Departamento de Fı́sica, Facultad de Ciencias

Caracterización de Mullita por medio de Difracción de Rayos X

César Castellanos ? , Mariana Rı́os,
28 de Octubre de 2013

Resumen
Se estudia la composición quı́mica de una muestra de Silicato de Alumina (Mullita) por medio del
análisis derivado de un difractograma obtenido por medio de la difracción de Rayos X. Se compara dicho
espectro con una base de datos proporcionada por el programa X’pert Highscore Plus 2.0 para obtener la
composición de la muestra estudiada, además de obtenerse los parámetros de red de la celda unitaria del
compuesto. Se realiza el refinamiento automático Rietveld para conocer la proporción entre las componen-
tes de la muestra. Se compara el difractograma con el espectro proporcionado por el programa PowderCell
al introducir las posiciones atómicas dentro de la celda unitaria de las componentes de la Mullita.
Palabras Claves: Silicato de Alúmina, Mullita, DRX, Refinamiento Rietveld, Ley de Bragg.

1. Introducción Rayos X:
nλ = 2d sin θ
El silicato de alumina es un material que se caracteri- donde λ es la longitud de onda de los Rayos X (10 a
za por su resistencia a las altas temperaturas, por lo cual 0,01 nanómetros), n es el orden de la fase o número
es utilizado en la elaboración de muflas para hornos del plano, θ es el ángulo de incidencia de los rayos X
donde se someten a altas temperaturas diferentes tipos incidentes y d es la distancia entre los planos. De es-
de materiales. La Mullita es un Silicato de Alúmina ta manera, tenemos una forma de hallar la distancia d
cuya fórmula quı́mica es Al6 Si2 O13 (3Al2 O3 2SiO2 ) y entre dos planos en función del ángulo θ de incidencia.
que es producida artificialmente mediante varios proce- Por lo cual, variando el valor del ángulo con la longi-
sos de cocción. La Mullita sintética es conocida como tud de onda constante, es posible obtener teóricamente
una cerámica de alto rendimiento, además de ser el úni- el espectro de difracción esperado para la Mullita. La
co compuesto estable dentro de dicho sistema y que se Figura 2 muestra el espectro teórico obtenido para el
funde de manera congruente. En la Figura 1 podemos material analizado. Dicha figura fue obtenida haciendo
visualizar una celda unitaria de la Mullita. La figura de uso del programa PowderCell.
la derecha es obtenida por medio del programa Pow-
derCell a través de las coordenadas proporcionadas en
2. Aspectos Experimentales
[1] y [2], ası́ como la celda izquierda de dicha figura.
Las esferas rojas representan los átomos de Aluminio
(Al), los azules al Oxı́geno (O) y las violetas a las de Antes de poder caracterizar la muestra en el Difrac-
Silicio (Si). tometro 2 fue necesario moler la muestra de Silicato
de Alumina, la cual se encontraba en forma de bloque,
Por otro lado, la difracción de rayos X (DRX) es una donde la dureza y ligereza del material eran notables.
técnica de caracterización que nos permite identificar La muestra fue pulverizada manualmente usando un
las fases cristalinas de diferentes tipos de materiales. La mortero de ágata por una duración aproximada de algo
técnica está basada en la ley Bragg, la cual relaciona la más de una hora hasta que el bloque quedo completa-
distancia interplanar con el ángulo de incidencia de los mente reducido a un polvo muy fino.

? cccastellanosm@unal.edu.co
2 Panalytical X’Pert Pro Multipurpose Diffractometer (MPD) accionado por un generador de rayos X Philips PW3040/60 y equipado con un

detector X’Celerator. Más información acerca del dispositivo en [3] y [4]

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Figura 1. Estructura cristalina del Silicato de Alúmina Al6 Si2 O13 (Mullita).

