PARTIE I

SYNTHESES SUR LES

DEFAILLANCES DES
SYSTEMES ELECTRIQUE
ET ETUDE STATISTIQUE

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 SYNTHESES SUR LES DEFAILLANCES DES SYSTEMES ELECTRIQUES ET
ETUDE STATISTIQUES

I/ MONTAGE TYPIQUE : SYSTEME DENTRAINEMENT D’UNE MAS

Pour notre cas, on va étudier les cas suivants

1/ Les capteurs;

2/ Les Convertisseurs Statiques (Etage de Puissance) ;

3/ Les Filtres (les condensateurs) ;

4/ L’étage de commande des convertisseurs Statiques ;

5/ Le groupe tournant (MAS +étage mécanique).

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II/ ETUDE STATISTIQUES DES TAUX DE DEFAILLANCE

II.1- Dans le Système Global d’entrainement :

Composants % Défauts
Convertisseurs Statiques + Filtres 38%
Capteurs + Circuits de commande 53%
Autres 9%

II.2- Dans Le Système : Convertisseurs Statiques + Filtres

Composants % Défauts
Transistors de puissance 31%
Condensateurs de filtrages 60%
Diode de puissance 3%
Autres 6%

Remarque : ces chiffres sont a titre indicatif.

III CLASSIFICATION DES DEFAUTS :

B/ Selon Le Temps De Manifestations De Défauts :

Défauts abrupts (très Défauts lents

rapides).  Le vieillissement
Ex : Défaut de court thermique des
circuit composants.
 Les dérives des
appareils de mesures.

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A/ Selon la nature du circuit (Etage):

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C/ Défauts dans les convertisseurs statiques « Etage de puissace

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VI / DEFAUTS DANS LES CONVERTISSEURS STATIQUES

« ETAGE DE PUISSANCE »

Diodes De Puissance Transistors De Puissances (TP)

Défauts Rares 3%

Défauts de Court Circuit Défauts d’Ouverture

VI.1 - Défauts de Court Circuit des TP

« Défauts de faible impédance »

1/-Schéma équivalent

2- Causes des Défaillances de Court Circuit

2-a Deffaillance de Circuit de Commande

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 2-b Deffaillance de l’interrupteur Semi-Conducteur

- Suite à une surintensité Ik

- Suite à un vieillissement thermique
T°Jonction jusqu'à dépassement de la température critique
(T°J >T°J.-C.) Distorsion de la pastille semi-conducteur

3- Les Conséquences du Défaut de Court Circuit des TP

Ex : Défaut dans un bras d’onduleur

S’il y’a un fusible ultra rapide sur le bras fusible hors service

Sinon : destruction du filtre (condensateur) et peu être T4( Défauts en

cascade).

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Ex2 : Défaut dans un Redresseur non Commandé

Ex3 : Défaut de court circuit dans un hacheur serie

Liaison permanente entre E et S

E = E0 quelque soit α

Donc : Perte de contrôle de la tension

de sortie

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VI.2 - Défauts douverture des TP « Défauts de forte impédance »
1- Shéma équivalent :

2- Causes de la défaillance du circuit ouvert

2-a Défaillance du circuit de commande

Donc le TP est toujours OFF

2-b Défaillance de L’interrupteur Semi-conducteur

1. Surtension excessive
𝑑𝑣
2. ≫ à 𝑟é𝑝𝑖𝑡𝑖𝑡𝑖𝑜𝑛 Distorsion des jonctions
𝑑𝑡
3. Vieillissement Thermique

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3 Les Consequences de Défaut d’Ouverture des TP

Ex1 : Défaut sur le Bras d’Onduleur

Perte de l’alternance positive du courant de la phase A

Apparition d’une composante continue dans le courant AC qui
devient DC Apparition des fortes ondulations dans le couple ΔC

Vibrations de la ME

Ex2 : Défaut d’Ouverture du TP Dans un Hacheur Série

E=0 quelque soit α

Déconnexion totale : E/S

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V- Defaillance de L’etage de Commande des Convertisseurs Statiques :

V-1 Principe de L’etage de Commande

Commande Eloigné

NEMERIQUE ANALOGIQUE HYBRIDE

Up
CE
Uref Signaux logiques [Ck]

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Ex : Commande à MLI

1ier Cas : Commande Analogique 2ième Cas : Commande Numérique

On utilise des circuits programmables
Amplificateurs Opérationnels
Oscillateurs Ex : P.I.C : pic16F877
Circuits (R,L,C) µ.c. : microcontrôleurs
Arduino

Défauts potentiels Défauts potentiels

Perte de l’alimentation Vcc Perte de l’alimentation 5V
Problème de masse Dépassements de fréquences
Problème de contact (soudure) Vieillissement thermique
Problème des oscillateurs
Vieillissement thermique des
circuits intégrés.

