Falla en SSFV

Universidad Autónoma de San Luis Potosí
Facultad de Ingeniería
Centro de Investigación y Estudios de Posgrado
“Diagnóstico de Fallas basado en Procesamiento de Señales para el

Convertidor de Electrónica de Potencia de un Sistema de Generación
Fotovoltaico”
TESIS
Que para obtener el grado de:
Maestro en Ingeniería Eléctrica
Presenta:
Yuniel León Ruiz
Asesor:
Dr. Mario Arturo González García
Co-asesor:
Dr. Ricardo Álvarez Salas
San Luis Potosí, S. L. P. Agosto de 2018
CIEP-FI-09 Rev. julio de 2018

ii
Universidad Autónoma de San Luis Potosí
Facultad de Ingeniería
Centro de Investigación y Estudios de Posgrado
Maestría en Ingeniería Eléctrica
Opción: Control Automático
Diagnóstico de Fallas basado en Procesamiento de Señales para el

Convertidor de Electrónica de Potencia de un Sistema de Generación
Fotovoltaico
Presenta:
Ing. Yuniel León Ruiz
Sinodales:
Dr. Mario Arturo González García Dr. Ricardo Álvarez Salas

Asesor Co-Asesor
Dr. Emilio Jorge González Galván Dra. Elvia Ruth Palacios Hernández
Revisor Revisor
Dr. Homero Miranda Vidales

Suplente
San Luis Potosí, S.L.P., agosto de 2018

iv
vi
UNIVERSIDAD AUTÓNOMA DE SAN LUIS POTOSÍ
FACULTAD DE INGENIERÍA
Área de Investigación y Estudios de Posgrado
Aclaración
El presente trabajo que lleva por título:
“Diagnóstico de Fallas basado en Procesamiento de Señales para el Convertidor de Electrónica de Potencia

de un Sistema de Generación Fotovoltaico”
se realizó en el periodo abril de 2017 a agosto de 2018 bajo la dirección del Dr. Mario Arturo González
García y el Dr. Ricardo Álvarez Salas.
Originalidad
Por este medio aseguro que he realizado este documento de tesis para fines académicos sin ayuda
indebida de terceros y sin utilizar otros medios más que los indicados.
Las referencias e información tomadas directa o indirectamente de otras fuentes se han definido en el
texto como tales y se ha dado el debido crédito a las mismas.
El autor exime a la UASLP de las opiniones vertidas en este documento y asume la responsabilidad
total del mismo.
Este documento no ha sido sometido como tesis a ninguna otra institución nacional o internacional en
forma parcial o total.
Se autoriza a la UASLP para que divulgue este documento de Tesis para fines académicos.
Nombre y Firma del autor
__________________
Yuniel León Ruiz
CIEP-FI-10 Rev. Junio 2017

viii
ix
Agradecimientos
Quiero agradecer:
A mis padres y a mi hermana por haber formado los valores necesarios para enfrentar todos
los obstáculos y por brindarme incondicionalmente su sabiduría y en general por estar a mi
lado haciendo lo imposible para que todas mis metas se logren.
A mi querida esposa por haber compartido los momentos más difíciles de esta etapa, por brin-
darme todo el apoyo emocional y por regalarme la comprensión necesaria cuando habría sido
imposible para otras personas hacerlo.
A mi asesor el Dr. Mario Arturo González García por haber conado en mi y por tener la
profesionalidad para entender mis puntos de vista. Su ayuda ha sido fundamental en el resul-
tado de este trabajo de investigación.
A mi co-asesor el Dr. Ricardo Álvarez Salas por sus acertadas opiniones, y por todo el apoyo
brindado.
A Yuliet y a Baby porque sin su ayuda no habría sido posible estudiar en esta universidad.
A mis compañeros de clase Carlos, Diana y Adrián por el intercambio de conocimientos y por
los buenos momentos que hemos vivido juntos.
A México y al Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología (CONACYT) por la beca otorgada.
A todos los que de una forma u otra me han apoyado, GRACIAS.

x
xi
Resumen
En este proyecto de tesis se proponen algoritmos de diagnóstico de fallas de circuito abierto

en los interruptores de potencia de un convertidor para un sistema de generación fotovoltaico.
El sistema propuesto permite la conexión a una red eléctrica monofásica, sin embargo, la
topología utilizada es factible para su utilización en una estructura multinivel mediante la
interconexión en cascada de varios convertidores. Los elementos fundamentales que lo con-
forman son un convertidor CD-CD, un transformador de media frecuencia y un inversor. Los
requerimientos que se le imponen al sistema están fundamentados en la necesidad de extraer
la máxima potencia del arreglo de paneles fotovoltaicos, y en que la corriente que circule
hacia la red eléctrica presente una distorsión armónica inferior al 5 %. Para tales propósitos
se diseñan los controladores, que para este trabajo son tres:
1. Controlador para regular la tensión en las terminales del arreglo de paneles fotovoltaicos.
Adicionalmente se implementa un algoritmo para el seguimiento de la máxima potencia
del panel y que proporciona la referencia de tensión a este controlador.
2. Controlador de la corriente de salida para que esté en fase con la tensión de la red.
3. Controlador para regular la tensión en las terminales del condensador del bus de co-
rriente directa.
La esencia del esquema de diagnóstico de fallas consiste en comparar el comportamiento

de las señales en operación normal en relación con el que se obtiene cuando existen fallas, y a
partir de esa información se evalúa una condición de circuito abierto en los interruptores de
potencia del convertidor. Las técnicas son efectivas en un amplio rango de irradiancias (100 a
1000 W/m2 ) y se basan en las señales de tendencia y de detalle de la transformada Wavelet
Daubechies de soporte 4 y en descriptores estadísticos. El procesamiento se realiza a partir
de la información que se obtiene de los propios sensores que se utilizan para el sistema de
control, por lo que el costo del sistema fotovoltaico no se incrementa. Se diseñan 5 algoritmos
para el diagnóstico de fallas de circuito abierto en los interruptores de potencia de cada uno
de los bloques que conforman la topología del convertidor seleccionado:
Resumen xii
1. Convertidor CD-CD: se utiliza la derivada de los coecientes de tendencia del primer

nivel de descomposición de la señal de corriente del arreglo de paneles.
2. Enlace de media frecuencia: se evalúa el valor promedio de los coecientes de detalle del
tercer nivel de descomposición de la tensión del bus de CD.
3. Inversor de salida: se considera la información de los coecientes de tendencia del primer

nivel de descomposición de la señal de corriente en el lado de alterna del inversor, para
las fallas permanentes de circuito abierto.
4. Inversor de salida: se diseña un segundo algoritmo basado en la curtosis de los coecientes

de detalle del tercer nivel de descomposición de la misma señal, para diagnosticar fallas
de circuito abierto momentáneas, o bien para detectar pérdidas de la señal del sensor
de la corriente en el lado de alterna del inversor.
5. Enlace de media frecuencia e inversor de salida: se evalúa el signo de la derivada de los

coecientes de tendencia del primer nivel de descomposición de la señal de tensión del
bus de corriente directa, para detectar fallas de circuito abierto simultáneas tanto en
los interruptores de una misma rama del inversor de salida, como en los interruptores
de una rama del inversor o el puente de diodos del enlace de media frecuencia.
xiii
Índice general
Agradecimientos ix
Resumen xi
Índice de guras xvii
Índice de tablas xxi
Simbología y acrónimos xxiii
Introducción 1
1. Estado del arte y selección de una topología del convertidor de electrónica

de potencia 5
1.1. Introducción . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
1.2. Convertidores de potencia para sistemas fotovoltaicos . . . . . . . . . . . . . . 6
1.2.1. Topologías de convertidores y tendencias de soluciones encontradas en

la literatura . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
1.2.2. Selección de una topología para el desarrollo de la tesis . . . . . . . . . 11
1.3. Diagnóstico de fallas en sistemas fotovoltaicos . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
1.3.1. Condiciones de falla . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
1.3.2. Fallas típicas en sistemas fotovoltaicos . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
1.3.3. Técnicas de detección y aislamiento de fallas . . . . . . . . . . . . . . 14
1.3.3.1. Métodos generales de diagnóstico de fallas . . . . . . . . . . . 14
1.3.3.2. Métodos de diagnóstico de fallas en sistemas fotovoltaicos . . 15
1.3.3.3. Diagnóstico de fallas basado en modelos . . . . . . . . . . . . 15
1.3.3.4. Diagnóstico de fallas basado en procesamiento de señales . . 18
1.4. Diseño de la investigación . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22

ÍNDICE GENERAL xiv
2. Diseño del sistema de control automático 23

2.1. Diseño del controlador de la tensión del panel fotovoltaico . . . . . . . . . . . 24
2.1.1. Algoritmo de extracción de la máxima potencia . . . . . . . . . . . . . 24
2.1.2. Diseño del controlador . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
2.2. Diseño de los controladores del inversor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
2.2.1. Sistema de control de la corriente . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
2.2.2. Sistema de control de la tensión del bus de CD . . . . . . . . . . . . . 37
2.2.2.1. Diseño del controlador de la tensión . . . . . . . . . . . . . . 38
2.2.2.2. Estimador de la tensión del bus de CD . . . . . . . . . . . . 41
2.3. Sistema de control general . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
3. Algoritmos para el diagnóstico de fallas en el convertidor de electrónica de

potencia 51
3.1. Transformada Wavelet . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52
3.2. Fórmulas recursivas basadas en descriptores estadísticos . . . . . . . . . . . . 56
3.2.1. Cálculo recursivo del valor medio . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
3.2.2. Cálculo recursivo del valor RM S . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59
3.2.2.1. Cálculo recursivo de la varianza . . . . . . . . . . . . . . . . 59
3.2.3. Fórmula inspirada en la ecuación general de la esperanza matemática . 61
3.3. Algoritmos para el diagnóstico de fallas en los componentes del convertidor . 62
3.3.1. Algoritmo de diagnóstico de fallas para el inversor . . . . . . . . . . . 63
3.3.1.1. Algoritmo de diagnóstico de las fallas de los grupos IG1 e IG2 66
3.3.1.2. Algoritmo de diagnóstico de las fallas del grupo IG3 . . . . . 71
3.3.1.3. Algoritmo de diagnóstico de las fallas del grupo IG4 . . . . . 73
3.3.2. Algoritmo de diagnóstico de fallas para el enlace de media frecuencia . 74
3.3.2.1. Algoritmo de diagnóstico de las fallas de los grupos M F1 y M F2 78
3.3.2.2. Algoritmo de diagnóstico de las fallas del grupo M F3 . . . . 81
3.3.3. Algoritmo de diagnóstico de fallas en el convertidor CD-CD . . . . . . 81
3.3.4. Algoritmo de diagnóstico de fallas general para la topología propuesta 84
4. Resultados 87
4.1. Armónicos de corriente en operación normal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 87
4.2. Relación entre el ancho de banda del controlador de la tensión del bus de CD
y los armónicos de corriente en el inversor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88
4.3. Diagnóstico de fallas en el inversor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90
4.3.1. Fallas de los grupos IG1 e IG2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90
4.4. Diagnóstico de fallas en una rama del inversor de salida (grupo IG3 ) y de fallas
en una rama del inversor o del puente de diodos del enlace de media frecuencia
(grupo M F3 ) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 100
4.5. Fallas del grupo IG4 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 105
4.6. Fallas de circuito abierto en los interruptores Sa (grupo M F1 ) y Sb (grupo

