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Thèse
pour obtenir le grade de
Adeline DÉCHANSIAUD
le 29 juin 2012
Conception, modélisation et
caractérisation de cellules de puissance
innovantes en technologie MMIC pour des
applications spatiales
JURY :
Einstein
Ces travaux de thèse se sont déroulés au sein du laboratoire de recherche XLIM, site de
Brive la Gaillarde, en collaboration avec la fonderie UMS et l’Agence Spatiale Européenne.
Je remercie Monsieur Dominique Cros pour m’avoir permis de réaliser ces travaux dans
le laboratoire XLIM. Je tiens également à remercier Monsieur Raymond Quéré, Professeur
à l’Université de Limoges pour la confiance qu’il m’a témoigné en acceptant de m’accueillir
dans l’équipe Circuits, Composants, Signaux et Systèmes qu’il dirige et pour avoir
supervisé mes travaux en tant que directeur de thèse. Avec l’aide de Monsieur Raphaël
Sommet, chargé de recherche au CNRS, qui a co-encadré ces travaux, ils ont su faire preuve
d’une patience sans limite et d’une grande disponibilité. Je leur exprime également ma
profonde reconnaissance pour leurs précieux conseils et leurs encouragements durant ces
trois années de thèse.
Une partie de ce travail a été réalisé au sein de l’équipe Conception d’UMS. Je remercie
Monsieur Marc Camiade de m’avoir accueilli au sein de cette équipe afin de réaliser mes
recherches. J’exprime mes sincères remerciements à Mademoiselle Diane Bouw et Monsieur
Christophe Chang, Ingénieurs à UMS, pour avoir accepté d’encadrer ces travaux au sein
de cette même société. Je leur témoigne toute ma reconnaissance pour leurs qualités
humaines, techniques et pour l’aide qu’ils ont pu m’apporter.
Ma reconnaissance va également à Monsieur François Deborgies, Ingénieur ESA, pour
avoir suivit ces travaux durant ces trois années.
Que Monsieur Jean-Louis Cazaux, Ingénieur Thales Alenia-Space, ainsi que Monsieur
Eric Kerhervé, Professeur à l’Université de Bordeaux 1, trouvent ici l’expression de ma
considération, ainsi que mes remerciements sincères pour avoir accepté de rapporter ce
travail.
Pour finir je souhaite remercier mes parents et mes amies de toujours pour leur soutien
et pour leurs encouragements même dans les moments les plus difficiles.
7
Table des matières
Introduction générale . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15
Bibliographie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 178
Annexes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 188
Nomenclature . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 188
Publications et communications relatives à ce travail . . . . . . . . . . . . . . . 189
2.65 Impédances de charge vues par chacun des transistors pour la cellule
cascode de base (a) et pour une cellule cascode ≪ driven ≫ (b) comparée à
l’impédance optimale d’un transistor à TP. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 124
2.66 Facteur de Rollet de déterminant de la matrice des paramètres [S] de la
cellule cascode ≪ driven ≫ de 0.5 à 30 GHz . . . . . . . . . . . . . . . . . . 125
2.67 Schéma du montage cascode ≪ self biased ≫. . . . . . . . . . . . . . . . . . 125
2.68 Circuit linéaire simplifié de la topologie ≪ self biased ≫ sur le transistor GC. 126
2.69 Partie réelle et imaginaire de l’impédance de sortie vue par le premier
transistor en fonction des valeurs de Gf et Bf . . . . . . . . . . . . . . . . 127
2.70 Cascode de base avec deux transistors en cascade de développement de
grille différent. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 127
2.71 Comparaison des différentes solutions d’amélioration du rendement. . . . . 128
3.1 Schéma de principe du montage amplificateur cascode. . . . . . . . . . . . 136
3.2 Simulation load pull de la cellule cascode intégrée 2x12x100 µm. . . . . . . 137
3.3 Topologie du combineur de sortie. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 138
3.4 Principe d’optimisation du combineur de sortie. . . . . . . . . . . . . . . . 139
3.5 Paramètres [S] du combineur de sortie sur la bande de fréquence 10-18 GHz.140
3.6 Principe de vérification des charges Zl . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 140
3.7 Impédances de sortie de chacune des cellules cascodes sur la bande de
fréquence 12-16 GHz (trait continu). Comparaison avec l’impédance de
charge optimale moyenne d’une cellule cascode sur cette même bande de
fréquence (point). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 141
3.8 Pertes en puissance du combineur de sortie de 12 à 16 GHz. . . . . . . . . 142
3.9 Topologie du réseau d’adaptation inter-étage. . . . . . . . . . . . . . . . . 143
3.10 Principe d’optimisation de l’inter-étage. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 143
3.11 Pertes d’adaptation inter-étage en fonction de la fréquence (12-16GHz) et
de la puissance d’entrée (trait plein : bas niveau, trait pointillé : fonction
de Pin). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 144
3.12 Topologie du combineur d’entrée. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 145
3.13 Pertes en puissance du réseau d’adaptation en entrée en fonction de la
fréquence (12-16 GHz) et de la puissance d’entrée Pin (trait plein : bas
niveau, traits pointillés : en fonction de Pin). . . . . . . . . . . . . . . . . . 146
3.14 Dessin global de l’amplificateur. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 146
3.15 Parties réelles et imaginaires des impédances d’entrée des cellules cascodes
intégrées de chaque étage, à toutes les fréquences (12-16 GHz) et en fonction
de la puissance d’entrée Pin. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 148
3.16 Parties réelles et imaginaires des impédances de sortie des cellules cascodes
intégrées de chaque étage, à toutes les fréquences (12-16 GHz) et en fonction
de la puissance d’entrée Pin. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 148
3.17 Cycles de charge de chaque étage en fonction de la fréquence pour une
puissance d’entrée Pin=10 dBm. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 149
3.18 Simulation des performances en puissance (puissance de sortie, gain
en puissance et puissance dissipée) des deux cellules cascodes intégrées
appartenant chacune à l’étage 1 et à l’étage 2 en fonction de Pin, de 12 à
16 GHz par pas de 0.5 GHz. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 150
3.19 Facteur de Rollet et module du déterminant de la matrice des paramètres
[S] pour une fréquence de 0.5 à 30 GHz. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 151
même étage (b). Les croix représentent les pôles et les cercles les zéros. . . 160
3.30 Résultats de la dispersion technologique sur les paramètres [S] et le facteur
de Rollet K en fonction de la fréquence (10 à 18 GHz) pour 100 itérations. 161
3.31 Génération des signaux parasites après amplification. . . . . . . . . . . . . 162
3.32 Point d’interception d’ordre 3. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 163
3.33 IP3 en fonction de la puissance de sortie Pout et pour une fréquence de 12
à 16 GHz par pas de 1 GHz. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 164
3.34 C/I en fonction de la puissance de sortie Pout et pour une fréquence de 12
à 16 GHz par pas de 1 GHz. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 164
3.35 Photographie de l’amplificateur à cellules cascode intégrées. . . . . . . . . . 165
3.36 Cartes à pointes utilisées pour la polarisation de l’amplificateur. . . . . . . 165
3.37 Mesures CW des paramètres S21 , S11 et S22 pour une fréquence allant de
10 à 18 GHz (mesures : cercles, simulations : traits continus). . . . . . . . . 166
3.38 Comparaison mesures CW/simulations en puissance (Gain, Puissance de
sortie, PAE) pour trois fréquences (12, 14 et 16 GHz) avec Pin=-10dBm à
12dBm (mesures : cercles, simulations : traits continus). . . . . . . . . . . . 168
3.39 Mesures pulsées en puissance (Gain, Puissance de sortie, PAE) en fonction
de la fréquence, pour Pin=10 dBm et ceci pour 10 puces. . . . . . . . . . . 169
Introduction générale
Chapitre 1 :
La première partie de ce chapitre débute par une présentation globale des domaines
d’application des satellites artificiels avec une explication plus détaillée en ce qui concerne
les communications par satellites et en particulier la technologie VSAT. Ce type de
communication nécessite la présence d’un segment spatial (satellite) et d’un segment
sol (terminaux terrestres). Après une brève description des différentes fonctions qui
composent le satellite, nous étudierons les terminaux terrestres VSAT au sein desquels
nous mesurerons l’importance de la place réservée à l’amplification de puissance. Un
état de l’art des amplificateurs de puissance MMIC bande Ku considérés comme les plus
compacts actuellement sera effectué et nous examinerons les différentes technologies qui
peuvent être utilisées pour concevoir ce type d’amplificateur.
Comme mentionné précédemment, ce travail s’appuie sur une étude menée au sein de
la société UMS au cours de laquelle un amplificateur de puissance bande Ku a été réalisé.
La compacité du circuit a pu être améliorée grâce à l’utilisation d’une cellule de puissance
basée sur une distribution du transistor. Au cours de cette thèse, plusieurs versions de ce
type de cellule ont été réalisées et mesurées, elles seront étudiées dans la dernière partie
de ce chapitre.
Satellite géostationnaire
Sens de la rotation
de la Terre
Le deuxième type de satellite se situe sur des orbites basses, appelées LEO pour ≪ Low
Earth Orbit ≫ (600 km). Il permet d’avoir une couverture globale et une bonne résolution
au sol (Figure 1.6 b). Cependant, l’observation continue d’un point de la surface terrestre
est impossible. Ce problème peut néanmoins être résolu en utilisant un grand nombre de
satellites. Un nombre important de stations au sol reste alors nécessaire pour la gestion
de ceux-ci.
Figure 1.6 – Le cyclone Elena est une image de la NASA obtenue avec un satellite
géostationnaire. L’image des mines de cuivre du Chili (Los Pelambres) est obtenue par le
satellite FORMOSAT-2 d’Astrium qui est un satellite à orbite basse.
Les bandes de fréquence de fonctionnement pour ces deux types de satellites peuvent
aller de la bande L (1-2 GHz) à la bande X (8-12 GHz). La définition de ces bandes sera
réalisée en détail dans un paragraphe suivant.
Les communications par satellite sont apparues très tôt avec le lancement du premier
satellite de télécommunications russes, Souptnik en 1957. Suivi par les Etats-Unis avec le
lancement de Score en 1958, il restera 34 jours en activité. L’ESA développe des satellites
de télécommunication depuis 1968, et c’est dix ans plus tard que le premier satellite (OTS-
2 : Orbital Test Satellite) est lancé. Ce type de communication est devenue incontournable
pour la transmission de données, la téléphonie ou encore la TV diffusion.
Le principe de ces communications est présenté figure 1.7. Elles nécessitent la présence
d’un segment spatial et d’un segment sol comprenant les terminaux terrestres d’émission
et de réception.
Segment
Spatial
Satellite
Répéteur
Antenne de Antenne de
réception transmission
Liaison
Liaison descendante
montante
Station terrestre de réception
Amplificateur Convertisseur
Démodulateur Décodeur
faible bruit BF
Données de
sortie
Amplificateur de Convertisseur
HF Modulateur Encodeur
puissance (HPA) Données
d’entrée
Station terrestre de transmission
Les premiers systèmes de communication par satellites étaient conçus pour fonctionner
en mode passif. Les signaux émis par les stations terrestres étaient réfléchis dans toutes les
directions de l’espace mais leur capacité restait limitée et des émetteurs puissants ainsi que
des grandes antennes paraboliques au sol étaient nécessaires pour récupérer l’information.
De plus, les signaux étant diffusés dans toutes les directions de l’espace ils pouvaient donc
être reçus dans n’importe quelle partie du monde.
De nos jours, ces communications fonctionnent de manière active. Les satellites
reçoivent des signaux modulés (en fréquence ou en amplitude) d’une station terrestre,
les amplifient, puis les transmettent à une fréquence différente vers une autre station.
Ce principe de fonctionnement sera expliqué plus en détails dans le paragraphe suivant.
Chaque signal est caractérisé par sa bande de fréquence et sa largeur de bande. Plus la
largeur est grande, plus le débit d’information est important. Au 21eme siècle, grâce à
l’utilisation de fréquences élevées et de satellites de plus en plus performants, plus de 100
millions d’Européens regardent la télévision par transmission satellite.
1.3.1.1 Plateforme
Antenne TTC
Antenne de communication
(côté Terre)
Senseur Terre
Senseur Soleil
Antenne de communication
(côté Ouest)
Charge utile
Panneaux solaire
Antenne de communication
Plate- (côté Est)
forme
Ces objectifs sont d’autant plus difficiles à atteindre puisque la charge utile est limitée
par trois contraintes :
– La masse imposée par le lanceur et le véhicule.
– La puissance disponible pour le système d’alimentation de la charge utile.
– L’impossibilité d’intervenir à bord du satellite pour effectuer la maintenance des
équipements et garantir sa durée de vie.
L’antenne d’émission permet de faire en sorte que la puissance surfacique soit reçue
au sol à l’intérieur d’une ou plusieurs zones géographiques aux contours répondant à des
besoins bien précis. Aucune énergie ne doit être dispersée à l’extérieur des zones choisies,
cette énergie étant soit inutilisée si elle arrive sur un océan ou dans le désert soit gênante
pour d’autres systèmes de télécommunications.
L’antenne de réception quant à elle doit recevoir les signaux émis de la Terre et ne
doit capter aucun signal parasite.
I O
Antenne de M M Antenne
LNA
réception U U d’émission
X X
Filtre de réception Oscillateur Filtre d’émission
passe bande local passe bas
Amplificateurs HPA
+
CAMP (Channel Amplifier)
• Réception du signal incident large bande, d’où la présence d’un filtre large bande
situé juste après l’antenne de réception. Ce filtre coupe le bruit qui est en dehors de la
bande ainsi que le signal émis par l’antenne d’émission, ce qui évite la saturation du LNA.
En fait, il sélectionne le signal à traiter.
• Translation de fréquence, afin que le futur signal transmis ne puisse pas brouiller le
signal incident.
• Le filtre passe-bas, situé juste avant l’antenne d’émission, a pour but d’éliminer les
harmoniques et surtout d’atténuer les parasites dans la bande de réception afin d’éviter
les interférences. Il doit supporter des fortes puissances.
Fréquences (GHz)
Bandes Liaison Liaison Applications
descendante montante
L autour de 1.55 autour de 1.65 Service Mobile par Satellite (SMS)
S 2.17-2.52 autour de 2 et 2.68 SMS : recherche et exploitation spatiale
C 3.4-4.2 5.7-7.1 Service Fixe par Satellite (SFS)
X 7.25-7.75 7.9-8.4 SFS : applications militaires et météorologique
Ku 10.7-12.75 12.75-14.8 SFS et Service de Radiodiffusion par Satellite (SRS)
Ka 17.3-21.2 27-31 SFS, SRS et services multimédia
La liaison montante ou ≪ uplink ≫ désigne le trajet parcouru par le signal entre une
station située sur Terre et un satellite. La liaison descendante ou ≪ downlink ≫ correspond
à la liaison de communication dans le trajet inverse, c’est-à-dire du satellite vers la Terre.
Les plages de fréquences des deux liaisons sont différentes afin d’éviter les interférences
La table 1.2 montre le comparatif entre les bandes de fréquences utilisées pour la
technique de communication VSAT [21].
Bande
Bandes Avantages Inconvénients
passante
Peu affecté Interférences
C 500 MHz par la pluie terrestre
Fiabilité Encombrée
Disponible Absorption
Ku 500 MHz
Petite antenne par la pluie
Large bande Absorption
Ka 2000 MHz passante par la pluie et coût
Petite antenne des équipements
La bande de fréquence la plus utilisée de nos jours reste la bande Ku, notamment pour
la TV diffusion. Elle peut supporter la transmission de signaux venant de petites antennes
contrairement à la bande C. N’étant pas encore totalement encombrée, elle est surtout
utilisée pour les SFS et exclusivement pour les SRS. Son désavantage est qu’elle est très
sensible aux pluies qui absorbent les signaux ce qui provoque une inutilisation de cette
bande de fréquence dans les régions asiatiques du sud est. Par contre elle est peu sensible
aux parasites urbains et est donc préconisée pour l’utilisation des systèmes VSAT.
La bande Ka est la moins saturée à ce jour. Elle permet l’utilisation d’antennes encore
plus petites, les USAT (Ultra Small Aperture Terminal). Cette bande est surtout utilisée
par les terminaux mobiles de type GSM. Le développement de la bande Ka est de plus en
plus important notamment à cause de la demande croissante de l’élargissement en bande
passante dans les applications spatiales et de la capacité limitée en fréquence de la bande
Ku. Cependant, dans le domaine des applications VSAT, la bande de fréquence Ku reste
privilégiée et notre étude s’appliquera à cette bande de fréquence.
L’appellation VSAT correspond à la fois au support, qui permet à travers une parabole
de taille réduite de se connecter en direct à un satellite pour avoir une connexion
permanente, et à la liaison elle même. En général, ces stations sont utilisées en bande Ku ou
en bande C. La bande C est principalement utilisée pour l’Asie, l’Afrique et l’Amérique
latine, elle nécessite une antenne de diamètre important (2 à 3m) alors que la bande
Ku est utilisée en Europe et en Amérique du Nord et nécessite un diamètre d’antenne
réduit (autour de 0.9m). Il est nécessaire que les terminaux VSAT soient dans la zone de
couverture du satellite pour pouvoir bénéficier de la connectivité.
Les plus grands types d’architectures de réseaux utilisés dans les opérations VSAT
sont les suivants :
– L’architecture mixte
Cette dernière correspond à une combinaison entre les deux topologies présentées
précédemment. Les réseaux VSAT sont connectés en une topologie multi-étoiles, avec
chaque étoile connectée à une topologie maillée. Ce qui diminue le coût du réseau et allège
la quantité de données qui doivent être relayées par le site central de liaison montante
d’une étoile ou d’un réseau multi-étoiles.
