dans les
installations, les systmes et les quipements.
Chaque Cahier Technique traite en profondeur un thme prcis dans les
domaines des rseaux lectriques, protections, contrle-commande et des
automatismes industriels.
Les derniers ouvrages parus peuvent tre tlchargs sur Internet partir
du site Schneider.
Code :
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Rubrique : matrise de llectricit
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du groupe Schneider.

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L'auteur dgage toute responsabilit conscutive l'utilisation incorrecte
des informations et schmas reproduits dans le prsent ouvrage, et ne
saurait tre tenu responsable ni d'ventuelles erreurs ou omissions, ni de
consquences lies la mise en uvre des informations et schmas
contenus dans cet ouvrage.
La reproduction de tout ou partie dun Cahier Technique est autorise aprs
accord de la Direction Scientifique et Technique, avec la mention obligatoire :
Extrait du Cahier Technique Schneider n ( prciser) .

n 149
La CEM : la compatibilit
lectromagntique

Frdric VAILLANT
Diplom de l'Ecole Polytechnique en 1984 (X81), docteur en microlectronique 1987 (thse prpare sous contrat CIFRE avec la socit
Saint Gobain).
Entre chez Merlin Gerin en 1987.
De 1988 1991, il a t responsable de l'activit Compatibilit
Electromagntique au Centre de Comptences en Electronique de la
Direction Technique.

Jacques DELABALLE
Animateur du rseau de comptence CEM du Groupe Schneider et
responsable des laboratoires d'essais CEM, a particip
l'actualisation de ce Cahier Technique en aot 1996 et en juillet 1998.

CT 149 dition juillet 1998

Lexique
Compatibilit ElectroMagntique, CEM
(abrviation) (VEI 161-01-07)
Aptitude dun appareil ou dun systme
fonctionner dans son environnement
lectromagntique, de faon satisfaisante et
sans produire lui-mme des perturbations
lectromagntiques intolrables pour tout ce qui
se trouve dans cet environnement.
Perturbation (lectromagntique)
(VEI 161-01-05)
Phnomne lectromagntique susceptible de
crer des troubles de fonctionnement dun
dispositif, dun appareil ou dun systme, ou
daffecter dfavorablement la matire vivante ou
inerte.
Note : une perturbation lectromagntique peut
tre un bruit, un signal non dsir ou une
modification du milieu de propagation lui-mme.
Niveau de compatibilit (lectromagntique)
(VEI 161-03-10)
Niveau maximal spcifi de perturbations
lectromagntiques auquel on peut sattendre
que soit soumis un dispositif, appareil ou
systme fonctionnant dans des conditions
particulires.
Note : en pratique le niveau de compatibilit
lectromagntique nest pas un niveau maximal
absolu mais peut tre dpass avec une faible
probabilit.
Niveau de perturbation
(non dfini dans le VEI 161)
Valeur dune perturbation lectromagntique de
forme donne, mesure dans des conditions
spcifies.
Limite de perturbation
(VEI 161-03-08)
Niveau maximal, admissible des perturbations
lectromagntiques mesur dans des conditions
spcifies.
Niveau dimmunit
(VEI 161-03-14)
Niveau maximal dune perturbation
lectromagntique de forme donne agissant sur
un dispositif, appareil ou systme particulier,
pour lequel celui-ci demeure capable de
fonctionner avec la qualit voulue.
Susceptibilit (lectromagntique)
(VEI 161-01-21)
Inaptitude dun dispositif, dun appareil ou dun
systme fonctionner sans dgradation de

Cahier Technique Schneider n 149 / p.2

qualit en prsence dune perturbation

lectromagntique.
La figure 1 permet de situer les diffrents
termes ci-avant en terme de niveau.
Dcibel
Unit de puissance sonore, aussi utilise pour
exprimer des rapports damplitude selon la
relation :
X/Xo (dB @) = 20 . log10 X/Xo, avec
X = amplitude mesure,
Xo = amplitude de rfrence,
@ = unit de mesure de X et Xo.
Quelques exemples sont donns dans le tableau
suivant (cf. fig. 2 ).

Niveau

Susceptibilit des matriels

(distribution statistique)
Niveau d'immunit
(valeur d'essai spcifie)

Niveau de compatibilit
(valeur conventionnelle)
Niveau d'mission
(distribution statistique)
Distribution statistique

fig. 1 : positionnement des niveaux en Compatibilit

lectromagntique.

Rapports des
amplitudes X/Xo
1
1,12
1,25
1,41
2
3,2
4
5
10
100
1000

dB
0
1
2
3
6
10
12
14
20
40
60

fig. 2 : rapports d'amplitude exprims en dB.

La CEM : la compatibilit
lectromagntique
La CEM est prise en compte ds l'tude pour la fabrication des matriels
lectrotechniques. Elle doit aussi tre applique leur mise en uvre.
Ainsi, de l'architecte concepteur des btiments jusqu'aux cbleurs
d'armoires, sans oublier les ingnieurs d'tudes de rseaux et les
installateurs, tous sont concerns par cette discipline de paix ; discipline
ayant pour objectif de faire cohabiter en bonne harmonie des matriels
susceptibles d'tre perturbs et/ou d'tre metteurs de perturbations.
Ce Cahier Technique, ralis partir d'une longue exprience acquise au
sein de Schneider Electric, prsente les perturbations rencontres et
quelques solutions pratiques.

Sommaire
1 Introduction

2 La source

3 Le couplage

4 La victime
5 L'installation

6 Normes, moyens d'essais et essais

1.1 La Compatibilit Electromagntique - CEM - est un fait,

mais aussi une discipline
1.2 Aujourd'hui la CEM est indispensable
1.3 Sa thorie est complexe
2.1 Il est important de bien la connatre
2.2 Un exemple de sources permanentes de perturbations conduites
2.3 Un exemple de sources de perturbations rayonnes
3.1 Diffrents modes de couplage existent
3.2 Le couplage champ cble, en mode commun ou diffrentiel
3.3 Le couplage par impdance commune
3.4 Le couplage cble cble en mode diffrentiel ou diaphonie
4.1 Les dfauts de fonctionnement
4.2 Des solutions
5.1 L'installation est un paramtre important dans la CEM globale
d'un systme
5.2 A sa conception
5.3 A sa ralisation
5.4 Des exemples pratiques
6.1 Les normes
6.2 Les moyens d'essais
6.3 Les essais

7 Conclusion
Annexe 1 : Impdance d'un conducteur en haute frquence
Annexe 2 : Les diffrentes parties d'un cble
Annexe 3 : Essais raliss aux laboratoires CEM du Groupe Schneider
Annexe 4 : Bibliographie

p. 4
p. 4
p. 5
p. 6
p. 7
p. 8
p. 10
p. 10
p. 12
p. 12
p. 14
p. 14
p. 17
p. 17
p. 18
p. 18
p. 20
p. 20
p. 21
p. 27
p. 28
p. 29
p. 30
p. 32

Cahier Technique Schneider n 149 / p.3

1 Introduction

1.1 La Compatibilit lectromagntique - CEM - est un fait,

mais aussi une discipline
Elle est le fait, pour des quipements ou
systmes, de supporter mutuellement leurs
effets lectromagntiques.
Selon le vocabulaire lectrotechnique
international VEI 161-01-07, la CEM est la
capacit dun dispositif, quipement ou systme,
fonctionner de manire satisfaisante dans son
environnement lectromagntique sans

introduire de perturbations intolrables pour quoi

que ce soit dans cet environnement.
Cette dfinition est galement celle adopte par
la norme NF C 15-100, chapitre 33.
Elle est maintenant une discipline, celle
damliorer la cohabitation entre des lments
susceptibles dmettre des perturbations
lectromagntiques et/ou dy tre sensibles.

1.2 Aujourdhui la CEM est indispensable

De fait depuis toujours, tout appareil est soumis
diverses perturbations lectromagntiques,
et tout appareil lectrique en gnre peu ou
prou.

phnomnes indsirables ; le brouillage des

ondes radio et les interfrences des missions
radiolectriques dans les systmes de
contrle-commande en sont deux exemples.

Ces perturbations sont gnres de multiples

manires. A la base, leurs faits gnrateurs sont
principalement des variations brusques de
grandeurs lectriques, tension ou courant.

Ces dernires annes, plusieurs facteurs se sont

conjugus pour augmenter limportance de la
CEM :
c les perturbations sont de plus en plus
importantes car U et I augmentent,
c les circuits lectroniques sont de plus en plus
sensibles,
c les distances entre les circuits sensibles
(souvent lectroniques) et les circuits
perturbateurs (de puissance), se rduisent.

Une prsentation des perturbations lectriques

les plus courantes (cf. fig. 3 ) dans le domaine
lectrotechnique basse tension est faite dans le
Cahier Technique n 141. Le Cahier Technique
n 143 traite par ailleurs des perturbations dues
aux manuvres de lappareillage MT - Moyenne
Tension.
Ces perturbations peuvent se propager, par
conduction le long des fils et cbles, ou par
rayonnement sous forme dondes
lectromagntiques. Elles engendrent des

Classes
Energtiques

Types
Creux de tension

Frquences moyennes

Harmoniques

Hautes frquences

Surtensions

Dcharges lectrostatiques

Fig. 3 : les perturbations lectriques les plus courantes.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.4

Merlin Gerin a d, pour dvelopper ses

nouveaux produits, approfondir puis mettre en
application cette discipline quest la CEM. En
effet, dans lappareillage lectrique moderne se
ctoient troitement courants faibles et courants

Origines
c Permutation de sources
c Court-circuit
c Dmarrage de moteurs de forte puissance
c Systmes semi-conducteurs de puissance
c Fours arc
c Coups de foudre directs ou indirects
c Manuvres d'appareils de commande
c Coupure de courants de court-circuit par
des appareils de protection
Dcharges de l'lectricit statique accumule
par une personne

forts, lectronique de contrle-commande et

lectronique de puissance, lectronique de
protection et appareillage lectrique de
puissance.
La CEM est donc un critre fondamental
prendre en compte dans toutes les phases de
dveloppement et de fabrication des produits
(cf. fig. 4 ), mais aussi dans les phases
dinstallation et de cblage.
La CEM est dailleurs maintenant prise en
compte dans les normes et devient une
contrainte lgislative.
Lexprience et les ralisations du
Groupe Schneider ne se limitent pas la
matrise du bon fonctionnement de tout systme
lectrique et/ou lectronique dans un
environnement lectromagntique habituel : par
exemple, Merlin Gerin tudie et ralise aussi des
quipements capables de rsister
lenvironnement lectromagntique le plus
contraignant, celui des IEM - HA - Impulsions
ElectroMagntiques dorigine nuclaire en Haute
Altitude.
Pour cela, le durcissement, ou amlioration de la
tenue des systmes soumis des impulsions
lectromagntiques dorigine nuclaire,
ncessite la mise en uvre des techniques les
plus performantes de la CEM.