M F2 ) del enlace de media frecuencia. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 108
ÍNDICE GENERAL xv
4.7. Diagnóstico de fallas en el convertidor CD-CD . . . . . . . . . . . . . . . . . . 110

4.8. Desempeño de los algoritmos de diagnóstico de fallas propuestos . . . . . . . . 112
4.9. Comparación de los resultados obtenidos con los trabajos reportados en la
literatura . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 113
Conclusiones 115
Bibliografía 119
ÍNDICE GENERAL xvi
xvii
Índice de guras
1.1. Familias de Inversores. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
1.2. Topología seleccionada para el estudio del diagnóstico de fallas. . . . . . . . . 11
1.3. Tres estudios que evalúan el total de eventos de mantenimientos solicitados en

las plantas de generación fotovoltaica debido a fallas en los equipos. . . . . . . 13
1.4. Tres estudios que evalúan la frecuencia relativa de fallas en los componentes
del inversor. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
1.5. Clasicación de las fallas en el lado de CD y CA de un sistema fotovoltaico. . 14
2.2. Diagrama de ujo del algoritmo MPPT. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
2.3. Diagrama de bloques para el diseño del controlador de la tensión Vpv (s). . . . 27
2.4. Diagrama de Bode de la función Gpv1 (s). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
2.5. Diagrama de Bode del sistema compensado. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
2.6. Modelo del inversor. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
2.7. Diagrama de control de la corriente con compensador de desacoplo. . . . . . . 31
2.8. Diagrama de control simplicado para el diseño del controlador de corriente. . 32
2.9. Diagrama de Bode de la función de transferencia GI1 (s). . . . . . . . . . . . . 33
2.10. Diagrama de Bode de la función de transferencia GI2 (s). . . . . . . . . . . . . 35
2.11. Diagrama de Bode de la función de transferencia de lazo abierto GHI (s) y de

la función de transferencia del sistema de control en lazo cerrado TIlc . . . . . . 37
2.12. Funcionamiento del controlador de corriente. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 37
2.13. Diagrama de bloques de los dos lazos de control. . . . . . . . . . . . . . . . . 38
2.14. Diagrama de bloques del lazo de control externo. . . . . . . . . . . . . . . . . 38
2.15. Diagrama de Bode de la función GV (s). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
2.16. Diagrama de Bode de la función de transferencia de lazo abierto. . . . . . . . 41
2.17. Forma de onda de la tensión estimada del bus de CD para distintos valores de
Ccd . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 42
2.18. Tercer armónico en la referencia de corriente. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
2.19. Diagrama de bode del controlador de tensión del bus de CD. . . . . . . . . . . 43

ÍNDICE DE FIGURAS xviii
2.20. Armónicos en la referencia de corriente para distintos anchos de banda de CV (s). 45
2.21. Respuesta del sistema para diferentes anchos de banda de CV (s). . . . . . . . 45
2.22. Armónicos en la referencia corriente considerando el estimador para distintos

anchos de banda de CV (s). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
2.23. Respuesta del sistema considerando el estimador para diferentes anchos de

banda de CV (s). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
2.24. Diagrama de ujo para el estimador del bus de CD. . . . . . . . . . . . . . . . 47
2.25. Comportamiento general del sistema sin estimador para un ancho de banda de
12 Hz del controlador de tensión del bus de CD. . . . . . . . . . . . . . . . . 48
2.26. Comportamiento general del sistema con estimador de la tensión del bus de
CD para un ancho de banda de 36 Hz del controlador de tensión. . . . . . . . 49
3.2. Corrimiento de dos posiciones del vector f. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
3.3. Cuatro niveles de descomposición de la transformada Wavelet. . . . . . . . . . 54
3.4. Algoritmo para el cálculo de la transformada Wavelet de tres niveles. . . . . . 55
3.5. Corrimiento del vector de datos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
3.6. Almacenamiento circular de los datos que se reciben. . . . . . . . . . . . . . . 58
3.7. Fallas de interruptor abierto en el inversor, manteniéndose el diodo en operación. 64
3.8. Comportamiento de las señales en presencia de fallas. a1x (t) representa los co-
ecientes de tendencia del nivel uno de la señal x y µa1 (t) su valor promedio. 65
x
3.9. Comportamiento del valor promedio cuando ocurre una falla del grupo IG1 . . 66
3.10. Coecientes de tendencia que se procesan cuando ocurren fallas del grupo IG1 . 69
3.11. Algoritmo de diagnóstico de fallas de los grupos IG1 e IG2 . . . . . . . . . . . 70
3.12. Algoritmo para el diagnóstico de las fallas del grupo IG3 . . . . . . . . . . . . 72
3.13. Algoritmo para el cálculo de la potencia promedio del arreglo de paneles. . . . 72

2
3.14. Fallas del grupo IG4 . a) Irradiancia igual a 100 W/m . b) Irradiancia igual a
2
1000 W/m . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 73
3.15. Algoritmo de diagnóstico de fallas del grupo IG4 . . . . . . . . . . . . . . . . . 74
3.16. Fallas en el puente de interruptores del enlace de media frecuencia. . . . . . . 76
3.17. Fallas en el puente de diodos del enlace de media frecuencia. . . . . . . . . . . 77
3.18. Señales para el diagnóstico del grupo de fallas M F1

M F2 . . . . .
y . . . . . . 78
3.19. Algoritmo para el diagnóstico de los grupos de fallas M F1 y M F2 . . . . . . . 79
3.20. Algoritmo de diagnóstico de fallas de los grupos IG3 y M F3 . . . . . . . . . . 80
3.21. Falla de circuito abierto en el interruptor del convertidor CD-CD. . . . . . . . 82
3.22. Comportamiento de los coecientes de tendencia cuando ocurre una falla de

circuito abierto en el interruptor del convertidor CD-CD. a) Corriente ipv (t)
cuando ocurre una falla de circuito abierto. b) Coecientes de tendencia a1ipv (t)
de la corriente ipv (t). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82
3.23. Algoritmo de diagnóstico de fallas en el convertidor CD-CD. . . . . . . . . . . 82
3.24. Algoritmo de diagnóstico de fallas general. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 83

ÍNDICE DE FIGURAS xix
4.1. Contenido armónico de is (t) considerando dos niveles de irradiancia y un ancho

de banda del controlador de tensión de 12 Hz. a) Irradiancia de 500 W/m2 . b)
2
Irradiancia de 1000 W/m . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88
4.2. Comportamiento de la THD de la corriente is para diferentes niveles de irra-

diancia. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88
4.3. Regulación de la tensión del bus de CD para dos niveles de irradiancia diferen-
tes. a) Ancho de banda igual a 24 Hz. b) Ancho de banda igual a 12 Hz. . . . 89
4.4. Armónicos de la corriente is (t) para un ancho de banda igual a 24 Hz. a)

Irradiancia igual a 500 W/m2 . b) Irradiancia igual a 1000 W/m2 . . . . . . . . 90
4.5. S1 (grupo IG1 ) pa-

Diagnóstico de fallas de circuito abierto en el interruptor
2
ra 100 W/m . a) Al inicio del semiciclo positivo. b) Al nalizar el semiciclo
positivo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 92
4.6. Diagnóstico de fallas de circuito abierto en el interruptor S1 (grupo IG1 ) para

100 W/m2 . a) Al inicio del semiciclo negativo. b) Al nalizar el semiciclo negativo. 93
4.7. Diagnóstico de fallas de circuito abierto en el interruptorS3 (grupo IG2 ) para

2
100 W/m . a) Al inicio del semiciclo positivo. b) Al nalizar el semiciclo positivo. 94
4.8. Diagnóstico de fallas de circuito abierto en el interruptorS3 (grupo IG2 ) para

2
100 W/m . a) Al inicio del semiciclo negativo. b) Al nalizar el semiciclo negativo. 95

1000 W/m2 . a) Al inicio del semiciclo positivo. b) Al nalizar el semiciclo positivo. 96

1000 W/m2 . a) Al inicio del semiciclo negativo. b) Al nalizar el semiciclo
negativo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 97

2
1000 W/m . a) Al inicio del semiciclo positivo. b) Al nalizar el semiciclo positivo. 98

1000 W/m2 . a) Al inicio del semiciclo negativo. b) Al nalizar el semiciclo
negativo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 99
4.13. Diagnóstico de fallas de circuito abierto en una rama del inversor de salida
(grupo IG3 . a) Comportamiento de las señales cuando ocurre un cambio de
irradiancia de 100 a 200 W/m2 . b) Diagnóstico de las fallas del grupo IG3 para
2
100 W/m . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 101
4.14. Diagnóstico de fallas de circuito abierto en una rama del inversor del enlace
de media frecuencia (grupo M F3 ). a) Comportamiento de las señales cuando
ocurre un cambio de irradiancia de 100 a 40 W/m2 . b) Diagnóstico de las fallas
del grupo M F3 para 100 W/m2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 102
4.15. Diagnóstico de fallas de circuito abierto en una rama del inversor de salida
(grupo IG3 ). a) Comportamiento de las señales cuando ocurre un cambio de
irradiancia de 500 a 1000W/m2 . b) Diagnóstico de las fallas del grupo IG3
2
para 1000 W/m . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 103
ÍNDICE DE FIGURAS xx
4.16. Diagnóstico de fallas de circuito abierto en una rama del inversor del enlace
de media frecuencia (grupo M F3 ). a) Comportamiento de las señales cuando
ocurre un cambio de irradiancia de 1000 a 500 W/m2 . b) Diagnóstico de las
2
fallas del grupo M F3 para 1000 W/m . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 104
4.17. Fallas del grupo IG4 cuando se pierde la señal de los interruptores S1 y S3 . a)
2
Irradiancia igual a 100 W/m . b) Irradiancia igual a 1000
2
W/m . . . . . . . . 106
4.18. Fallas del grupo IG4 cuando se pierde la señal de retroalimentación. a) Irra-
2 2
diancia igual a 100 W/m . b) Irradiancia igual a 200 W/m . . . . . . . . . . . 107
4.19. Fallas del grupo IG4 cuando se pierde la señal de retroalimentación. a) Irra-
2 2
diancia igual a 500 W/m . b) Irradiancia igual a 1000 W/m . . . . . . . . . . 108
4.20. Diagnóstico de fallas del grupo M F1 . a) Irradiancia igual a 100 W/m . b)
2
2
Irradiancia igual a 1000 W/m . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 109
4.21. Diagnóstico de fallas del grupo M F2 . a) Irradiancia igual a 100 W/m . b)
2
2
Irradiancia igual a 1000 W/m . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 110
4.22. Diagnóstico de falla de circuito abierto en el interruptor del convertidor CD-CD
a) Irradiancia igual a 50 W/m2 . b) Irradiancia igual a 1000 W/m2 . . . . . . . 111
4.23. Tiempos de diagnóstico en función de la irradiancia. a) Algoritmo de diagnósti-
co de fallas de circuito abierto en el interruptor S1 del inversor de salida (grupo
IG1 ). b) Algoritmo de diagnóstico de fallas de circuito abierto en los interrup-
tores S1 y S3 del inversor de salida (grupo IG3 ). c) Algoritmo de diagnóstico
de fallas en el interruptor Sa del enlace de media frecuencia (grupo M F1 ).
d) Algoritmo de diagnóstico de fallas en los interruptores Sa y Sb del enlace
de media frecuencia (grupo M F3 ). e) Algoritmo de diagnóstico de fallas en el
interruptor del convertidor CD-CD. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 113
xxi
Índice de tablas
2.1. Características del arreglo equivalente de paneles fotovoltaicos. . . . . . . . . 24