Un des nombreux avantages du système VSAT est de pouvoir connecter jusqu’à 10000
points du réseau simultanément. Il permet aux grands groupes de mettre en place un
intranet global totalement privé sur plusieurs continents sans avoir à traiter avec les
opérateurs de chacun des pays dans lequel le groupe est implanté. L’évolutivité est aussi
un des gros avantages de ce système. En effet, connecter un nouveau point, ne demande
pas de gros moyens techniques et financiers. Ce système permet également d’installer une
station sur une unité mobile. Une fois que le modem VSAT est configuré, il faut juste
pointer l’antenne dans la bonne direction. Comme cela a déjà été expliqué, l’architecture
la plus utilisée pour les systèmes VSAT est l’architecture en étoile. Le HUB étant le point
central de tout le réseau, il en assure la gestion complète. Ceci permet donc de gérer et
superviser l’ensemble du réseau d’un seul et même point. Dans la mesure où toutes les
connexions sont du même type, on se retrouve avec un réseau homogène. Le fait d’utiliser
un satellite géostationnaire permet d’avoir une large couverture (en moyenne presque
un hémisphère). Ceci rend possible la création d’un réseau intranet global à une échelle
intercontinentale très rapidement.
Comme le montre la figure 1.12, le terminal VSAT est constitué de deux modules, un
module externe (en anglais outdoor unit, ODU) et un module interne (en anglais indoor
unit, IDU).
MMIC 2
Amp FI AGC Mixer RF buffer Filtre
HPA
IF
Power
LO buffer Det
MMIC 1
LLM RF Tx
ADC
LO
COAX
INDOOR OSC
MUX
UNIT IF CONTROL
DAC
RF Rx
OUTDOOR
OSC
UNIT
spatiale
Chapitre 1 : Amplification de puissance pour les terminaux terrestres de communication
Affiliation Technologie Topologie Poutsat Gain PAE Bande de Vd Dimensions Densité de DPN Date et
des (dBm) linéaire (%) fréquence (V) (mm2 ) puissance (mW/mm2 ) Ref
auteurs (dB) (GHz) (mW/mm2 )
0.25µm pHEMT (2.02x1.38)mm
Triquint 3 étages 34 (maxi) 26 29 12.5-17 7.5 716 5.679 2009 [27]
GaAs 2.79
0.25µm pHEMT (2.87x3.91)mm
Triquint 3 étages 39 22 22 13.5-15.5 9 709 2.151 2004 [28]
GaAs 11.21
Mimix 0.15µm pHEMT (1.4x1.1)mm
2 étages 29 20 - 13.75-14.5 5 515 0.547 2006 [29]
broadband GaAs 1.54
UMS 0.25µm pHEMT (3.28x1.87)mm
3 étages 34 29 25 12.5-15.5 8 409 2.538 2009 [30]
(Stark) GaAs 6.13
University pHEMT (3.64x2.35)mm
2 étages 38.1 10.5 24.6 13.6-14.2 8 760 0.344 2007 [31]
of Taı̈wan GaAs 8.554
Fraunhofer 0.25µm dual (2.75x2.25)mm
1 étage 34 (maxi) 10 (maxi) - 14-18 30 403 - 2011 [32]
IAF gate HEMT GaN 6.19
Research Institute 0.25µm (0.6x0.64)mm
2 étages 24.45 15 29.1 14 VC =4 726 - 2010 [33]
Korea BiCMOS SiGe 0.38
Avec BPrel = ∆F
FC
la bande passante relative, FC étant la fréquence centrale de la
bande et DP la densité de puissance surfacique en mW.mm−2 .
Nous pouvons observer que la quasi totalité des amplificateurs de puissances présentés
dans cet état de l’art sont réalisés sur substrat GaAs [27], [28], [29], [30].
Un amplificateur MMIC sur substrat GaN dans la bande Ku a été réalisé par l’institut
Fraunhofer [32]. Sa densité de puissance surfacique est de 403mW/mm2 , elle est plus
élevée que celle présentée par l’amplificateur conçu par UMS. Son principal inconvénient
est de présenter un gain linéaire faible (10dB maximum sur toute la bande de fréquence).
De plus, la PAE n’étant pas précisée nous pouvons supposer, vu son faible gain, qu’elle
doit être peu élevée.
L’amplificateur SiGe réalisé par l’institut de recherche de Corée [33] présente une très
bonne densité de puissance surfacique (726mW/mm2 ), meilleure que les dispositifs réalisés
par Triquint. Mais la puissance délivrée en sortie du circuit reste très faible, 0.28W, ceci
est caractéristique de la technologie SiGe utilisée pour des bandes de fréquences telles que
la bande Ku. Les résultats ne sont donnés qu’à 14 GHz.
Le dernier amplificateur réalisé par UMS [30] pour des applications VSAT possède un
gain linéaire élevé de 27 dB, et une PAE de 22% dans la bande de fréquence de 13.75-14.5
GHz. Contrairement aux autres amplificateurs dont les caractéristiques sont détaillées
L’utilisation du GaAs comme matériau semi-conducteur implique que l’on peut réaliser
deux types de transistors. Le transistor bipolaire à hétérojonction et le transistor à effet
de champ (FET). Le premier à l’avantage d’être un transistor rapide, qui possède une
bonne linéarité et un fort rendement [34], de plus, grâce à sa topologie verticale il est
très compact [35]. Il atteint des densités de puissance importantes, de l’ordre de 5 W/mm
de développement de grille. La fréquence de fonctionnement et la tension de claquage
Le principe du FET est apparu très tôt, en 1925, puisqu’un brevet a été déposé
par J.E Lilenfield [42], mais aucune exploitation industrielle n’a été effectué. Ce n’est
qu’après la seconde guerre mondiale, en 1952, que le transistor à effet de champ fût
≪ redécouvert ≫ grâce à W.Schokley [43]. Contrairement au transistor bipolaire, où les
Grille
GaAs N+ GaAs N+
AlGaAs dopé ND
AlGaAS
EF EC
a) Structure d’un transistor HEMT
Grille
Source Drain
Grille
GaAs N+ GaAs N+
AlGaAs
non intentionnellement dopé AlGaAS
EF EC
Figure 1.13 – Structure d’un transistor HEMT comparé à la structure d’un transistor
pHEMT.
Des modifications permettant de limiter les phénomènes parasites ont été apportées
au transistor pHEMT GaAs (Figure 1.14). Elles sont connues et communes pour tous ces
types de transistors [47].
AlGaAs barrier
Power buffer
GaAs substrate
La couche fortement dopée N++ située sous les contacts ohmiques permet d’éviter
l’apparition d’une diode Schottky parasite et ainsi diminuer les résistances séries parasites,
responsables de la chute du gain.
Le double plan de dopage est obtenu grâce à la double hétérojonction (Figure 1.15).
Cela conduit à deux puits de potentiels, ou un puit de potentiel plus large, qui permet
d’augmenter la densité de courant pour une même tension de claquage. On observe alors
une puissance plus importante en sortie.
Grille
Barrière
AlGaAS
Spacer 1
Spacer 2
Barrière arrière
AlGaAs
Tampon
EV EF EC
411.5 µm
211 µm
Cette architecture consiste à distribuer les doigts de base (ou de grille) de part et
d’autre d’un ruban principal. La mise en évidence des phénomènes distribués dans ces
transistors dit ≪ fishbone ≫ a été réalisé pour des transistors HBT GaAs, cette structure
L’amplificateur conçu par UMS a été réalisé afin de respecter le cahier des charges
présenté précédemment. C’est un amplificateur trois étages dont l’étage intermédiaire et
l’étage de sortie possèdent des cellules de puissance distribuées non plus basées sur une
distribution des grilles de part et d’autre d’un même ruban mais basée sur une distribution
de drain (Figure 1.18). Ces cellules que l’on appellera ≪ tête-bêche ≫ sont inspirées du
transistor ≪ fishbone ≫ puisque les doigts de grille sont distribués horizontalement au
lieu d’être distribués verticalement par rapport à l’axe de propagation entrée/sortie. La
principale différence observée est que ces doigts ne proviennent pas du même bus de
grille. En fait cette structure équivaut à deux transistors que l’on aurait mis en parallèle
et auxquels nous aurions fait subir une rotation de 90˚. Les deux transistors utilisés dans
cette cellule de puissance sont des pHEMTs GaAs de développement de grille 1.2 mm,
c’est à dire qu’ils possèdent chacun 12 doigts de grille de 100 µm de largeur. Les courants
de drain de chaque transistor vont alors s’additionner ce qui va entrainer une puissance de
sortie deux fois plus grande que celle d’un des deux transistors, ou encore une puissance de
sortie équivalente à un transistor à topologie parallèle de même développement de grille.
C’est à dire un transistor de 24 doigts de largeur de grille 100 µm.
Cellule « tête-bêche»
710 µm
2.45 mm
2.43 mm
Avec ce nouvel amplificateur nous pouvons observer une légère diminution de la surface
de la puce (3%) par rapport à l’amplificateur précédent STARK. L’avantage le plus
Table 1.5 – Comparaison des dimensions des deux amplificateurs STARK et ≪ tête-
bêche ≫.
Cette diminution du facteur de forme de l’amplificateur est due au fait que la cellule
de puissance utilisée possède également un facteur de forme proche de 1. En effet, les
cellules ≪ tête-bêche ≫ utilisées lors de cette conception possèdent un développement de
grille total de 2.4 mm. Si nous comparons le facteur de forme de cette cellule à celui
d’un transistor à topologie parallèle de même développement de grille, nous obtenons les
résultats suivants :
Topologie parallèle Cellule (≪ tête-bêche ≫)
Facteur de forme 4.36 1.39
Table 1.6 – Comparaison des facteurs de forme des deux cellules de puissance utilisées
dans l’amplificateur STARK et ≪ tête-bêche ≫.
D’un point de vue électrique nous observons une légère augmentation de la densité de
puissance (6%).
Des mesures de paramètres [S] et des mesures en puissance directement sur plaque ont
été effectuées. Les impédances d’entrée et de sortie sont fixées à 50 Ω et la polarisation
de grille (V g = −0.4V ) est une impulsion de 25 µs avec un rapport cyclique de 10 %. La
polarisation de drain est V d = 8V et Id = 1.1A. La figure 1.19 présente une comparaison
entre les mesures et les simulations du gain bas niveau et de la puissance de sortie. Nous
observons que le gain linéaire est sous estimé lors des simulations, en effet, la différence
entre le gain mesuré et simulé est de 8 dB dans le pire cas à 12 GHz et de 6 dB dans
la bande de fréquence 13.75-14.5 GHz. De plus, la variation du gain dans la bande de
fréquence 12-16 GHz est importante puisqu’il passe de 34 dB à 12 GHz pour atteindre 26
dB à 16 GHz.
En ce qui concerne la puissance de sortie c’est le contraire, elle a été surestimée lors
des simulations. En effet, lors des mesures, les spécifications exigées ne sont obtenues que
36 36
34
34
32
Gain_BN (dB)
Pout (dBm)
30 32
28
26 30
24
28
22
20 26
12.0 12.5 13.0 13.5 14.0 14.5 15.0 15.5 16.0 12.0 12.5 13.0 13.5 14.0 14.5 15.0 15.5 16.0
Frequence (GHz) Frequence (GHz)
Figure 1.19 – Comparaison des mesures en puissance (gain et puissance de sortie) sur
plaque et des simulations de 12 à 16 GHz de l’amplificateur @ Id=1.1A et V d=8V
(pointillés : mesures et traits continus : simulations).
S22
S11
-5
-10
-15
-20
2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 26 28 30
Frequence (GHz)
freq (2.000GHz to 30.00GHz) freq (2.000GHz to 30.00GHz)
100
50
0
S21 (phase)
-50
-100
S12
-0.05
-0.04
-0.03
-0.02
-0.01
0.00
0.01
0.02
0.03
0.04
0.05
-150
-200
-250
-300
2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 26 28 30
Frequence (GHz)
freq (2.000GHz to 30.00GHz)
C=0.957 pF
C= 0.702 pF
710 µm 503 µm
R=12 Ω R=12 Ω
C= 0.702 pF
C=0.957 pF
C=1.04 pF
R=5 Ω
500 µm
471.5 µm
R=12 Ω
C=0.827 pF
R=5 Ω
C=1.04 pF
Pour terminer, la version 4 est celle qui a subit le plus de changements au niveau de
son dessin par rapport au fishbone initial. En effet, les trous métallisés présents dans les
sources du transistor distribué initial ont été supprimés et mis à l’extérieur de la structure.
Leur nombre a été réduit puisqu’un trou métallisé peut servir pour plusieurs doigts. Ceci
permet d’approcher les doigts de grille au maximum, d’où une structure très compacte.
De plus, comme pour les versions 2 et 3, les chemins d’accès de grille et et de drain sont à
l’extrémité des bus. La taille verticale du fishbone était de 710 µm pour la version initiale
alors qu’avec la version 4 elle est de 471.5 µm.
Transistor 1 Transistor 6
Axe de
symétrie
Afin de comparer ces différentes versions, des mesures sur puce de paramètres [S]
La figure 1.23 montre le gain maximum disponible de la version 4 sur une bande de
fréquence de 0.5 à 30 GHz. La fréquence de transition FT du gain (voir chapitre 2), est
de 800 MHz. Ce qui signifie qu’à partir de cette fréquence il y aura une chute du gain
pour arriver à un gain nul à 14.2 GHz. Avec cette version, le gain maximum disponible
que peut fournir la cellule devient nul au milieu de la bande de fréquence étudiée. Cette
version n’est donc pas utilisable dans la conception d’un amplificateur de puissance 2W,
à fort gain en bande Ku.
30
FT=800 MHz
Le gain maximum
20
MaxGain (dB)
disponible
devient nul
10
-10
1E9 1E10 3E10
1.42E10
Frequence (GHz)
Figure 1.23 – Gain maximum disponible de la version 4 du fishbone pour une bande de
fréquence de 0.5 GHz à 30 GHz.
Les mesures du gain maximum disponible pour les versions 2 et 3 on été comparées à
celle d’un transistor à topologie parallèle (TP) de même développement de grille que le
transistor distribué. Cette comparaison permet de savoir si ces structures, qui possèdent
l’avantage d’être très compactes par rapport à un transistor à TP de même développement
de grille, possèdent les mêmes performances qu’un transistor classique. La figure 1.24
montre que pour les deux versions de ≪ tête bêche ≫ ainsi que le transistor TP de même
développement de grille, le niveau du gain en début de bande est identique. Cependant,
la fréquence de transition est deux fois plus petite pour le ≪ tête bêche ≫ que pour un
transistor classique ce qui entraine une chute du gain importante pour les deux ≪ tête
bêche ≫ à partir de 5 GHz. Par exemple, à 14 GHz le gain du transistor à topologie
30
FT=6.7 GHz
FT=11.5 GHz
MaxGain (dB)
20
10 FT=5.2 GHz
Transistor TP Risque
0 x x x « Tête-bêche» version 2 d’oscillation
« Tête-bêche» version 3
-10
1E9 1E10 3E10
Frequence (GHz)
Figure 1.24 – Gain maximum disponible de la version 2 et 3 du fishbone pour une bande
de fréquence de 0.5 GHz à 30 GHz comparé à un transistor TP de même développement.
La cellule de puissance dite ≪ tête-bêche ≫ n’apparait pas être une solution adéquate
pour diminuer la compacité d’un amplificateur. En effet, les problèmes de distribution
le long de la cellule diminue les performances attendues, notamment le gain. Il devient
nécessaire de proposer une nouvelle cellule de puissance. Celle ci devra être compacte,
présenter un gain important et des performances en puissance identiques à un transistor
TP de même développement de grille. La cellule cascode, comme nous le verrons par la
suite, peut s’avérer être un bon candidat.
1.5 Conclusion
Au cours de ce chapitre, nous avons souligné l’importance des télécommunications par
satellites, et notamment l’intérêt de disposer des techniques de communication VSAT.
Au sein de ce dispositif, l’amplification de puissance joue un rôle prépondérant dans
la transmission des informations vers le satellite. Les terminaux VSAT étant onéreux, il
est nécessaire d’intégrer le plus de fonctions possibles et en particulier l’amplificateur de
La filière GaAs étant moins chère et plus fiable que les nouvelles filières GaN, elle reste
incontournable dans ce domaine d’application et s’affirme alors comme la plus adaptée
pour concevoir des nouvelles cellules de puissances innovantes.
Chapitre 2 :
Conception, modélisation et
caractérisation d’une cellule cascode
intégrée en technologie MMIC
2.1 Introduction
Dans la partie précédente, nous avons montré qu’il est nécessaire de créer de nouvelles
cellules de puissance afin d’obtenir des amplificateurs les plus compacts possible. La
technologie PHEMT GaAs s’est présentée comme étant la filière la plus appropriée pour
la création de ces nouvelles cellules.
Dans cette partie, une étude théorique de la cellule cascode de base est proposée afin
de démontrer les avantages de l’utilisation de cette architecture. Dans le cadre de ces
travaux, plusieurs cellules de puissance basées sur la topologie cascode ont été conçues.
Ce sont des cellules réalisées sur technologie PHEMT GaAs de la fonderie UMS (process
PPH25X) et fonctionnant en bande Ku. Ces structures étant complexes, une modélisation
précise avec une meilleure prise en compte des effets distribués dans le transistor a été
réalisée. De plus, afin d’avoir un modèle le plus précis possible, une étude thermique et
électromagnétique ainsi qu’une étude de stabilité seront effectuées.
