Diagramas de Atributos
Diagramas de Atributos
Diagramas de Atributos
TACNA
ESTADÍSTICA II
III UNIDAD
Tema: DIAGRAMA DE ATRIBUTOS
CARTA p: se usa para controlar la proporción de unidades
defectuosas o no aptas producidas por un proceso
• Para la construcción de una carta p, se obtiene un conjunto de muestras ( 20 a
30), cuando se tiene la seguridad que el proceso esta bajo control estadístico. Se
emplea para reportar la proporción de productos defectuosos en un proceso. En
este diagrama se revisa cada uno de los artículos de una muestra y cada uno de
los elementos tiene una calidad aceptable o no, es decir, un artículo pasa o no
pasa.
• Esta gráfica se basa en la suposición que el número de unidades defectuosas
observadas en cada muestra, es una Variable binomial. Cuando el proceso se
encuentra en estado de control estadístico, 𝑝, permanece constante a través del
tiempo. Para determinar la línea central y los límites de la gráfica 𝑝, es necesario
conocer las distribución muestral de proporciones. Cuyas propiedades son:
• 1° La media de la distribución de proporciones es igual a la proporción
poblacional.
• 𝜇𝑝ҧ = 𝑝
• 2° La d.e. de la distribución de proporciones es igual a:
𝑝(1−𝑝)
• 𝜎𝑝ҧ =
𝑛
3° La proporción de éxitos en un experimento binomial se acerca a la
distribución normal conforme el número de pruebas, 𝑛, aumenta.
Así la proporción muestral es
σ𝑝 σ𝐷
• 𝑝ҧ = 𝑜
𝑘 𝑘.𝑛
• σ 𝑝 = 0.78
• k = 15
Gráfica 𝑝
Ejemplo: El proceso consiste en la producción de computadoras personales en la cual se tienen algunas
evidencias de fallas en el sistema para lo cual se toman muestras de 100 equipos durante 20 días y se anotaron
los equipos disconformes
Dia Tamaño de muestra Número de disconformidades Proporción de disconformidades
1 100 12 0.12
2 100 14 0.14
3 100 8 0.08
4 100 11 0.11
5 100 13 0.13
6 100 21 0.21
7 100 7 0.07
8 100 13 0.13
9 100 25 0.25
10 100 20 0.20
11 100 18 0.18
12 100 15 0.15
13 100 16 0.16
14 100 9 0.09
15 100 8 0.08
16 100 2 0.02
17 100 8 0.08
18 100 10 0.10
18 100 26 0.26
20 100 11 0.11
• a) Calcular 𝑝ҧ
• b) Elaborar los límites de control de la gráfica p
• Un concentrado de jugo de naranja congelado se empaca en envases
de cartón de 6 onzas. Estos envases se hacen en una máquina
cortándolos de piezas de cartón y fijando un cuadro metálico en el
fondo. Mediante la inspección de un envase, es posible determinar si
cuando se llena podría haber una posible filtración en las juntas
laterales o alrededor de la junta del fondo. Un envase disconforme
tiene un sellado incorrecto en las juntas laterales o en el cuadro
metálico del fondo. Se desea establecer una carta de control para
mejorar la fracción de envases conformes producidos por esta
máquina. Para establecer la carta de control se seleccionaron 30
muestras de 50 unidades (envases) cada una a intervalos de media
hora durante un período de tres turnos en los que la máquina estuvo
en operación continua. En la tabla que sigue se muestran los datos.
Muestra N° disconformes Fracción disconf Muestra N° disconformes Fracción disconf
1 12 16 8
2 15 17 10
3 8 18 5
4 10 19 13
5 4 20 11
6 7 21 20
7 16 22 18
8 9 23 24
9 14 24 15
10 10 25 9
11 5 26 12
12 6 27 7
13 17 28 13
14 12 29 9
15 22 30 6
Ejemplo:
Carta np: Número de productos defectuosos
• Son útiles para el control del N° de artículos defectuosos, utilizando
muestras le mismo tamaño.
• El modelo que describe el número de artículos defectuosos en cada
muestra de tamaño 𝑛, es la distribución binomial con parámetros
𝑛 𝑦 𝑝. Esta distribución puede aproximarse a la normal cuando el
tamaño de la muestra es grande.
• Usando esta propiedad si tiene los siguientes límites:
• 𝐿𝐶𝑆 = 𝑛𝑝 + 3 ∗ 𝑛𝑝(1 − 𝑝)
• 𝐿𝐼𝐶 = 𝑛𝑝 − 3 ∗ 𝑛𝑝(1 − 𝑝), esto se emplea cuando se conoce 𝑝 la
verdadera proporción de defectos del proceso
• Sin embargo e la práctica se calcula un valor de 𝑝ҧ 𝑎 partir de una
muestra.
• La proporción de defectos por cada muestra se calcula mediante:
𝑁° 𝑑
•𝑝= y el promedio de proporción de defectos del proceso es:
𝑛
σ𝑝
• 𝑝ҧ = , donde m: es el número de muestras extraídas. Entonces los
𝑚
límites de control quedan como:
• 𝐿𝐶𝑆 = 𝑛𝑝ҧ + 3 ∗ 𝑛𝑝ҧ 1 − 𝑝ҧ
• 𝐿𝐶 = 𝑛𝑝ҧ
• 𝐿𝐶𝑆 = 𝑛𝑝ҧ − 3 ∗ 𝑛𝑝ҧ 1 − 𝑝ҧ
Ejemplo: Con los datos del ejemplo anterior calcular los límites de
control de una carta np
Muestras Defectos p
1 12 0.24
2 15 0.30
3 8 0.16
4 10 0.20
5 4 0.08
6 7 0.14
7 16 0.32
8 9 0.18
9 14 0.28
10 10 0.20
11 5 0.10
12 6 0.12
13 17 0.34
14 12 0.24
15 22 0.44
Carta c: Número de defectos por unidad
• Pasos:
1° Seleccionar un número de datos de muestras(20 ª 30), en las que
cada muestra se obtenga observando una sola unidad.
2° Determinar el número de defectos por cada unidad ( c)
3° Estime el número promedio de defectos por unidad.
4° Calcular los límites de control
𝐿𝐶𝐼 = 𝑐ҧ − 3 ∗ 𝑐ҧ
𝐿𝐶𝑆 = 𝑐ҧ + 3 ∗ 𝑐ҧ
Ejemplo
• Una empresa comercial ha decidido contratar a un consultor de
calidad para evaluar los equipos de sonido ensamblados en el país. La
responsable de la empresa tiene la tarea de poner en marcha un
programa de incentivo a sus trabajadores en el ensamble de los
equipos. Se seleccionan equipos al azar para comprobar
detalladamente si tienen defectos en el sonido u otro atributo. Cada
semana se inspeccionan 30 equipos. Los datos a continuación
• Construir los límites de control
• Graficar la carta c
Muestra Número de defectos
1 7
2 0
3 4
4 1
5 6
6 5
7 0
8 2
9 4
10 5
11 0
12 1
13 3
14 1
15 5