2.2. Valores nominales del punto de operación. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
2.3. Parámetros del convertidor utilizados para la simulación. . . . . . . . . . . . . 49
3.1. Tiempos de muestreo para cada nivel de descomposición. . . . . . . . . . . . . 55

3.2. Descriptores estadísticos y simbología. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
3.3. Clasicación de las fallas en el inversor. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63
3.4. Clasicación de las fallas en el enlace de media frecuencia. . . . . . . . . . . . 75
3.5. Valores promedio para distintos niveles de irradiancia de los coecientes de
uctuación de la transformada Wavelet de tercer nivel de la señal vcd (t). . . . 78
3.6. Fallas que se pueden diagnosticar con el algoritmo propuesto. . . . . . . . . . 85
4.1. Tiempos mínimo y máximo estimados para el diagnóstico de falla. . . . . . . 112

4.2. Tiempos para el diagnóstico de fallas reportados en la literatura. . . . . . . . 114
ÍNDICE DE TABLAS xxii
xxiii
Simbología y acrónimos
Símbolo Descripción
1
a Señal de tendencia del primer nivel de descomposición de la transformada
Wavelet
a2 Señal de tendencia del segundo nivel de descomposición de la transfor-

mada Wavelet
aim Coeciente de tendencia i
akr(t) Señal de tendencia de la transformada Wavelet del nivel de descomposi-

ción k de la señal r(t)
a1vcd Señal de tendencia del primer nivel de descomposición de la transformada
Wavelet de la tensión vcd
a1ipv Señal de tendencia del primer nivel de descomposición de la transformada
Wavelet de la corriente que entrega el arreglo de paneles fotovoltaicos
a1is Señal de tendencia del primer nivel de descomposición de la transformada

Wavelet de la corriente is
CHB Inversor de puentes completos conectados en cascada
CF Controlador para regular la tensión vpv

CI Controlador de la corriente del lado de alterna del inversor
CV Controlador para regular la tensión del bus de CD
Cpv Capacitor en las terminales del arreglo de paneles fotovoltaicos
Co Capacitor de salida del convertidor CD-CD
Ccd Bus de CD
d1 Señal de detalle del primer nivel de descomposición de la transformada

Wavelet
2
d Señal de detalle del segundo nivel de descomposición de la transformada
Wavelet
dim Coeciente de uctuación o de detalle i
d3vcd Señal de detalle del tercer nivel de descomposición de la transformada

Wavelet de la tensión vcd
Simbología y acrónimos xxiv
dkr(t) Señal de detalle de la transformada Wavelet del nivel de descomposición

k de la señal r(t)
d3is Señal de detalle del tercer nivel de descomposición de la transformada
Wavelet de la corriente is
dN Ciclo útil nominal del interruptor de potencia del convertidor CD-CD
dˆ Variación alrededor del punto de operación del ciclo útil del interruptor
de potencia
D1 Diodo en antiparalelo del interruptor S1

Dbs Diodo en antiparalelo del interruptor del convertidor CD-CD
Dbst Diodo del convertidor CD-CD
Da Diodo en antiparalelo del interruptor Sa

Db Diodo en antiparalelo del interruptor Sb
Dc Diodo en antiparalelo del interruptor Sc
Dd Diodo en antiparalelo del interruptor Sd
Df Diodo en el lado superior izquierdo del puente de diodos del enlace de
media frecuencia
Dg Diodo en el lado superior derecho del puente de diodos del enlace de

media frecuencia
Dh Diodo en el lado inferior izquierdo del puente de diodos del enlace de

media frecuencia
Di Diodo en el lado inferior derecho del puente de diodos del enlace de media
frecuencia
Epv (s) Señal de error del sistema de control de la tensión vpv

Ei (s) Señal de error del sistema de control de la corriente is
Ev (s) Señal de error del sistema de control de la tensión vcd
FC Inversor con capacitores otantes
FCA Fallas de circuito abierto
FCC Fallas de cortocircuito
fs Frecuencia de la señal portadora para la estrategia de conmutación de

los interruptores del inversor de salida
fmpp Frecuencia de muestreo para el algoritmo del MPPT
fmsw Frecuencia de conmutación de los interruptores del enlace de media fre-

cuencia
fred Frecuencia de la red

Simbología y acrónimos xxv
fp Frecuencia con la que se muestrean las señales de los sensores
fsw Frecuencia de conmutación del interruptor del convertidor CD-CD
FDf Diodo Df abierto
FDg Diodo Dg abierto
FDh Diodo Dh abierto
FDi Diodo Di abierto
FDf g Diodos Df y Dg abiertos
FDf h Diodos Df y Dh abiertos
FDf i Diodos Df y Di abiertos
FDgh Diodos Dg y Dh abiertos
FDgi Diodos Dg y Di abiertos
FDhi Diodos Dh y Di abiertos
FSa Interruptor Sa abierto
FSb Interruptor Sb abierto
FSc Interruptor Sc abierto
FSd Interruptor Sd abierto
FSab Interruptores Sa y Sb abiertos
FSac Interruptores Sa y Sc abiertos
FSad Interruptores Sa y Sd abiertos
FSbc Interruptores Sb y Sc abiertos
FSbd Interruptores Sb y Sd abiertos
FScd Interruptores Sc y Sd abiertos
FS1 Interruptor S1 abierto
FS12 Interruptores S1 y S2 abiertos
Fctrl Interruptores S1 y S3 abiertos momentáneamente
Gf f (s) Compensador para desacoplar las dinámicas entre el inversor y la red

eléctrica
Simbología y acrónimos xxvi
Gpv (s) Función de transferencia de la planta del diagrama de bloques del sistema
de control de la tensión vpv
GHpv (s) Función de transferencia de lazo abierto del sistema de control de la
tensión vpv
GHI (s) Función de transferencia de lazo abierto del sistema de control de la
corriente is
GI (s) Función de transferencia de la planta del diagrama de bloques del sistema
de control de la corriente is
GV (s) Función de transferencia de la planta del diagrama de bloques del sistema
de control de la tensión vcd
hk1 Vector para almacenar y rotar las muestras que se reciben
IG1 Grupo de falla al que pertenece la falla de circuito abierto del interruptor
S1
IG2 Grupo de falla al que pertenece la falla de circuito abierto del interruptor
S3
IG3 Grupo de falla al que pertenecen las fallas simultáneas de circuito abierto
de los interruptores S1 y S3
IG4 Grupo de falla al que pertenecen las fallas momentáneas de circuito
abierto de los interruptores S1 y S3
ipv Corriente del arreglo de paneles fotovoltaicos
ipvN Corriente nominal en el arreglo de paneles fotovoltaicos
iLB Corriente que pasa por el inductor LB del convertidor CD-CD
îLB Variación alrededor del punto de operación de la corriente que circula

por el inductor LB ,
icd Corriente del bus de CD, antes del condensador Ccd
id Corriente del bus de CD, después del condensador Ccd
is Corriente en lado de alterna del inversor
ic Corriente que circula por el condensador Ccd

iCpv Corriente que circula por el condensador Cpv
Ip Corriente pico de is
ISC Corriente de corto circuito del arreglo de paneles fotovoltaicos
Im Corriente de máxima potencia del arreglo de paneles fotovoltaicos
iref Señal de referencia del sistema de control de la corriente is

k̂i Ganancia del controlador de la corriente is
k̂c y k̂v Ganancias del controlador de la tensión del bus de CD
ku[i] Curtosis de la iteración i
kp Constante de error de posición estática
k̂pv Ganancia del controlador de la tensión vpv

Simbología y acrónimos xxvii
LB Inductor del convertidor CD-CD
Ls Inductor del lado de alterna del inversor
m(t) Señal moduladora
MPP Punto de máxima potencia
MPPT Seguimiento del punto de máxima potencia
M F1 Grupo de falla al que pertenece la falla de circuito abierto del interruptor

Sa
M F2 Grupo de falla al que pertenece la falla de circuito abierto del interruptor
Sb
M F3 Grupo de falla al que pertenecen las fallas simultáneas de circuito abierto
de los interruptores Sa y Sb
NPC Inversor con diodos de enclavamiento
Nt Relación de transformación del transformador de media frecuencia
Pm Potencia máxima del arreglo de paneles fotovoltaicos
PV Panel fotovoltaico
PLL Lazo de amarre de fase
PWM Modulación del ancho del pulso
Ppv Potencia promedio del arreglo de paneles fotovoltaicos
ppv Potencia instantánea del arreglo de paneles fotovoltaicos
Pc Potencia del condensador del bus de CD
qZS-CHB Topología de convertidor
Rs Resistencia serie del lado de alterna del inversor
rpv Resistencia dinámica que dene la razón entre la tensión y corriente del
arreglo de paneles fotovoltaicos
RM S[i] Raíz cuadrada de la media aritmética de los cuadrados de los valores de

la iteración i
SPWM Modulación sinusoidal del ancho del pulso
S1 Interruptor de potencia en el lado superior izquierdo del inversor de

salida
S2 Interruptor de potencia en el lado inferior derecho del inversor de salida
S3 Interruptor de potencia en el lado superior derecho del inversor de salida
S4 Interruptor de potencia en el lado inferior izquierdo del inversor de salida
Sbst Interruptor del convertidor CD-CD
Sa Interruptor de potencia en el lado superior izquierdo del enlace de media

frecuencia
Sb Interruptor de potencia en el lado superior derecho del enlace de media

frecuencia
Simbología y acrónimos xxviii
Sc Interruptor de potencia en el lado inferior izquierdo del enlace de media

frecuencia
Sd Interruptor de potencia en el lado inferior derecho del enlace de media

frecuencia
Tm Período con el que se muestrean las señales de los sensores
TI Constante de tiempo del controlador de la corriente is

TIlc (s) Función de transferencia en lazo cerrado del sistema de control de la
corriente is
Tpv Constante de tiempo del controlador de la tensión vpv
Ts Período de la señal portadora para la estrategia de conmutación de los
interruptores del inversor
Tv Constante de tiempo del controlador de la tensión vcd

THD Distorsión armónica total
Ui (s) Señal a la salida del controlador de la corriente is

Upv (s) Señal a la salida del controlador de la tensión vpv
Uv (s) Señal a la salida del controlador de la tensión vcd
VpN = Vp Valor pico de la tensión de la red
VcdN = Vo Tensión promedio del bus de CD
Vcdest Tensión estimada del bus de CD
vpv Tensión en las terminales del arreglo de paneles fotovoltaicos
vpvN Tensión nominal en las terminales del arreglo de paneles fotovoltaicos
v̂pv Variación alrededor del punto de operación de la tensión en las terminales

del arreglo de paneles fotovoltaicos
vo Tensión a la salida del convertidor CD-CD
vo N Tensión nominal a la salida del convertidor CD-CD
v̂o Variación alrededor del punto de operación de la tensión a la salida del

convertidor CD-CD
vcd Tensión del bus de CD
vs Tensión de la red
Vm Tensión de máxima potencia del arreglo de paneles fotovoltaicos
∗
Vpv Tensión de referencia para el sistema de control de la tensión vpv
∗
Vcd Tensión de referencia para el sistema de control de la tensión del bus de
CD
VOC Tensión de circuito abierto del arreglo de paneles fotovoltaicos
wbv Ancho de banda del sistema de control de la tensión del bus de CD en

lazo cerrado
wbi Ancho de banda del sistema de control de la corriente en lazo cerrado