Une description détaillée de chaque topologie conçue sera réalisée. Les différents
critères pertinent de comparaison seront la sensibilité aux oscillations, la précision des
modèles électrique, électromagnétique et thermique. Le choix final de la topologie de
cascode se portera sur la version la plus compacte, la moins sensible aux oscillations
et la plus performante. Son modèle sera validé dans le domaine linéaire et non linéaire
permettant son utilisation pour la conception d’un amplificateur qui sera décrit dans le
chapitre 3.
2.2.1 Description
Le montage cascode est réalisé par la mise en cascade de deux transistors identiques
(Figure 2.1). Le premier est en configuration source commune (SC) et le second en
configuration grille commune (GC). Ces deux transistors sont donc traversés par le même
courant Ids1 =Ids2 =Ids et la tension de drain totale V dd de la cellule est la somme des
tensions de drain V ds1 et V ds2 de chaque transistor.
Ids1=Ids2 Vds2
D1 S2 D2
Vdd
GC
Vg1
G1 Vds1 Vgs2
SC
G2
S1
Vgs1
Vg2
Cgd
Grille Drain
Cgs
Gm.Vgs Gd Cds
Ri
Source
Figure 2.2 – Modèle petit signal simplifié d’un transistor à topologie parallèle.
D’après le modèle linéaire simplifié du montage cascode présenté figure 2.3, nous
effectuons les mêmes calculs :
gm.Vgs2
On pose :
gm
µ= (2.5)
gd
Dans le cas d’un transistor PHEMT de développement de grille 12x100 µm, la valeur
idéale de µ vaut 46.6.
−jωCgd Y trans12
Y casc12 ≈ ≈ (2.6)
2+µ µ+2
La résistance de sortie se trouve alors augmentée du facteur (µ+2) et cet effet persiste
même en hautes fréquences. Ceci permet de remédier à un inconvénient majeur des
transistors à effet de champ à longueur de grille courtes qui est de présenter des impédances
de sorties faibles et difficilement adaptable sur 50 Ω. De plus, l’isolation entrée-sortie
se retrouve améliorée puisque l’admittance Y12 est diminuée d’un facteur (µ+2), ce qui
signifie que l’effet Miller est réduit.
La figure 2.4 montre les caractéristiques électriques d’une cellule cascode constituée
de deux transistors PHEMT de 12 doigts de grille de développement 100 µm comparées
aux performances d’un transistor seul à topologie parallèle (TP) de même développement
de grille (24 doigts de grille de développement 100 µm).
30 40
35
20
30
MaxGain (dB)
Cascode
S21 (dB)
10 Cascode
25
0 TP 20
15
TP
-10
10
-20 5
0 5 10 15 20 25 30 0 5 10 15 20 25 30
Frequences (GHz) Frequence (GHz)
300 -30
-32 TP
250
-34
Z22 (Ohms)
200
S12 (dB)
-36 Cascode
150 -38
Cascode -40
100
-42
50 TP -44
0 -46
0 5 10 15 20 25 30 0 5 10 15 20 25 30
Frequence (GHz) Frequence (GHz)
2.2.2 Polarisation
La polarisation de la cellule cascode est une étape délicate. En effet, la polarisation
de drain du transistor SC (V ds1 ) va dépendre de la polarisation appliquée sur la grille du
transistor GC (V g2 ). La figure 2.5 présente les différents courants et tensions présents au
sein du dispositif cascode. Trois polarisations sont fixées par des générateurs extérieurs au
circuit tels que V g1 qui est imposée sur la grille transistor SC, V g2 et V dd qui sont
appliquées respectivement sur la grille et le drain du transistor GC. Les valeurs des
tensions V gs1 , V gs2 , V ds1 et V ds2 vont être déduites des valeurs imposées par ces trois
générateurs.
Ids1 Ids2
Ids1 Ids2=Ids1
VD
Vg1=Vgs1 0 Vg2 Vds1 Vdd
Vgs2 Vds2
Figure 2.6 – Schéma du principe de polarisation d’une cellule cascode à deux transistors
identiques.
Vdd
Vg1 Vgs2 R1
Vds1 Vg2
Vgs1
R2 C
Auto-
polarisation
R2
V g2 = .V dd (2.10)
R1 + R2
V dd
V g2 = + V gs1 (2.11)
2
Afin de respecter cette équation il est nécessaire d’avoir deux valeurs de résistances
différentes. Par exemple si nous prenons R2 = 100Ω, alors nous devrons prendre R1 =
110.5Ω. L’étape de polarisation de la cellule cascode est délicate. C’est pourquoi une
capacité C en parallèle avec R2 peut être ajoutée lors de ce processus selon l’équation
2.12 . Elle permet de retarder la polarisation de grille du transistor GC, par rapport à la
polarisation de drain V dd, ce qui évite d’endommager le dispositif.
R1.R2
τ= .C (2.12)
R1 + R2
la valeur de la capacité C à insérer dans le circuit vaut 95.5 nF. Nous observons que les
deux transistors constituant la cellule sont bien polarisés au même point de polarisation
V gs1 = V gs2 = −0.4V et V ds1 = V ds2 = 8V .
-390 0.2
0.0
-395
Vgs1 (mV)
Vgs2 (V)
-0.2
-400
-0.4
-405
-0.6
-410 -0.8
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Temps (µs) Temps (µs)
8 16
14
12
Vds1 et Vds2 (V)
6 Vds2
10
Vg2 (V)
8
4
6
4 Vds1
2 2
0
0 -2
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Temps (µs) Temps (µs)
D1 S2 D2
G1
G2
S1
Ca1
Vgs2 Cgs
Vds1
Ca1
Pour avoir un fonctionnement optimal, les deux transistors doivent être polarisés au
même point de fonctionnement. Par conséquent, V gs1 =V gs2 . Si on applique l’équation
du pont diviseur de tension, nous obtenons :
−Ca1
V gs2 = .V ds1 (2.13)
Ca1 + Cgs
−Cgs.V gs2
Ca1 = (2.14)
V gs2 + V ds1
Cgs.∆V gs2
Ca1 = (2.15)
∆V gs2 + ∆V ds1
fréquence. De plus, les cellules cascodes proposent une véritable alternative au topologie
de cellules existantes.
Afin de réaliser ces simulations EM, nous avons utilisé le logiciel ADS-Momentum. Il
est basé sur une technique de discrétisation numérique appelée la méthode des moments.
Elle a été introduite par Roger F Harrington en 1967 [72]. Elle utilise la résolution des
équations de Maxwell pour des structures planaires déposées sur un substrat homogène.
Les simulateurs basés sur cette méthode sont appelés des simulateurs ≪ 2.5D ≫. En effet,
la discrétisation est effectuée seulement sur les surfaces conductrices et non pas sur le
substrat. Cette technique convient donc particulièrement à des structures planaires mais
lorsque des structures complexes 3D sont utilisées elle montre rapidement ses limites. En
effet, la présence d’éléments rompant l’homogénéité du substrat nécessite de réaliser un
modèle le plus proche possible de la structure afin de prendre en compte au mieux tous
les éléments du système.
Via
Ligne métallique
GND: plan de masse
a) Vue de dessus b) Vue en coupe
– Définition du substrat :
Afin de prendre en considération toutes les couches du dispositif simulé, il est nécessaire
de les définir de la façon la plus précise possible. Le circuit est décrit par son substrat,
défini grâce à la connaissance de sa permittivité et de sa perméabilité relative, ainsi que son
épaisseur. Puis nous définissons les différentes couches qui le composent, grâce notamment
à la valeur de leur conductivité électrique (elles peuvent également être considérées comme
conducteur parfait) et à leur épaisseur. De plus, des vias peuvent être insérés dans la
structure, soit pour représenter un trou métallique reliant une ligne à la masse ou encore
pour réaliser un pont à air comme dans la figure 2.11.
Le calcul du substrat peut être réalisé dès cette étape, puisque seule la connaissance
des couches de la structure est nécessaire pour effectuer ce calcul. Si plusieurs géométries
de structures sont différentes mais qu’elles possèdent le même substrat, alors il n’est pas
nécessaire de refaire ce calcul. Le substrat précédent est simplement rechargé dans la
simulation.
Afin d’effectuer le calcul de paramètres [S], des ports d’excitation doivent être ajoutés
à la structure. Deux types de ports sont utilisés. Les ports ≪ single mode ≫, sont les
ports par défaut. Ce sont des ports calibrés afin d’annuler les effets de bord des lignes
de transmission. Ils se comportent comme si le signal était amené par une ligne. Ils sont
toujours placés à la frontière des lignes.
Les ports ≪ internal ≫, ne sont pas des ports calibrés et sont également appelés ports
à excitation directe puisque l’excitation est apportée en un point. Des éléments localisés
passifs ou actifs peuvent être connectés sur ces ports. Ils se trouvent soit à la frontière des
lignes de transmission soit à l’intérieur de ces surfaces.
– Le maillage :
Le maillage s’effectue seulement sur les surfaces planaires métalliques par des motifs
rectangulaires ou triangulaires. Il est flexible et peut facilement être modifié par
l’utilisateur. La densité de maillage va avoir un rôle important dans la précision et le temps
de calcul. Plus le maillage est dense plus la précision de la simulation sera importante,
mais les calculs seront plus longs, il faut alors faire un compromis entre le temps de calcul
et la précision des résultats.
Un élément clé lors du calcul des paramètres [S] destiné à fournir des solutions
rapides et très précises en utilisant un minimum de ressources informatiques est la
fréquence d’échantillonnage adaptative (AFS : Adaptative Frequency Sampling). Lors de
la simulation sur une large bande de fréquences, le suréchantillonnage et l’interpolation
linéaire peuvent être utilisés pour obtenir des courbes de paramètres [S] lissées. Le
suréchantillonnage implique cependant l’utilisation d’une énorme quantité de ressources.
ADS-Momentum permet à l’utilisateur de bénéficier d’un schéma d’interpolation
– La conduction
Dans le cas des solides, le transfert d’énergie s’effectue via les électrons libres dans
les matériaux métalliques, ou sous la forme d’une énergie mécanique par la vibration du
réseau cristallin. La loi de Fourier est définie de la façon suivante :
q = −K.∇T (2.16)
∂T
ρ.Cp . = ∇(K∇(T )) + g(x, y, z, t) (2.17)
∂t
Pour que le problème soit complètement posé, il faut ajouter à cette équation de
diffusion de la chaleur des conditions aux limites et des conditions initiales. Les conditions
aux limites peuvent être de trois types :
• La condition de Dirichlet : on impose une température constante sur une surface
(fond de puce pour les dispositifs électroniques par exemple).
• La condition de Neumann : on impose un flux de puissance sur une surface, si le flux
imposé est nul, on a une condition de paroi adiabatique.
• La condition de Cauchy : Le flux s’exprime en fonction de la différence de température
T de paroi et une température de référence.
– La convection
Le transfert de chaleur par convection se situe au niveau des particules, c’est à dire à
l’échelle macroscopique. Il s’effectue entre un solide et un fluide, l’énergie étant transmise
par le mouvement du fluide. On distingue deux types de convections, la convection forcée
qui est une mise en mouvement du fluide par un moyen mécanique et la convection
naturelle qui est une mise en mouvement du fluide sous l’action de la gravité (poussée
d’Archimède).
Dans le cas d’une interface solide/fluide, la quantité de chaleur évacuée par convection
est proportionnelle à l’aire S de l’interface et à la différence de température ∆T = Ts − Tf
.
Ce transfert d’énergie obéit à la loi de Newton :
q
= h.∆T (2.18)
S
q
S
représente le flux thermique échangé par unité de temps et de surface en W.m−2 .
h représente le coefficient d’échange en W.m−2 .K −1 , en convection naturelle, la valeur
du coefficient d’échange varie de 5 à 30 W.m−2 .K −1 . ∆T représente la différence de
température entre les deux phases en K.
– Le rayonnement
Tous les corps, quelque soit leur état, émettent un rayonnement de nature
électromagnétique. D’un point de vue phénoménologique, le transfert par rayonnement
se traduit par un échange de chaleur entre deux corps séparés par un milieu n’autorisant
aucun échange par conduction ou par convection.
Le concept de corps noir est introduit afin de décrire les caractéristiques radiatives
des corps réels, il permet de servir de référence par rapport à d’autres surfaces réelles. Le
corps noir est une surface idéale qui absorbe tous les rayonnements incidents dans toutes
les directions et pour toutes les longueurs d’onde. De plus, pour une température donnée
et une longueur d’onde donnée, aucune surface ne peut émettre plus d’énergie qu’un corps
noir. Ce dernier, diffuse de l’énergie dans toutes les directions.
L’énergie émise par un corps noir obéit à la loi de Stephan-Boltzmann :
E = σ.T 4 (2.19)
La plupart des solides ne se comportent pas comme des corps noirs. Ils n’absorbent
pas tous les rayonnent incidents et ils réfléchissent une partie de ce qu’ils ont absorbé en
plus de leur propre rayonnement. On définit alors l’émissivité ǫ comme le rapport entre
l’énergie émise par une surface réelle et celle émise par la surface d’un corps noir. Le flux
d’énergie vaut alors :
E = σ.ǫ.T 4 (2.20)
Dans le cas des circuits électroniques, l’évacuation de la chaleur générée au sein des
composants, vers la face arrière, s’effectue principalement par conduction, mais aussi par
convection et rayonnement sur les parties supérieures ou latérales.
constituent les nœuds. Le choix des éléments finis dépend surtout de la géométrie mais
également des grandeurs que l’on souhaite observer, par exemple en cas de simulation
couplée (thermo-mécanique).
Elément fini
Nœud d’un
élément fini
Le type de buffer qui est utilisé dans le transistor PPH25X est de l’AlGaAs. Sa séquence
est 15 x (AlGaAs 18.5nm/GaAs 1.5nm) plus une couche de 300 nm de GaAs en partant
du haut vers le bas. Les dimensions des couches étant très faibles, nous ne pouvons pas
effectuer une simple moyenne des différentes conductivités thermiques. Nous avons donc
utilisé des résultats issus de la littérature [76], [77], [78] sur les super-réseaux de matériaux.
La conductivité thermique du buffer est inférieure à la conductivité thermique respective
des matériaux utilisés. Cette conductivité dépend très fortement des phénomènes de
dispersion existant aux interfaces entre les couches du super réseau, et donc de l’état
de surface.
Grille
AlGaAs barrier
spacer
InGaAs chanel
spacer
GaAs substrate
Une recherche des symétries permet de diminuer les temps de calcul. Une simplification
de la structure est appliquée en tenant comptes des diverses conductivités thermiques
et des épaisseurs relatives des différentes couches. Eventuellement ces conductivités
thermiques peuvent avoir des variations non linéaire en fonction de la température.
Les transistors faisant intervenir des variations de dimensions importantes, le maillage
est une étape primordiale et longue. C’est elle qui va imposer le temps de calcul, mais
c’est elle aussi qui impose la précision dans les résultats, d’où son importance capitale.
C’est pour cela qu’elle reste délicate et coûteuse en temps de développement.
Dans les circuits électroniques, le transfert de chaleur généré au sein des composants
(essentiellement vers la face arrière) s’effectue principalement par conduction. On définit
la résistance thermique, Rth, par analogie avec la résistance électrique (table 2.1).
On a alors :
V = R.I (2.21)
∆T = Rth.P (2.22)
Il existe deux types de stabilité linéaire pour un système deux ports. La première
est la stabilité inconditionnelle, le système deux ports est stable quelque soit les charges
présentées à son entrée ou à sa sortie. La deuxième est la stabilité conditionnelle, il existe
une ou plusieurs combinaisons de charges de l’abaque de Smith qui feront osciller le circuit.
Ces deux types de stabilités linéaires seront déduits des valeurs du facteur K défini par
Rollet en 1962 [81]. Ce facteur est défini en fonction de ses paramètres [S], [Y], [G], [H]
et s’exprime par l’équation suivante :
où γij représente les éléments (i,j) d’une des matrices des paramètres [S], [Y], [G] ou
[H].
Le critère de stabilité peut être défini en fonction d’un paramètre µ comme montré
dans [82]. Le paramètre µ en plus d’évaluer le critère de stabilité permet d’estimer son
degré d’instabilité potentielle car il peut s’interpréter géométriquement comme la distance
minimale entre l’origine de l’abaque de Smith unitaire et la région d’instabilité. Cependant,
ce paramètre n’a jamais supplanté le facteur K qui reste la méthode la plus utilisée par
les concepteurs de circuits microondes.
L’équation 2.23 peut s’écrire en fonction des paramètres [S] en suivant [83]. En effet,
on peut déduire de façon intuitive un critère de stabilité à l’entrée, qui sera fonction de
sa charge de sortie, en considérant |ΓIN | module du coefficient de réflexion ramené par la
charge à l’entrée du dispositif. Si |ΓIN | > 1 cela signifie que la puissance à la sortie du
dispositif est supérieure à celle de l’entrée, on peut alors en déduire qu’en l’absence de
puissance entrante il existera tout de même une puissance sortante, ce qui signifie que le
système sera en train d’osciller.
Le problème de stabilité d’un quadripôle est donc lié à sa ≪ non unidirectionalité ≫,
c’est à dire aux dispositifs qui possèdent un gain très élevé. Il est donc important d’avoir
une bonne adaptation en gain tout en ayant un système stable. Pour des quadripôles non
unidirectionnels, les adaptations idéales en entrée et en sortie ne sont plus S11 ∗
et S22
∗
à
cause de la rétroaction apportée par S12 . La figure 2.14 représente un quadripôle linéaire
deux ports auquel nous appliquons une étude de stabilité.
a1 b2
ZS
[S] ZL
ΓS ΓIN b1 a2 ΓOUT ΓL
Figure 2.14 – Représentation d’un système 2 ports chargé sur son impédance de charge
ZL et son impédance de source ZS .