Fig. 4 : un exemple d'application de la CEM : une

cellule MT SM6 intgre un disjoncteur qui coupe
des centaines d'ampres sous quelques dizaines de
kilovolts, et une unit programmable SEPAM de
protection et de contrle-commande. L'ensemble doit
toujours tre oprationnel, sans alas.

1.3 Sa thorie est complexe

Toute approche de la CEM conduit ltude dun
systme trois composantes :
c le gnrateur de perturbations ou source,
c la propagation ou couplage,
c et llment qui subit ou victime.
Bien que ces trois composantes ne soient pas
strictement indpendantes, dans la pratique elles
sont supposes comme telles.
A noter que linstallation qui sera aborde au
chapitre n 5, a un rle prpondrant dans la
propagation des perturbations.
Cette tude thorique est difficile, car elle
impose celle de la propagation des ondes

lectromagntiques rgie par un ensemble

dquations diffrentielles complexes : les
quations de Maxwell. Leur rsolution nest
gnralement pas possible de faon exacte dans
des structures physiques relles, et mme avec
des moyens informatiques trs performants, une
rsolution numrique approche est galement
trs difficile.
En pratique il faut donc traiter les problmes de
compatibilit lectromagntique en faisant un
certain nombre dhypothses simplificatrices, en
utilisant des modles, et surtout en ayant un
recours constant lexprimentation et la
mesure.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.5

2 La source

2.1 Il est important de bien la connatre

La connaissance, ou plus exactement
lidentification et la mesure, des sources est
indispensable car elle permet darrter le choix
des solutions mettre en uvre pour :

une dcharge lectrique qui peut pntrer dans

lappareil par conduction et par rayonnement, et
dont le temps de monte trs court (quelques
nanosecondes) est trs perturbateur.

c limiter leur perturbation (placer un bloc

antiparasite RC en parallle sur la bobine CA, ou
une diode sur la bobine CC, dun contacteur par
exemple),

Principales caractristiques de ces

perturbations

c viter les couplages (carter deux lments

difficilement compatibles par exemple),
c et insensibiliser les victimes potentielles
(utiliser des blindages par exemple).
Ses principales causes
Tout appareil ou phnomne physico-lectrique
qui met une perturbation lectromagntique,
par conduction ou par rayonnement, est qualifi
de source. Parmi les principales causes de
perturbations, il faut relever : la distribution
dnergie lectrique, les ondes hertziennes, les
dcharges lectrostatiques et la foudre.
c Dans la distribution dnergie lectrique un
grand nombre de perturbations proviennent de
manuvres de fermeture et douverture des
circuits :
v en basse tension, les ouvertures des circuits
inductifs comme les bobines de contacteurs, les
moteurs, les lectrovannes produisent aux
bornes des bobines des surtensions trs leves
et riches en hautes frquences (quelques kV et
des dizaines, voire centaines de MHz),
v en moyenne et haute tension louverture et la
fermeture des sectionneurs provoquent
lapparition dondes front trs raide (quelques
nanosecondes). Ces ondes sont particulirement
perturbantes pour les systmes
microprocesseur.
c Les ondes hertziennes provenant des
systmes de tlsurveillance, de tlcommande,
radio communication, tlvision, talkie-walkie,
sont, pour certains quipements lectroniques,
des sources de perturbation de lordre de
quelques volts par mtre. Tous ces metteurs
sont de nos jours de plus en plus utiliss et
conduisent durcir (protger) ces quipements.
c Enfin, lhomme peut se charger
lectrostatiquement ; par exemple en marchant
sur de la moquette.
Par temps froid et sec, son corps peut atteindre
un potentiel suprieur 25 kV ! Tout contact
avec un quipement lectronique provoque alors

Cahier Technique Schneider n 149 / p.6

Ces sources de perturbations peuvent tre

intentionnelles (metteur radio) ou non
intentionnelles (soudeuse). Mais dune faon
gnrale elles se distinguent par les caractristiques des perturbations quelles induisent :
v le spectre,
v la forme donde, ou le temps de monte, ou
lenveloppe spectrale,
v lamplitude,
v lnergie.
c Le spectre, ou bande de frquences couverte
par les perturbations peut tre trs troit, cas
des radiotlphones, ou au contraire large, four
arc par exemple.
Les perturbations impulsionnelles ont en
particulier un spectre trs large, pouvant aller
jusqu la centaine de MHz (cf. fig. 5 ). Nous
trouvons dans cette dernire catgorie essentiellement les perturbations ayant pour source :
v des dcharges lectrostatiques,
v le fonctionnement dappareillage tels que
relais, sectionneurs, contacteurs, interrupteurs et
disjoncteurs, en BT et en MT/HT,
v et enfin dans un domaine plus spcifique
les Impulsions ElectroMagntiques Nuclaires
(I.E.M.N.).
Les couplages tant directement fonction de la
frquence, la reprsentation frquentielle des
perturbations lectromagntiques est
couramment utilise en CEM.
Cette reprsentation sapparente, pour un
signal rptitif, sa dcomposition en srie de
Fourier (comme une somme dharmoniques).
c La forme donde est caractristique de lallure
temporelle de la perturbation, sinusodale
amortie ou bi-exponentielle par exemple. Elle
sexprime sous la forme dun temps de monte
tm, dune frquence quivalente ce temps de
monte (0,35 / tm), ou simplement de la
frquence de la perturbation si elle est bande
troite, ou enfin sous la forme dune longueur
donde qui se ramne la frquence f par la
relation = c/f o c est la clrit de la lumire
(3.108 m.s-1).

c Lamplitude est la valeur maximale atteinte par

le signal, tension (volt), champ lectrique
(volt/mtre),.

c Lnergie de la perturbation est lintgrale de

sa puisance sur toute la dure de cette
perturbation (Joule).

Cas dun signal radio

Densit
spectrale

Amplitude
de la
perturbation
0

Bande troite

Temps
0

Frquence

1/T

Cas dun effet indirect de coup de foudre

Amplitude
de la
perturbation

Densit
spectrale
Bande large

tm

Temps

Frquence

0,35 / tm

Fig. 5 : exemple de catactristiques spectrales de perturbations.

2.2 Un exemple de sources permanentes de perturbations conduites

en lectronique de puissance
En lectronique de puissance, les sources de
perturbations sont principalement les transitoires
de tension, plus rarement de courant. La tension
peut varier de plusieurs centaines de volts en
quelques dizaines de nanosecondes, ce qui

reprsente des dV/dt suprieurs 10+9 V/s. Par

exemple, la technique de dcoupage par
Modulation de Largeur dImpulsions (MLI)
(cf. fig. 6 ) utilise pour constituer une tension
sinusodale partir dune tension continue,

a)

b)

tm

td

Ucc

U
Ucc

Uca

be

ur
Co

nd

rtio

(po

Uc

e)

od

us
sin

Fig. 6 : une source de perturbations dans les quipements d'lectronique de puissance : la technique de
dcoupage par modulation de largeur d'implusions.
a : principe,
b : une impulsion fortement agrandie, (chelle dilate de t), la portion de sinusode est disproportionne car elle
s'tale sur 20 ms ; tm 2 3 td (10 ns 1 s).

Cahier Technique Schneider n 149 / p.7

ncessite des variations de tension entre 0 et

Ucc (660 V en triphas-redress) avec des
temps trs brefs de quelques nanosecondes
microsecondes selon les technologies.
Ces variations brusques de tension engendrent
divers phnomnes perturbateurs, dont par
exprience le plus gnant est la circulation de
courant travers toutes les capacits parasites.
En ne tenant compte que de la capacit parasite
Cp, le courant IMC = Cp.dV/dT.
Il suffit donc, avec les valeurs de fronts voqus
prcdemment, dune capacit parasite de
100 pF pour gnrer des courants de plusieurs
centaines de mA. Ce courant perturbateur va
circuler dans le conducteur de rfrence de
tension de llectronique (circuit 0 V) et peut
modifier des commandes (informations ou
ordres), se superposer des mesures sensibles,
voire gner dautres exploitants en tant
rinject sur le rseau de distribution publique.
Prendre en compte ce type de phnomne, donc
matriser la CEM, pourrait consister ralentir la
monte de la tension. Mais une telle solution
entranerait une augmentation sensible des
pertes par commutation dans les transistors et
serait donc trs dfavorable du point de vue des
contraintes thermiques. Une autre manire
efficace de rduire ces courants est daugmenter
limpdance de mode commun (entre structures
et masse). Ainsi par exemple, pour le montage
des composants lectroniques de puissance,
deux solutions sont couramment utilises :
c soit laisser flottants (sans liaison lectrique) les
radiateurs de refroidissement des composants
(cf. fig. 7 ), quand les rgles de scurit des
personnes le permettent,
c soit diminuer la capacit parasite entre le
composant et son radiateur, par lutilisation dun
isolant constante dilectrique faible (cf. fig. 8 ).
Autant de prcautions qui feront la diffrence
entre un convertisseur pollueur et un
convertisseur rinjectant sur le rseau des
perturbations minimales.
Il faut noter que llectronique bas niveau du
convertisseur doit tre, et est, protge contre

les perturbations gnres par ses propres

circuits de puissance.
La comprhension et la matrise du phnomne
la source sont ncessaires pour une limitation
efficace et conomique de lmission conduite.
Il existe dautres sources de perturbations
conduites, occurrence faible telles que la
foudre et les surtensions de manuvre ;
capables de gnrer des dV/dt et dI/dt
importants. Ces perturbations sont galement
gnratrices de champs rayonns.

,
,
,
,

Isolant
Semi-conducteur

Radiateur

Cp

Masse

IMC

Fig. 7 : la capacit parasite du radiateur de

refroidissement des composants lectroniques, un
lment pris en compte dans la conception des bras
d'onduleur .

Rondelle isolante
pour botier TO3
Mica
Plastique
Alumine

Epaisseur
(mm)
0,1
0,2
2

Capacit parasite
(pF)
160
95
22

Fig. 8 : capacits parasites typiques des principaux

isolants utiliss pour le montage des composants
lectroniques.