Simbología y acrónimos xxix
wci Frecuencia de cruce de ganancia de la función de transferencia de lazo

abierto del sistema de control de la corriente is
wcv Frecuencia de cruce de ganancia de la función de transferencia de lazo
abierto del sistema de control de la tensión vcd
wcpv Frecuencia de cruce de ganancia de la función de transferencia de lazo
abierto del sistema de control de tensión vpv
w0 Frecuencia en rad/s de la red eléctrica
α1 , α2 , α3 , α4 Constantes para el cálculo de los coecientes de tendencia
β1 , β2 , β3 , β4 Constantes para el cálculo de los coecientes de detalle
αv Factor de atenuación del controlador de la tensión vcd

αI Factor de atenuación del controlador de la corriente is
αpv Constante del controlador de la tensión vpv
µ[i] Valor promedio de la iteración i
µd3v Valor promedio de la señal d3vcd

cd
µa1i Valor promedio de la señal de tendencia del primer nivel de descompo-

s
sición de la transformada Wavelet de la corriente is
µa1v Valor promedio de la señal de tendencia del primer nivel de descompo-
cd
sición de la transformada Wavelet de la tensión vcd
ξ[i] Esperanza matemática de la iteración i
σ[i] Desviación típica de la iteración i
Υpos Derivada de Ψpos

Υneg Derivada de Ψneg
Υvcd Derivada de a1vcd
Υppv Derivada del promedio de la potencia instantánea que entrega el arreglo
de paneles
Υipv Derivada de a1ipv

Ψ Cantidad de coecientes de tendencia o detalle que se pueden calcular
en un ciclo de red
Ψactual Contador que se inicia en el valor cero al comienzo de cada semiciclo de

red
Σ1 Es positivo o negativo en dependencia de si se procesan coecientes de

tendencia aim positivos o negativos
Ψpos Contador de coecientes positivos de la señal de tendencia correspon-

diente a la transformada Wavelet de la corriente is
Ψneg Contador de coecientes negativos de la señal de tendencia correspon-
diente a la transformada Wavelet de la corriente is
Ψd4 Contador que se incrementa cuando se cumplen las siguientes condicio-
nes: 0 < Ψpos < 50 y Υpos = 0
Simbología y acrónimos xxx
Ψd5 Contador que se incrementa cuando se cumplen las siguientes condicio-

nes: 0 < Ψneg < 50 y Υneg = 0
Ψvcd1 Contador de coecientes de tendencia positivos de la transformada Wa-
velet de la señal vcd
1
Introducción
El crecimiento de la economía global a una tasa media de 3.4 % al año, la estimación de

que la población aumentará desde 7400 millones en el año 2017 hasta 9000 millones en 2040,
y un proceso de urbanización que añade una ciudad del tamaño de Shanghái a la población
urbana mundial cada cuatro meses, son factores que sustentan las previsiones realizadas por
la Agencia de Energía Internacional (IEA), entre las cuales se señala que las necesidades
energéticas mundiales ascenderán más lentamente que en el pasado, pero todavía en un 30 %
de aquí al año 2040.
El mundo satisface sus crecientes necesidades energéticas a partir del gas natural, el rá-
pido aumento de las fuentes renovables y la eciencia energética. Las mejoras en eciencia
desempeñan un papel notable a la hora de aliviar la presión por el lado de la oferta: sin ellas,
el aumento previsto del uso de energía nal sería de más del doble. Las fuentes renovables de
energía satisfacen el 40 % del aumento de la demanda primaria y su crecimiento en el sector
eléctrico marca el nal de los años de auge para el carbón.
La capacidad instalada por concepto de energías renovables se ha incrementado a nivel

mundial en los últimos años. La adición de nuevas capacidades de potencia (140 GW) a partir
de energías renovables en el año 2016 fue equivalente a un 55 % del total añadido a nivel global,
y las inversiones en este sentido superaron a las realizadas para los combustibles fósiles, y esta
ha sido la tendencia en los últimos cinco años. La caída de los precios de las turbinas eólicas,
los sistemas fotovoltaicos y las baterías ha sido un factor determinante en las inversiones
realizadas. Entre los años 2009 y 2016, los costos de los sistemas fotovoltaicos se redujeron
en un 80 % aproximadamente, y en relación con las turbinas eólicas entre un 30-40 %. La
tendencia ha demostrado que las tecnologías fotovoltaicas y eólicas han sido preferidas para
la generación de electricidad, debido en lo fundamental a la caída de los precios de estas
tecnologías [1].
Todo lo anterior es una muestra de la importancia que representan los sistemas fotovol-
taicos en la sociedad moderna. Sin embargo, la disponibilidad de la energía que brindan estos
sistemas de generación, no solamente se ve afectada por los distintos niveles de irradiancias
que se experimentan durante el día, sino también por las interrupciones que se originan cuando
ocurre una falla en alguno de sus componentes. De acuerdo a [2], el inversor provoca entre un
43 % y un 70 % del total de interrupciones del servicio, y debido a ello los costos de operación y
Introducción 2
mantenimiento se incrementan. A pesar de que es imposible desde el punto de vista económico

fabricar inversores que no fallen, o que nunca necesiten mantenimiento, es deseable reducir el
tiempo en el que el inversor no está en operación debido a fallas en sus componentes.
En [2] se incluyen datos estadísticos obtenidos a partir de tres estudios realizados en los
componentes que conforman al inversor, en donde se evalúan aproximadamente 400 fallas.
Como resultado de este estudio se considera que del total de las fallas, las presentadas en
los interruptores de potencia varían entre un 6 % y 18 %, y las correspondientes a fallas en
el software del sistema de control oscilan entre un 18 % y 33 %, siendo estas últimas las que
mayores índices presentan. Por lo tanto, es importante contar con un sistema de generación
fotovoltaico que sea capaz de diagnosticar las fallas en los interruptores de potencia y en el
sistema de control, sobre todo para aplicaciones a gran escala.
En la literatura se reportan varias técnicas para el diagnóstico de fallas en sistemas de
generación fotovoltaicos. Las distintas variantes se pueden clasicar de acuerdo al lugar donde
ocurre la falla, y en general se pueden agrupar en técnicas basadas en modelos del sistema, y
técnicas que tienen su fundamentación en el procesamiento de datos. La transformada Wavelet
se destaca como una alternativa en varios trabajos cientícos, entre los cuales se pueden citar
los siguientes:
1. En [3] y [4] se propone una variante para el diagnóstico de fallas de circuito abierto en
los interruptores de potencia de un inversor, y en el algoritmo se utiliza la información
que brinda el promedio de los coecientes de tendencia que se obtienen a partir de la
transformada Wavelet. En esta propuesta se valida mediante resultados experimentales,
la utilización de la varianza de los coecientes de detalle del tercer nivel de descom-
posición para el diagnóstico de fallas momentáneas de circuito abierto en el sistema
de control o en el sensor de corriente. Aunque los cálculos que se deben realizar son
relativamente simples, en el trabajo sólo se diagnostican fallas de circuito abierto en un
tiempo mínimo correspondiente a un ciclo de red.
2. En [5] se evalúan fallas de cortocircuito entre fases y a tierra de un sistema eléctrico

de potencia en presencia de generación fotovoltaica, para lo cual con el primer nivel
de descomposición de la transformada Wavelet de las tensiones y corrientes de línea se
puede distinguir entre cada uno de los tipos de fallas de cortocircuito. A pesar de que el
algoritmo es válido en presencia de generación fotovoltaica y para fallas de cortocircuito,
no se evalúa su efectividad para el diagnóstico de fallas en los componentes del sistema
fotovoltaico.
3. Un análisis basado en la norma 2 de los coecientes de detalle para varios niveles de

descomposición de la señal de tensión en distintas partes de un sistema de generación
fotovoltaico aislado se propone en [6], con lo cual se pueden localizar fallas a tierra
tanto en los módulos fotovoltaicos como en distintas partes de la etapa de conversión
de potencia.
4. Una variante para detectar una condición de operación aislada basada en la energía de
los coecientes de la transformada Wavelet de un sistema de generación fotovoltaico se
Introducción 3
describe en [7]. En esta propuesta el algoritmo se ejecuta al inicio de cada ciclo de red
a partir de las mediciones de la señal de corriente en el lado de alterna del inversor. La
desventaja de esta propuesta es que se necesita esperar un ciclo de red para indicar el
resultado, lo cual para algunas topologías es un retraso importante pues la tensión del
enlace de corriente directa podría sobrepasar los límites de seguridad establecidos.
Existen varios trabajos de investigación que basan sus estudios en modelos del sistema
construidos a partir de técnicas de inteligencia articial, con el objetivo de adecuar los um-
brales en función de los cambios de irradiancia o de las variaciones que puedan experimentar
los parámetros del circuito, algunos de estos trabajos son:
1. En [8] se utiliza un algoritmo de diagnóstico de fallas de circuito abierto en los interrup-

tores de potencia de un inversor trifásico en tres escenarios diferentes para un sistema
fotovoltaico. El algoritmo propuesto es capaz de distinguir las fallas de los cambios de
irradiancia y utiliza un selector de umbrales basado en una red neuronal. Sin embargo,
presenta un tiempo total para el diagnóstico superior a 50 ms.
2. En [9] se propone un clasicador de fallas basado en lógica difusa. En esta variante el

algoritmo propuesto solamente es capaz de detectar fallas en los módulos fotovoltaicos y
no en la etapa de conversión de potencia. Sin embargo, se pueden detectar los módulos
bajo falla o la presencia de sombras parciales para diferentes condiciones de operación.
3. Para evaluar las fallas de circuito abierto en los interruptores del inversor, en [10] se
diseña un algoritmo de diagnóstico basado en un sistema de inferencia de lógica difusa y
un modelo obtenido a partir de las curvas de potencia del sistema fotovoltaico. Aunque
en esta variante se pueden diagnosticar fallas de circuito abierto para distintos niveles de
irradiancia, es necesario conocer el comportamiento del sistema para un elevado número
de puntos de operación; y el análisis se realiza después de recopilar la información
correspondiente a 24 horas de operación del sistema fotovoltaico.
Otras variantes se basan en modelos del sistema en el espacio de estados, tal es el caso de
[11], en donde se propone un observador para un convertidor CD-CD tanto para la operación
en lazo cerrado como en lazo abierto. Aunque se plantea que el esquema de diagnóstico
opera correctamente para cualquier nivel de irradiancia, se considera solamente un punto de
operación. Sin embargo, este algoritmo es fácilmente adaptable a otras topologías y se puede
extender su análisis para diagnosticar fallas en otros componentes del convertidor.
Los trabajos citados anteriormente son una muestra de lo que se ha estado investigando en
los últimos años, y se debe señalar que existen algunas publicaciones en las cuales se aborda
el diagnóstico de fallas tanto en los módulos fotovoltaicos como en la etapa de conversión de
potencia. En ellas se destaca como uno de los principales desafíos la habilidad del algoritmo
de diagnóstico para operar en todo el rango de irradiancias.
Introducción 4
Organización del trabajo
En el Capítulo 1 se presentan los antecedentes de las topologías de convertidores para