ΓL .S21 .S12
ΓIN = S11 + (2.24)
1 − ΓL .S22
ΓS .S21 .S12
ΓOU T = S22 + (2.25)
1 − ΓS .S11
ΓS = Γ∗IN (2.26)
ΓL = Γ∗OU T (2.27)
∗
C1 = S11 − ∆S22 (2.30)
q
B2 ± B22 − 4 |C2 |2
ΓL = (2.31)
2C2
∗
C2 = S22 − ∆S11 (2.33)
avec
Selon la valeur que va prendre le facteur de Rollet K, nous allons pouvoir définir si
le dispositif linéaire est stable ou non. La table suivante indique comment adapter le
transistor en fonction du facteur K.
– Si |K| = 1 :
Nous avons B12 = 4 |C1 |2 et B22 = 4 |C2 |2 . Si nous reportons ces égalités dans le calcul
des coefficients ΓS et ΓL , nous obtenons |ΓS | = |ΓL | = 1. Il est alors impossible d’adapter
simultanément l’entrée et la sortie. Le dispositif oscille.
– Si |K| < 1,
Pour qu’un système amplificateur chargé par un coefficient de réflexion ΓL soit stable,
il faut que |ΓIN | < 1 lors du choix de ΓL . En pratique nous considérons toujours des
charges passives ΓL < 1, par conséquent nous pouvons utiliser l’abaque de Smith.
ΓL S21 S12
S11 + =1 (2.36)
1 − ΓL S22
|S12 | |S21 |
R= (2.38)
|S22 |2 − |∆|2
Le cercle de stabilité en entrée (input stability circle) est également appelé le cercle
d’instabilité des charges (load instability circle). Ce cercle délimite deux zones, une zone où
|ΓIN | < 1, qui correspond à une zone de stabilité et une autre où |ΓIN | > 1 qui correspond
à une zone d’instabilité. Afin de déterminer quelle zone de l’abaque correspond à ces
différentes conditions, il est pratique de regarder le cas particulier du centre de l’abaque
pour lequel ΓL = 0 ou encore ΓIN = S11 .
d’entrée (figure 2.15 b) cela signifie que la zone des charges de sortie pour lesquelles le
système est stable en entrée se situe à l’intérieur des cercles.
Zone instable
in
nstable Cercles délimitant
la zone de ZZone
one sstable
tab
ble
stabilité
ΓL=0 ΓL=0
ZZone
one sta
stable
able
Si |S11|<1
Zone iinstable
nstable
a) b)
Figure 2.15 – Représentation de deux cas de stabilité conditionnelle lorsque |S11 | < 1.
Zone
one sstable
table Cercles délimitant
la zone de Zone
one iinstable
Zo nstaable
stabilité
ΓL=0 ΓL=0
ZZone
one ins
instable
stab
ble Si |S11|>1
Zone sstable
table
a) b)
Figure 2.16 – Représentation de deux cas de stabilité conditionnelle lorsque |S11 | > 1.
√
S21
M AG =
. K − K 2 − 1 (2.39)
S12
Dans le cas d’une stabilité conditionnelle, c’est à dire lorsqu’un dispositif est instable
pour au moins un couple de charges entrée-sortie, et qui se traduit par |K| < 1.
Nous définissons le gain stable maximum (Maximum Stable Gain : MSG) par l’équation
suivante :
S21
M SG = (2.40)
S12
30
25
MaxGain (dB)
20
MAG=>|K|>1
15
MSG=>|K|<1
10
5
0 5 10 15 20 25 30
Frequence (GHz)
Figure 2.17 – Courbe typique du gain maximum disponible pour une bande de fréquence
de 0.5 à 30 GHz.
La mesure de paramètres [S] permet de valider les modèles petit signaux des transistors
ou des cellules de puissance utilisés lors des simulations. Ces mesures sont réalisées à
l’aide d’un analyseur de réseau vectoriel (VNA, Vector Non linear Analyser) de la marque
Anritsu.
Le principe du banc load pull est d’effectuer un balayage des impédances de charge
d’entrée et de sortie sur l’abaque de Smith du transistor. Ces acquisitions permettent de
mesurer la puissance de sortie en fonction de la puissance d’entrée appliquée au composant.
Il est ainsi possible de trouver la meilleure adaptation entrée-sortie permettant d’obtenir
un maximum de rendement en puissance ajoutée (Power Added Efficiency : PAE), de
Pout, de Gain ou un compromis entre ces trois caractéristiques selon l’application visée.
La figure 2.18 présente le banc load pull que nous avons utilisé lors des mesures durant
cette thèse. Il comporte une partie RF qui est constituée d’un tuner d’entrée et de sortie
afin de faire varier les impédances de charge en entrée et en sortie du dispositif. Dans
notre cas, nous ne ferons varier que l’impédance de sortie.
Analyseur de Réseaux
Vectoriels Nonlinéaires
CH1 CH2 CH3 CH4
Signal CW
f0
Ce banc est dit de type passif, car les impédances présentées en sortie du transistor
sont synthétisées grâce à un tuner mécanique. Un tuner est un élément passif qui permet
de positionner horizontalement et verticalement des plongeurs qui modifient l’impédance
ramenée à son entrée. Ce dispositif passif, est limité sur l’abaque de Smith à un cercle de
diamètre strictement inférieur à 1 délimitant le domaine des impédances présentables
par l’ensemble tuner et éléments passifs le reliant à la sortie du transistor (figure
2.19). Il convient très bien pour des mesures de puissances d’un dispositif présentant
une impédance de sortie élevée. Malheureusement plus la fréquence de fonctionnement
augmente, plus l’impédance de sortie nécessaire à l’adaptation du transistor est petite
c’est à dire plus elle se rapproche des extrémités de l’abaque de Smith.
Impédances de charges
disponibles en load pull Zone restreinte des impédances de
passif à 2 GHz charges disponibles à 18 GHz en
load pull passif
Figure 2.19 – Représentation des charges disponibles sur l’abaque de Smith en Load Pull
passif pour deux fréquences différentes.
Afin de résoudre ce problème une autre technique a été élaborée, elle est appelée
load-pull actif. Le principe est résumé sur la figure 2.20. Il s’agit d’injecter à la sortie du
transistor un signal à la fréquence nominale de fonctionnement, pour simuler une onde a2
qui serait renvoyée par une impédance donnée. Avec cette technique, des coefficients de
réflexion à la sortie du composant égaux, voire supérieurs à 1, peuvent être créés. Pour des
transistors très désadaptés, ayant des impédances de sortie inférieures à quelques Ohms
par exemple, cette méthode permet d’atteindre ces impédances là où les bancs passifs en
seraient incapables. Il s’agit d’une technique très utile pour la conception d’amplificateurs.
Son principal point faible est d’être particulièrement difficile à maı̂triser.
Analyseur de Réseaux
Vectoriels Nonlinéaires
CH1 CH2 CH3 CH4
Signal CW
F0
TOP a1 a2
DUT
b1 b2
Step Coupleurs
atténuateur 50Ω bi-directionnel
Boucle active
Boucle active
Les ondes de puissances sont récupérées via des coupleurs au plus proche du dispositif
sous test grâce à un analyseur de réseau vectoriel non linéaire (NVNA) [86], [87]. Pour les
bancs de Limoges et de Brive nous utilisons un analyseur de réseau grand signal (Large
Signal Network Analysor : LSNA). Le LSNA est un récepteur qui mesure les quatre
ondes de puissance a1 , b1 , a2 et b2 . Il fournit des informations d’amplitude et de phase
pour une fréquence définie et un certain nombre de ses harmoniques, contrairement à un
analyseur de réseau vectoriel (ARV) qui explore toute une bande de fréquence. Il permet
la reconstruction des tensions et courants dans les plans définis lors du calibrage. Sa
fréquence maximale de fonctionnement est de 18 GHz. Elle est limitée par la connectique
à l’intérieur du LSNA. Cela signifie que si l’on veut étudier un signal à 3 harmoniques, sa
fréquence fondamentale ne peut pas dépasser 6 GHz. Des mesures temporelles sont alors
réalisées. Nous avons donc accès à grand nombre d’informations tels que la puissance de
sortie mais aussi la puissance à l’entrée du DST, les coefficients de réflexions en entrée et
en sortie du dispositif, le gain et la PAE. Il permet l’acquisition de l’amplitude absolue et
de la phase relative à une onde prise en référence pour une fréquence fondamentale donnée
et les fréquences harmoniques accessibles dans sa bande de fréquence de fonctionnement.
La partie DC est constituée de générateurs qui peuvent être éventuellement pulsés, ce qui
n’est pas notre cas.
La filière P P H25X semble alors être le meilleur compromis puisqu’elle possède la plus
forte densité de puissance, ce qui permettra d’avoir un dispositif compact.
PH25 PH15 PPH25 PPH25X PPH15 PPH15X
Process
Faible bruit Faible bruit Puissance Forte puissance Puissance Forte puissance
Densité de
250 300 700 900 600 750
puissance (mW/mm)
Longueur de
0.25 0.15 0.25 0.25 0.15 0.15
grille (µm)
Ids (Gm max)
200 220 200 170 300 350
(mA/mm)
Tension de
>6 > 4,5 > 12 > 18 >8 > 12
claquage (V)
Fréquence de
90 110 50 45 75 65
coupure (GHz)
Table 2.3 – Vue d’ensemble des performances des filières PHEMT d’UMS.
Le dessin du transistor PPH25X est présenté figure 2.21, il est caractérisé par la
présence de trous métallisés (vias holes) dans chacune des sources. Ces trous métallisés
assurent un fort gain et une bonne stabilité thermique. De plus, ils fournissent un aspect
distribué au transistor ce qui nous permettra de réaliser plusieurs versions de topologies
de cascode et notamment des cellules avec des composants passifs intégrés à l’intérieur du
modèle des transistors. Cette technologie utilise des capacités MIM (Metal Isolant Metal).
Cette filière permet également de réaliser des ponts à air, dont on se servira par la suite.
a) Vue de dessus
b) Vue en coupe
Le schéma équivalent petit signal est constitué de deux parties distinctes, les éléments
extrinsèques qui correspondent aux éléments parasites des accès du transistor et les
éléments intrinsèques (figure 2.22).
Lg Rg Cgd Rd Ld
Gm.Vgs.e-jωτ Gd Cds
Ri
Transistor intrinsèque
Rs
Csm
Ls
Afin d’extraire le modèle petit signal, une mesure de paramètres [S] proche du point
de repos est nécessaire. Un algorithme de calcul créé au sein du laboratoire associé à
une procédure d’optimisation permet de rechercher les valeurs des éléments extrinsèques
jusqu’à ce que tous les paramètres intrinsèques soient indépendants de la fréquence [91],
[92]. Ce dernier basé sur la méthode du recuit simulé permet de s’affranchir des problèmes
de minimum locaux qui pourraient être néfaste à la recherche de la solution optimale.
Une comparaison pour chaque fréquence étudiée est systématiquement effectuée entre le
modèle petit signal calculé par l’algorithme et les mesures de paramètres [S]. Le but de
cet algorithme étant de minimiser l’écart entre le modèle et la mesure.
Des paramètres [S] ont été réalisés sur tout le réseau I(V) pulsé du transistor, par
conséquent il a pu être montré que les éléments Cgs, Cgd, Gm et Gd sont non linéaires,
alors que la résistance Ri, la capacité Cds et le retard τ sont considérés comme constants
même s’ils varient légèrement avec la polarisation. Cette approximation simplifie le modèle
sans changement notable du comportement de celui-ci à fort niveau.
Dans les tables 2.4 et 2.5, nous présentons les valeurs des paramètres extrinsèques
et intrinsèques d’un transistor pHEMT de développement de grille 12x100 µm puisque
c’est ce transistor qui sera utilisé lors de la conception des nouvelles cellules de puissance.
Les paramètres de ce modèle ont été extraits pour un point du réseau I(V) proche du
point de polarisation visé. Les paramètres extrinsèques étant indépendants du point de
polarisation ils seront conservés lors de la réalisation du modèle non linéaire.
Paramètres extrinsèques
Rg (Ω) Lg (pH) Cgm (f F ) Rd (Ω) Ld (pH) Cdm (f F ) Rs (Ω) Ls (pH) Csm (f F )
1.083 28.925 37.754 0.521 24.453 63.436 0.521 2.847 67.086
Table 2.4 – Valeurs des paramètres extrinsèques du modèle petit signal d’un transistor
(12×100 µm) extrait de 0.5GHz à 30GHz au point de polarisation : VDS = 8V , IDS =
160mA.
Paramètres intrinsèques
Cgs (pF ) Cgd (pF ) Cds (pF ) gm(mS) gd(S) τ (ps) Ri (Ω)
2.548 0.095 206.8 446 0.01 4.420 0.338
Table 2.5 – Valeurs des paramètres intrinsèques du modèle petit signal d’un transistor
(12×100 µm) extrait de 0.5GHz à 30GHz au point de polarisation : VDS = 8V , IDS =
160mA.
La comparaison, qui montre une bonne concordance, entre les paramètres [S] mesurés
et ceux issus du modèle petit signal d’un transistor 12×100 µm au point de polarisation
Vd=8V et Id=160mA est présentée figure 2.23.
30
25
20
S21 (dB)
15
S11
S22
10
5
0
-5
-10
0 5 10 15 20 25 30
Frequence (GHz)
freq (500.0MHz to 30.00GHz) freq (500.0MHz to 30.00GHz)
150
100
S21 (phase)
50
S12
0
-0.04
-0.03
-0.02
-0.01
0.00
0.01
0.02
0.03
0.04
-50
-100
0 5 10 15 20 25 30
Frequence (GHz)
Figure 2.23 – Comparaison mesures (croix) modèle (trait) des paramètres S11 , S22 , S21
et S12 au point de polarisation Vds=8V, Ids=160mA, en fonction de la fréquence de 0.5
à 30 GHz pour une transistor 12×100 µm.
Le modèle non linéaire (NL) du transistor PHEMT est celui de la bibliothèque UMS
(figure 2.24). La source de courant de drain commandée par les tensions V ds et V gs
est l’élément principal de la modélisation fort signal. Elle est basée sur le modèle de
Tajima mais ses équations ont été modifiées afin de correspondre au mieux aux mesures
réalisées. Les diodes d’entrée Idgs et Idgd représentent les générateurs de courant non
linéaires permettant de représenter le courant positif de grille mesuré pour les fortes
valeurs positives des tensions V gs et V gd.
Iav_iongd
Iavgd
Lg Rg Cgd Rd Ld
Ri
Transistor intrinsèque
Rs
Csm
Ls
Afin d’obtenir les capacités non linéaires Cgs(V gs) et Cgd(V gd), un cycle de charge
idéal est tracé sur les mesures du réseau I(V), il doit être représentatif d’un fonctionnement
en puissance du transistor. Seuls les paramètres [S] le long de ce cycle sont utilisés,
les éléments capacitifs intrinsèques sont extraits, pour chaque point de polarisation
correspondant à ce cycle de charge, avec l’algorithme présenté dans le paragraphe
précédent.
Une loi d’échelle sur les différents paramètres extrinsèques et intrinsèques du transistor
permet d’adapter la dimension de ce dernier sans effectuer de nouveau une modélisation
complète [47]. Une comparaison des mesures de paramètres [S] et du modèle non linéaire
du transistor pour deux tailles de transistor différentes est présentée figure 2.25 et figure
2.26. Les deux transistors testés ont un développement de grille de 8x100 µm et 12x125
µm. Une mesure load pull à 12 GHz sur leur impédance de charge optimale permet de
valider le modèle proportionnel ou ≪ scalable ≫ non linéaire (figure 2.27). Cette loi d’échelle
sera utilisée lors de la modélisation de la cellule de puissance cascode.
30
20
S21
S21 et S12(dB)
10
0
-10
-20 S12
-30
-40
S11 et S22
2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 26 28 30
S11
Frequence (GHz)
120
S22
100
S21 et S12 (phase)
80 S21
60
40
20 S12
freq (2.000GHz to 30.00GHz)
0
-20
-40
2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 26 28 30
Frequence (GHz)
30
20
S21
2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 26 28 30
Frequence (GHz)
S22 150
-50
2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 26 28 30
Frequence (GHz)
60 60 60 60
Transistor 8x100 µm Transistor 12x125 µm
50 Zload=18.3+j25.7 50 50 50
Gain(dB), Pout(dBm)
Gain(dB), Pout(dBm)
Zload=13.3+j17.4
40 40 40 40
PAE(%)
PAE(%)
30 30 30 30
20 20 20 20
10 10 10 10
0 0 0 0
-6 -4 -2 0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 -15 -10 -5 0 5 10 15 20 25
Pin (dBm) Pin (dBm)
être remplacé par 6 transistors à 2 doigts de grille en parallèle. Les bus de grille et de
drain sont simulés sous Momentum, ce qui implique que le modèle à 2 doigts de grille
ne contiendra pas les effets de ces bus. La différence du nombre de doigts entre les deux
modèles (distribué à 2 doigts de grille et non distribué à 12 doigts de grille) est importante.
Malgré la loi d’échelle, une mise à jour de certains paramètres du modèle 2 doigts a dû être
réalisée. La figure 2.28 montre le schéma du transistor distribué que nous avons simulé.
Modèle à 2 doigts
de grille
2x125 µm
2x125 µm
2x125 µm
2x125 µm
2x125 µm
Les paramètres [S] de ce modèle distribué optimisé comparés aux mesures d’un
transistor de même développement montrent une bonne concordance (figure 2.29).
