Trabajo Control Estadistico
Trabajo Control Estadistico
Trabajo Control Estadistico
Calculo de Limites
L.S.C = 0.140 + 3(0.035) = 0.245
L.C = 0.140
L.I.C = 0.140 - 3(0.035) = 0.035
Conclusin:
El 41 % de las muestras se
encuentran bajo la lnea central, el
resto se encuentran entre la lnea
central y la lnea superior. El
proceso se encuentra controlado.
Jos David Oseguera Trejo
Grafica de Defectivos "np"
En la siguiente tabla se muestran los resultados obtenidos en 10 lotes
Calculo de Limites
L.S.C = 2.7 + 3(1.64) = 7.62
L.C = 2.7
L.I.C = 2.7 - 3(1.64) = -2.22 0
Conclusin:
El 50% de los datos se encuentra entre la
lnea central y la lnea superior, el resto se
encuentra bajo la lnea central y la lnea inferior.
Jos David Oseguera Trejo
Grafica de Defectos por Muestra "C"
En una produccin de tarjetas electrnicas, se han observado los defectos de 50
muestras sucesivas de 40 tarjetas electrnicas de circuitos impresos.
Calculo de Limites
L.S.C = 10.3 + 3(3.20) = 19.9
L.C = 10.3
L.I.C = 10.3 - 3(3.20) = 0.70
Conclusin:
El 50% se encuentra con defectos mnimos
Jos David Oseguera Trejo
Grafica de Defectos por Unidad "U"
En una fbrica de ceniceros de vidrio con produccin diaria de varias miles
de piezas, se toman cada da muestras de diferentes tamaos, contabilizando los
defectos y encontrando el siguiente resultado:
Calculo de Limites
L.C = 0.014
Conclusin:
Jos David Oseguera Trejo
Jos David Oseguera Trejo
Grafica de Defectos por Unidad "U"
Se han observado los defectos de 24 muestras sucesivas de artculos producidos
en 24 turnos sucesivos. Los datos se muestran en la siguiente tabla:
Calculo de Limites
L.S.C = 0.184 + 3(0.087) = 0.445
L.C = 0.184
L.I.C = 0.184 - 3(0.087) = -0.077 0