Luego de esto, la muestra pudo ser medida en el de los rayos X.

difractómetro. Dicho dispositivo contempla la detec-
ción de fotones (rayos X) luego de ser difractados por Luego de obtener el difractograma de la muestra,
la muestra. Para ello, el detector barre la totalidad de se procedio a utlizar la función de eliminar el “back-
direcciones en las cuales los fotones pueden ser di- ground” (ruido) que pudiera estar presente en los da-
fractados por la estrucura cristalina. De esta manera, el tos obtenidos. Posterior a esto, se utilizó la función de
dispositivo detecta la cantidad de fotones (Intensidad) identificar los picos en el espectropara poder identifi-
en todods los ángulos comprendidos entre 0°y 90°, con car aquellos ángulos donde la difracción es relevante
un paso muy pequqño, el cual es definido por el expe- y caracterizan la muestra. Para ello se definió una in-
rimentador y la capacidad del difractómetro. tensidad de relavancia del 10 %, para después proceder
manualmente a eliminar los picos con muy poca in-
Finalmente, el resultado de la medición es consigna- tensidad y que no fueron eliminados previamente en la
do en un espectro que nos relaciona el doble del ángu- supresión del “background”.
lo con el cual los fotones incidieron en la muestra y la
intensidad de fotones detectados en dicha posición del Lo primero que se calculó fueron los parámetros de
detector. En la Figura 3 podemos observar el espectro red de la celda unitaria de acuerdo a [5] y [6]. Usando
obtenido por dicha medición en el difractómetro. los métodos de indexación Treor, DicVol y McMaille, se
encontró que la mayor Figura de Mérito (FOM) fue de
64,21 con el último método nombrado. Los parámetros
3. Resultados y Análisis arrojados después del refinamiento fueron de a[Å] =
8,1045, b[Å] = 3,4070 y c[Å] = 21,1694.
Comparando las Figuras 2 y 3, vemos como, aunque
el difractograma de la muestra aún se encuentra con Luego de ello se procedió a buscar un patrón que
“ruido”, los picos de difracción coinciden bastante bien. coincidiera con el difractograma de la muestra. Ası́,
Aunque las intensidades no son exactamente iguales, si se obtuvo con un 75 % de coincidencia de los picos
podemos diferenciar entre los picos de gran intensidad de difracción que el código de referencia 00-006-058,
y los que son muy pequeños (pero relevantes), coinci- perteneciente a la Mullita, conocido también como Si-
diendo esta caracterı́stica para la mayorı́a de los picos licato de Alúmina era el que mejor representaba el di-
en los dos espectros. De esta manera podemos constatar fractograma de la muestra. La fórmula quı́mica para
que existe una gran posibilidad de que nuestra muestra este compuesto es 3Al2 O3 2SiO2 , y los parámetros de
sea Mullita. Además, podemos asociar cada uno de los red, en Ångström, son a = 14,8800, b = 15,1800 y
picos con un plano de difracción, ya que la Figura 2 c = 5,7500 . Este mineral pertenece al sistema crista-
proporcionada por PowderCell indica con la nomencla- lino Ortorrómbico, por lo cual los ángulos de inclina-
tura hk` los respectivos planos cristalográficos en los ción son todos ortogonales, es decir, α = β = γ = 90°.
cuales existe la difracción de los fotones caracterı́sticos

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 Caracterización de Mullita por medio de Difracción de Rayos X, C. Castellanos, M. Rı́os

Figura 2. Espectro de Difracción de Rayos X calculado por medio de PowderCell para la Mullita.

Figura 3. Difractograma obtenido para el Al6 Si2 O13 (Mullita).

Todos estos datos estan consignados en la ficha técni- al programa X’pert Highscore Plus 2.0 y que también
ca proporcionada por la base de datos perteneciente puede ser consultada en [7]. En la Figura 4 se muestra

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Figura 4. Espectro de difracción con el background eliminado, además de los picos caracterı́sticos de la muestra caracterizada. En la imagen
inferior se compara el espectro de la muestra con el mineral que más se asemeja a esta (00-006-058), hallado en la base de datos.