La vérification du modèle non linéaire du transistor distribué est réalisé grâce une
comparaison entre la simulation load pull et la mesure à 12 GHz (figure 2.30). Lors de
cette mesure le transistor est chargé sur une impédance de charge proche de l’optimale
Zload = 13.3 + j17.4 (TOS=1.9).
Le modèle du transistor 2x125 µm qui a servi à la distribution du transistor est alors
validé et peut être utilisé pour la modélisation de la cellule cascode.
20
10
S21
-10
-20
S12
-30
-40
S11 et S22
2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 26 28 30
Frequence (GHz) S11
100 S22
80
S21 et S12 (phase)
60
40 S21
20
S12
0
-20 freq (2.000GHz to 30.00GHz)
-40
-60
2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 26 28 30
Frequence (GHz)
35 60
Transistor distribué 12x125 µm
Gain (dB) et Pout (dBm)
Pour les quatre versions conçues nous avons dû faire des modifications au sein même de
la topologie du transistor utilisé. En effet, dans le transistor source commune du dispositif
cascode, nous avons supprimé le bus de drain afin que la connexion entre le drain de ce
transistor et la source du second s’effectue de la façon le plus directe possible. Pour que
cette connexion soit réalisable il a fallu inverser les pads de drain et de source du transistor
GC mais également supprimer les trous métallisés présents au sein de ce transistor. Ces
quatre versions se révèlent plus compactes qu’un transistor source commune de même
développement de grille.
Nous pouvons distinguer deux types de versions. Tout d’abord celles qui incluent
la version 1 et 2 (figure 2.31 et figure 2.32), puisque dans ces deux cas les transistors
constituant le cascode sont les plus proches possibles, et les éléments assurant le
fonctionnement fort signal sont à l’extérieur des transistors et ajoutés sur la dimension
verticale de celui-ci. L’autre type de version inclut les versions 3 et 4 (figure 2.33 et figure
2.34), puisque les éléments capacitifs et résistifs sont cette fois-ci distribués le long des
transistors constituant la cellule cascode. Ce qui donne un aspect intégré à ces deux types
de versions, en particulier pour la version 3 puisque les éléments passifs sont distribués
entre des paires de doigts de grille. La valeur de capacité Ca1 a tout d’abord été calculée
de manière théorique grâce à l’équation 2.15, puis sa valeur a été optimisée afin d’avoir
les meilleures performances électriques possibles. Une résistance Rstab a été ajoutée en
série avec Ca1 afin d’avoir un compromis entre performances et stabilité du système. Ces
différentes valeurs ont tout d’abord été optimisées sur une cellule cascode de base, puis
elles ont subit une nouvelle optimisation lors de l’utilisation d’un modèle complet de la
cellule cascode.
Dans la version 1 (figure 2.31), les transistors constituant le dispositif cascode sont les
plus proches possibles. Le drain du transistor SC est directement connecté à la source du
transistor GC par un pont passant au dessus du bus de grille de ce dernier. La valeur totale
de la capacité Ca1tot est de 0.52pF et celle de la résistance de stabilité totale Rstabtot est
de 3.5Ω. Ces deux composants passifs sont distribués en deux éléments de part et d’autre
du bus de grille du second transistor. Chaque capacité Ca1 vaut alors la moitié de la valeur
La version 2 (figure 2.32) possède, elle aussi, des transistors les plus proches possible.
La connexion entre les deux transistors est directe et s’effectue sans la présence de ponts
car le bus de grille du second transistor a été déplacé du même côté que son bus de drain.
Par contre, le drain du transistor GC est relié à son bus par un pont passant au dessus
de son bus de grille. La valeur de la capacité Ca1tot est la même que pour la première
version, alors que la résistance de stabilité totale Rstabtot est augmentée puisqu’elle vaut
maintenant 7.5 Ω. Cette augmentation de Rstabtot afin de stabiliser le dispositif laisse
penser que cette version sera plus sensible aux oscillations. Elle est de même dimension
verticale et possède le même FF que la version 1.
345 µm
Rstab Ca1
S1 D2
D1 S2
550 µm
Pont
350 µm
Rstab Ca1
S1 D2
D1 S2
550 µm
Pont
452 µm
Rstab Ca1
S1 D2
D1 S2
412.5 µm
Pont
433 µm
S1 D2 Ca1 over
via
D1 S2
Rstab
413.5 µm
Pont
La dernière version est la plus ≪ risquée ≫ (figure 2.34). En effet, tout comme la version
2 nous déplaçons le bus de grille du second transistor vers la sortie du dispositif et tout
comme la version 3, nous allons distribuer verticalement le long de ce bus de grille la
capacité Ca1tot = 0.51pF et la résistance Rstabtot = 4Ω. Or puisque le bus de grille se
situe en sortie, nous allons devoir distribuer les éléments passifs entre ce bus et le bus de
drain du second transistor. Ce qui implique la présence d’une ligne de longueur importante
pour relier le drain à son bus en sortie. De plus, l’utilisation des trous métallisés présents
dans le premier transistor est alors impossible. Ceci implique l’utilisation de capacités
MIM dites ≪ over via ≫. Ce sont des capacités qui sont directement mise à la masse
grâce à la présence d’un trou métallisé. La technologie de ces capacités est très sensible,
surtout lorsque la distribution de ces éléments implique la réalisation de valeurs très
petites (Ca1 = 0.085pF ) inférieures à la limite imposée par les règles de dessin (0.2pF).
Nous ne pouvons pas être certain de la valeur réelle qu’aura cette capacité, une fois la
fabrication effectuée, elle sera très sensible à la technologie. Cette version est également
très compacte puisque sa dimension verticale est de 413.5 µm et son F F = 0.95.
Un bilan des dimensions verticales et des facteurs de forme de chaque version de cellule
cascode est présenté dans la table 2.6. Une comparaison est réalisée avec un transistor à
TP de même développement de grille (2.4 mm). Pour les versions 1 et 2, une diminution
de 30% est observée sur la dimension ≪ y ≫. Pour les versions 3 et 4, c’est une diminution
encore plus importante, 48%, qui est réalisée. Les cellules cascodes conçues et notamment
celles dont les éléments passifs sont intégrés au sein des transistors sont donc les plus
compactes puisque leur dimension ≪ y ≫ a diminué. Comme le transistor et le cascode
possèdent le même développement de grille, nous devrions avoir les mêmes performances
pour ces deux dispositifs, d’où des performances par unité de surface plus importantes
pour la cellule cascode. Ce qui est un atout pour concevoir un amplificateur plus compact.
Dans la suite de ce chapitre seule la cellule cascode intégrée (version 3) sera expliquée
car c’est la version qui nous a servi lors de la conception de l’amplificateur. Nous verrons
pourquoi à la fin de ce chapitre grâce à un bilan réalisé sur ces quatre versions.
Nous appliquons la même démarche que celle utilisée pour modéliser le transistor
distribué. Dans le modèle de la cellule cascode, les deux transistors 12x100 µm sont
alors remplacés par six transistors en parallèle de développement de grille 2x100 µm. La
première étape de la modélisation consiste alors à optimiser le modèle du transistor à 2
doigts de grille (voir le paragraphe 2.4.1.3).
Toutes les parties passives telles que les bus de grille, de drain, les ponts ont été simulées
avec ADS-Momentum. Les deux transistors constituant la cellule cascode étant proche,
cette simulation permet de prendre en compte tous les couplages électromagnétiques qu’il
pourrait y avoir entre les deux transistors. Lors de cette modélisation les capacités et
les résistances ont été également été simulées avec ADS-Momentum afin de prendre en
compte la proximité de ces éléments par rapport aux interconnexions entre les transistors.
La figure 2.35 montre le principe de la modélisation de la structure. En fait, nous
pouvons considérer que cette cellule de puissance est composée de plusieurs cellules
élémentaires en parallèle. Chaque brique de base étant une cellule cascode constituée de
transistors en cascade de deux doigts de grille et de même largeur de grille 100 µm. Une
capacité Ca1 intégrée sur le bus de grille du transistor GC permet le fonctionnement fort
signal de la cellule et une résistance Rstab assure sa stabilité. Cette cellule élémentaire
constitue la brique de base de la cellule de puissance. En effet, selon les performances
désirées, le nombre de cellules élémentaires mises en parallèles peut être ajusté.
Brique de base
Via
Rstab Ca1
Via
Rstab Ca1
GC
SC
Via
Rstab Ca1
Axe de symétrie
3.5 0.9
3.0 K>1 0.8
2.5 0.7
2.0
0.6
Delta
1.5
|Δ|
0.5
K
1.0
0.4
0.5
0.0 0.3
-0.5 0.2
-1.0 0.1
0 5 10 15 20 25 30
Frequence (GHz)
Figure 2.36 – Facteur de Rollet K et |∆| de la matrice [S] dans la bande de fréquence
0.5 à 30 GHz pour la cellule cascode intégrée 2x12x100 µm.
La figure 2.37 montre les cercles de stabilité en sortie, c’est à dire le lieu des charges
d’entrée sur l’abaque de Smith qui permettrons d’assurer la stabilité du système. Nous
remarquons qu’en entrée |S22| < 1 sur toute la bande de fréquence. Le centre de l’abaque
de Smith correspond alors à une zone stable. Or aucun cercle n’entoure ce point particulier,
donc les charges d’entrée assurant la stabilité en sortie du dispositif se trouvent hors des
cercles. Il faut alors faire en sorte que pour chaque fréquence le dispositif ne voit pas les
charges présentes à l’intérieur des cercles de la fréquence correspondante.
1.00
0.95
0.90
|S22|
0.80
0.75
0.70
0 5 10 15 20 25 30
Frequence (GHz)
La figure 2.38 présente le lieu des charges de sortie qui permettent d’assurer la stabilité
à l’entrée. Deux cas sont présents dans cette étude :
1.08
1.06
|S11|<1 => centre de l’abaque stable
1.04
1.02
|S11| 1.00
0.98
0.96
0.94
0.92
0.90
0.5GHz 0 5 10 15 20 25 30
Frequence (GHz)
Axe de symétrie
Une vue de la modélisation 3D de la cellule cascode est présentée figure 2.40. Nous
pouvons observer que la géométrie est simplifiée puisque les bus de drain ne sont pas
modélisés. En effet, étant assez éloignés ils n’auront pas d’impact prépondérant au niveau
de l’étude thermique.
Nous considérons qu’une cellule cascode dissipe 2W de puissance. Or nous savons que
la zone de dissipation de chaleur se situe dans un canal se trouvant entre la grille et le
drain du transistor (figure 2.41). Il va alors être de même largeur que la largeur de grille
du transistor c’est à dire dans notre cas 100 µm. Nous devons alors appliquer, au sein du
canal, la densité de puissance (DP) suivante :
AlGaAs barrier
spacer
InGaAs chanel
spacer
GaAs substrate
∆T
Rth = (2.46)
P diss
La table 2.7 présente la valeur de la résistance thermique pour la cellule cascode
intégrée, de développement de grille 2.4mm, comparée à celle d’un transistor source
commune de même développement de grille. Une différence de 5.5˚C/W est observée
entre ces deux valeurs, la résistance thermique de la cellule cascode étant la plus faible.
Table 2.7 – Comparaison des valeurs des résistances thermiques entre une cellule cascode
et un transistor source commune de même développement de grille.
Les deux transistors étant proches et reliés par un pont passant au dessus du bus de
grille du second transistor, un couplage thermique risque de se présenter. En fait, nous
cherchons le modèle électrothermique de la cellule cascode. Afin d’étudier les différents
couplage thermiques possible entre les transistors de la cellule cascode, nous remplaçons
chacun des transistors par les résistances thermiques Rth1 pour le transistor SC et Rth2
pour le transistor GC. Le couplage entre les deux est modélisé par une troisième résistance
thermique Rth12 (figure 2.43).
P1 Rth12 P2
Rth12 Rth2
Comme la structure est représentée comme un dipôle passif lors de cette étude, alors
elle va avoir pour propriété d’être réciproque. Par conséquent Z12 = Z21 . Les valeurs des
paramètres [Z] sont trouvés grâce à différentes simulations ANSYS.
En effet, afin de trouver les paramètres Z11 et Z12 nous alimentons tous les doigts du
transistors source commune. Les doigts du second transistor sont éteints et nous calculons
l’élévation de température du canal pour les deux transistors. Ceci nous donne alors l’auto-
échauffement du premier transistor ainsi que l’influence qu’il va avoir sur le second. Nous
faisons la même démarche pour trouver Z22 et Z21 (nous rappelons que Z12 = Z21 il n’est
donc pas nécessaire de calculer Z21 ), mais cette fois-ci tous les doigts du transistor grille
commune sont alimentés et tous les doigts du premier transistor sont éteints. Les valeurs
de [Z] sont récapitulés dans la table 2.8.
Maintenant que nous avons les valeurs des paramètres de la matrice [Z], il ne reste
plus qu’à exprimer cette matrice en fonction des résistances thermiques Rth1 Rth2 Rth12
grâce au circuit thermique équivalent. Nous obtenons alors :
Z22 .Z11
Rth12 = − Z21 (2.48)
Z21
2
Z22 .Z11 − Z21
Rth1 = (2.49)
Z22 − Z21
2
Z22 .Z11 − Z21
Rth2 = (2.50)
Z11 − Z21
Un résumé des résultats obtenus est présenté dans la table 2.9. Les valeurs des
résistances thermiques de chacun des transistors sont très proches, et la résistance
correspondant au couplage entre les deux transistors possède une valeur très importante.
Cela signifie que le couplage thermique est faible au sein de cette structure.
Nous avons fait cette simulation pour toutes les versions de cascode. La seule différence
dans la structure géométrique 3D simulée sous ANSYS pour les quatre versions est la
distance entre les deux transistors et par conséquent la longueur du pont qui les relie.
Nous avons alors rapproché les deux transistors afin de correspondre aux versions 1 et
2 qui sont les versions où la proximité des deux transistors est grande. La figure 2.44
présente la cellule cascode en coupe selon l’axe de symétrie pour la version 3, c’est à dire
le cascode intégré et pour la version 2 qui est la version la plus critique au niveau du
couplage thermique puisque, c’est pour cette architecture que les deux transistors sont les
plus proches.
Après avoir effectué la même démarche que celle décrite précédemment, nous trouvons
une résistance de couplage Rth12 = 416˚C/W . Ce qui signifie que même pour des versions
de cascodes où les transistors sont très proches, les deux transistors constituant la cellule
de puissance sont quasiment indépendants au niveau de leur fonctionnement thermique.
Ce n’est donc pas un critère primordial qui nous permettra de choisir entre les différentes
versions.
Rapprochement des
transistors
Version2
Pointes DC
=> polar Vg2
Pointes RF Pointes RF
=> signal RF => signal RF
+ polar DC + polar DC
Vg1 Vdd
Pointes DC
=> polar Vg2
Afin d’éviter tout phénomène de claquage, la polarisation doit être réalisée selon une
séquence bien définie qui est présentée dans la table 2.10. Tout d’abord nous procédons
comme pour un transistor SC. La cellule cascode est pincée, la tension V g1 est égale la
tension de pincement du cascode intégré. Puis, dans un premier temps la tension V dd est
augmenté légèrement (4V), même si le cascode est en régime pincé et qu’il n’y a pas de
courant circulant dans la cellule. Ensuite la tension V g2 est à son tour augmentée (2V).
Et cette séquence est reproduite jusqu’à avoir le V dd voulu (16V) et le V g2 désiré (8V).
Puis le transistor est ≪ dépincé ≫ petit à petit, tout en ajustant à chaque fois V g2 pour
que les deux transistors soient polarisés au même point.
V g1 V g2 Vdd
Tension (V) -2 0 0
Tension (V) -2 0 4
Tension (V) -2 2 4
Tension (V) -2 2 8
Tension (V) -2 4 8
Tension (V) -2 4 12
Tension (V) -2 6 12
Tension (V) -2 6 16
Tension (V) -2 8 16
Tension (V) -1 8 16
Tension (V) -0.4 7.6 16
a) b)
La figure 2.47 présente un zoom sur le dispositif sous test. Les dispositifs cascodes
étant très compacts, le posé des pointes est délicat. Pour certaines mesures une ≪ antenne ≫
reliée à un analyseur de spectre est ajoutée afin de détecter d’éventuelles raies d’oscillation.
Antenne permettant
la détection
d’une oscillation
a) b)
Figure 2.47 – Système d’alimentation du dispositif cascode (a), le même dispositif mais
avec la présence d’une antenne afin de détecter une oscillation (b).
dB (MaxGain)
Phase (S21)
dB (S21)
10 20
0
0 10
-10 -100
0
-20 -200 -10
0 5 10 15 20 25 30 0 5 10 15 20 25 30 0 5 10 15 20 25 30
Frequence (GHz) Frequence (GHz) Frequence (GHz)
-30 150
-35 100
S12 (phase)
S12 (dB)
-40 50
-45 0
-50 -50
-55 -100
0 5 10 15 20 25 30 0 5 10 15 20 25 30
Frequence (GHz) Frequence (GHz)
S11
S22
Afin de vérifier que la cellule cascode conçue possède toujours les mêmes avantages
qu’une cellule cascode théorique, nous comparons la mesure de paramètres [S] du cascode
intégré (version 3) avec la simulation d’un transistor de même développement de grille
(2.4mm). Nous prenons les résultats de simulation car nous n’avons pas de transistors de
développement de grille 24x100 µm à disposition. La figure 2.49 montre que le cascode
intégré conçu garde les avantages que peut avoir une cellule cascode de base idéale (Gain
plus élevé, impédance de sortie plus importante et meilleure isolation) même si toutefois,
une dégradation du gain est observée à partir de 20 GHz. Le gain du cascode devenant
inférieur à celui d’un transistor à topologie parallèle. Cette fréquence étant hors de la
bande d’étude cela n’a pas de conséquences sur les performances de la cellule cascode
intégrée.