2.3 Un exemple de sources de perturbations

rayonnes : la fermeture dappareillage dans les
postes moyenne tension et trs haute tension
Lenvironnement dans les postes,
particulirement en moyenne tension et en trs
haute tension, peut comporter des champs
lectromagntiques impulsionnels trs intenses.
Certaines manuvres dappareillage gnrent
des variations de tension bien suprieures aux
tensions nominales en des temps extrmement
courts. A la fermeture dun interrupteur 24 kV par
exemple, les claquages dits de pramorage
font varier la tension de plusieurs dizaines de kV

Cahier Technique Schneider n 149 / p.8

en quelques nanosecondes (10-9 s). Des

prcisions sont apportes ce sujet dans le
Cahier Technique n 153 Disjoncteurs au
SF6 Fluarc et protection des moteurs MT .
Des mesures effectues dans les laboratoires
Schneider ont montr qu un mtre dune
cellule moyenne tension 24 kV en manuvre,
des champs impulsionnels sinusodaux amortis
atteignent une valeur crte de 7,7 kV/m et une
frquence de 80 MHz. Ces valeurs de champ

sont extrmement importantes. A titre de

comparaison, un metteur radio portatif de 1 W
(du type talkie-walkie) gnre, un mtre de son
antenne, des champs de lordre de 3 5 V/m.
Ces variations se propagent le long des
conducteurs, jeux de barres, cbles, lignes
ariennes. Etant donnes les frquences mises
en jeu, autrement dit la rapidit du phnomne,
les structures conductrices (jeux de barres) sont
de vritables antennes rayonnantes.
Et les champs lectromagntiques quelles
gnrent ont des caractristiques qui dpendent
fortement de lenvironnement physique
notamment des enveloppes mtalliques
(cloisonnements, cellules).
Dans les postes blinds trs haute tension, les
champs lectromagntiques sont
particulirement importants. Les postes blinds
isols au SF6 sont structure coaxiale, et
prsentent donc une impdance caractristique

constante. Lors de brusques variations de

tension, il se cre alors lintrieur des
enveloppes mtalliques tubulaires des
phnomnes dondes stationnaires. Celles-ci
sont dues aux rflexions sur les ruptures
dimpdances que reprsentent par exemple les
cnes de traverse de sortie du blindage.
Lamplitude et la dure du phnomne sen
trouvent ainsi augmentes.
Lenvironnement lectromagntique de la
moyenne la trs haute tension demande donc
des tudes pousses de compatibilit
lectromagntique pour le dveloppement,
linstallation des relayages et des dispositifs de
contrle-commande. Ceci dautant plus que les
perturbations rayonnes ne sont pas les seules
perturbations gnres dans les postes qui sont
galement sources des transitoires conduits de
tension voqus au dbut de ce paragraphe
(cf. fig. 9 ).

Fig. 9 : SEPAM et unit de contrle de Masterpact ; des appareils de protection MT et BT, de contrle-commande,
lectronique numrique, dvelopps par Schneider et conus en tenant compte des tudes de CEM.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.9

3 Le couplage

3.1 Diffrents modes de couplage existent

Par couplage il faut comprendre liaison, passage
ou transmission des perturbations
lectromagntiques de la source vers la victime.
Le couplage est caractris par un cfficient k f
dit de couplage, exprim en dB (-75 dB par
exemple), pouvant tre dfini comme lefficacit
de transmission dune perturbation de la source
la victime potentielle (k = 20 log A reue/A mise,
avec A amplitude de la perturbation).
Dfinir ce coefficient est important dans la
connaissance de la CEM, car plus il est faible

(plus sa valeur absolue en dcibel est

importante), plus la perturbation effectivement
reue par la victime potentielle est faible, et
meilleure est la CEM.
Trois modes de couplage sont classiquement
distingus :
c le couplage champ cble, en mode commun
ou diffrentiel,
c le couplage par impdance commune,
c le couplage cble cble en mode diffrentiel
ou diaphonie.

3.2 Le couplage champ cble, en mode commun ou diffrentiel

Un champ lectromagntique peut se coupler
sur toute structure filaire, donc tout cble, et
gnrer sur ces structures des tensions soit en
mode commun (par rapport la masse), soit en
mode diffrentiel (entre fils), soit et dailleurs plus
gnralement les deux. Ces couplages sont
appels champ cble, cest leffet dantenne
des fileries, des pistes de circuits imprims etc.
c Les couplages en mode commun sont donc
ceux qui mettent en uvre des perturbations de
type tension ou courant de mode commun.

,,,,
,,,,
,,,,
,,,,
,,,,
,,,,
,,,,
,,,,

Une tension conduite de mode commun (VMC)

est une tension qui sapplique lensemble des
conducteurs actifs. Elle est rfrence par
rapport la masse ou par rapport la terre (cas
habituel en lectrotechnique) : ainsi les essais
disolement de mode commun, des disjoncteurs
basse tension, se font entre toutes les phases
relies et la terre.
Un courant de mode commun (IMC) est un
courant qui parcourt tous les conducteurs actifs
dans le mme sens (cf fig. 10 ). Le courant

IMC

Cp

Gnrateur de
perturbations

PE

,,,
,,,
,,,
,,,
,,,
,,,
,,,
,,,
Cp

VMC

IMC

Fig. 10 : tension et courant de mode commun entre deux relais d'un caisson d'appareillage basse tension d'une
cellule moyenne tension.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.10

induit par un choc de foudre sur une ligne BT est

un courant de mode commun.

verrait en transitoire une tension induite en srie

gale 15 V.

c Les couplages de mode diffrentiel concernent

des tensions ou courants au sens classique du
terme, par exemple entre les deux phases dun
disjoncteur ou entre les deux fils qui amnent un
signal de mesure llectronique.

Cette loi est considre comme correcte tant

que la plus grande dimension de la boucle
nexcde pas un dixime de la longueur donde
de la perturbation.
Il faut rappeler ici, quune telle boucle
(cf. fig. 12 ) est vite ralise dans le caisson
relayage avec les fils vert-jaune lorsquils sont
relis en toile la masse.

Les quations qui rgissent le couplage entre

un champ lectromagntique dimpdance
donde quelconque et une structure filaire, qui
peut elle aussi tre quelconque, sont trs
complexes.
Dans la plupart des cas, elles ne peuvent tre
rsolues ni analytiquement, ni mme
numriquement.
Cependant lun de ces couplages, simple et des
plus frquents, peut sexprimer de manire
analytique, il sagit du couplage entre la
composante magntique dun champ
lectromagntique et une boucle de surface S
forme par des conducteurs (cf. fig. 11 ).
La composante magntique H du champ induit
en srie dans la boucle une tension gale :
e = 0 S dH/dt,
avec 0 = la permabilit du vide (4 10-7 H/m).
Ainsi, par exemple, dans un poste moyenne
tension, la boucle (dun fil ou dun cble) de
100 cm2 place 1 m dune cellule (cf. fig. 12 ),
qui serait soumise un champ impulsionnel de
5,5 kVeff/m (valeur mesure en laboratoire) ,

,,,
,,,
,,,
,,,
,,,
,,,
0 volt

E
Champ
lectromagntique
H

Surface soumise
au champ
lectromagntique

e
e = tension induite par le champ
lectromagntique

Fig. 11 : un exemple de couplage champ cble de

mode diffrentiel.

,,,
,,,
,,,
,,,
,,,
,,,
0 volt

Masse de la cellule

Fig. 12 : exemple de boucle de masse dans un caisson d'appareillage basse tension d'une cellule moyenne
tension.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.11

3.3 Le couplage par impdance commune

Circuit A d'alimentation
+

Z commune

I alimentation
+ I mesure

0 volt

entre

Circuit B de mesure

Fig. 13 : les mesures effectues par l'amplificateur oprationnel seront errones car un courant perturbateur dans
le circuit A (d'alimentation) suffit pour crer dans le circuit B (de mesure) des tensions perturbatrices.

Comme son nom lindique, le couplage par impdance commune rsulte de la prsence dune
impdance commune deux ou plusieurs circuits.
Cette impdance commune peut tre la liaison de
masse, le rseau de terre, le rseau de distribution
dnergie, le conducteur de retour de plusieurs
signaux dans une mme liaison courant faible, etc.
Voici un exemple (cf. fig. 13 ) permettant de
comprendre toute limportance de ce mode de
couplage : un courant perturbateur dans un circuit
A de lordre de la dizaine de mA suffit pour crer
dans un circuit B des tensions perturbatrices de
plusieurs volts. Le circuit de mesure devrait avoir
pour rfrence le point M et non le point A. Ceci
peut assurment tre gnant avec des
lectroniques circuits intgrs travaillant sous
des tensions du mme ordre de grandeur.
Dans cet exemple, limpdance commune peut
tre les quelques mtres dun cble commun
aux deux circuits A et B.
La perturbation a alors une valeur Uc, telle que
Uc = Ia Zc, avec :
c Ia : courant perturbateur,
c Zc : impdance commune (cf. fig. 14 ).
La valeur de limpdance commune est
gnralement extrmement faible en basse
frquence. Pour un rseau de terre par exemple,

i1

Z1

i2

Zc

Z2

Uc

Ia = i1 + i2
E1
Circuit
alimentation

E2
Circuit
mesure

Fig. 14 : schma d'impdance commune.

la scurit impose des valeurs minimales de

section des conducteurs de protection en fonction
du rgime du neutre. La valeur de limpdance
50 Hz entre deux points du rseau de masse est
donc toujours trs infrieure 1 .
Mais il importe ici de considrer la valeur de
cette mme impdance aux frquences caractristiques des phnomnes perturbateurs dcrits
prcdemment. Et la valeur de cette impdance
prend alors des valeurs beaucoup plus importantes, plusieurs k voire plus (cf. annexe 1).