el espectro sin ruido en la imagen superior y sus picos dos primeros minerales obtenemos un patrón de difrac-
de difracción caracterı́sticos, mientras que en la imagen ción que coincide en algunas posiciones angulares con
inferior se tiene una comparación entre los difracto- el patrón del Silicato de Alúmina. Sin embargo, es ob-
gramas de la base de datos (azul claro) y la muestra vio que aunque los dos primeros minerales conforman
estudiada (naranja). el tercero, las relaciones cristalográficas y estructura-
les cambian radicalmente al momento de conformar el
Luego de esto se procedió a realizar el refinamiento mencionado Silicato de nuestra muestra. En la Figura 5
Rietveld, el cuál nos permite calcular de forma aproxi- se muestra un diagrama de torta realizado por el progra-
mada la composición cuantitativa del compuesto anali- ma X’pert HighScore Plus 2.0 para ilustrar el resultado
zado. Para este caso, el refinamiento se hizo tomando del refinamiento Rietveld. También se proporcionan los
las proporciones de los minerales Cristobalita y Co- espectros de difracción de la Cristobalita, el Corindón
rindón. Esto se hizo debido a que los minerales nom- y la muestra que hemos analizado.
brados son esencialmente óxido de Silicio (SiO2 ) y
óxido de Aluminio (Al2 O3 ), respectivamente, pero di-
fieren de dichos óxidos en su estructura cristalina, pero 4. Conclusiones
la fórmula quı́mica es la misma. Ya que dicha fórmula
de la Mullita esta compuesta por estos mismos óxidos, Ya que la composición de la muestra analizada era
entonces es sensato realizar el refinamiento Rietveld previamente conocida (se conocı́a que el silicato de
con estos elementos. Usando la opción automática de alúmina era el mineral a analizar), entonces el difracto-
refinamiento se obtuvo que el Corindón conforma el grama obtenido por medio de la base de datos es cohe-
75,5 % de la muestra, mientras que la Cristobalita con- rente con el resultado obtenido. Sin embargo, podemos
forma el 24,5 % restante. observar que los parámetrops de red proporcionados
por la ficha 00-006-058 de la base de datos de X’pert
Por último se compararon los espectros de difracción Highscore Plus 2.0 difieren a los enonctrados en la lite-
de los minerales Cristobalita, Corindón y Mullita. Si se ratura cientı́fica [8] [9]. De acuerdo a estas referencias,
realiza una superposición de las lineas espectrales de los vemos como los parámetros de red son a[Å] = 7,5785,

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 Caracterización de Mullita por medio de Difracción de Rayos X, C. Castellanos, M. Rı́os

Figura 5. Concentración de Óxido de Aluminio (Corindón) y Óxido de Silicio (Cristobalita) en la muestra analizada y sus respectivos espectros
de difracción, además del medido para la muestra de Mullita que se analizó.

b[Å] = 7,6817 y c[Å] = 2,8864. Comparando estos la naturaleza de la Mullita, ya que necesariamente los
parámetros con los obtenidos en la base de datos, ve- porcentajes no deben ser iguales debido a la obvia va-
mos como estos últimos son aproximadamente el doble riación de concentraciones que puede tener este mineral
de los presentados en las referencias. Es por eso que en cuánto a sus componentes elementales atómicas. Es
concluimos que la celda analizada en la ficha técnica decir, de acuerdo a la cantidad presente de Aluminio,
hallada en la base de datos considera aproximadamente Silicio y Oxı́geno, podemos hallar, y elaborar, diferen-
el doble de tamaño de la celda, por lo cual no es una tes tipos de Mullita. Es por eso que la fórmula general
celda unitaria. Sin embargo, los parámetros hallados para este compuesto es Al4+2x Si2−2x O10−x , donde el
relacionan directamente los parámteros propios de la valor de la concentración x varı́a entre 0,17 y 0,59
celda unitaria. (0,17 < x < 0,59) [2] [8] [9].