40
30
MaxGain (dB)
20
10
-10
0 5 10 15 20 25 30
Frequence (GHz)
250 -30
200 -35
|Z22| (Ohms)
S12 (dB)
150 -40
100 -45
50 -50
0 -55
0 5 10 15 20 25 30 0 5 10 15 20 25 30
Frequence (GHz) Frequence (GHz)
Figure 2.49 – Comparaison des mesures d’un cascode et du modèle d’un transistor SC de
même développement de grille, des paramètres [S] pour le point de polarisation V dd = 16V
et Id = 160mA (cercles : mesures, lignes continues : simulations).
fréquence augmente plus l’impédance de charge optimale diminue. C’est pourquoi pour
des fréquences supérieures à 12 GHz, nous n’avons pas pu atteindre les impédances de
charge voulues. Les mesures à ces fréquences ont été réalisées avec des TOS de 2 ou 3. Le
modèle ayant été réalisé pour fonctionner sur son impédance de charge optimale, nous ne
pouvons pas effectuer une validation du modèle distribué pour ces fréquences.
Lors de ces mesures, le TOP (Tube à Ondes Progressives) a été utilisé afin d’amplifier
le signal d’entrée. Il possède une bande passante allant de 6 à 18 GHz. Lorsque nous
l’utilisons à une fréquence et en particulier en limite de bande, nous avons également du
signal aux fréquences voisines qui viennent s’ajouter à la fréquence d’étude. Si on voulait
améliorer la qualité des mesures il faudrait placer des filtres pour chacune des fréquences
d’étude.
a) b)
Figure 2.50 – Photographie du banc de mesures Load Pull (a), zoom sur le dispositif
sous test (b).
Tout d’abord une recherche d’impédance optimale a été effectuée. Comme des
simulations load pull ont été réalisées en amont sur la topologie du cascode intégré, la
zone des impédances de charges optimales de la cellule cascode est connue. C’est un gain
de temps, car nous n’avons pas besoin de balayer toute l’abaque de Smith à la recherche
de cette impédance. Les impédances de charges balayées et les impédances d’entrée qui en
découlent sont montrées figure 2.51. Elle sont superposées aux cercles de stabilité d’entrée
et de sortie, mais à 12 GHz le cascode est inconditionnellement stable, les cercles se situent
donc en dehors de l’abaque de Smith ce qui implique que n’importe quelle charge en entrée
et en sortie assure la stabilité. L’impédance d’entrée est celle que voit le cascode à son
entrée lorsqu’il est chargé sur son impédance de charge optimale.
Seule la comparaison mesure load pull, modèle distribué à 12GHz chargé sur son
impédance optimale Zload = 14.54 + j21.66 est montrée figure 2.52. Les mesures ont été
réalisées en CW et au point de repos V dd = 16V et Ids = 160mA. Elles montrent une
bonne concordance avec le modèle distribué de la cellule cascode. Ce qui valide le modèle
non linéaire distribué de cette cellule.
Zload_opt=14.54+j21.66
Zin=2.6+j1.4
Zout
Zin
FILE (1.000 to 11.000) INDEX (1.000 to 29.000)
a) b)
Figure 2.51 – Load pull réalisé à la sortie de la cellule de puissance à 12 GHz (a) et
impédances de sources obtenues pour ces différentes mesures LP (b).
35 18
30 17
Pout (dBm)
25 16
Gain (dB)
20 15
15 14
10 13
5 12
-10 -5 0 5 10 15 20 -10 -5 0 5 10 15 20
Pin (dBm) Pin (dBm)
40
30
PAE (%)
20
10
0
-10 -5 0 5 10 15 20
Pin (dBm)
Rstab Ca1
S1 D2
D1 S2
412.5 µm
Pont
Les points critiques sont que la puissance de sortie de la cellule cascode intégrée est
inférieure (de l’ordre de 0.6 dB) à celle d’un transistor classique à TP. La PAE quant à
elle, subit une perte de 17 points. C’est une perte très importante et nous allons chercher
à expliquer.
Pour cela nous allons étudier les cycles de charges aux bornes de chaque transistor
d’une cellule élémentaire du cascode intégré. La figure 2.54 montre les cycles de charge
du transistor SC et GC d’une cellule élémentaire à 2 doigts de grille de largeur 100 µm
constituant le cascode intégré. Nous observons que le cycle du second transistor est bien
optimisé alors que le cycle de charge du premier est beaucoup plus ouvert. Ce qui signifie
que le premier transistor n’est pas adapté sur son impédance de charge optimale.
En effet, si nous comparons les charges de sortie observées par chacun des transistors
de la cellule élémentaire avec l’impédance optimale de charge du transistor 2x100 µm
(Γlopt−2×100µm ), nous observons, d’après la figure 2.55, que l’impédance de charge du
transistor SC (ΓL1 ) est beaucoup plus éloignée de l’impédance optimale de charge du
transistor 2x100 µm que l’impédance de charge du transistor GC (ΓL2 ). Ce qui confirme
que le transistor SC n’est pas correctement adapté et c’est ce qui provoque une dégradation
de la PAE et une plus faible puissance de sortie observée.
0.12
0.10
0.08
Ids_int (A)
0.06
0.04
0.02
0.00
0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20
Vds_int (V)
Figure 2.54 – Cycles de charges de chacun des transistors d’une cellule élémentaire du
cascode intégré de développement 2x12x100 µm (cercles : transistor SC, lignes continues :
transistor GC).
ΓL2
2x100 µm Γlopt_2x100µm
Gama_Load
2x100 µm
La
D1 S2 D2
G1
G2
S1
Ca1
Figure 2.56 – Ajout d’une inductance de liaison entre les deux transistors
60
La=100 pH
50 La=50 pH
La=0 pH
40 La=300 pH
La=500 pH
PAE
30
20
10
0
-10 -5 0 5 10 15 20
Pin_dBm
Cgs .Ca1
Ca2 = (2.51)
Cgs + Ca1
Ca2
D1 S2 D2
G1 Vgs2
Vds1
G2 Vdd
S1
Ca1
La plupart du temps, cette capacité n’est pas intégrée dans le circuit à cause de sa très
faible valeur (inférieure à 0.2 pF). Par contre, comme le montre la Figure 2.59, elle permet
de simplifier l’étude analytique du montage cascode et de mieux comprendre l’intérêt de
ce dernier.
Le schéma équivalent optimisé en puissance est montré Figure 2.60. Le cascode possède
alors une impédance de sortie deux fois plus importantes que le transistor à topologie
parallèle. Il résulte que sous des conditions de charges optimales la tension de sortie va
être doublée. Ceci implique que la puissance de sortie du cascode P scasc sera deux fois
plus grande que celle du transistor à TP P sT P .
Vdd
Cgs2 Vgs2
gm.Vgs1 Rds1 Cds1
Vgs1 Cgs1 Vds1 Ca1
Igs1 Ids1=Ids2
Figure 2.60 – Schéma simplifié d’une cellule cascode incluant Ca1 et Ca2 .
Une étude sous SCILAB a été réalisée afin de trouver la valeur de Ca2 qui permettrait
d’optimiser les deux transistors, et en particulier le transistor SC. Afin de réaliser cette
étude, un modèle de transistor cascode simplifié a été utilisé (figure 2.61).
Ca2
I1 I2
Gm.Vgs
V2
Vgs Cgs Cgd Zopt
Ig2
V1
Ca1
Zstab
Vg2
Rstab
Figure 2.61 – Schéma simplifié du transistor GC d’une cellule cascode de base incluant
Ca1 et Ca2 .
V2 = −Zopt.I2 (2.58)
La résolution de ces équations sous SCLIAB permet d’obtenir l’impédance VI11 qui
correspond à l’impédance de charge vue par le transistor SC du dispositif cascode. Un
processus d’optimisation est réalisé en faisant varier la capacité Ca2 pour différentes
valeurs de Ca1 . Nous allons comparer les impédances de charge obtenues par cet
algorithme à l’impédance de charge optimale que devrait voir le transistor SC pour être
le mieux adapté possible.
Les résultats obtenus sont présentés figure 2.62. Il existe donc bien des combinaisons
de Ca1 et de Ca2 qui permettent d’avoir une impédances de charge du transistor SC
proche de la valeur optimale. En particulier pour des valeurs de Ca1 de l’ordre du pF
et des valeurs de Ca2 plutôt faibles (de l’ordre de 0.1 pF). Une optimisation de ces
valeurs est réalisée sous ADS. Les meilleures performances électriques sont obtenues pour
Ca1 = 0.59pF , Ca2 = 0.12pF et Zload = 10.5 + j23.5 avec une PAE atteignant 50.4 %
soit une augmentation de 5 points par rapport à une cellule cascode de base.
1.2
1.2 0.11
0.11
0.09
0.10
1
1.0
0.10
0.09
0.8
0.8
Ca1
0.08
0.08 Ca1
0.6
0.6
0.07
0.07
0.4
0.4
0.06
0.06
0.2
0.2
0.05
0.05
0
0.0 0.04
0.04
0.0e+000
0 5.0e-013
1 e-12
1.0e-012 1.5e-012 e-12 2.5e-012
2.0e-012
2 e-12 3.5e-012
3.0e-012
3 e-12
4.0e-012
4 0 1 e-12 2 e-12 3 e-12 4 e-12
Ca2 (F) 0.0e+000 5.0e-013 1.0e-012 1.5e-012 2.0e-012 2.5e-012 3.0e-012 3.5e-012 4.0e-012
Ca2 (F)
Figure 2.62 – Variation de l’erreur entre l’impédance de charge optimale d’un transistor
SC et celle du premier transistor de la cellule cascode en fonction de Ca2 et pour différentes
valeurs de Ca1 .
Augmenter les performances électriques d’un dispositif cascode n’est pas ce qui pose
problème, mais augmenter ses performances tout en assurant la stabilité du système est
un véritable challenge. C’est pourquoi une étude de stabilité linéaire a été réalisée. La
figure 2.63 présente le facteur de Rollet K pour une bande de fréquence de 0.5 à 30 GHz.
Nous observons que K < −1 à partir de 7.5 GHz. Cela signifie que la cellule est instable
à partir de cette fréquence et notamment pour la bande de fréquence étudiée qui est la
bande Ku.
1 0.8
0 K<-1 0.6
0.4
-1 0.2
Delta
K
-2 0.0
-0.2
-3
-0.4
-4 -0.6
0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 26 28 30
Frequence (GHz)
Figure 2.63 – Facteur de Rollet de la cellule cascode de base optimisée, avec Ca2 , pour
une bande de fréquence de 0.5 à 30 GHz.
Une résistance de stabilité Rstab est alors ajoutée à la structure. Une nouvelle
optimisation sur les valeurs de capacités Ca1 et Ca2 , sur Zload et sur Rstab a été réalisée
sous ADS afin de proposer un compromis entre stabilité et performances électriques.
Mais les performances électriques obtenues tout en gardant la stabilité du système sont
équivalentes à celles d’une cellule cascode de base.
Vgs1 Vdd
GC
RF
SC
Vg2
Rb Cb
Ca1
Les impédances de charge optimales vu par chacun des transistors pour une cellule
cascode de base sont également rappelées dans cette figure. Nous observons que pour le
cascode piloté, l’impédance de charge optimale du transistor SC (ΓL1 ) se rapproche de
l’impédance de charge optimale d’un transistor seul de même développement de grille
(Γlopt ), sans pour autant éloigner celle vue par le transistor GC (ΓL2 ). Ceci conduit à une
amélioration des performances électriques et en particulier de la PAE qui est maintenant
de 52%, soit une augmentation de 7 points par rapport à une cellule cascode de base.
ΓL1 ΓL2
Γlopt_12x100µm
Γlopt_12x100µm
Gama_Load
Gama_Load
ΓL2 ΓL1
Figure 2.65 – Impédances de charge vues par chacun des transistors pour la cellule
cascode de base (a) et pour une cellule cascode ≪ driven ≫ (b) comparée à l’impédance
optimale d’un transistor à TP.
Une analyse de stabilité linéaire a été réalisée sur cette cellule. La figure 2.66 présente
le facteur de Rollet K pour une bande de fréquence de 0.5 à 30 GHz. K < −1 à partir de
12GHz, ce qui signifie que le cascode piloté est instable pour des fréquences à partir de 12
GHz. Tout comme la topologie précédente, une résistance de stabilité Rstab a été ajoutée
afin d’obtenir, grâce à un nouveau processus d’optimisation sur tous les paramètres, un
compromis entre la stabilité et les performances électriques. Les performances obtenues
sont là encore de l’ordre de celle de la cellule cascode de base.
1.0 1.2
1.0
0.5 K<-1
0.8
0.0
0.6
-0.5 0.4
Delta
K
-1.0 0.2
0.0
-1.5
-0.2
-2.0 -0.4
-2.5 -0.6
0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 26 28 30
Frequence (GHz)
Vdd
GC
Vgs1
SC
Cf Rf
Vg2
Ca1
Afin de trouver une combinaison correcte de ces deux paramètres qui permettrait
d’optimiser les performances électriques de la cellule cascode, nous allons chercher pour
quelles valeurs de Rf et Cf , l’impédance de charge du transistor SC de la cellule cascode
est proche de l’impédance de charge optimale, grâce à une routine réalisée sous SCILAB.
Le principe de cette étude consiste à étudier le schéma du circuit simplifié présenté
figure 2.68.
V2-V1
Cds
I1 I2
Gm.Vgs
Vgs Cgs
V2
R+jX
Cf Rf
V1
Cgd
V2-V1-Vgs Gf+Bf
Ca1 V1+Vgs
Figure 2.68 – Circuit linéaire simplifié de la topologie ≪ self biased ≫ sur le transistor
GC.
avec
ω 2 .Rf.Cf 2
Gf = (2.63)
1 + (Rf.Cf.ω)2
Cf.ω
Bf = (2.64)
1 + (Rf.Cf.ω)2
Re(Zl1) Im(Zl1)
35
35
15
15
30
30 Gf=0.01 Gf=0.0001
10
10
25
25
55
20
20
00
15
15
-5-5
10
10
Gf=0.01
55 Gf=0.0001 -10
-10
0-0.020
0
-0.015 -0.010 -0.005 0.000 0.005 0.010 0.015
Bf
0.020
-15
-15 Bf
-0.02 -0.01 0 0.01 0.02 -0.02
-0.020 -0.015
-0.01
-0.010 -0.005
0
0.000 0.005
0.01
0.010 0.015
0.02
0.020
Figure 2.69 – Partie réelle et imaginaire de l’impédance de sortie vue par le premier
transistor en fonction des valeurs de Gf et Bf .
12x125 µm
D1 S2 D2
G1
G2
12x75 µm S1
Ca1
2.6.6 Bilan
Nous avons présenté un certain nombre de tentatives afin d’augmenter les performances
électriques de la cellule cascode de base et par conséquent de la cellule cascode intégrée.
Les performances électriques atteintes sont améliorées puisque une PAE de 53 % est
atteinte. Seule la version avec des transistors de taille différente présente des performances
électriques dégradées.
La figure 2.71 présente un bilan de toutes les versions testées au niveau de
l’amélioration de la PAE et de la stabilité linéaire.
Amélioration
Stabilité Réalisation
de la PAE
Cascode+La
Cascode+Ca2
Cascode driven
SC: 12x75 µm
GC: 12x125 µm
SC: 12x125 µm
GC: 12x75 µm
Des compromis ont été réalisés afin de rendre ces différentes topologies stables tout en
gardant de meilleures performances, mais une fois la stabilité assurée, les performances
sont dégradées de telles sorte que la cellule cascode de base, avec des transistors identiques
de même développement de grille reste la cellule la plus performante. C’est pourquoi par
la suite nous continuons les travaux de cette thèse avec ce type de topologie et notamment
avec la cellule cascode intégrée qui a été conçue et dont le modèle distribué a été validé.
2.7 Conclusion
Dans ce chapitre, nous avons tout d’abord décrit la théorie et les avantages de
l’utilisation de la cellule cascode de base. Nous avons ensuite effectué une description
de chaque outil permettant la modélisation précise de la cellule de puissance. En effet, la
topologie cascode étant complexe et très compacte, il est nécessaire de réaliser une étude
Nous avons conçu plusieurs cellules cascodes bande Ku sur substrat GaAs à partir des
données communiquées par UMS. Lors de la description du travail réalisé, nous pouvons
nous rendre compte que des difficultés ont été rencontrées afin d’optimiser la PAE de
la cellule cascode. En effet, les performances électriques ainsi que la compacité de la
structure sont plus avantageuses si l’on fait abstraction du niveau de la PAE. Après
plusieurs essais d’architectures nous avons observé qu’il est relativement facile d’améliorer
cette performance. Le véritable problème réside dans le compromis entre les performances
électriques et la stabilité.
Chapitre 3 :
Comme le nombre de cellules de puissance fonctionne par paire afin d’assurer une
recombinaison symétrique des signaux en sortie, il faudrait alors quatre dispositifs
cascodes en parallèle afin de pouvoir assurer, de façon certaine, les 33.5 dBm de puissance
de sortie exigée. Ceci conduirait à une puissance de sortie équivalente à :
T1
T1
Combineur
2x12x100 µm de sortie
Entrée Inter-étage
50 Ω
T2
50 Ω
2x12x100 µm
2x12x100 µm
16
14
Re (Zl)
12
10
6
18 GHz 10 GHz
10 11 12 13 14 15 16 17 18
Gamma_Zl
Frequence (GHz)
26
25
24
23
Im (Zl)
22
21
20 Frequence (10.000 to 18.000)
19
18
17
10 11 12 13 14 15 16 17 18
Frequence (GHz)
Figure 3.2 – Simulation load pull de la cellule cascode intégrée 2x12x100 µm.