3.4 Le couplage cble cble en mode diffrentiel ou diaphonie

La diaphonie est un mode de couplage qui se
rapproche du couplage champ cble. Et, selon
quelle a pour origine une variation de tension ou
une variation de courant, elle est nomme
diaphonie capacitive ou diaphonie inductive.
Une variation brusque de tension entre un fil et
un plan de masse ou entre deux fils (cf. fig. 15 )
gnre un champ qui peut tre faible distance,
moyennant certaines approximations, considr

Cahier Technique Schneider n 149 / p.12

comme principalement lectrique. Ce champ peut

se coupler dans une autre structure filaire qui lui
est parallle. Cest la diaphonie capacitive.
De la mme manire, une variation de courant
dans un fil ou cble gnre un champ lectromagntique qui, moyennant les mmes approximations, peut tre considr comme purement
magntique. Ce champ peut alors se coupler
dans une paire et induit une tension

perturbatrice. Cest la diaphonie inductive

(cf. fig. 16 ).
En fait, diaphonie capacitive et diaphonie
inductive interviennent ds que des conducteurs
ont un cheminement parallle et proche. Elles
sont donc susceptibles de sappliquer dans tout
chemin de cbles ou goulotte, et tout particulirement entre les cbles de puissance vhiculant
en mode diffrentiel des perturbations HF et les
paires de fils dun rseau vhiculant des
signaux numriques. De plus, elles sont dautant
plus efficaces que la longueur des fils circulant
paralllement est grande, que lcartement des
fils ou paires est faible, et que la frquence des
phnomnes est leve. Par exemple pour la
diaphonie capacitive et avec les notations de
la figure 15 , le coefficient de couplage, en
tension, sexprime de la manire suivante :
C12

j 2f

C
C
+
VN
20
12
=
V1

1
j 2f +

R
C
C
+
( 12
20 )
avec :
c V1, tension source,
c VN, tension perturbatrice induite par le
couplage,
c C12, capacit de transfert entre les deux fils,
proportionnelle la longueur des fils et un
coefficient approch gal Log[1+(h/e)2] o h
est lcartement entre les deux fils de la paire, et
e lcartement entre les paires,
c C20, capacit de fuite entre les deux fils de la
paire perturbe,
c R, impdance de charge de la paire perturbe.
Dans cette formule le premier terme du
dnominateur est gnralement ngligeable par
rapport au deuxime terme. On peut donc crire
en premire approximation que :
C12
C12 + C20
VN
2f
1
V1
R (C12 + C20 )
= 2f R C12
= R C12
Pour fixer les ides, considrons deux paires de
fils cheminant paralllement sur 10 m, avec
h = 1 cm, e = 2 cm et R = 1 k. Le calcul donne
pour un signal 1 MHz, un coefficient de
couplage de -22 dB soit :
VN
1
=
V1
12

C12

R
h

V1

C20

VN

Fig. 15 : une variation brusque de tension V1 entre

deux fils gnre un champ qui, faible distance, peut
tre considr comme principalement lectrique, et
induire une tension VN dans une autre structure filaire
qui lui est parallle ; ce mode de couplage est appel
diaphonie capacitive.

Cble
(puissance)
H

paire de fils
(bas niveau)

Fig. 16 : une variation de courant dans un cble

gnre un champ lectromagntique qui, faible
distance, peut tre considr comme purement
magntique et induit alors une tension perturbatrice
dans des fils formant une boucle ; ce mode de
couplage est appel diaphonie inductive.

Dans la ralit, les couplages capacitifs et

inductifs de ce type sont considrablement
rduits par lutilisation de paires torsades, voire
blindes.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.13

4 La victime

La victime, dans la trilogie source/couplage/

victime, reprsente tout matriel susceptible
dtre perturb.
Il sagit gnralement dun quipement
comprenant une partie lectronique, qui

prsente un dysfonctionnement d la prsence

de perturbations lectromagntiques
gnralement d'origine extrieure
l'quipement.

4.1 Les dfauts de fonctionnement

Ils sont classs en quatre types :
c permanent et mesurable,
c alatoire non rptitif survenant lors de
lapparition des perturbations,
c alatoire non rptitif persistant aprs
lapparition des perturbations,
c dfaut permanent subi par lquipement
(destruction de composant(s)).
Ces quatre types sont caractristiques de la
durabilit dun dfaut, mais ils ne caractrisent
pas sa gravit.

La gravit dun dfaut est un critre dpendant

de la fonctionnalit, de la criticit de chaque
quipement.
Certains dfauts peuvent tre temporairement
accepts, telle une perte momentane
daffichage ; dautres sont inacceptables :
appareillage de scurit ne remplissant plus sa
fonction.

De nombreuses dispositions constructives

permettent davoir cots rduits des matriels
prsentant une bonne tenue aux perturbations
lectromagntiques. Ces prcautions
concernent :
c la conception des circuits imprims (leur
dcoupage fonctionnel, leur trac, leur
connectique),
c le choix des composants lectroniques,
c la ralisation des enveloppes,
c linterconnexion des masses,
c le cblage.
Ces choix concernent de nombreux
intervenants, ils doivent donc tre faits au stade
de ltude pour viter des surcots toujours
importants en cas de modifications en fin de
conception, voire aprs la mise sur le march.
La mise en uvre de toutes ces prcautions
demande un savoir-faire qui dpasse les actions
de filtrage et de blindage, souvent prconises
pour durcir un matriel aprs coup mme si leur
efficacit nest nullement remise en cause.

leur proximit ; par exemple le regroupement

des circuits par type : numrique - analogique puissance, en fonction de leur susceptibilit
rduit leurs interfrences.

4.2 Des solutions

La conception des circuits imprims

Lors du dessin des cartes, un certain nombre de
rgles sont respecter. Ces rgles concernent
le dcoupage fonctionnel des cartes et le trac
des pistes.
Tout dabord limplantation, il est dj possible
de rduire les couplages entre composants dus

Cahier Technique Schneider n 149 / p.14

D'autre part le trac des pistes (routage) sur un

circuit imprim a une incidence importante sur la
susceptibilit dune carte : le mme schma
lectrique, implant de diffrentes manires aura
une immunit aux perturbations pouvant varier
dun facteur un plusieurs dizaines. Par
exemple un trac des circuits langlaise
(cf. fig. 17 ) en retirant le minimum de cuivre
rduit leur rayonnement et leur sensibilit.
Le choix des composants lectroniques
De nombreux composants permettent dassurer
une protection efficace contre les perturbations
conduites. Le choix de ces composants est
guid par la puissance des circuits protger
(alimentation, contrle-commande,), et en
fonction du type de perturbations. Ainsi, contre
les perturbations de mode commun sur un circuit
de puissance, un transformateur sera utilis si
elles sont de basses frquences (< 1 kHz), et un
filtre sera prfr pour les hautes frquences.
Le tableau de la figure 18 donne une liste non
exhaustive de composants de protection. Tous
ne sont pas quivalents : un filtre ne protge pas
des surtensions, et un parasurtenseur nlimine
pas les perturbations HF.

La ralisation des enveloppes

La ralisation dune enveloppe conductrice
(blindage) autour des quipements sensibles est
un moyen de les protger contre les champs
lectro-magntiques.
Pour une bonne efficacit, l'paisseur du matriau
conducteur utilis doit dpasser la valeur de son

paisseur de peau aux frquences perturbatrices

considres (cf. fig. 19 ). Face une perturbation,
trs haute frquence ou un champ lectrique, un
vernis conducteur peut tre utilis avec efficacit.
Mais seule une enveloppe en matriaux forte
permabilit permet d'arrter les champs
magntiques en BF.

0 volt

Trac circuits fins

Trac l'anglaise

Trac avec plan de masse

Fig. 17 : le trac des circuits peut rduire la susceptibilit d'une carte : soit par minimisation des impdances (trac
l'anglaise), soit par rduction des couplages dus au champ lectromagntique (trac avec plan de masse).

Types
Parasurtenseur
Composants pour
filtrage
Composants
pour blindage

Exemples
Eclateur, parafoudre, limiteur
Varistance, diode Zener
Transformateur, inductance,
condensateur, filtre
Grillage, plan de masse,
cble blind, joint hyperfrquence,
doigt de contact

Applications
Installation, alimentation, contrle-commande
Circuits lectroniques
Alimentation, contrle-commande
(installations et circuits lectroniques)
Transmission d'information
(armoire en site perturb)

Fig. 18 : liste de composants de protection.

Onde
incidente

Conductivit
( -1. m -1)

Absorption

Rflexion

Transmission

Epaisseur de l'enveloppe

Epaisseur de peau : =

1
2

Epaisseur
de tle

Fig. 19 : phnomne cran d'une enveloppe mtallique.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.15

L'interconnexion des masses

Dans ce domaine, la continuit lectrique entre
les diffrentes parties du botier est extrmement
importante. Leur connexion doit tre ralise
avec soin, par exemple en protgeant leurs
zones de contact de tout dpt de peinture, mais
aussi en utilisant des tresses larges et courtes
(recherche dune rduction maximale de leur
impdance).
Le cblage
De mme, le blindage des cbles, parfois appel
cran (cf. vocabulaire des cbliers), est une
extension de lenveloppe conductrice ralise
autour de lquipement sensible. Il est donc reli
celle-ci au plus court, et si possible sur toute
sa circonfrence pour une protection contre des
perturbations de frquences leves.
Tout comme les couplages entre un champ
lectromagntique et une structure filaire
(cf. paragraphe 3), la thorie sur le blindage des
cbles, trs complexe, est difficilement
abordable dans le cadre de ce document. Des
ouvrages de rfrence sont cits dans la
bibliographie.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.16

La prise en compte de toutes ces rgles de

conception et de ralisation permet au produit ou
au systme davoir une immunit aux
perturbations lectromagntiques suffisante
compte tenu du milieu dans lequel il est plac.
Cependant, cette immunit ne peut tre valide
quexprimentalement par des mesures qui
permettent alors de quantifier lefficacit des
diffrentes solutions. Ainsi par exemple, chez
Merlin Gerin, les diffrentes maquettes des
projets de dclencheurs lectroniques des
disjoncteurs sont soumises un ensemble
dessais svres, reprsentatifs des
perturbations maximales auxquelles pourront
tre soumis ces dclencheurs.
Lobjectif final de ces essais tant de vrifier que
le dclencheur nengendre pas de
dclenchement intempestif et que le disjoncteur
ouvre bien, lorsquil le doit, dans le temps requis.
Les normes produits intgrent maintenant ces
contraintes, c'est le cas, par exemple des normes :
c CEI 947-2, concernant les disjoncteurs
industriels,
c CEI 1131-2, relative aux automates
programmables.

5 Linstallation

5.1 Linstallation est un paramtre important dans la

CEM globale dun systme
Pour preuve, la norme NF C 15-100, norme
gnrale dinstallation en BT, consacre la
compatibilit lectromagntique un chapitre
complet, le chapitre 33.