Sin embargo, los parámetros calculados a través del Es ası́ como de acuerdo a [1] podemos visualizar
refinamiento de la celda unitaria no son los más óptimos como en la celda presentada en la Figura 1 los átomos
y difieren bastante de los reales. Es necesario utilizar de Silicio pueden ser reemplazados por otros de Alu-
un método más elaborado, además de los presentados minio, aumentado la concentración de este elemento y
en el software, para poder hallar parámetros que tengan cambiando las propiedades fı́sicas de la Mullita. Es ne-
un margen de tolerancia aceptable con respecto a los cesario realizar otro estudio con varias concentraciones
hallados experimentalmente en la literatura cientı́fica. de Aluminio para este mineral y poder ası́ determinar
como cambia el comportamiento de este material an-
Por otro lado, podemos también corroborar los resul- te gradientes de temperatura amplios, además de otras
tados del refinamiento Rietveld a través de [8]. Vemos propiedades fı́sicas que puedan ser de interés.
como los porcentajes de concentración mostrados en
dicha referencia son de 71,79 % para el óxido de Alu- Es de resaltar que aunque se intentó varias veces lle-
minio (Al2 O3 ), mientras que para el óxido de Silicio var a cabo el refinamiento Rietveld con los elemen-
(SiO2 ) es del 28,21 %, lo cual muestra que los resulta- tos puros (Aluminio, Silicio y Oxı́geno) en lugar de los
dos que obtuvimos en nuestro análisis concuerda con compuestos (óxidos), no fue posible hallar una opción

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que permitierá calcular las concentraciones con los ele- Table 1. Disponible en: http://www.springer.com/cda/content/
mentos de la tabla periódica. Fue por ello que se recu- document/cda_downloaddocument/9780387733616-c1.pdf?
SGWID=0-0-45-530400-p173747306.
rrió a los óxidos respectivos para poder determinar la
[3] PANalytical, X’Pert Powder, 2013. Disponible en: http://www.
concentración (compuesta) de dichos elementos, lo cual panalytical.com/XPert-Powder.htm.
mostramos de acuerdo a los resultados, que concuerdan [4] Dirección de Laboratorios Sede Bogotá - CEIF, Laboratorio
excelentemente con los valores que debı́amos esperar. Difractometrı́a de Rayos X. Disponible
Asumiendo que el refinamiento Rietveld es ejecutable en http://www.laboratorios.unal.edu.co/lifdoctorados/lif/
laboratorio-Difractometria.html
con tales parámetros que no se pudieron implementar y
[5] Scott A Speakman, Introduction to PANalytical X’Pert
teniendo en cuenta el refinamiento Rietveld que reali- HighScore Plus v3.0, MIT Center for Materials Science
zamos con los óxidos, es plausible esperar porcentajes and Engineering. Disponible en : http://prism.mit.edu/xray/
de concentración cercanos a los dados en [8], es decir, HighScore%20Plus%20Guide.pdf
valores cercanos al 38,00 % para el Aluminio, 13,18 % [6] PANalytical, X’Pert HighScore Plus - Quick Star Guide,
para el Silicio y 48,82 % para el Oxı́geno. Second Edition, © January 2004. Se enecuentra una versión
más reciente de esta guı́a en :http://www.readbag.com/
panalytical-dl-cfm-3
[7] Steel Data, Mullite: Reference Pattern 00-006-0258, PDF index
Referencias name: Aluminum Silicate. Copyright © 2013 by Steel Data.
All Rights Reserved. http://www.steeldata.info/inclusions/
[1] CCP14 (Collaborative Computational Project No. 14), The demo/help/names/mullite.html
Design of Structure Data, 1994. Disponible en: http://www. [8] David Barthelmy, Mineralogy Database, © 1997-2010. Mullite
ccp14.ac.uk/ccp/web-mirrors/powdcell/a_v/v_1/powder/ Mineral Data. Disponible en: http://webmineral.com/data/
details/strucdat.htm#cat1. Mullite.shtml#.UsXcEpBzTY8
[2] David J. Duval, Subhash H. Risbud, and James F. Shackelford, [9] Jolyon Ralph and Ida Chau, Mineralogy Database - Mineral
Ceramic and Glass Materials - Structure, Properties and Collecting, Localities, Mineral Photos and Data, © 1993-2014.
Processing, Springer, 2008. Chapter 2, Mullite, page 28, Mullite. Disponible en: http://www.mindat.org/min-2806.html

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