Polarisation Vdd1
Cascode 1
Capacité
de liaison
OUT
Cascode 2
Réseau
Pad RF
capacitif
d’adaptation
Polarisation Vdd2
Ce combineur comprend les accès de sortie de chacune des deux cellules cascodes de
l’étage de sortie, leur polarisation de drain ainsi que l’accès RF de sortie du circuit. La
polarisation de drain s’effectue de part et d’autre du combineur pour deux raisons. Tout
d’abord, chacune des deux polarisations de drain fournit le courant de drain Ids d’une
cellule cascode intégrée, ce qui permet d’avoir des largeurs de lignes plus petites. En
effet, si une seule polarisation de drain était présente, elle devrait fournir le courant des
deux topologies cascodes, soit la somme des courants de chacune des cellules. Ids étant
multiplié par deux, des lignes de transmission plus larges devraient être utilisées, d’où
une structure moins compacte. Mais la principale raison de cette double polarisation de
drain est qu’elle permet d’éviter tout problème de dissymétrie lors de la polarisation des
cascodes. En effet, cela pourrait nuire au bon fonctionnement du système en entrainant
une dégradation des performances électriques.
Zload*
Combineur
de sortie
Zload * Zload*
50 Ω
2
Cette optimisation est réalisée à partir de simulations de paramètres [S]. Le but étant
d’adapter l’entrée et la sortie afin d’obtenir de faibles pertes de transmission (S21 proche
de 0dB) en fonction de la fréquence et un faible coefficient de réflexion à l’entrée (S11 <
−10dB). La figure 3.5 montre les résultats obtenus après optimisation de la structure.
Les résultats sont satisfaisants puisque les pertes en transmission sont inférieures à 0.5 dB
entre 12 et 16 GHz, et les coefficients de réflexion en entrée et en sortie sont inférieurs à -10
dB. Les pertes obtenues dépendent de la technologie des transistors utilisés et également
de la largeur de la bande de fréquence d’étude. En bande étroite, des pertes de l’ordre
0.0 0
-0.5
-10
-1.5 -20
-2.0
-2.5 -30
-3.0
S11 -40
-3.5
-4.0 -50
10 11 12 13 14 15 16 17 18
Frequence (GHz)
Figure 3.5 – Paramètres [S] du combineur de sortie sur la bande de fréquence 10-18 GHz.
La simulation de paramètres [S] possède un inconvénient majeur qui est que l’on ne
peut pas analyser les impédances de charges vues par chacune des deux cellules cascodes
afin de vérifier que l’adaptation en sortie est correcte. De plus, avec une simulation fort
signal, les pertes en puissance du combineur vont pouvoir être calculées. La démarche
d’analyse est présentée figure 3.6. Le combineur est chargé sur 50 Ω en sortie et connecté
aux deux cellules cascodes en entrée. Ces dernières étant connectées à leur entrée par
leur impédance de source divisée par deux puisque les entrées des deux cascodes sont
combinées.
Vdd
Zl1
Combineur
de sortie Port 2
50 Ω
Port 1
Zin
2
Zl2
Vg1
Cellule cascode n°2
Une vérification supplémentaire est réalisée grâce au calcul des pertes en puissance
du combineur pour une bande de fréquence de 12 à 16 GHz (figure 3.8). Pour les mêmes
raisons évoquées lors de l’étude des impédances de charges, les pertes du combineur sont
invariantes en fonction de la puissance d’entrée. Les résultats obtenus sont satisfaisants
puisque sur toute la bande de fréquence les pertes d’adaptation en sortie sont inférieures à
0.5 dB, ce qui correspond à l’estimation de départ, et les pertes en puissance du combineur
ne varient pas en fonction de la puissance d’entrée.
Une attention particulière doit être apportée aux impédances d’entrée et de sortie des
dispositifs actifs. En effet, pour assurer la stabilité du système, les parties réelles de ces
charges doivent être positives.
Pertes_comb (dB)
-0.2
-0.4
-0.6
-0.8
-1.0
12.0 12.5 13.0 13.5 14.0 14.5 15.0 15.5 16.0
Frequence (GHz)
L’architecture utilisée lors de cette conception est présentée figure 3.9. On distingue
trois réseaux capacitifs d’adaptation, alors qu’un seul était présent pour le combineur de
sortie. Une capacité de liaison est également présente afin que la polarisation de drain
du premier étage n’arrive pas directement sur les grilles des cellules cascodes du dernier
étage ce qui les détruiraient. Des filtres (résistance et capacité en parallèles) sont également
présents sur les grilles des cascodes du second étage. Leur utilité sera expliquée dans le
paragraphe sur l’étude de la stabilité de l’amplificateur. En plus de contenir les accès de
sortie du dispositif cascode du premier étage et ceux d’entrée du dernier étage, l’inter-
étage est également composé des accès de polarisation des grilles du dernier étage et du
drain du premier étage. Les lignes de drain sont plus larges que les lignes de grille afin de
laisser passer plus de courant.
Le principe d’optimisation est le même que pour la combineur de sortie (figure 3.10).
Le combineur de sortie est chargé sur 50 Ω et l’inter-étage est chargé sur les conjugués
des impédances de charges optimales de la cellule cascode intégrée du premier étage et
ceci pour chacune des fréquences de la bande d’étude.
Réseau capacitif
d’adaptation
Cascode 1
Réseau de étage 2
Cascode stabilisation
étage 1
Capacité de
liaison
Réseau de
stabilisation
Cascode 2
étage 2
Polarisation Vg1 de la
cellule cascode 2 de l’étage 2
Polarisation Vdd de la
cellule cascode de l’étage 1
Zin1 Zl1
Combineur
de sortie Port 2
Inter-étage
50 Ω
Port 1
Zload*
Zl2
Zin2
Cellule cascode n°2
Tout d’abord une optimisation réalisée grâce à la simulation de paramètres [S] est
effectuée afin d’obtenir un coefficient de réflexion en entrée et sortie faible (de l’ordre de
-15 dB) et un coefficient de transmission S21 le plus plat possible.
Une fois cette optimisation réalisée, une optimisation non linéaire est effectuée.
L’impédance Zload∗ est alors remplacée par le dispositif cascode, fermé en entrée par son
impédance d’entrée optimale Zin. Toutes les performances électriques (gain, puissance de
sortie et PAE) sont vérifiées pour chaque étage, sur toute la bande de fréquence étudiée
pour une variation de puissance d’entrée allant de -10 à 15 dBm. De plus, les impédances
d’entrée et de sortie de chaque dispositif cascode du circuit sont comparées aux impédances
0.0
-0.5
Pertes_inter (dB)
-1.0
-1.5
-2.0
-2.5
-3.0
-3.5
-4.0
12.0 12.5 13.0 13.5 14.0 14.5 15.0 15.5 16.0
Frequence(GHz)
La conception de l’inter-étage est importante car c’est elle qui va imposer la planéité
du gain sur la bande de fréquence voulue.
Polarisation Vg1
Cascode
étage 1
Réseaux d’adaptation
capacitif
Réseau de
stabilisation
IN
Capacité de liaison
Pad RF
Pertes_entree (dB)
-2
-3
-4
-5
-6
-7
12.0 12.5 13.0 13.5 14.0 14.5 15.0 15.5 16.0
Frequence (GHz)
Le dessin de l’amplificateur est alors achevé, il ne reste plus qu’à ajouter les circuits
de polarisation ainsi que les plots permettant la polarisation sous pointes. La figure 3.14
présente le dessin ( ≪ layout ≫ ) du circuit global que l’on appellera dans la suite du
manuscrit ≪ amplificateur cascode ≫. La surface de ce circuit (3.84 mm2 ) a été diminué
de 40 % par rapport à l’amplificateur initial STARK (6.13 mm2 ).
3280 µm
STARK
1870 µm
1460 µm
CASCODE
2630 µm
Etage 1 Etage 2
4.0 3.2
RFfreq=14.000
RFfreq=16.000
RFfreq=13.500
3.0 RFfreq=14.500
RFfreq=15.500
RFfreq=15.000
RFfreq=13.000
3.5
real(Zin11) (Ω)
real(Zin21) (Ω)
2.8 RFfreq=12.500
-1.0 -2
-1.5
imag(Zin_11) (Ω)
-3
imag(Zin21) (Ω)
-2.0
RFf req=16.000 -4
-2.5 RFf req=15.500
RFf req=13.500
RFf
RFf req=14.000
req=15.000 -5
-3.0 RFf req=14.500
RFf req=13.000
-3.5 -6 RFfreq=12.000
RFfreq=16.000
-10 -5 0 5 10 15 -10 -5 0 5 10 15
Pin (dBm) Pin (dBm)
Figure 3.15 – Parties réelles et imaginaires des impédances d’entrée des cellules cascodes
intégrées de chaque étage, à toutes les fréquences (12-16 GHz) et en fonction de la
puissance d’entrée Pin.
Etage 1 Etage 2
10 RFfreq=14.500 13
RFfreq=15.000
RFfreq=15.500
RFfreq=14.500
RFfreq=16.000
9 RFfreq=15.000
12
RFfreq=14.000
real(Zout11) (Ω)
real(Zout21) (Ω)
RFfreq=13.500
8 RFfreq=14.000 RFfreq=13.000
11
7 RFfreq=15.500 RFfreq=12.500
10
6
RFfreq=16.000
RFfreq=13.500 RFfreq=12.000
9
5
4 RFfreq=13.000 8
RFfreq=12.500
3 RFfreq=12.000 7
-10 -5 0 5 10 15 -10 -5 0 5 10 15
Pin (dBm) Pin (dBm)
28 24.0
imag(Zout21) (Ω)
26 23.5
imag(Zout11) (Ω)
RFfreq=14.000
RFfreq=16.000
24 RFfreq=13.500
RFfreq=14.500
RFfreq=16.000 23.0 RFfreq=15.500
RFfreq=13.000 RFfreq=14.000
RFfreq=13.500
RFfreq=15.000
22 RFfreq=14.500
RFfreq=13.000
RFfreq=15.500
RFfreq=15.000
RFfreq=12.500
22.5
RFfreq=12.500
20
RFfreq=12.000 RFfreq=12.000
22.0
18
16 21.5
-10 -5 0 5 10 15 -10 -5 0 5 10 15
Pin (dBm) Pin (dBm)
Figure 3.16 – Parties réelles et imaginaires des impédances de sortie des cellules cascodes
intégrées de chaque étage, à toutes les fréquences (12-16 GHz) et en fonction de la
puissance d’entrée Pin.
Les quatre graphiques de la figure 3.17 présentent les cycles de charge de chacun
des transistors constituant la cellule cascode et ceci pour chacun des deux étages. Deux
observations découlent de cette étude. Tout d’abord si nous comparons les cycles par
rapport à l’étage dans lequel se situe le dispositif cascode. On remarque que les cycles
du premier étage n’ont pas une excursion sur tout le réseau I(V). En effet, le premier
étage permet d’avoir un gain plat contrairement à l’étage de sortie qui lui est optimisé
en puissance. Maintenant nous comparons les cycles de charge de chacun des transistors
composant la cellule de puissance. Comme lors de l’étude de la cellule cascode, les cycles
du transistor SC sont beaucoup plus ouverts que ceux du transistor GC. Cela signifie que
les transistors GC sont mieux adaptés que les transistors SC. Or, nous avons observé dans
le chapitre précédent, que la désadaptation du transistor SC entraine une dégradation de
la PAE de la cellule cascode par rapport à un transistor à topologie parallèle de même
développement de grille. Ce qui laisse penser que la PAE de l’amplificateur sera plus
modeste que celle de l’amplificateur STARK réalisé initialement.
Etage 1
0.12 0.12
Transistor SC Transistor GC
0.10 0.10
0.08 0.08
Ids (A)
Ids (A)
0.06 0.06
0.04 0.04
0.02 0.02
0.00 0.00
0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20
Vds (V) Vds (V)
Etage 2
0.12 0.12
Transistor
Etage SC
2 : 1ers transistors EtageTransistor GC
2 : 2nds transistors
0.10 0.10
0.08 0.08
Ids (A)
Ids (A)
0.06 0.06
0.04 0.04
0.02 0.02
0.00 0.00
0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20
Vds (V) Vds (V)
Figure 3.17 – Cycles de charge de chaque étage en fonction de la fréquence pour une
puissance d’entrée Pin=10 dBm.
Etage 1 Etage 2
1.0 2.0
1.8
0.8 1.6
1.4
Pout11 (W)
Pout21 (W)
0.6 1.2
1.0
0.4 0.8
0.6
0.2 0.4
0.2
0.0 0.0
-10 -5 0 5 10 15 -10 -5 0 5 10 15
Pin (dBm) Pin (dBm)
18 20
18
16
16
Gain11 (dB)
Gain21 (dB)
14
14
12
12 10
8
10 6
-10 -5 0 5 10 15 -10 -5 0 5 10 15
Pin (dBm) Pin (dBm)
2.8 3.4
3.2
2.6
3.0
Pdiss11 (W)
Pdiss21 (W)
2.4 2.8
2.6
2.2 2.4
2.2
2.0
2.0
1.8 1.8
-10 -5 0 5 10 15 -10 -5 0 5 10 15
Pin (dBm) Pin (dBm)
1E3 1.2
1.0 Δ>1
1E2 0.8
Delta
Δ
0.6
K
1E1 0.4
0.2
1 0.0
0 5 10 15 20 25 30 0 5 10 15 20 25 30
Frequence (GHz) 2 GHz Frequence (GHz)
Nous avons observé dans la partie précédente la variation des impédances d’entrée et
de sortie des cellules cascodes de chaque étage en fonction de la puissance d’entrée et pour
chaque fréquence de la bande étudiée. Ceci nous a donné une première approche de la
stabilité du circuit puisque qu’aucune anomalie n’a été observée lors de cette étude. Pour
chaque fréquence la variation des impédances est homogène en fonction de la puissance
d’entrée. Afin de compléter cette étude, il faut vérifier que les impédances ne se situent
pas dans un cercle d’instabilité. La figure 3.20 présente les cercles d’instabilité des charges
en entrée et en sortie des cellules cascodes pour la bande de fréquence 12-16 GHz et pour
chaque étage. Puisque K > 1, les cercles en entrée et en sortie se situent hors de l’abaque
de Smith. Le système sera donc stable quelle que soit la valeur des impédances présentées
au dispositif.
Nous avons vu dans le chapitre précédent que le facteur de Rollet ne permet pas
de détecter des oscillations internes au circuit. Cependant, la compacité du circuit et la
présence de trois dispositifs actifs, implique que des boucles internes peuvent se former.
C’est pourquoi une analyse de stabilité non linéaire est nécessaire.
Etage 1
16 GHz
GammaS_11
12 GHz
GammaL_11
Abaque de Smith Abaque de Smith
RFpower (-10.000 to 15.000) RFpower (-10.000 to 15.000)
Etage 2
12 GHz
GammaL_21 16 GHz
GammaS_21
Abaque de Smith
Abaque de Smith
RFpower (-10.000 to 15.000) RFpower (-10.000 to 15.000)
Figure 3.20 – Cercles d’instabilités des charges d’entrée et de sortie de la cellule cascode
intégrée pour une fréquence allant de 12 à 16 GHz.
Simulation du
circuit sous ADS
Réponse fréquentielle V p (w S )
H 0 ( jw S ) =
du circuit linéarisé I p (w S )
Identification de systèmes
Fonction de transfert
Õ (s - z )
i =1
i
H 0 ( s) = N
associée
Õ (s - p )
i =1
i
Cette méthode d’analyse est constituée de deux étapes. Tout d’abord, l’obtention de
la réponse fréquentielle simulée du circuit préalablement linéarisé autour de son point de
repos et pour une bande de fréquence donnée. Puis l’application ultérieure des techniques
d’identification numérique à la réponse fréquentielle afin d’obtenir la fonction de transfert.
Nœud n
50Ω
(f0,Pin)
(Ip,ωS)
Vp
Figure 3.22 – Schéma général du circuit électrique avec une source de courant petit
signal de perturbation en parallèle à un nœud arbitraire du circuit n.
Le signal de sortie choisi est Vp (jω) généré dans le nœud d’insertion de la source
de courant [103]. En effet, la réponse fréquentielle du système linéarisé est l’impédance
Zp (jω) vue par la source de courant de perturbation de tout le circuit au nœud n :
V p(ωS )
Zp (jωS ) = (3.2)
Ip(ωS )
Une fois cette réponse fréquentielle obtenue, elle est injectée dans STAN afin d’obtenir
la fonction de transfert correspondante Zp (s). Les résultats d’analyse de stabilité seront
seulement valables dans la bande de fréquence analysée. De plus, lors de cette analyse,
une variation des paramètres du signal d’entrée tels que la fréquence f0 et la puissance
Pin est éventuellement réalisable.
ΠM
i=1 (s − zi )
Zp (s) = N (3.3)
Πi=1 (s − pi )
avec zi les zéros et pi les pôles de la fonction de transfert. Cette étape est réalisée par
l’outils STAN.
Im (GHz)
5
0
-5
Pôles complexes
conjugués à partie
-10
réelle positive
-15
-20
18 -7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1
Re (GHz)
Figure 3.23 – Représentation des pôles et zéros d’un système deux ports instable.