Les deux chapitres prcdents dmontrent bien

limportance que peut avoir linstallation dans les
phnomnes de CEM, et cela de par sa
conception comme de sa ralisation.

5.2 A sa conception
Lors des tudes et des implantations deux
facteurs peuvent tout particulirement influencer
la CEM : le choix des matriels et leurs
dispositions relatives (cf. fig. 20 ).
Car le premier facteur concerne tout la fois la
slection des sources et des victimes : un
appareil choisi pour une fonction donne peut
tre plus ou moins gnrateur de perturbations
et/ou susceptible.
Par exemple, si deux appareils doivent fonctionner proximit lun de lautre, ils devront :
c soit associer une source faiblement
perturbatrice et une victime ordinaire
(moyennement sensible),

c soit au contraire associer une source

ordinaire (moyennement perturbatrice) et
une victime peu sensible,
c ou du moins satisfaire un compromis entre
ces deux extrmes.
Et le second facteur directement dpendant du
premier consiste positionner les matriels, dj
dfinis et selon leurs caractristiques relatives,
pour satisfaire aux besoins de CEM.
Il est ais de comprendre que cette slection
doit alors prendre en compte les cots des
matriels, mais aussi ceux de leur mise en
uvre.

,,,
,,,

Basse tension ateliers

tableau de distribution

Basse tension machines

tableau avec transformateur
de sparation

Laboratoire

Machines
souder

Fabrication

Poste de livraison MT/BT

tableau gnral basse tension

yyyyy
,,,,,
,,,,,
yyyyy
,,,,
yyyy

Service commercial
Service informatique

Basse tension bureaux

tableau de distribution et
alimentation statique sans interruption

Fig. 20 : exemple d'une implantation d'quipements lectriques tenant compte de la CEM.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.17

5.3 A sa ralisation
La mise en uvre des diffrents lments, dune
installation lectrique comme dun quipement
lectronique, obit aux principes dj noncs
dans les chapitres prcdents. Dans la pratique,
ce sont les diffrents modes de couplage
coexistant simultanment qui seront tudier et
rduire pour satisfaire aux objectifs de CEM.

Et pour cela diffrentes solutions ou techniques

devront tre utilises :
c le maillage des circuits et des rseaux de
masses et de terre,
c la sparation lectrique des circuits,
c un cblage bien pens.

5.4 Des exemples pratiques

Le maillage des circuits et des rseaux de
masses et de terre
Aujourdhui, les quipements sont sensibles
des nergies trs faibles, ils contiennent des
lectroniques sensibles aux hautes frquences
et ils sont interconnects. Les couplages par
impdance commune peuvent donc tre
frquents. Pour les viter, un rseau de terre
aussi quipotentiel que possible, pour tre plus
prcis maill, est indispensable.
Cette solution est lune des premires
protections prendre contre les perturbations.
Ainsi dans le rseau dune usine, tous les cbles
de protection (PE) sont interconnecter, relier
aux structures mtalliques existantes, comme le
prescrit la NF C 15-100 (cf. fig. 21 ).
De mme, dans un quipement, toutes les
masses et carcasses dappareillages sont
relier au plus court avec des raccords (fils ou
tresses) peu impdants en HF, larges et courts,
un rseau de masse maill.
Le cblage dune armoire lectrique en est un
exemple type : toutes les masses sont
interconnecter.
A ce sujet il faut noter un changement : le
principe des masses relies en toile, parfois
utilis avec les quipements lectroniques
analogiques sensibles la ronflette 50 Hz ,
est maintenant abandonn au profit des rseaux

maills beaucoup plus efficaces contre les

perturbations pouvant affecter les dispositifs
numriques actuels, relais de protection et
systmes de contrle-commande.
La sparation lectrique des circuits
Cette technique consiste sparer les sources
dnergie (habituellement 50 ou 60 Hz). Son but
est dviter la perturbation dun quipement
sensible par les perturbations conduites
gnres par dautres quipements connects
la mme source dalimentation. Son principe : un
quipement sensible et un quipement
perturbateur ont deux alimentations spares
par des impdances importantes aux frquences
perturbatrices.
Les transformateurs (et non pas
autotransformateurs) sont des sparateurs
efficaces, particulirement pour les basses
frquences : transformateurs MT/BT,
transformateurs disolement, et tous les
transformateurs dentre sur les lectroniques
sont des limiteurs de propagation des
perturbations conduites.
Il est parfois ncessaire dimplanter un filtre
sparateur pour liminer les perturbations HF.
Si, de plus, lquipement sensible ncessite une
alimentation secourue en cas de dfaillance

M
PE
PE

Fig. 21 : les maillages des circuits et des rseaux de masses et de terre sont trs souvent confondus dans les
armoires lectriques.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.18

secteur, il pourra tre aliment par une

Alimentation Sans Interruption (ASI), dans la
mesure o cette ASI comporte le ou les
transformateurs disolement ncessaires.
Un cblage bien pens
Enfin, les trois mcanismes de couplage dcrits
prcdemment seront limits si les chemins de
cblage sont raliss selon les rgles suivantes :
c Tous les circuits ne pouvant pas tre spars
les uns des autres pour des raisons
conomiques videntes, les cbles doivent tre
regroups par catgorie. Le cheminement des
diverses catgories sera physiquement spar :
en particulier seront rassembls les cbles de
puissance dun ct, les cbles bas niveau
(tlphonie, contrle-commande, ) de lautre.
Si le nombre de tranches, de chemins de
cbles ou de goulottes le permet, les cbles de
puissance, dintensit dpassant quelques
ampres sous 230 V, et les cbles bas niveau
cheminent dans deux passages diffrents.
Sinon, une distance minimale est respecter
entre les deux catgories, de lordre dune
vingtaine de centimtres (cf. fig. 22 ). Entre ces
deux catgories sera soigneusement vit tout
lment commun.
Les circuits ncessitant des informations bas
niveau auront galement, autant que faire se
peut, leur propre fil de retour (0 volt) pour viter
les couplages par impdance commune. En
particulier, la plupart des systmes de
communication par bus ncessitent une paire de
fils strictement et exclusivement rserve
lchange des informations.
c Dans tous les cas, la surface globale dune
boucle, donc la distance entre un conducteur et

son retour, doit tre minimise. Pour la

transmission dinformations, le torsadage des
lignes permet encore de diminuer la
susceptibilit aux couplages de mode
diffrentiel. Lemploi de paires torsades est
donc privilgier devant celui de la simple paire.
c Les cbles de mesures, et de transmissions
dinformations faible niveau, doivent tre si
possible cran et, sauf prcision particulire du
fournisseur, leur cran est reli la masse en un
maximum de points.
c Les goulottes support du cheminement des
cbles doivent tre, dans la mesure du possible,
des goulottes mtalliques. Ces goulottes sont
interconnectes entre elles avec un contact
lectrique correct, par vis par exemple et
interconnectes avec le rseau maill de masse.
c Les cbles les plus sensibles, ceux de mesure
par exemple, sont placs dans un angle. Ils
bnficient ainsi dune protection accrue contre
les rayonnements lectromagntiques. Leur
cran, sil existe, est reli rgulirement la
goulotte.
Lutilisation des canalisations prfabriques dans
lesquels les cbles sont positionns et
connects correctement, comme les Canalis de
marque Tlmcanique avec cble de
tlcommande incorpor, est donc tout fait
prconise.
Toutes ces prcautions de cblage, trs
efficaces dans la prvention des problmes de
CEM, sont dun surcot faible au stade de la
conception de linstallation. Des modifications
aprs coup, sur une installation dj existante
avec des couplages lectromagntiques trop
forts, sont par contre dun cot nettement plus
important.

Cbles de puissance

Conducteurs
de mesure
avec cran

Fils de
contrle-commande

d = quelques centimtres

Fig. 22 : un exemple de cheminement de cbles.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.19

6 Normes, moyens dessais et essais

6.1 Les normes

Depuis longtemps, des textes normatifs
rgissent la compatibilit lectromagntique des
matriels.
Les premires rglementations ont t dictes
par le Comit International Spcial des
Perturbations Radiolectriques (C.I.S.P.R.).
Elles limitaient essentiellement le pouvoir missif
des diffrents appareils, principalement pour
protger la transmission et la rception des
ondes radios.
Les comits nationaux, la Commission Electrotechnique Internationale (CEI) ont dict des
textes normatifs couvrant lensemble de la CEM,
mission et immunit, dans le domaine civil.
Les textes normatifs militaires sur la CEM sont
rassembls dans la GAM EG 13 en ce qui
concerne la France, et dans les normes
MIL-STD pour les Etats Unis.
Le fort dveloppement de la compatibilit
lectromagntique et lavnement de lEurope
ont modifi le paysage normatif civil.
Sur ce sujet le Conseil des Communauts
Europennes a publi en mai 1989 une Directive
Europenne, rfrence 89/336/CEE. Elle
concerne le rapprochement des lgislations des
tats membres relatives la compatibilit
lectromagntique.
En France, son application est rendue obligatoire
par le dcret n 92.587.
La Directive Europenne se proccupe non seulement des limitations des perturbations lmission, mais galement de la tenue minimale aux
perturbations lectromagntiques ou immunit.
Ainsi cette Directive se rfre des normes qui
dfinissent des niveaux perturbateurs maximaux.
Des comits techniques, ont t crs par le
Comit Europen de Normalisation Electrotechnique (CENELEC). Ils ont rassembl les normes
existantes qui correspondent l'application de la
directive et rdig celles qui faisaient dfaut.

Les travaux du TC 210 se sont appuys sur les

pratiques du milieu industriel.
Pour les mesures dmission, les normes
allemandes VDE 871 et VDE 875 ont pendant un
temps fait rfrence sur le sujet. Les textes normatifs europens rcents EN 55011, EN 55022,
simposent maintenant. La norme CEI 61000
(anciennement CEI 1000) est la rfrence concernant la CEM, elle comporte plusieurs parties :
c 61000-1 : Application - dfinitions,
c 61000-2 : Environnement - niveaux de
compatibilit,
c 61000-3 : Limite des perturbations,
c 61000-4 : Essais d'immunit.
Cette dernire partie comporte de nombreuses
sections :
v 1 - gnralits,
v 2 - dcharges lectrostatiques,
v 3 - champs radio-frquence,
v 4 - transitoires lectriques en salves,
v 5 - ondes de choc de foudre,
v 6 - perturbations conduites > 9 kHz,
v 7 - harmoniques,
v 8 - champs magntiques 50 kHz,
v 9 - champs magntiques impulsionnels,
v 10 - champs magntiques oscillatoires amortis,
v 11 - creux de tension, coupures brves et
variation de tension,
v 12 - ondes oscillatoires,
v 13 - harmoniques et interharmoniques,
v etc...
Elles correspondent bien aux perturbations
typiques du monde lectrotechnique moderne.
Largement reconnues dans la communaut
internationale, ce sont celles que Schneider
applique pour ses produits. Le paragraphe
suivant prsente plus en dtail les essais
correspondant ces textes normatifs.