sistemas fotovoltaicos y también el estado del arte de las técnicas de diagnóstico de fallas.
Luego de realizar la revisión bibliográca de las distintas variantes de topologías se selecciona
una estructura modular, la cual se puede extender a una conguración multinivel, y con la
que se garantiza la transferencia de potencia hacia la red con la calidad requerida.
En el Capítulo 2 se explican los aspectos considerados en el diseño del sistema de control.
Se propone un esquema basado en tres controladores y se valida el funcionamiento general del
sistema mediante simulación.
En el Capítulo 3 se proponen las técnicas para el diagnóstico de fallas en los componentes
del convertidor que se estudia en este trabajo de investigación, y se denen los algoritmos
necesarios para su implementación.
En el Capítulo 4 se realiza la validación mediante simulación de los algoritmos de diag-
nóstico propuestos y se comprueba la capacidad del sistema de diagnóstico para operar en un
amplio rango de irradiancias solares.
Finalmente se presentan las conclusiones del trabajo de tesis y algunas propuestas de
trabajos futuros.
5
Capı́tulo 1
Estado del arte y selección de una topología
del convertidor de electrónica de potencia
1.1. Introducción
Los sistemas fotovoltaicos están compuestos fundamentalmente por celdas que convierten
la energía proveniente del sol en energía eléctrica. Las celdas fotovoltaicas están fabricadas de
un material semiconductor capaz de crear un campo eléctrico bajo la incidencia de la energía
luminosa, y este campo eléctrico a su vez es capaz de provocar el ujo de electrones y por lo
tanto el establecimiento de la corriente eléctrica a través de una carga. La intensidad luminosa
determina la potencia generada por las celdas [12].
Los combustibles fósiles han jugado un papel importante en las últimas cuatro décadas.
Sin embargo, el impacto negativo que estas fuentes de energía ejercen sobre el medio ambiente
ha motivado el estudio de otras fuentes de energía más amigables, tal como la fotovoltaica, la
cual ha ganado interés para la generación de energía eléctrica centralizada y distribuida [13].
La demanda de energía solar para la generación de electricidad ha crecido entre un 20 % - 25 %
en los últimos 20 años y el crecimiento es mayor para los sistemas fotovoltaicos conectados a
la red eléctrica [14].
El impacto negativo que ejerce la explotación de los paneles fotovoltaicos sobre el medio
ambiente es despreciable. Estos sistemas pueden operar de forma aislada o conectados a la
red eléctrica mediante un inversor. Se espera que en los próximos años exista una mayor
disminución en los precios de los sistemas PV. En la medida que estos sistemas evolucionan,
la inuencia que ejerce el precio del inversor está siendo mucho más importante en el valor
total del sistema fotovoltaico [12].
Las fuentes de energía solar y eólica experimentan los mayores crecimientos [15]. El au-
mento y desarrollo acelerado de las instalaciones fotovoltaicas ha estado motivado por varios
factores entre los que se incluyen la disminución de los costos y mejores políticas de incentivos
para la producción de energía [16]. En los próximos años más de 250 plantas fotovoltaicas de
alta potencia serán instaladas a nivel mundial, siendo algunas de ellas de 250 MW [17].
Capítulo 1 6
Los aspectos que se deben considerar en el proceso de integración de los sistemas foto-
voltaicos de gran escala con la red eléctrica son: 1) aprovechamiento de la mayor cantidad
de energía entregada por los paneles, 2) calidad con la que dicha energía se proporciona a
la red, 3) eciencia de los convertidores de potencia, 4) gestión de energía en redes inteli-
gentes, y 5) posibilidad de que el sistema opere con la menor cantidad de interrupciones en
su servicio eléctrico. Este último aspecto está asociado con la habilidad que tenga el sistema
de detectar y localizar las fallas que puedan ocurrir en el menor tiempo posible, así como la
capacidad de mantener en servicio la instalación después de ocurrida la falla, garantizando a
la vez las normas de interconexión que exigen las compañías de electricidad. Se han realizado
varios estudios en cuanto al diagnóstico de fallas en sistemas fotovoltaicos, pero la mayoría
de ellos dirigen sus esfuerzos hacia fallas que ocurren en el arreglo de paneles fotovoltaicos
[18], [19], [20], [21], [22], a pesar de que los índices de ocurrencia de fallas son mayores en
los componentes del convertidor, dígase por ejemplo, en los dispositivos semiconductores de
conmutación. De lo anteriormente planteado, se desprende la idea de que para lograr con éxito
la integración de sistemas fotovoltaicos de gran escala en el futuro, es muy importante que el
sistema disponga de los elementos necesarios para el diagnóstico de fallas.
1.2. Convertidores de potencia para sistemas fotovoltaicos
Requerimientos. Los aspectos que se deben garantizar están asociados con la calidad de
la potencia entregada a la red, la capacidad para detectar el momento en el que los inversores
por alguna causa operen desconectados del sistema, desconexión ante desviaciones de tensión
y frecuencia, entre otras [23]. Los inversores deben garantizar su operación en el punto de
máxima potencia (MPP) que pueden entregar los arreglos fotovoltaicos, para diferentes con-
diciones de temperatura e irradiancia. Esto se puede lograr con un control de seguimiento de
máxima potencia (MPPT). Además, es importante garantizar que el rizo de tensión en los
términales del módulo fotovoltaico se mantenga dentro de los rangos permisibles para alcan-
zar la mayor utilización posible de la potencia entregada. Por otro lado, los usuarios de estas
tecnologías exigen de los inversores que estos sean económicos, ecientes, conables y de una
larga vida útil [24].
Familias de Convertidores. En sistemas de generación eléctrica fotovoltaica, los con-

vertidores juegan un rol fundamental en la transferencia de potencia con una alta eciencia
[11]. Varias topologías de convertidores de electrónica de potencia para conectar plantas foto-
voltaicas con la red eléctrica han sido estudiadas en la literatura. En la Figura 1.1 se presentan
cuatro familias de inversores: 1) Inversores centrales, 2) Inversores tipo String, 3) Inversores
tipo Multistring, 4) Inversores de Módulos CA [24], [25], [26], [27]. En la topología de inversor
central, a pesar de que esta estructura se caracteriza por ser simple y poco costosa, la utili-
zación de un único circuito para el seguimiento del MPP implica el desaprovechamiento de
la potencia entregada por cada uno de los arreglos de módulos fotovoltaicos. En los de tipo
String los módulos fotovoltaicos se conectan en serie, y cada estructura serie alimenta a un
único inversor. De esta manera se reducen las pérdidas debido a las sombras y los desajustes
en los módulos fotovoltaicos; sin embargo, el mejoramiento en la eciencia no compensa el alto
Estado del arte y selección de una topología del convertidor de electrónica de potencia 7
costo de la inversión inicial y del mantenimiento [28]. En los del tipo Multistring cada arreglo
de paneles solares se conecta a su propio convertidor CD-CD y varios de estos convertidores
establecen una conexión paralelo que alimenta a un único inversor CD-CA. Esto es benecioso
comparado con los inversores del tipo centralizado, atendiendo al hecho de que pueden con-
trolarse individualmente [24]. Los Módulos CA integran el módulo fotovoltaico y el inversor
en un solo dispositivo, eliminando las pérdidas por desajustes en los módulos fotovoltaicos.
Esto es posible dado que existe un módulo solamente, lo cual implica que se pueda extraer la
máxima potencia del panel de forma más eciente [24].
Tecnología Centralizada Tecnología Multi-string

Tecnología string
Diodos de
la cadena
Módulos Tecnología
PV módulo inversor
CD CD
CD CD
CD CD
CD CD
CD CA CA
CA CA
CA CD
Inversores Inversor de
Inversores CA
Inversor tipo Módulos CA
tipo String
Central Multistring
a) b) c) d)
Figura 1.1: Familias de Inversores.
Tipos de inversores. Los inversores multinivel son apropiados para aplicaciones de me-
dia tensión y alta potencia, dadas las posibilidades que presentan para sintetizar formas de
onda con bajos niveles de distorsión armónica (THD) [29], [30]. El nivel de distorsión armónica
depende del número de niveles en el inversor y de la frecuencia de conmutación seleccionada.
Sin embargo, el incremento del número de niveles implica una mayor cantidad de dispositivos
semiconductores y una mayor complejidad del sistema de control. Existen varias topologías
de inversores multinivel: 1) Inversor con diodos de enclavamiento (NPC), 2) Inversor de ca-
pacitores otantes (FC), 3) Inversor de puentes completos conectados en cascada (CHB) 4)
Inversor de un solo puente completo y varios enlaces de corriente directa [30], 5) Inversor mul-
tinivel tipo Marx [31]. Todas estas topologías tienen la particularidad de que son capaces de
producir una forma de onda de salida casi sinusoidal, y por lo tanto el tamaño de los ltros
de potencia para la interconexión a la red disminuye considerablemente [29].
Capítulo 1 8
Problemas asociados a los sistemas fotovoltaicos conectados a la red eléctrica.

Se ha convertido en un gran desafío asegurar la operación de los sistemas fotovoltaicos con alta
disponibilidad, conabilidad y eciencia. Es importante mencionar que para estos sistemas es
deseable que se pueda extraer la mayor cantidad de potencia de los módulos fotovoltaicos, que
sea transferida minimizando las pérdidas en la etapa de conversión, con la calidad requerida
y al menor costo posible. Entre las principales problemáticas que se deben afrontar se citan
las siguientes: 1) El desbalance de potencia, 2) la eciencia, 3) la calidad de la potencia
entregada a la red eléctrica, 4) el aislamiento galvánico, y 5) la disminución del costo total de
la instalación [16], [32].
1.2.1. Topologías de convertidores y tendencias de soluciones encontradas

en la literatura
En la presente sección se analizan los trabajos de investigación más relevantes reporta-

dos en los que se exponen distintas formas de dar solución a los problemas anteriormente
planteados.
En la referencia [16] se propone una topología modular que logra la desconexión de los
módulos independientes de una forma fácil, se logra un costo reducido de la instalación dado
que existen niveles de corriente menores gracias a la posibilidad de un nivel de tensión mayor
en el enlace de CD, y la estrategia de control empleada provee una mejor utilización de los
dispositivos semiconductores y un buen desempeño en presencia de sombreados parciales.
La operación de los cuatro devanados en cada una de las zonas asegura la inexistencia de
armónicos del doble de la frecuencia de la red en el bus de CD, lo cual a su vez permite
que el tamaño del condensador en esa parte del circuito sea reducido. Una operación eciente
puede alcanzarse a través de técnicas de conmutación suave y la adopción de dispositivos con la
tecnología de carburo de silicio. La utilización de técnicas de modulación con desfasamiento de
las señales portadoras en el inversor de salida hacen posible ltros de salida más pequeños. Este
trabajo propone la modulación de la magnitud y del ángulo de fase de la tensión de salida de
los inversores conectados en cascada, lo cual disminuye el efecto del sobredimensionamiento de
los dispositivos de conmutación y la circulación de ujos de potencia reactiva, que provoca en
otras propuestas la modulación de la magnitud de la tensión. La desventaja de esta propuesta
radica en la complejidad del sistema de control, así como en la necesidad de utilizar una mayor
cantidad de componentes.
Para conseguir los indicadores de THD establecidos, unido a bajos niveles de pérdidas por
conmutación, se propone en [28] una topología del tipo inversor central multinivel alimentado
en corriente. Para esta conguración se utiliza una técnica de control basada en la modulación
de espacio vectorial para producir corrientes de salida de varios niveles. Sin embargo, los
desajustes en los niveles de potencia entregados por distintos módulos fotovoltaicos, producen
distorsión en las corrientes de salida. Para evitar este fenómeno, se propone la selección de
los vectores de conmutación a partir de dos técnicas diferentes, asegurando una distribución
apropiada de tiempo entre estos vectores en la medida que se realiza la modulación de espacio
vectorial.
En [30], cada arreglo de módulos fotovoltaicos se conecta a un enlace de corriente directa;