Des précautions doivent être prises lors de cette étude. En effet, l’information sur
la stabilité peut être obtenue en tout nœud du circuit. Cependant, les zéros de chaque
fonction de transfert peuvent être différents selon le nœud d’analyse [104] d’où la présence
éventuelle d’un phénomène de compensation pôles et zéros [105]. Ceci est dû à la
diminution de l’observation d’une partie de la dynamique du circuit qui peut créer de
graves problèmes lors de l’analyse de stabilité. En effet, la quasi-compensation pôle-zéro
implique que la résonance instable est faible et par conséquent, elle peut rester cachée
par le reste de la dynamique du circuit. Il faut alors un pas d’analyse très étroit afin de
détecter l’oscillation. Selon le nœud choisi, nous aurons une stabilité avec une sensibilité
différente. C’est pourquoi il est nécessaire de la réaliser en plusieurs nœuds du circuit.
Dans un premier temps, l’outils STAN a permis de détecter les lieux du circuit
sensibles aux oscillations. La technique d’analyse de stabilité décrite dans le paragraphe
précédent, utilise une seule source de perturbation. Cette configuration excite tous les
modes d’oscillation mais ils ne peuvent pas être distingués. C’est pourtant la connaissance
de ces modes d’instabilité qui va permettre de stabiliser le circuit. En effet, prenons un
circuit simple (figure 3.24). Si une source de courant petit signal est connectée au nœud A
et que l’on détecte une oscillation, il est alors impossible de déduire le mode d’oscillation
détecté. C’est pourquoi une source de courant petit signal est placée en chaque nœud des
transistors en parallèle A et B. Une première simulation est réalisée en plaçant les deux
sources de courant en phase. Si une oscillation est détectée elle sera alors en mode pair, et
elle pourra également être détectée en tout nœud du circuit. Une deuxième simulation est
réalisée en plaçant les deux générateurs en opposition de phase. L’oscillation qui apparait
sera révélatrice d’un mode impair. Elle n’est pas détectable au point C. En résumé si les
deux transistors oscillent en phase, on parle alors de mode d’oscillation pair tandis que
A
RL
C
B
RL
(f0,Pin)
Lors de cette étude seules les impédances Zp aux bornes de chaque source de courant
petit signal vont être observées afin de détecter le mode d’oscillation. Le critère de stabilité
est défini de la façon suivante :
Afin de diminuer le risque d’oscillation, des précautions sont prises lors de la conception
du circuit figure 3.25.
Filtres
RC
Pont résistif
Circuit de Circuit de
stabilisation stabilisation
Tout d’abord, des filtres, constitués d’une résistance en parallèle avec une capacité,
sont placés sur les entrées des cellules cascodes, au plus proche de la polarisation de
grille. Pour l’étage de sortie, la capacité est de 1.3 pF et la résistance de 38 Ω, alors
que pour l’étage d’entrée nous avons C = 0.4pF et R = 70Ω. Ce sont des filtres passe-
haut qui permettent de supprimer les oscillations aux fréquences multiples de la fréquence
fondamentale d’étude, f20 ou 3f20 . Ils aident également à l’optimisation de l’adaptation de
l’étage d’entrée et l’inter-étage sur lesquels ils sont ajoutés.
Ensuite, des résistances d’équilibrage, sont insérées en série entre les deux bus de grille
de chacune des cellules cascode en parallèle sur l’étage de sortie, et ceci pour chacun des
transistors constituant le dispositif cascode. C’est à dire entre le bus de grille du transistor
SC et celui du transistor GC. Leur efficacité apparait à fort niveau de puissance d’entrée.
Elles évitent d’avoir des boucles internes entre chaque cellule cascode de l’étage de sortie.
Des ponts de résistances sont également ajoutées sur les polarisations de grille
du transistor SC de la cellule cascode. Ils permettent de doubler la valeur de la
polarisation de cette grille qui est assez faible (V g1 = −0.4V ). En effet, pour une
faible valeur de tension de polarisation de grille, la moindre variation de cette tension
peut entrainer un dysfonctionnement du circuit et par conséquent une dégradation des
L’analyse de la stabilité non linéaire par la méthode utilisant la routine STAN est
longue puisque tous les nœuds du circuit doivent être testés. Et ceci pour toutes les
fréquences de la bande étudiée, en fonction de la puissance d’entrée et aussi en fonction de
la fréquence du perturbateur ajouté au circuit. De plus, les modes d’oscillations ne sont pas
déterminés par cette méthode. C’est pourquoi, lors de la conception d’un amplificateur,
le concepteur commence par la détection des modes d’oscillation pouvant exister dans le
circuit.
Tous les modes de fonctionnement sont alors analysés. Tout d’abord, un générateur de
courant de perturbation est inséré en parallèle sur la grille du transistor SC du cascode
intégré qui se situe sur le premier étage (figure 3.26). Cet étage étant constitué d’une seule
cellule de puissance, le mode d’oscillation détecté sera un mode pair.
Générateur de
perturbation
Inter- Combineur
Entrée étage de sortie Port 2
Port 1 Ip 50 Ω
Vp
50 Ω
Fpompe
Pinpompe
Figure 3.26 – Schéma de principe de l’analyse de stabilité non linéaire du premier étage.
Puis, deux générateurs de courant de perturbation sont insérés en parallèle sur chacun
des accès de grille des cellules cascodes du dernier étage (figure 3.27). Deux mode de
fonctionnement peuvent être alors déterminés, le mode pair si les deux perturbateurs
sont en phases et le mode impair s’ils sont en opposition de phase. Ces simulations sont
réalisées en fonction de la fréquence de pompe Fpompe , de la puissance d’entrée P inpompe
et de la fréquence de générateur de perturbation F reqomeg . Ces simulations sont assez
longues, pouvant durer plusieurs heures, puisque plusieurs configurations sont étudiées
simultanément.
La figure 3.28 montre que les impédances vues aux bornes du générateur de
perturbation sont à parties réelles positives quelque soit la fréquence de pompe, la
puissance d’entrée ou encore la fréquence du perturbateur. Dans ce cas le HPA est stable,
N1
Ip1
Vp1
Inter- Combineur
Entrée étage de sortie Port 2
Port 1 50 Ω
50 Ω N2
Fpompe Ip2
Pinpompe Vp2
Figure 3.27 – Schéma de principe de l’analyse de stabilité non linéaire du dernier étage.
20 20
18 18
16 16
14 14
12 12
Re (Zp1)
Re(Zp2)
10 10
8 8
6 6
4 4
2 2
0 0
0.0 5.0E9 1.0E10 1.5E10 2.0E10 2.5E10 3.0E10 0.0 5.0E9 1.0E10 1.5E10 2.0E10 2.5E10 3.0E10
Freq_omeg (Hz) Freq_omeg (Hz)
Risque d’oscillation
10 10
5 5
0 0
Im(ZP1)
Im(Zp2)
-5 -5
-10 -10
-15 -15
-20 -20
0.0 5.0E9 1.0E10 1.5E10 2.0E10 2.5E10 3.0E10 0.0 5.0E9 1.0E10 1.5E10 2.0E10 2.5E10 3.0E10
Freq_omeg (Hz) Freq_omeg (Hz)
Lorsqu’un risque d’oscillation est détecté, il faut alors noter sur quel nœud du circuit il
est apparu, pour quelle fréquence et quelle puissance d’entrée de la pompe et pour quelle
fréquence du générateur de perturbation. Puis une nouvelle simulation est réalisée, avec
un seul générateur de perturbation et autour des conditions où le risque d’oscillation a
été détecté. Ceci permet un gain de temps par rapport à l’utilisation direct de STAN.
La réponse fréquentielle est alors calculée par ADS, et peut être insérée dans STAN
afin d’identifier les pôles et les zéros de la fonction de transfert calculée afin de détecter
20 20
Parties imaginaires pôles/zéros
1E3
1E2
K
1E1
1
10 11 12 13 14 15 16 17 18
Frequence (GHz)
Figure 3.30 – Résultats de la dispersion technologique sur les paramètres [S] et le facteur
de Rollet K en fonction de la fréquence (10 à 18 GHz) pour 100 itérations.
Cette dispersion peut également être effectués pour des éléments actifs du modèle du
transistor, comme les capacités Cgs, Cgd et Cds ou le retard τ imposé à la source de
courant du transistor ou encore sur leurs paramètres extrinsèques.
f1 f2 f2-f1 f1 f2 3f13f2
2f1-f2 2f2-f1 2f1 2f2
Le principe est le même que pour l’étude du rapport C/I. En effet, deux signaux
dont les fréquences F1 et F2 sont séparées par un écart fréquentiel ∆F faible (entre 1
MHz à 100 MHz) sont injectés dans le système amplificateur. Tout comme le montre
le figure 3.31 des signaux parasites sont générés autour des fréquences fondamentales,
ce sont des produits d’intermodulation d’ordre 3. La figure 3.32 résume le principe de
calcul du point d’interception d’ordre 3 (IP3). Il correspond au point pour lequel la
puissance de sortie à la fréquence fondamentale serait identique à la puissance de sortie
de l’intermodulation d’ordre 3 en régime linéaire. Ce point est obtenu par extrapolation
des deux courbes de puissance de sortie de ces deux signaux. Plus l’IP3 est élevé plus les
produits d’intermodulation sont faibles et donc meilleure est la linéarité (la spécification
exigée étant ici de 40 dBm).
La détermination expérimentale de l’IP3 repose sur la mesure de la puissance du
signal utile et de celle du produit d’intermodulation d’ordre 3 en fonctionnement 2 tons
bas niveau. Il suffit alors de mesurer le C/I à un point de puissance d’entrée Pin et
d’extrapoler la valeur de la puissance d’entrée P I(n) in au point d’interception d’ordre 3.
C/I
IP 3(dBm) = P out(dBm) + (3.4)
2
PI(n)out IP3
Fondamental
f0 Signal d’intermodulation
d’ordre 3 (2f2-f1)
1
Pin (dBm)
3 PI(n)in
C/I (dB)
Pour une détermination correcte de l’IP3, il est important que la mesure du C/I se
fasse à faible niveau de puissance d’entrée mais suffisant pour réaliser une mesure précise
du niveau de la puissance du signal d’intermodulation d’ordre 3 qui serait autrement trop
faible.
Deux signaux de fréquences proches de la fréquence fondamentale que l’on veut étudier
sont injectés dans le système amplificateur. Ces deux signaux sont séparés par un intervalle
de fréquence, ≪ Fspacing ≫ qui aura pour valeur 1, 10 et 100 MHz. L’étude est réalisée
pour chaque fréquence de la bande d’étude (par pas de 1 GHz) en fonction de la puissance
d’entrée et ceci pour chaque valeur de ≪ Fspacing ≫ entre les deux tons en entrée.
La figure 3.33 présente l’IP3 de l’amplificateur en fonction de la puissance de sortie,
pour chaque fréquence de la bande d’étude et pour un F spacing = 10M Hz. L’IP3 atteint
une valeur de 35 dBm en régime linéaire. Cette valeur ne respecte pas le cahier des charges
imposé par la technologie VSAT. L’augmentation de l’IP3 lorsque la puissance de sortie
augmente est dûe à l’extrapolation de la courbe de puissance du signal fondamental et
celle du signal d’intermodulation d’ordre 3 lorsque les zones de compression sont atteintes.
46
H
44
Freq 12 à 16 GHz
Figure 3.33 – IP3 en fonction de la puissance de sortie Pout et pour une fréquence de
12 à 16 GHz par pas de 1 GHz.
L’IP3 étant un facteur présentant la linéarité en bas niveau nous avons également
évalué le rapport C/I afin d’avoir une idée de la linéarité du dispositif dans les zones
de compression, c’est à dire dans la zone de fonctionnement du système. Ce rapport est
présenté au sein de la figure 3.34, pour chacune des fréquences de la bande d’étude et pour
≪ Fspacing ≫ cette fois-ci égale à 100 MHz. La linéarité de l’amplificateur est satisfaisante
puisque que pour un faible niveau de puissance nous avons un rapport C/I de l’ordre de
50 dBc et à fort niveau de l’ordre de 15 dBc.
55
H
45 Freq 12 à 16 GHz
Fspacing=100MHz
C/I (dBc) (H)
35
25
15
5
12.0
14.0
16.0
18.0
20.0
22.0
24.0
26.0
28.0
30.0
32.0
34.0
Pout (dBm)
Figure 3.34 – C/I en fonction de la puissance de sortie Pout et pour une fréquence de
12 à 16 GHz par pas de 1 GHz.
Nous pouvons observer qu’il possède un nombre important de plots DC, huit côté
nord et six côté sud. Afin de réaliser des mesures sur ces circuits, une carte à pointes DC
a été conçue par la fonderie UMS (figure 3.36). Des capacités de découplages de 10 nF
ont été ajoutées sur chaque aiguille afin d’isoler le circuit des perturbations extérieures.
De plus, lors des premières mesures une oscillation basse fréquence a été détectée entre
300 et 400 MHz. Des capacités de 22 pF ainsi que des résistances de 10 Ω ont alors été
insérées en parallèle sur les pointes DC de la polarisation de drain afin d’éliminer cette
oscillation. De plus, des ponts résistifs sont ajoutés sur les pointes de polarisation de grille
afin d’éviter toutes les perturbations extérieures pouvant venir des appareils de mesure et
pouvant entrainer un couplage entre les pointes et l’extérieur.
Pointes
Pointes RF OUT
RF IN
Carte à pointes sud
30 0
-5
25
-10
S11 (dB)
-15
S21 (dB)
20
-20
15 -25
-30
10
-35
5 -40
10 11 12 13 14 15 16 17 18 10 11 12 13 14 15 16 17 18
Frequence (GHz) Frequence (GHz)
-2
S22 (dB)
-4
-6
-8
-10
10 11 12 13 14 15 16 17 18
Frequence (GHz)
Figure 3.37 – Mesures CW des paramètres S21 , S11 et S22 pour une fréquence allant de
10 à 18 GHz (mesures : cercles, simulations : traits continus).
Les simulations sont proches des mesures réalisées à 12 GHz, et la concordance entre
les mesures et les simulations est légèrement dégradé à 14 et 16 GHz.
40 30
35
12GHz
25
PAE (%)
25
15
20
10
15
10 5
5 0
-12 -10 -8 -6 -4 -2 0 2 4 6 8 10 12 14
Pin (dBm)
40 30
14GHz
35 25
Gain (dB) et Pout (dBm)
30
20
PAE (%)
25
15
20
10
15
10 5
5 0
-12 -10 -8 -6 -4 -2 0 2 4 6 8 10 12 14
Pin (dBm)
35 25
30
16GHz
20
Gain (dB) et Pout (dBm)
25
15
PAE (%)
20
10
15
5
10
5 0
-12 -10 -8 -6 -4 -2 0 2 4 6 8 10 12 14
Pin (dBm)
32 35
30
34
Pout (dBm)
Gain (dB)
28
33
26
32
24
22 31
12.0 12.5 13.0 13.5 14.0 14.5 15.0 15.5 16.0 12.0 12.5 13.0 13.5 14.0 14.5 15.0 15.5 16.0
Frequence (GHz) Frequence (GHz)
30
25
PAE (%)
20
15
12.0 12.5 13.0 13.5 14.0 14.5 15.0 15.5 16.0
Frequence (GHz)
Figure 3.39 – Mesures pulsées en puissance (Gain, Puissance de sortie, PAE) en fonction
de la fréquence, pour Pin=10 dBm et ceci pour 10 puces.
Table 3.5 – Comparaison des performances de l’amplificateur cascode par rapport aux
spécifications exigées.
Avec cette nouvelle conception, nous avons pu augmenter le critère qui faisait défaut
à l’amplificateur STARK, sa densité de puissance surfacique.
Conclusion générale
Cette thèse reflète le résultat d’un travail collaboratif entre une fonderie, la société
United Monolithic Semiconductor, un utilisateur, l’Agence Spatiale Européenne et le
laboratoire XLIM de l’université de Limoges.
La thématique concerne les circuits dédiés à l’amplification de puissance lors de
communications spatiales, en se concentrant tout particulièrement sur les terminaux
terrestres VSAT. Les contraintes économiques et technologiques font que la recherche
de nouvelles architectures d’amplificateurs de puissance autour de nouvelles cellules de
puissance reste un défi permanent. Dans ce travail, nous ne nous sommes pas intéressés à
de nouveaux matériaux de type GaN pour relever ce challenge, mais nous avons effectué
un travail de fond afin de savoir comment améliorer les performances d’une technologie
existante à base de GaAs en proposant une modification des cellules unitaires composant
les dispositifs de puissance.
Une première étude avait été menée par l’ESA et UMS en 2007. Elle consistait à utiliser
une cellule de puissance dont le facteur de forme était proche de 1, ce qui impliquait que la
surface totale du circuit était réduite. Malheureusement, une analyse minutieuse doublée
d’une réalisation de ces dispositifs ont démontré que de nombreux phénomènes n’étaient
pas maı̂trisés, avec notamment un gain en puissance très élevé et une puissance de sortie
sur-évaluée lors des simulations. C’est pourquoi l’intérêt des acteurs de ce projet s’est
porté sur un autre type de cellule de puissance, la cellule cascode.
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Annexes
Nomenclature
Abstract : This report deals with the reduction of Ku-band power amplifiers area
used in VSAT equipments. Therefore, a new unitary power cell called ≪ Integrated
cascode ≫ has been designed. This new cell is composed of two MMIC GaAs transistors
of the UMS PPH25X foundry. The sources of the first transistor exhibit via holes.
These via holes ensure a high gain and a good thermal stability. Moreover, a distributed
approach can be adopted (components integration between gate fingers). They also allow
a perfect symmetry of the structure. The number of unitary cell can be adjusted in order
to deliver the global power expected. The shape factor of the integrated cascode is equal
to 1 whereas the shape factor of a single transistor with the same gate development is
equal to 4. This cell has been measured and its model has been validated. The integrated
cascode has been used to design a 2W MMIC Ku-band amplifier. The amplifier area is
decreased of 40 %.