6.2 Les moyens d'essais

Comme expliqu prcdemment, le respect des
rglementations impose des mesures et des
essais, eux-mmes dfinis par des normes.
De par le mtier, dans le Groupe Schneider, la
compatibilit lectromagntique est depuis
longtemps une proccupation majeure. Des
moyens importants, comme une cage de
Faraday, taient utiliss ds les annes 1970.
Le Centre d'essais Schneider dispose depuis de
nombreuses annes de 2 laboratoires CEM.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.20

Ils sont les outils indispensables la

capitalisation et la diffusion de la comptence.
Ils sont prestataires de service pour des clients
extrieurs l'entreprise.
Ainsi, ils ralisent des essais dans tous les
domaines de la CEM :
c dcharges lectrostatiques,
c immunit conduite et rayonne,
c mission conduite et rayonne.

concernent aussi bien les suivis dtalonnage, le

raccordement aux talons, que chaque type de
mesure lui-mme. La liste des essais normatifs
que peuvent raliser les laboratoires est en
annexe 3.
Concrtisant cette dmarche Qualit :
c le laboratoire Grenoblois est accrdit par le
COFRAC (COmit FRanais d'ACcrditation),
c le laboratoire de Nanterre est accrdit par
l'ASEFA (Association des Stations d'Essais
Franaises d'Appareils lectriques).

Comme toute mesure, les mesures de

compatibilit lectromagntique doivent tre
reproductibles la fois dans le temps et dans
l'espace, c'est--dire que deux mesures
effectues dans deux laboratoires diffrents
doivent avoir les mmes rsultats.
Dans cette discipline, cela implique des moyens
trs importants, donc des investissements substantiels, et une dmarche Qualit rigoureuse.
La dmarche Qualit des laboratoires CEM de
Schneider, sappuie sur des manuels Qualit et
un ensemble de procdures. Ces procdures

6.3 Les essais

Dcharges lectrostatiques
Ces essais sont destins tester limmunit des
cartes, quipements et systmes aux dcharges
lectrostatiques.
Les dcharges lectrostatiques rsultent des
charges accumules par un individu, par
exemple en marchant sur un sol isolant. Quand
cet individu touche un matriel conducteur reli
par une impdance la masse, il se dcharge
brusquement travers celui-ci. Plusieurs tudes
ont montr que la forme donde dpend des
caractristiques de la source et des circuits de
dcharge, mais aussi dautres paramtres, humidit relative de lair (cf. fig. 23 ), vitesse dapproche du corps charg, ici la main de lhomme, etc.
Ces tudes ont dbouch sur des essais de
dcharges types. Ils sont raliss laide dun
gnrateur (pistolet) qui simule lhomme, dans
des configurations dtermines (cf. fig. 24 ).
Les dcharges sont appliques sur toutes les
parties accessibles de lappareil contrler, sur
son environnement immdiat, et sont rptes
un nombre de fois suffisant pour garantir une
tenue statistique. Ces mesures ncessitent donc
un stand appropri.

Tension
(kV)
16
15
Synthtique
14
13
12
11
10
9
8
7
6
Laine
5
4
3
2
1
Antistatique
0
5 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
Humidit relative (%)

Fig. 23 : influence de l'humidit relative de l'air sur la

tension de dcharge lectrostatique en fonction du
revtement de sol.

,,,,,,,,,,,,,,,,,,
,,,,,,,,,,,,,,
,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,
,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,
,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,
Plans conducteurs

Equipement sous test

Pistolet

Rseau

Table isolante

Rsistances 470 k

,,,,
,

Isolant

Plan de masse de rfrence

Alimentation

Fig. 24 : site d'essais de dcharge lectrostatique dfini par la norme CEI 61000-4-2.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.21

Tous ces essais sont parfaitement dfinis par la

norme CEI 1000-4-2 avec les niveaux de
svrit du tableau de la figure 25 .
Immunit conduite
Ces essais permettent de qualifier la tenue dun
appareil aux perturbations amenes par le
cblage extrieur de cet appareil (entres,
sorties, et alimentation). Comme il a t expliqu
prcdemment ces perturbations sont diffrentes
suivant la nature, et linstallation des cbles.
Les signaux lectromagntiques ou transitoires
retenus dans ces essais ont pour
caractristiques (amplitude, forme donde,
frquence, ) des valeurs typiques.
Des mesures de perturbations effectues sur de
nombreux sites ont permis de dgager
principalement trois essais types :
c Le premier essai, CEI 61000-4-4, est
caractristique des perturbations induites par les
manuvres dappareillage de commande.
Il considre des transitoires lectriques rapides
en salves. Ces salves se rptent une
frquence de 3 Hz. Chaque salve est constitue
dune centaine de transitoires espacs denviron
100 s. Chaque transitoire a un front de monte
trs raide, 5 ns, avec une amplitude de
plusieurs kV, variable suivant les svrits
demandes (cf. fig. 26 et 27 ).
Tous les cbles peuvent tre soumis des
transitoires rapides. Ce type de perturbations se
couple en effet trs facilement, par exemple par
diaphonie (cf. chapitre Le couplage ), et il
suffit donc quun cble gnre cette perturbation
pour que tous ceux circulant dans le mme
chemin de cbles y soient soumis.
Lessai est donc fait sur tous les cbles : en
mode commun sur ceux o la perturbation est a
priori induite (en loccurence les cbles autres
que lalimentation), en mode commun et en
mode diffrentiel sur les cbles relis au secteur.
Les perturbations sont injectes sur les cbles
tests soit par couplage capacitif direct dans le cas

Niveaux de
svrit selon
la norme
1
2
3
4
x

Niveaux de
svrit selon
la norme

Tension d'essai en kV
10 %
Dcharge
Dcharge
dans l'air
au contact
2
2
4
4
8
6
15
8

1
2
3
4

Fig. 25 : tensions de dcharge lectrostatique devant

tre supportes par des matriels selon la
CEI 61000-4-2.

a)

15 ms
300 ms
b)
u

5 ns

100 s

Fig. 26 : allure des salves (a) et des transitoires

rapides qui les composent (b).

Tension d'essai applique ( 10 %) en kV sans altration du fonctionnement

(sortie en circuit ouvert)
Sur le circuit d'alimentation
Sur les lignes d'entre et de sortie
(de signal, donnes, et commande)
0,5
0,25
1
0,5
2
1
4
2
spcial
spcial

Le niveau x est un niveau dfini contractuellement entre un fabricant et son client.

Fig. 27 : tableau des niveaux de svrit dfinis par la CEI 61000-4-4.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.22

Fig. 28 : mesure de l'immunit aux transitoires rapides d'une centrale Isis (test 61000-4-4) dans une cage de
Faraday. Sur cette photo sont visibles : le gnrateur de perturbation manipul par l'oprateur, la valise en bois
contenant la pince de couplage et la centrale Isis ( gauche) raccorde au rseau Batibus.

des alimentations, soit laide dune pince de

couplage, deux plaques mtalliques enserrant
les cbles secondaires (cf. fig. 28 ). Lappareil
test ne doit pas prsenter de
dysfonctionnement pendant une dure
dtermine (1 mn).
Cet essai est le plus significatif de limmunit
dun quipement car les transitoires rapides sont
les plus frquents.

Niveaux de svrit
selon la norme
1
2
3
4
x

Tension d'essai de sortie

en circuit ouvert (kV)
0,5
1
2
4
spcial

Le niveau x est un niveau dfini contractuellement

entre un fabriquant et son client.

c Le deuxime essai ralis est caractristique

des effets secondaires de la foudre. Il est
reprsentatif des perturbations conduites
circulant sur le rseau BT aprs un coup de
foudre sur une ligne (norme CEI 61000-4-5).
Ces perturbations sont caractrises par une
nergie, aussi se traduisent-elles par :
v des ondes de tension 1,2 s - 50 s si
limpdance prsente par lappareil test est
leve, lamplitude pouvant atteindre plusieurs
kV, voir figure 29 pour les tensions dessai
prconises par la norme.
v des ondes de courant 8 s - 20 s si cette
mme impdance est faible, lamplitude
atteignant alors plusieurs kA.

Fig. 29 : niveaux en fonction des svrits dfinies par

la norme CEI 61000-4-5
(impdance du gnrateur = 2 ).

Le front de monte de ces perturbations est mille

fois plus long, de lordre de la microseconde, que
celui des transitoires rapides en salves
(cf. fig. 26 ). Le couplage dessai est ralis
capacitivement, en mode commun et en mode
diffrentiel avec des niveaux appropris. Sa
procdure est semblable celle de lessai aux
transitoires rapides : lappareil ne doit pas
prsenter de dysfonctionnement.