el número de enlaces de CD se dene de acuerdo a la cantidad de niveles que se pretendan
alcanzar. Las tensiones de CD se conectan en serie utilizando una conguración especíca y la
tensión resultante se alimenta a una topología de puente completo. En esta variante se logran
niveles de distorsión armónica comparables con otras topologías pero con una menor cantidad
de componentes. El aporte principal de este trabajo se fundamenta en la propia topología del
inversor, en la cual se logra una alta calidad de la energía entregada a la red eléctrica con
un costo de la instalación mucho menor. Sin embargo, la propuesta realizada se basa en la
suposición de que la potencia entregada por los paneles fotovoltaicos es constante.
En [14] y [33] se propone un inversor CHB para el cual se implementa una técnica de
compensación en la etapa de modulación del inversor. El objetivo de estas investigaciones
es corregir el desbalance de potencia que se origina por los distintos niveles de irradiancia
a las que están sometidos los paneles fotovoltaicos. En esta variante se utiliza un control
independiente para cada arreglo de paneles y por lo tanto un seguidor del punto de máxima
potencia individual, que unido a la compensación en la etapa de modulación del inversor,
evita el desbalance en las corrientes provocado por diferentes potencias suministradas por los
paneles, y con esto se mejora la eciencia y se reduce la THD.
Un enlace común de CD es la solución que se discute en [34] para minimizar el problema

de desbalance potencia. Sin embargo, la generación de una tensión común a partir de arreglos
de módulos fotovoltaicos hace más compleja la operación del inversor y limita el rango de
funcionamiento del seguidor de máxima potencia.
Con el inversor propuesto en [31] se pueden lograr bajos niveles de THD. Las características
fundamentales que lo distinguen son: 1) presenta la posibilidad de elevar la tensión (para este
propósito se utiliza un banco de condensadores) y 2) el reducido número de componentes.
Esta variante logra aumentar el factor de potencia a casi la unidad.
Para disminuir los efectos adversos del desbalance de potencia, en [17] se propone un enlace
magnético común mediante un transformador de media frecuencia. Con esta conguración se
logra eliminar el transformador que opera a la frecuencia de línea en la topología tradicional, lo
cual disminuye notablemente el tamaño y el peso total de la instalación. Además, se logra una
mejor operación del seguidor del punto de máxima potencia. En el trabajo se hace referencia
a que no se mejora la eciencia total del sistema con respecto al esquema convencional.
Otra topología de inversor modular multinivel se propone en [35] con el objetivo de reducir
la THD. Sin embargo, el número de dispositivos semiconductores que se necesitan para generar
la misma cantidad de niveles que en otras topologías es mayor, además de que es poco exible
para una posible reconguración del circuito ante la presencia de fallas.
En [36] se estudia una variante en la que se pueden alcanzar altos valores de tensión, gracias
a la estructura de puentes completos conectados en cascada. El enlace de alta frecuencia
propuesto reduce el tamaño y el peso del sistema, se disminuye la THD, se aumenta la eciencia
general del sistema y se evita la necesidad de un algoritmo para lograr el balance de tensión.
La técnica de control propuesta en [37] permite un desempeño adecuado del sistema aún
en condiciones de desbalance. Se presentan cuatro conguraciones en las que se utiliza un
transformador de alta frecuencia, siendo posible la disminución del tamaño y el peso total de
Capítulo 1 10
la instalación y por tanto una reducción en los costos. En la topología seleccionada por los
autores, no existe exibilidad ante la posibilidad de ocurrencia de una falla, siendo necesaria
la desconexión total del sistema.
El sistema de control del inversor NPC de [38] se implementa con modulación sinusoidal
del ancho del pulso. El diseño del controlador no lineal para corregir el desbalance de potencia
tiene en cuenta la utilización de un transformador de media frecuencia, que le brinda a esta
topología una estructura modular. Sin embargo, se destaca el hecho del elevado número de
componentes que son necesarios para la implementación del inversor multinivel.
Una topología del tipo qZS-CHB se propone en [39] y [40]. Con esta variante se logra
reducir los niveles de THD así como alcanzar un factor de potencia unitario. Además, la
cantidad de potencia que se entrega a la red se controla a través de un sistema de control de
la tensión pico del enlace de CD. Esta estructura, aunque es modular, no presenta aislamiento
galvánico en media frecuencia.
En [41] se comparan dos convertidores CD-CD con aislamiento galvánico (el medio puente
elevador y el tipo yback ), empleados como parte de una topología multinivel de puentes
completos conectados en cascada. Un mejor desempeño del sistema se logra con el convertidor
CD-CD del tipo medio puente elevador, se obtienen menores oscilaciones en el enlace de CD,
la detección del punto de máxima potencia se alcanza de una manera más eciente y las
pérdidas por conmutación se reducen. El aislamiento en media frecuencia hace posible que se
pueda establecer una conexión a tierra de los paneles fotovoltaicos, se mejora la eciencia total
del sistema y con esto se cumplen las normas de seguridad establecidas en algunos países.
En [42] se utiliza un convertidor boost sin aislamiento galvánico con un inversor multinivel
de puente completo. Se propone una nueva variante de la técnica de control de modulación
de espacio vectorial; sin embargo, la potencia que se entrega a la red es oscilante y la calidad
de la corriente entregada puede ser mejorada.
Una estructura de un convertidor CD-CD con aislamiento galvánico de dos etapas junto
con un inversor multinivel de puente completo conectado en cascada se analiza en [43]. En
esta propuesta la necesidad de utilizar varias fases en la etapa del convertidor CD-CD se
fundamenta en el hecho de que se pueden incrementar los niveles de potencia y tensión a los
que puedan estar sometidos los convertidores. La eciencia total del sistema se incrementa
utilizando técnicas de conmutación suave (con tensión cero) y mejorando la operación del
seguidor del punto de máxima potencia.
En [44] se utiliza la tecnología de carburo de silicio para los interruptores de potencia,

que unido a la topología modular que se propone, la eciencia total del sistema se incrementa
notablemente. En esta variante se propone un convertidor boost para elevar la tensión y
extraer la máxima potencia así como para regular la tensión del enlace de CD. Un inversor
CD-CA y un enlace magnético común son necesarios para trasmitir la potencia hacia la red a
través de un inversor puente completo. En esta estructura se logra extraer de manera eciente
la máxima potencia que puede ser entregada por los paneles fotovoltaicos, y los niveles de
tensión se pueden incrementar conectando varios módulos en cascada para alcanzar los valores
de la tensión de la red eléctrica, pudiendo disminuir los niveles de distorsión armónica. El
aislamiento galvánico permite cumplir con normas internacionales de seguridad y además
permite reducir el tamaño total de la instalación. La modularidad que exhibe esta topología
le brinda exibilidad al sistema, permitiendo una posible reconguración ante la presencia de
fallas. Como desventaja se puede argumentar el incremento de la complejidad del sistema de
control dada la necesidad de compensar el desbalance de potencia ante sombreados parciales.
1.2.2. Selección de una topología para el desarrollo de la tesis
Tomando como punto de partida la revisión bibliográca realizada, se propone una to-
pología con la que se puedan mejorar los problemas de eciencia, con calidad de la potencia
entregada, aislamiento, modularidad y extracción de la máxima potencia. En la Figura 1.2
se puede observar la estructura propuesta, que se basa en la topología multinivel sugerida en
[44], pero utilizando un módulo en este caso.
Paneles Enlace de Media Enlace de

Convertidor cd-cd Inversor Red Eléctrica
Fotovoltaicos Frecuencia CD
Figura 1.2: Topología seleccionada para el estudio del diagnóstico de fallas.
Justicación de la propuesta
1. Convertidor tipo boost: es una de las topologías de convertidor CD-CD que más se
reporta por su operación sencilla y las posibilidades que brinda para elevar la tensión.
2. Aislamiento galvánico en media frecuencia.
3. Posibilidad de integrarlo en una conguración multinivel de puentes completos conecta-
dos en cascada: facilita la integración de sistemas fotovoltaicos de gran escala cumpliendo
con las exigencias de calidad de la energía y eciencia, además de permitir el incremento
de los niveles de tensión.
4. Modularidad: brinda exibilidad para la reconguración del circuito ante la presencia de
fallas, además de que la desconexión individual de los módulos no implica poner fuera
de servicio al sistema completo.
5. Se elimina el voluminoso transformador de baja frecuencia.
6. Se logra el MPPT de forma independiente por módulos.
7. El estrés en tensión de los componentes es menor.
Capítulo 1 12
1.3. Diagnóstico de fallas en sistemas fotovoltaicos
La teoría de detección, aislamiento y el control tolerante a fallas ha sido aplicada en muchos

campos de la ingeniería como son la aeronáutica, los sistemas automotrices, las turbinas de
vapor, los procesos químicos y las máquinas eléctricas. En general este concepto es importante
en sistemas donde se deben preservar los bienes económicos y/o las vidas de las personas [45].
La utilización de componentes robustos y de calidad es una alternativa para lograr un sis-
tema fotovoltaico conable y seguro; sin embargo, la posibilidad de ocurrencia de una falla no
puede ser eliminada [11], por lo que es necesario contar con un esquema para poder realizar un
mantenimiento preventivo y/o correctivo ante algún evento o falla y de esta manera lograr un
sistema con menos interrupciones en el servicio, lo que optimizaría la producción de energía
y evitaría pérdidas económicas. Aunque en la literatura se reportan investigaciones relacio-
nadas con el diagnóstico de fallas en sistemas fotovoltaicos, varias de estas están enfocadas
solamente hacia el arreglo de paneles fotovoltaicos [18]-[22]. No obstante, diversos estudios
realizados en los últimos años destacan a los dispositivos semiconductores de potencia como
los elementos más vulnerables ante la incidencia de fallas [46], [47].
1.3.1. Condiciones de falla
Las diferentes condiciones de falla en un sistema PV se pueden establecer partiendo de los

elementos que lo conforman. Algunos ejemplos pueden ser los siguientes: los módulos fotovol-
taicos (celdas solares), dispositivos para el almacenamiento de energía (baterías), los compo-
nentes pasivos (inductores y condensadores), convertidores de potencia (CD-CD y CD-CA),
seguidores solares, controladores de carga, controladores para el MPPT, fusibles de protec-
ción, conectores, sensores, entre otros [48]. La Figura 1.3 muestra un desglose de los eventos de
mantenimiento solicitados, debido a fallas en la operación de tres plantas fotovoltaicas según
la referencia [2]. Se observa que la mayor cantidad de interrupciones del servicio se deben al
inversor (entre un 43 % y 73 %), lo cual provoca un aumento en los costos de mantenimiento y
una reducción en los niveles de producción de energía. Dentro de los componentes del inversor
que presentan mayor frecuencia de fallas se encuentran el software del sistema de control y
los interruptores de potencia, tal y como se representa en la Figura 1.4, donde se muestra el
porcentaje de fallas en los elementos que conforman al inversor para tres estudios diferentes
[2]. En los interruptores de potencia se pueden presentar fallas de circuito abierto (FCA) y
fallas de cortocircuito (FCC). La FCC puede interrumpir la operación del sistema, y en algu-
nos casos conducir a la destrucción del convertidor, mientras que una FCA tiende a afectar
la calidad de la potencia entregada [49].
Porcentaje Porcentaje
40
10
20
30
50
60
70
80
10
20
15
25
30
35
0
5
Software del control Inversor
Placas de circuito impreso Subsistemas CA
Contactor CA Interrupciones Externas
Ventiladores Otras
Interruptores de potencia Soporte de la Estructura
Fuente de alimentación Subsistemas CD
Planta fotovoltaica 1
Sin definir Inversor

Software del control Baja producción de energía
Placas de circuito impreso Fallas eléctricas
de generación fotovoltaica debido a fallas en los equipos.