Taux de défaillance de commande analogique > Taux de défaillance de commande

numérique

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2 Commande Rapprochée (Circuit Analogique) :
a) Principe

Signal analogique
Signal numérique

Isolation Galvanique

b) Rôle de la Commande Rapprochée

1- Adaptation de la sortie logique de la CE à la technologie de
l’interrupteur SCK

Ex :
Thyristor
G.T.O

B.J.T.

I.G.B.T

MOSFET

2- Isolation galvanique entre circuit de puissance et circuit de

commande I.G.

T.I Opto-coupleur Driver

Transformateur d’impulsion pour la
commande des thyristors

Pour la commande des transistors de puissance

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Ex :
Transformateur d’impulsion T.I.

Thyristor

Liaison magnétique

Opto-coupleur : Liaison optique

Driver IR (IR 2112)

Masse flottante

Masse réelle

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 c) Défauts potentiels
1. Défauts Alimentation ;
2. Vieillissement thermique des composants ;
3. Problème de contact (point de soudure) ;
4. Problème de masse.

VI- Défauts des Condensateurs de Filtrage

VI-1 Causes des défauts des filtres

Défauts Rapides Défauts Lents

Défauts de CC dans TP dans les bras Vieillissement thermique implique dégradation
d’onduleur des propriétés physico-chimique du diélectrique

Remarque : Le taux de défaillances est très élevé (60%).

Dans cette partie, on s’intéresse uniquement aux indices mésoscopique des défauts lents des
filtres.
VI-2- Augmentation du Taux D’ondulation ΔUc

AV. Défauts ΔUc1 très ΔUc2 : perte des performances du

faible filtre

ΔUc2 >> ΔUc1 Implique Défaut

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 VII- Veillissement Thermique Des Interrupteurs Semi-Conducteur De
PuissaVnce (Ex : Transistor de puissance)
VII-1- Causes de l’échauffement des TP « ce qui implique Les pertes »
∆𝑃𝑘 = ∆𝑃𝑐𝑜𝑛𝑑 + ∆𝑃𝑐𝑜𝑚
∆𝑃𝑐𝑜𝑚~𝑓𝑐𝑜𝑚 ,
∆𝑃𝑘 = ∆𝑃𝑐𝑜𝑛𝑑 + ∆𝑃𝑐𝑜𝑚
∆𝑃𝑐𝑜𝑛𝑑 = 𝑟0. 𝐼𝑘 2𝑜𝑓𝑓 + 𝑉0. 𝐼𝑘
r0 V0
Ik

Vk
∆𝑃𝑘 effet Joule en chaleur Q

T Jonction Il faut évacuer cette chaleur Q.

VII-2- Boitier de Refroidissement du T.P.

T.P
Diffusion de la chaleur .

K ou T.P.
G
J
Radiateur

RthB<<RthK

Ventilateur

Liquide de refroidissement si nécessaire

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VII-3- Indice de Viellissement Thermique :Zth( L’impédance Thermique) :
𝑇°𝐽 − 𝑇°𝐵
𝑍𝑡ℎ =
∆𝑃
∆𝑃: 𝑃𝑒𝑟𝑡𝑒𝑠 𝑑𝑢 𝑐𝑜𝑚𝑝𝑜𝑠𝑎𝑛𝑡, 𝑇°𝐵 : Température du boitier de refroidissement

1ier Cas 𝑆𝑖 𝑍𝑡ℎ ≪ 𝑐𝑒𝑐𝑖 𝑖𝑚𝑝𝑙𝑖𝑞𝑢𝑒 𝑇°𝐵 ≅

𝑇°𝐽 𝑑𝑜𝑛𝑐 𝑢𝑛 𝑏𝑜𝑛 𝑟𝑒𝑓𝑟𝑜𝑖𝑑𝑖𝑠𝑠𝑒𝑚𝑒𝑛𝑡 𝑑𝑢 𝑇. 𝑃.
2ième Cas
𝑆𝑖 𝑍𝑡ℎ ≫ 𝑐𝑒𝑐𝑖 𝑖𝑚𝑝𝑙𝑖𝑞𝑢𝑒 𝑇°𝐵 < 𝑇°𝐽 − − 𝑚𝑎𝑢𝑣𝑎𝑖𝑠 𝑟𝑒𝑓𝑟𝑜𝑖𝑑𝑖𝑠𝑠𝑒𝑚𝑒𝑛𝑡 𝑑𝑢 𝑇. 𝑃.

Ceci implique que Phénomène de vieillissement thermique s’accélère

Ceci implique que la fiabilité du système diminue

Ce qui implique qu’il procéder d’une commande préventive de ce défaut.

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