Au cours de l'essai, les perturbations sont

couples aux cbles par l'intermdiaire de
Rseaux de Couplage-Dcouplage (RCD) dont
l'impdance en mode commun, gale 150
reprsente l'impdance caractristique de la
majorit des cbles. Toutefois, il faut noter qu'au
cours de l'essai, les perturbations ne sont
appliques qu' un cble la fois, alors qu'en
ralit le champ lectromagntique illumine tous

c Le troisime essai ralis selon la norme

CEI 61000-4-6, se rapporte aux prescriptions
relatives l'immunit des matriels aux
perturbations HF sur les cbles, dans la plage de
150 kHz 80 MHz (voire 230 MHz).
Les sources de perturbations sont des
champs lectromagntiques qui peuvent
affecter la longueur totale des cbles raccords
ces matriels et y induire des tensions et
courants.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.23

les cbles connects. Cela constitue une

diffrence notable laquelle on ne peut pas
chapper. En effet, cela rendrait l'essai trs
complexe et excessivement onreux que de
coupler des signaux HF sur tous les cbles
simultanment.
Lorsque les RCD ne sont pas adapts, par
exemple quand l'intensit du courant est trop
leve, on utilise des pinces de couplage.
Les perturbations HF, prconises par la norme
CEI 61000-4-6 ont des niveaux de 1, 3 ou
10 volts. Elles sont modules en amplitude
80 % par une onde sinusodale 1 kHz.
Avant l'essai, le signal injecter pour obtenir le
bon niveau de perturbation est calibr et
mmoris, puis appliqu sur les cbles
normalement connects au matriel en essais.
Immunit rayonne
Les essais d'immunit rayonne permettent de
garantir le bon fonctionnement des appareils
lorsquils sont soumis des champs
lectromagntiques.
Ces essais tant particulirement sensibles
lenvironnement, les moyens et les comptences
mettre en uvre pour raliser des mesures
fiables et reproductibles d'immunit rayonne
sont importants.
Le milieu ambiant doit tre suffisamment propre
pour ne pas tre gn par les ondes de toutes

faons existantes, car (comme voqu au

chapitre La source ) des champs
lectromagntiques entretenus de plusieurs V/m
sont frquents, tels ceux gnrs par des
talkies-walkies, et des champs impulsionnels
damplitude plus leve encore existent en
milieu industriel. Ces essais sont donc raliss
dans des cages de Faraday dont les parois sont
recouvertes dabsorbants hyperfrquence. Ces
cages sont qualifies danchoques lorsque
toutes les parois y compris le plancher sont
recouvertes, et de semi-anchoques lorsque le
plancher ne lest pas.
Dans ces cages, les champs sont gnrs par
diffrentes antennes suivant les types de champ,
les gammes de frquence et les polarisations
(cf. fig. 30 ). Ces antennes sont alimentes
partir dun gnrateur vobul dont le signal
passe par un amplificateur de puissance large
bande.
Les champs gnrs sont calibrs laide de
capteurs isotropiques large bande : le schma
de la figure 31 prsente une disposition
typique de test.
Des normes prcisent les limites de
perturbations acceptables, ainsi la norme
CEI 61000-4-3 prconise des essais sur la
bande de frquences 80 MHz -1000 MHz et trois
niveaux de svrit (1,3, 10 V/m).
A titre indicatif, les conditions de tests possibles
dans les laboratoires Schneider sont bien plus

Fig. 30 : la cage de Faraday semi-anchoque et quelques antennes d'un laboratoire CEM de Schneider.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.24

svres : la gamme de frquences couverte

stend de 10 kHz 2 GHz ; de plus, de 27 MHz
2 GHz les appareils peuvent y tre tests
des champs atteignant 30 V/m moduls 80 %.
En ce qui concerne l'immunit en champ
lectrique impulsionnel, tel que celui qui est
observ proximit des ouvrages HT, il nexiste
pas encore de mesures normalises.
Dans ce domaine, les matriels Schneider sont
donc tests suivant des procdures internes.
Emission conduite
Les mesures dmission conduite quantifient le
niveau des perturbations rinjectes par lappareil test sur tous les cbles qui lui sont relis. Le

niveau de ces perturbations dpend troitement

de la charge haute frquence qui est connecte
aux cbles, lappareil en essai tant alors
considr comme le gnrateur (cf fig. 32 ).
Pour effectuer des mesures reproductibles et
en particulier viter les problmes lis
limpdance caractristique du rseau, les
mesures dmission conduite sont ralises
laide dun Rseau Stabilisateur dImpdance
de Ligne (RSIL). Un appareil de mesure, en fait
un rcepteur Haute Frquence, est connect
ce RSIL, il permet de quantifier le niveau pour
chaque frquence. Le niveau de perturbations
rinjectes ne doit pas excder les limites
fixes par les normes, limites qui dpendent du

Cage de Faraday
semi-anchoque

Rseau
Antenne

Filtre

Equipement
sous test
(victime)

1 kW

Amplificateur
large bande

10 kHz

2 GHz

Gnrateur
RF

Fig. 31 : disposition typique de test dans une cage de Faraday. Les mesures se font en deux tapes :
1 - calibrage du champ pour une gamme de frquences donne, en l'absence d'quipement,
2 - vrification de l'immunit de l'quipement.

Cage de Faraday
semi-anchoque
Rseau stabilisateur
d'impdance de ligne
Equipement
sous test
(source)

Rseau
Filtre
Appareil
de
mesure

Fig. 32 : configuration de mesure d'mission conduite. L'EST - Equipement Sous Test - est considr comme un
gnrateur, le RSIL comme une charge.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.25

Tension mesure (dBV)

Capteur
: RSIL
Pas de prampli
HP
Rcepteur
: ESH3
Dtecteur
: crte
Bande passante
: 10 KHz
Pas linaire
: .0050 MHz
Temps de mesure : .1000 s.
Limiteur d'impulsion

100

X : NFEN55022 A QC

80

Y : NFEN55022 A AV
60

40

20

0,34
0,73
Laboratoire CEM Schneider

1,1 1,5

5,4

9,2

13
30
Frquence (MHz)

Fig. 33 : mesures des missions radiolectriques d'une centrale de traitement de l'information d'un Tableau
Gnral Basse Tension - TGBT -.

type de cbles et de lenvironnement. Le relev

suivant (cf. fig. 33 ) prsente un rsultat obtenu
sur un TGBT (Tableau Gnral Basse Tension)
et sa comparaison la norme EN 55 022.
Emission rayonne
Les mesures dmission rayonne quantifient le
niveau des perturbations mises par un appareil
sous forme dondes lectromagntiques.
Tout comme pour les essais d'immunit
rayonne, les mesures dmission rayonne ne
doivent pas tre altres par les ondes dj
existantes, CB, radio, etc. De mme, ces
mesures ne doivent pas tre modifies par les
rflexions des ondes sur des obstacles
environnants. Ces deux contraintes sont
antinomiques et de ce fait coexistent deux
mthodes de mesure.
La premire mthode consiste se placer en
champ libre, plus prcisment sans aucun
obstacle dans un primtre donn : le milieu
ambiant est alors ce quil est.
La deuxime mthode consiste se placer dans
une cage de Faraday ; les rflexions sur les
parois de la cage sont volontairement diminues
par la prsence dabsorbants hyperfrquence
(cf. fig. 30 ) : le milieu est alors parfaitement
matris.
Les laboratoires Schneider exploitent la
deuxime mthode. Elle a comme important
avantage de permettre lautomatisation de la
mesure, et de limiter le nombre de dplacements
dun appareil, car les mesures dmission et

Cahier Technique Schneider n 149 / p.26

d'immunit peuvent tre ralises sur le mme

site moyennant quelques amnagements.
Tout comme pour lmission conduite, les
niveaux dmission rayonne doivent tre
infrieurs des limites fixes par un cahier des
charges ou une norme.
Mesure de champ impulsionnel
Les essais normatifs permettent de mesurer lmission et de tester l'immunit des appareils ou
systmes aux principales perturbations lectromagntiques rencontres dans les milieux industriels.
Cependant, lenvironnement des matriels
dvelopps par le Groupe Schneider prsente
quelques caractristiques encore mal prises en
compte par les textes normatifs.
Il nexiste pas encore, par exemple, de
procdures de test CEM spcifiques aux
matriels placs dans les postes moyenne
tension. Cest pourquoi Schneider a men des
campagnes de mesure pour mieux connatre les
perturbations typiques dans lenvironnement de
ses matriels, principalement la proximit
dappareillage basse tension, moyenne tension
et trs haute tension.
Dans une deuxime phase, des essais internes,
avec des moyens dessais spcifiques, ont t
mis au point. Ils permettent de tester la
compatibilit lectromagntique des matriels
sans avoir procder des essais en vrai
grandeur. Les essais sont ainsi mieux reproductibles et moins coteux. Ils sont alors raliss au
plus tt dans la conception, ce qui permet doptimiser les protections CEM au moindre cot.

7 Conclusion

Lintroduction de llectronique dans un grand

nombre dapplications, et notamment dans les
appareillages lectrotechniques, oblige
prendre en compte une contrainte nouvelle : la
compatibilit lectromagntique -CEM- . Assurer
un bon fonctionnement en milieu perturb et ne
pas tre euxmmes des perturbateurs sont des
impratifs de qualit de ces produits.
Ces deux impratifs ncessitent une
comprhension de phnomnes complexes, au
niveau de la source, des couplages, et au niveau
de la victime. Ils obligent respecter un certain
nombre de rgles dans la conception,
lindustrialisation et la ralisation des produits.

Le site et linstallation jouent galement un grand

rle dans la CEM. Do la ncessit de penser
ds les premires tudes la disposition
architecturale des lments de puissance, aux
passages de cbles, aux blindages Et, avec
des matriels ayant une bonne CEM, une
installation bien ralise apporte des marges
importantes de compatibilit.
Seules des mesures ncessitant des comptences et des matriels sophistiqus permettent
de quantifier la CEM de diffrents matriels.
Le respect des normes permet ainsi lassurance
du bon fonctionnement dun appareil dans son
environnement lectromagntique.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.27

Annexe 1 : impdance dun conducteur

en haute frquence

Le niveau de CEM dans un quipement est

fonction des couplages entre les circuits, ces
couplages tant eux-mmes directement
fonction des impdances entre ces circuits,
particulirement en hautes frquences. Pour
amliorer la CEM, il convient donc de connatre
puis rduire ces impdances.
Il existe un certain nombre de formules approches permettant de dterminer limpdance en
haute frquence des principaux conducteurs
utiliss. Ces formules sont lourdes et leur prcision nest quillusoire si la position prcise de
chaque lment nest pas parfaitement dfinie.
Or qui connait la position exacte dun fil par
rapport un autre dans un chemin de cbles ?
En fait la rponse est donne par lexprience de
ces phnomnes jointe la connaissances des
rgles thoriques lmentaires de llectricit.
Tout dabord il est important davoir lesprit que
limpdance dun conducteur est principalement
fonction de sa partie selfique, prpondrante
partir du kHz pour un cble standard. Ainsi, pour
un cble fictif infini dans lair, sa valeur de self
inductance linique varie de manire
logarithmique avec le diamtre, donc trs
faiblement : pour des cbles dont la longueur
nexcde pas le quart de la longueur donde de

a)

la perturbation prise en compte, une valeur de

lordre du H par mtre quel que soit le diamtre
peut tre retenue (cf. fig. 34 ).
Si le cble est correctement plaqu sur un plan
conducteur, cette valeur est fortement diminue.
Elle dpend alors de la distance entre le cble et
le plan. Des gains de 10 dB sur la valeur de la
self inductance sont ainsi facilement obtenus.
Aux plus hautes frquences, ce cble doit tre
considr comme une ligne de transmission, et la
grandeur importante est alors son impdance
caractristique (de lordre de la centaine dohms).
Avec ces considrations, une self inductance
commune de plusieurs H est facilement atteinte,
avec quelques mtres de fil vert-jaune par
exemple. Ceci reprsente donc plusieurs ohms
1 MHz, et plusieurs centaines dohms 100 MHz.
En conclusion, le plan mtallique conducteur
est le moyen de relier lectriquement deux
points avec limpdance la plus faible. Et ce,
quelle que soit son paisseur ds lors quelle est
suprieure lpaisseur de peau (415 m pour
le cuivre 10 kHz).
Ainsi, une plaque de cuivre prsente une self de
0,6 nH 10 kHz, soit une impdance par carr
de 37 , (l'impdance reste la mme quelle
que soit la surface du carr considr).