Fuente de alimentación Otras
Estudio 1
Interruptores de potencia Monitoreo
Software del control Inversores

Interruptores de potencia Seccionadores
Estudio 2
Sistema de enfriamiento Transformadores
Placas de circuito impreso Módulos fotovoltaicos
Interruptores AC Caja de conexiones
Estudio 3
Sin definir Seguidores

Estado del arte y selección de una topología del convertidor de electrónica de potencia
Figura 1.4: Tres estudios que evalúan la frecuencia relativa de fallas en los componentes del inversor.
Figura 1.3: Tres estudios que evalúan el total de eventos de mantenimientos solicitados en las plantas
13
Capítulo 1 14
1.3.2. Fallas típicas en sistemas fotovoltaicos
Las fallas que ocurren en los sistemas fotovoltaicos ocasionan diferentes efectos en el
desempeño del sistema en general y además afectan su vida útil. En la Figura 1.5 se presenta
una clasicación de las fallas en sistemas fotovoltaicos según [50], en donde se observa que
existen dos secciones principales en las cuales ocurren las fallas, la primera de ellas corresponde
al lado de corriente directa y la segunda a la parte de corriente alterna.
Fallas en sistemas
fotovoltaicos
Lado de CD Lado de CA
Componentes del Arreglo de Desastres Red

Inversor
convertidor CD-CD paneles solares naturales eléctrica
▪ Mantenimien
▪ Sobretensiones ▪ Interruptores
Condensadores e Interruptores de to de las
debido a de potencia
inductores potencia líneas
tormentas ▪ Circuito de
▪ Errores
eléctricas control
humanos
Mal
Cortocircuitos Circuito abierto Fallas a tierra
acomplamiento
Temporales Permanentes
▪ Sombras parciales ▪ Puntos calientes

▪ Capas de nieve ▪ Ruptura de los diodos
▪ Polvo y suciedad Bypass
▪ Degradación de los
módulos
Figura 1.5: Clasicación de las fallas en el lado de CD y CA de un sistema fotovoltaico.
1.3.3. Técnicas de detección y aislamiento de fallas
1.3.3.1. Métodos generales de diagnóstico de fallas

El estado de un sistema físico en general puede conocerse a partir de modelos matemáticos
que describen el comportamiento de las variables que lo caracterizan, o bien teniendo como
referencia datos históricos o experimentos (modelos de señales) que reejen las características
de comportamiento de las señales que representan a dichas variables [51].
Las categorías fundamentales en las que se pueden dividir los métodos de diagnóstico de
fallas son:
1. Métodos basados en el comportamiento de las señales. Estos son útiles cuando no se

tiene el modelo del sistema y se dividen en dos grupos:
a) Aquellos que describen la información de las señales en matrices de datos de acuerdo

con los modos de funcionamiento del sistema.
b) Los que manejan los datos a través del conocimiento de la energía de las señales
en el dominio de la frecuencia.
2. Métodos basados en modelos matemáticos. Consiste en usar el modelo del funciona-
miento normal y alimentarlo con observaciones del sistema físico real, y a partir de una
incoherencia entre el modelo y los datos observados se deduce el funcionamiento anormal
del sistema.
3. Métodos basados en modelos de fallas. Consiste en generar una base de conocimiento
de las condiciones de falla del proceso, es decir, se modela el comportamiento dinámico
del proceso en cada una de las condiciones de falla que se desean diagnosticar.
1.3.3.2. Métodos de diagnóstico de fallas en sistemas fotovoltaicos

En los últimos años se han realizado importantes esfuerzos por entender las causas que
originan las fallas en sistemas fotovoltaicos, y esto ha conducido al desarrollo de distintas téc-
nicas para la detección y localización de las fallas, que han permitido mejorar la conabilidad
y extender la vida útil de estos sistemas de generación de energía. Las distintas técnicas de
diagnóstico se pueden agrupar en dependencia de si ocurren en el lado de CD o en el lado de
CA. Si las fallas ocurren en el inversor, el ujo de potencia hacia la red pudiera hacerse cero
en dependencia del elemento en el cual ocurra la falla. A pesar de que existe un gran número
de trabajos reportados, no se encuentra una técnica general que pueda ser aplicable a las
distintas topologías de convertidores, y son pocas las referencias que proponen un algoritmo
para todo el rango de irradiancias.
1.3.3.3. Diagnóstico de fallas basado en modelos

Las técnicas basadas en modelos utilizan la generación de un residuo a partir de la es-
timación de parámetros u observadores de estado, o también se fundamentan en el análisis
de modelos de comportamiento. Estos métodos se sustentan en el conocimiento analítico del
sistema.
Por ejemplo, se propone en [11] un esquema de diagnóstico basado en un observador para

detectar fallas de cortocircuito y de circuito abierto. La señal de residuo que se obtiene de
la diferencia entre las variables medidas y estimadas mediante el observador, se utiliza para
detectar y aislar las fallas que se producen en el interruptor de potencia. Este sistema tiene
como variables de entrada la corriente generada por el panel fotovoltaico y la tensión regulada
del enlace de CD siendo el proceso de detección y aislamiento de la falla independiente de los
niveles de irradiancia y de las variaciones de la tensión de salida. Sin embargo, la necesidad de
medir esta última variable para la implementación del algoritmo de diagnóstico, incrementa
Capítulo 1 16
el costo del sistema fotovoltaico pues se requieren más sensores que los necesarios para el
sistema de control. Aunque la tarea de diagnóstico se realiza en alrededor de 5 períodos de
conmutación, en los resultados del trabajo solamente se realizan pruebas para un solo nivel
de irradiancia. En esta propuesta se requiere de un procesador digital adecuado para realizar
las operaciones relativamente complejas, que conllevan la utilización del observador más el
controlador no lineal.
Dos tipos de ltros se proponen en [52] para el esquema de diagnóstico de fallas en un

convertidor CD-CD de un sistema fotovoltaico. El primero de ellos se utiliza para la detección
de la falla, y tiene como variable de entrada una señal de residuo que se obtiene a partir de
la comparación de las señales medidas con las que proporciona un observador. El segundo
tipo de ltro se diseña para el diagnóstico. Con esta propuesta se pueden diagnosticar fallas
en los interruptores de potencia y en los elementos pasivos. La pérdida de capacitancia del
condensador de salida del convertidor CD-CD se logra diagnosticar en 54.7 ms, la reducción
en el valor de inductancia en 55.1 ms y la falla de circuito abierto en el interruptor de potencia
en 71.6 ms. A pesar de que el algoritmo es capaz de diagnosticar más de un tipo de falla, la
complejidad es relativamente alta y el análisis planteado no se realiza para distintos niveles
de irradiancia.
En [53] se propone un convertidor reductor para un sistema de generación fotovoltaico,

en donde se utilizan dos observadores para el diagnóstico de fallas en el inductor y en el
capacitor del convertidor. Cada observador se utiliza para estimar uno de los parámetros
(inductancia o capacitancia), y el resultado se compara con el valor nominal según los datos
que proporciona el fabricante. En este trabajo se realizan pruebas tanto a nivel de simulación
como experimental, y en el primer caso se valida que el diagnóstico se realiza en alrededor
de 10 ms para las variaciones de la inductancia. Es importante mencionar como desventaja,
la necesidad de medir más variables que las requeridas para el sistema de control, lo cual
aumenta el costo de la instalación. Otro aspecto a considerar es la complejidad del algoritmo
de diagnóstico, en donde se requiere un procesador digital adecuado para realizar los cálculos
correspondientes a los dos observadores.
En [54] se diseña un algoritmo basado en modelos del sistema en el espacio de estados, para
detectar fallas en cada uno de los elementos del convertidor CD-CD así como en los arreglos de
paneles de un sistema fotovoltaico. Las fallas que se evalúan son: 1) pérdida de capacitancia,
2) pérdida de inductancia, 3) circuito abierto en los interruptores de potencia, 4) pérdida de
la señal de los sensores de tensión y corriente, y 5) fallas en los componentes del arreglo de
paneles fotovoltaicos. La estructura principal del algoritmo se basa en el comportamiento del
residuo que se genera a partir de la comparación entre las salidas medidas del sistema y las
obtenidas con un estimador, en cada escenario de falla. Las ventajas de esta técnica residen
en el número de fallas que se pueden detectar, y además se señala que se puede adaptar
fácilmente en otros convertidores. Los tiempos requeridos oscilan alrededor de los 33 ms.
Existen otros algoritmos que se basan en modelos del comportamiento de algunas de las
variables presentes en el sistema. Por ejemplo, en [55] el signo de la derivada de la corriente
del enlace de CD se utiliza para diagnosticar FCA. Esta señal se emplea en el esquema de
control, y por lo tanto no se necesitan sensores adicionales para el desarrollo del método.
La variante propuesta en [56] utiliza la información del signo de la derivada de la corriente

del inductor del convertidor CD-CD para diagnosticar tanto fallas de circuito abierto como
de cortocircuito en el interruptor de potencia. La técnica se basa en comparar la pendiente
de la señal de corriente en operación normal y bajo falla, para lo cual se diseña una máquina
de estado y se requiere que la frecuencia de muestreo sea mayor a la de conmutación del
interruptor de potencia. Después de realizar la tarea de diagnóstico, se propone la recongu-
ración del circuito a partir de un algoritmo que tiene en cuenta el tipo de falla. A pesar de
lograr el diagnóstico en menos de un período de conmutación, no se exponen los resultados
para diferentes niveles de irradiancia, además esta variante se basa en el conocimiento de la
respuesta de la señal de corriente para la topología propuesta del convertidor CD-CD.
Los trabajos descritos anteriormente dedican sus esfuerzos al diagnóstico de fallas en los
convertidores CD-CD que se utilizan para el seguimiento del punto de la máxima potencia.
No obstante, existen trabajos que se especializan en el diagnóstico de fallas en los interrup-
tores de potencia del inversor, aunque algunos de ellos no se consideran para una aplicación
fotovoltaica:
• En [48] se desarrolla una metodología basada en modelos y procesamiento de datos

para detectar y aislar fallas de circuito abierto, tanto individuales como simultáneas, en
inversores del tipo NPC. Para la etapa de detección se utiliza la magnitud del vector
de Clarke construido a partir de los valores medios de las corrientes de línea. En el
proceso de aislamiento se utilizan dos enfoques. La primera estrategia se basa en la
trayectoria del vector instantáneo de la corriente en el plano α -β , pudiendo obtener
rmas de fallas en los distintos escenarios propuestos. En la segunda metodología se
fusiona la información obtenida del vector de Clarke y de la componente de secuencia
negativa.
• Un esquema de detección y aislamiento de fallas de circuito abierto basado en el modelo