b)
Z2

Z1

c)

d)

Z4
Z4

Fig. 34 : suivant les diffrents cas :

a : cble dans l'air (L 1 H/m),
b : cble plaqu sur une surface mtallique,
c : treillis mtallique avec contact chaque croisement (par exemple fer bton soud),
d : plan mtallique,
et pour une mme longueur, les impdances liniques sont dans l'ordre Z1 > Z2 > Z3 > Z4.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.28

Annexe 2 : les diffrentes parties dun cble

Les termes employs pour distinguer les

diffrentes parties dun cble changent quelque
peu de signification selon la destination du cble
(cble de transport dnergie, cble de transport
dinformations tlphoniques ou de
contrle-commande), (cf fig. 35 ).
Les dfinitions notes en italique sont celles de
la CEI.
Armure
Elle a pour rle essentiel la protection
mcanique du cble, pour cela elle est
gnralement constitue de deux feuillards en
acier doux enrouls en hlice (NF C 32-050).
Pour les cbles destins au transport
dinformations, elle peut galement avoir un rle
lectrique, tenir lieu de blindage lectrostatique
et plus souvent de blindage lectromagntique.
Blindage synonyme dcran, matriau labor
et destin rduire lintensit de rayonnement
pntrant dans une rgion.
Larmure ou lcran dun cble, quil soit destin
au transport dnergie ou dinformations, peuvent
constituer des blindages.
Ecran dispositif utilis pour rduire la
pntration dun champ dans une rgion
dtermine.

Exemple dun cble tlphonique

Gaine (PVC)

Plusieurs fonctions sont remplies par cet

lment :
c crer une surface quipotentielle autour de
lisolant,
c prvenir les effets des champs lectriques
externes et internes,
c assurer lcoulement du courant capacitif ainsi
que du courant de dfaut terre (court-circuit
homopolaire),
c assurer la protection des personnes et du
matriel en cas de perforation. Pour cela il est
gnralement mtallique et continu (tube de
plomb, nappe ou tresse de fils, ou rubans poss
en hlice).
Pour les cbles vhicules dinformations, lcran,
plus souvent appel blindage, est constitu de
rubans ou nappes de fils, en cuivre ou en
aluminium, enrouls pour raliser un blindage
contre les influences lectriques et magntiques.
Il peut tre collectif, pour lensemble des
conducteurs composant le cble, lorsque les
influences perturbatrices sont extrieures.
Il peut tre individuel, pour un certain nombre de
conducteurs du cble, afin de les protger des
influences des autres conducteurs de ce mme
cble.
Gaine enveloppe ayant pour rle dassurer
ltanchit du cble.

Exemple dun cble de transport dnergie

moyenne tension
Gaine (PVC)

Armure
(2 feuillards acier)

Armure
(2 feuillards acier)

Gaine intrieure
(PVC)

Matelas (papier)

Ecran mtallis
(aluminium)

Ecran mtallis
(cuivre)
Ruban conducteur

Isolation (PVC)
Gaine de bourrage

Ame
(fil de cuivre)

Isolation (PVC)
Ame (fil de cuivre)

Fig. 35

Cahier Technique Schneider n 149 / p.29

Annexe 3 : essais raliss par les laboratoires CEM

du Groupe Schneider

Les laboratoires CEM du Groupe Schneider ont

les comptences et le matriel ncessaires pour
raliser des essais conformment de
nombreuses normes ou des spcifications
particulires.
Le client, interne ou externe l'entreprise, est
assist s'il le souhaite par les spcialistes des
laboratoires dans la recherche des normes et

svrits applicables son matriel. Il lui

incombe aussi de dfinir quels sont les critres
fonctionnels d'acceptabilit, soit en rfrence
aux normes rgissant son produit, soit dfaut
de normes selon les impratifs d'utilisation du
produit (scurit, continuit de service,
confort ).

Il serait fastidieux de tous les citer, d'autant plus

que lvolution du paysage normatif est trs
rapide notamment concernant les normes de
produits. Nous indiquons ci-aprs les principaux
textes de rfrence pour la conduite des essais.

c CEI 61000-4-8 [= EN 61000-4-8

= NF EN 61000-4-8 (NF C 91-004-8)]
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Partie 4 : techniques dessai et de mesure
Section 8 : essai dimmunit au champ
magntique la frquence du rseau

Essais normatifs

Immunit
c CEI 61000-4-2 [= EN 61000-4-2
= NF EN 61000-4-2 (NF C 91-004-2)]
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Partie 4 : techniques dessai et de mesure
Section 2 : essai dimmunit aux dcharges
lectrostatiques
c CEI 61000-4-3 [= EN 61000-4-3
= NF EN 61000-4-3 (NF C 91-004-3)]
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Partie 4 : Techniques dessai et de mesure
Section 3 : essai dimmunit aux champs
lectromagntiques rayonns aux
frquences radiolectriques
c CEI 61000-4-4 [= EN 61000-4-4
= NF EN 61000-4-4 (NF C 91-004-4)]
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Partie 4 : techniques dessai et de mesure
Section 4 : essais dimmunit aux transitoires
lectriques rapides en salves
c CEI 61000-4-5 [= EN 61000-4-5
= NF EN 61000-4-5 (NF C 91-004-5)]
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Partie 4 : techniques dessai et de mesure
Section 5 : essai dimmunit aux ondes de choc
c CEI 61000-4-6 [= EN 61000-4-6
= NF EN 61000-4-6 (NF C 91-004-6)]
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Partie 4 : techniques dessai et de mesure
Section 6 : immunit aux perturbations conduites, induites par les champs radiolectriques

Cahier Technique Schneider n 149 / p.30

c CEI 61000-4-11 [= EN 61000-4-11

= NF EN 61000-4-11 (NF C 91-004-11)]
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Partie 4 : techniques dessai et de mesure
Section 11 : essais dimmunit aux creux de
tension, coupures brves et variations de
tension
c CEI 61000-6-3
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Partie 6 : Normes gnriques
Section 3 : sur l'mission pour les
environnements rsidentiels, commerciaux et de
l'industrie lgre
c CEI 61000-6-4
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Partie 6 : Normes gnriques
Section 4 : sur l'mission pour les
environnements industriels
c EN 50082-1
[= NF EN 50082-1 (NF C 91-082-1)]
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Norme gnrique immunit
Partie 1 : rsidentiel, commercial et industrie
lgre
c EN 50082-2
[= NF EN 50082-2 - (NF C 91-082-2)]
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Norme gnrique immunit
Partie 2 : environnement industriel

Emission
c CISPR 11
[= EN 55011 = NF EN 55011 (NF C 91-011)]
Limites et mthodes de mesure des caractristiques de perturbations radiolectriques des
appareils industriels, scientifiques et mdicaux
(ISM) frquence radiolectrique
c CISPR 14
[= EN 55014 = NF EN 55014 (NF C 91-014)]
Limites et mthodes de mesure des
perturbations radiolectriques produites par les
appareils lectrodomestiques ou analogues
comportant des moteurs ou des dispositifs
thermiques, par les outils lectriques et par les
appareils lectriques analogues (partie mission
conduite)
c CISPR 22
[= EN 55022 = NF EN 55022 (NF C 91-022)]
Limites et mthodes de mesure des
caractristiques de perturbations
radiolectriques produites par les appareils de
traitement de linformation
c EN 50081-1
[= NF EN 50081-1 (NF C 91-081-1)]
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Norme gnrique mission
Partie 1 : rsidentiel, commercial et industrie
lgre

c EN 50081-2
[= NF EN 50081-2 (NF C 91-081-2)]
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Norme gnrique mission
Partie 2 : environnement industriel
Normes spcifiques
c Centres de tlcommunications
I 12-10, 1993
dite par le Comit des Spcifications des
Equipements (CSE) France Tlcom.
Environnement lectromagntique des
quipements des centres.
(partie immunit aux perturbations rayonnes et
partie perturbations rayonnes et conduites)
c Militaires
GAM - EG -13
essais gnraux en environnement des
matriels
fascicules 62 et 63
c MIL STD 461/462
Electromagnetic emission and susceptibility
requirements for the control of electromagnetic
interference

Essais hors normes

Dans le cadre de leurs possibilits et de leurs
comptences, les laboratoires peuvent effectuer
des essais conformment dautres textes.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.31

Annexe 4 : bibliographie

Normes
c CEI 61000-2-1
c CEI 61000-2-2
c CEI 61000-4
c CEI 61000-6
c EN 55 011, CISPR 11
c EN 55 022, CISPR 22
c NF C 15-100
Cahiers Techniques Merlin Gerin
c Les perturbations lectriques en BT
Cahier Technique n 141
R. CALVAS
c Disjoncteurs au SF6 Fluarc et protection des
moteurs MT
Cahier Technique n 143
J. HENNEBERT et D. GIBBS
Publications diverses
c Compatibilit lectromagntique - bruits et
perturbations radiolectriques P. DEGAUQUE et J. HAMELIN
Dunod diteur
c Compatibilit lectromagntique
M. IANOVICI et J.-J. MORF
Presses Polytechniques Romandes
c La compatibilit lectromagntique
A. KOUYOUMDJIAN, avec R.CALVAS et
J.DELABALLE
Institut Schneider Formation
c RGE n 10 consacr la compatibilit
lectromagntique
novembre 1986.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.32

62341

Direction Scientifique et Technique,

Service Communication Technique
F-38050 Grenoble cedex 9
Tlcopie : (33) 04 76 57 98 60

1998 Schneider

Schneider

Ralisation : Sodipe (26).

Impression : CLERC Fontaine - 1500
- 100 FF-

07-98