de un observador de modos deslizantes se analiza en [57] para un inversor multinivel de
puentes completos conectados en cascada. A partir del modelo promedio del sistema se
sintetiza el observador propuesto, el cual describe la dinámica de la falla en el convertidor
y es capaz de estimar las componentes de CD de los perles de falla que posteriormente
se utilizan para generar un residuo, y tomando como criterio el módulo de dicho residuo
se logra la tarea de detección de la falla; mientras que el signo brinda la información
necesaria para la localización. El algoritmo no se aplica a un sistema fotovoltaico.
• En [58] se obtiene un observador que tiene como variables de entrada la señal de error
de las corrientes de línea en el marco de referencia d-q . El algoritmo que se implementa
permite diagnosticar fallas de circuito abierto en los interruptores de potencia de un
inversor trifásico. La información que proporciona la salida de este observador se com-
para con un umbral cuidadosamente seleccionado para las condiciones especícas en las
que se realiza el análisis, y a partir de esta comparación se dene la existencia de una
falla. Aunque el tiempo de diagnóstico es de aproximadamente 0.91 ms, el estudio no
se evalúa para diferentes condiciones de operación. Además se necesita un conocimiento
exacto de los parámetros del sistema para el diseño del observador.
Capítulo 1 18
• La propuesta de [59] no requiere la utilización de sensores adicionales para el diagnóstico

de fallas de circuito abierto en los interruptores de potencia del inversor. Esta variante
se fundamenta para aquel caso en el que se incorpore en el esquema un motor de imanes
permanentes, debido a que la realización del observador se sustenta en la existencia de
un estimador de ujo. La señal necesaria para el diagnóstico se obtiene de la diferencia
entre la tensión de referencia que proporciona el sistema de control y la tensión a la
salida del observador. El diagnóstico de las fallas de circuito abierto se alcanza de forma
independiente para cada uno de los interruptores de potencia y el tiempo que requiere
el algoritmo depende de la velocidad del motor. Esta técnica no se aplica para sistemas
fotovoltaicos.
• Un esquema de diagnóstico para fallas de circuito abierto en los interruptores de potencia

de un inversor, basado en modelos de comportamiento del sistema se propone en [60].
En esta variante se consideran n convertidores CD-CD conectados en cascada, siendo
la suma total de las tensiones de salida de cada convertidor la tensión del bus de CD
del inversor. El algoritmo de diagnóstico se basa en la comparación de la pendiente de
la tensión de salida de los convertidores CD-CD, con un umbral elegido en función de
la cantidad de módulos que se consideren en la topología. Aunque el tiempo necesario
para el diagnóstico es de 20 ms, solamente se evalúa un nivel de irradiancia.
Todos los trabajos citados anteriormente son alternativas para el diagnóstico de fallas,
donde en algunos casos se señala el grado de complejidad de estos algoritmos y su dependencia
de un conocimiento analítico del sistema. Es importante observar que resultan ser efectivos
para el diagnóstico de fallas de los componentes del convertidor CD-CD, como pueden ser los
condensadores, inductores e interruptores de potencia.
1.3.3.4. Diagnóstico de fallas basado en procesamiento de señales

El procesamiento de señales es otro campo que encuentra varias oportunidades en el ámbito
del diagnóstico de fallas en sistemas fotovoltaicos. Algunas de las técnicas utilizan modelos
adaptables basados en inteligencia articial, y otras consideran descriptores estadísticos o bien
herramientas matemáticas que permiten extraer determinadas características de las señales
que facilitan la tarea del diagnóstico.
En [45] se emplea un esquema de diagnóstico de fallas basado en la respuesta en frecuencia

de las propias señales medidas para el esquema de control, lo cual disminuye el impacto
económico del sistema fotovoltaico. Se logra la detección de varios tipos de fallas en diferentes
escenarios de esquemas de control y de niveles de irradiancia. Sin embargo, el aislamiento de la
falla se logra por grupos o de forma individual dependiendo del tipo de falla que se considere,
además de que es un sistema simple, no es de gran escala y no presenta aislamiento galvánico.
Un análisis basado en la norma 2 de los coecientes de detalle para varios niveles de

descomposición de la transformada Wavelet de la señal de tensión, en distintos puntos de un
sistema de generación fotovoltaico aislado se propone en [6], con lo cual se pueden localizar
fallas a tierra tanto en los módulos fotovoltaicos como en distintos elementos de la etapa de
conversión de potencia. En el algoritmo se incorpora una red neuronal para que actúe como
un clasicador de fallas a partir de la información generada por la norma 2 de los coecientes
de detalle. Aunque el método propuesto demuestra un alto nivel de precisión, la información
no se procesa en tiempo real.
En [8] se evalúa el desempeño de un esquema de diagnóstico de fallas para un sistema

fotovoltaico conectado a la red eléctrica, en donde se diagnostican fallas en los interruptores
de potencia de un inversor trifásico en tres escenarios diferentes: falla de circuito abierto en
uno de los interruptores, falla de circuito abierto en dos de los interruptores de una misma
rama y cambios en los niveles de irradiancia. El algoritmo almacena las muestras de las
corrientes de línea durante un ciclo de red, y luego esta información es procesada por varios
bloques con los cuales se pueden distinguir los patrones de fallas de los cambios de irradiancia.
Finalmente se utiliza un selector de umbrales basado en un red neuronal que permite reducir
el volumen de información que se almacena en memoria. En los resultados se demuestra a
nivel experimental la efectividad del método para distintos niveles de irradiancia, y aunque
se señala que el algoritmo es menos complejo en relación con otros ya reportados, los cálculos
realizados se ejecutan después de un ciclo de red, y se genera un retraso de aproximadamente
50 ms.
Para evaluar las fallas de circuito abierto en los interruptores del inversor, en [10] se
diseña un algoritmo de diagnóstico basado en un sistema de inferencia de lógica difusa y en
un modelo obtenido a partir de las curvas de potencia del sistema fotovoltaico. Se dispone
de una plataforma de adquisición de datos para monitorear y almacenar la información de
las condiciones meteorológicas y de las variables eléctricas del sistema. Una estación central
de procesamiento de datos habilita la adquisición de las muestras cada un segundo, y el
almacenamiento se realiza en intervalos de uno y quince minutos, tal y como se recomienda
en el estándar IEC 61724. Cada 24 horas se realiza un análisis para detectar algunos de
los siguientes eventos: 1) falla en el diodo Bypass de los módulos fotovoltaicos, 2) sombras
parciales y 3) falla en el inversor de salida. El proceso de diagnóstico se basa en la comparación
diaria entre las mediciones reales de las variables eléctricas (tensión y corriente) del arreglo
de paneles fotovoltaicos, y las obtenidas mediante simulación. La etapa de clasicación de las
fallas se realiza a partir de un modelo basado en lógica difusa. Aunque en esta variante se
pueden diagnosticar fallas de circuito abierto para distintos niveles de irradiancia, se considera
como desventaja la necesidad de conocer el comportamiento del sistema para un elevado
número de puntos de operación.
Un algoritmo de diagnóstico para fallas de cortocircuito entre fases y a tierra de un sistema

eléctrico de potencia en presencia de generación fotovoltaica se propone en [5], en donde con el
primer nivel de descomposición de la transformada Wavelet se puede distinguir entre cada uno
de los tipos de fallas de cortocircuito que pueden ocurrir en las líneas de un sistema trifásico.
Para el análisis se realiza una comparación del comportamiento del sistema cuando existe
generación fotovoltaica en relación con el que se obtiene mediante el método convencional.
Los resultados muestran que el coeciente de detalle del primer nivel de descomposición de
la transformada Wavelet experimenta un cambio abrupto en el momento en el que ocurren
fallas de cortocircuito en presencia de generación fotovoltaica. Aunque el estudio demuestra
Capítulo 1 20
la efectividad del algoritmo para evaluar fallas de cortocircuito, no se consideran distintos

niveles de irradiancia y además no se realiza un cálculo en línea de los coecientes.
En [61] se detectan las fallas de circuito abierto de los interruptores de potencia de un

inversor trifásico para un sistema fotovoltaico, a partir de reconocer distintos patrones en los
histogramas de las tensiones de línea en presencia de fallas. A cada escenario le corresponde
un histograma, y estas grácas se obtienen evaluando el número de muestras correspondientes
a un mismo valor de tensión que se presentan en un ciclo de red. Para los distintos escena-
rios de fallas de circuito abierto, se determina el centro de masa en cada histograma, luego
esta información se procesa para obtener las variables de diagnóstico normalizadas, y con un
clasicador del tipo Schmitt-trigger de cinco niveles se localiza la falla. Aunque no se reejan
explícitamente los tiempos de diagnóstico, de los resultados mostrados se puede inferir que se
requieren aproximadamente unos 12 ms y que los análisis se realizan para un único nivel de
irradiancia.
El diagnóstico de fallas basado en la transformada Wavelet se puede extender a los in-

versores multinivel de módulos conectados en cascada. Por ejemplo, en [62] se propone un
algoritmo en el cual se determina la energía para cada uno de los rangos de frecuencias, que se
obtienen a partir del tercer nivel de descomposición de la transformada Wavelet en cada uno
de los escenarios de fallas de circuito abierto. La localización de los interruptores que quedan
abiertos, se realiza mediante un modelo basado en una red neuronal. Aunque las fallas se
pueden diagnosticar de forma individual, no se presentan resultados en los que se consideren
fallas en dos interruptores simultáneamente, y además los coecientes no se procesan en la
misma medida que se van adquiriendo las muestras. El análisis no se aplica a un sistema
fotovoltaico.
En [9] se propone un algoritmo basado en el análisis de las curvas teóricas que describen el
comportamiento de un sistema fotovoltaico para detectar módulos que estén en cortocircuito.
Con el propósito de obtener el modelo, se evalúan dos factores denominados VR y PR para
distintos niveles de irradiancias, con los cuales se obtienen dos polinomios de tercer orden que
describen los límites entre los cuales se considera la falla. Aquellos puntos de operación que
no estén dentro de esos límites se procesan por un sistema de clasicación basado en lógica
difusa, con el cual se dene la cantidad de módulos que están bajo fallas. En esta variante
el análisis se realiza cada 24 horas y no se consideran fallas en la etapa de conversión de
potencia.
Un algoritmo basado en la transformada Wavelet Packet para detectar una condición

de operación aislada de la red eléctrica en un sistema fotovoltaico se analiza en [63]. Se
proponen tres niveles de descomposición a partir de la transformada Wavelet Packet de la
tensión en el punto de conexión común entre el sistema fotovoltaico y la red eléctrica. Se
seleccionan 4 bandas de frecuencias en el tercer nivel de descomposición, y para las señales
correspondientes a estas bandas se determina un índice asociado a la energía, que nalmente se
introduce en una red neuronal. Este último bloque se diseña para construir un modelo basado
en inteligencia articial que permita seleccionar los umbrales correspondientes a los distintos
niveles de irradiancia, y además su salida contiene información de la condición de operación
aislada. Todo el algoritmo se ejecuta después de un ciclo de red (incluyendo el cálculo de los
coecientes de la transformada Wavelet), y es por esta razón que el tiempo mínimo para la
detección que se presenta en los resultados es de 20 ms.
En [3] y [4] se propone un método de diagnóstico de fallas de circuito abierto en los in-
terruptores de potencia de un inversor para un sistema de generación fotovoltaico basado en
los coecientes de tendencia y de detalle de la transformada Wavelet de la señal de corriente
en el lado de alterna del inversor. Con el valor promedio de los coecientes de tendencia del
primer nivel de descomposición se diagnostican fallas permanentes de circuito abierto en el
inversor, y con la desviación típica de los coecientes de detalle del tercer nivel de descom-
posición se diagnostican fallas momentáneas de circuito abierto en una rama del inversor o
en el sensor de corriente. En esta investigación se incluye un algoritmo para detectar una
condición de operación aislada del sistema fotovoltaico basado en la energía de los coecien-
tes de detalle del tercer nivel de descomposición. Una de las desventajas de este algoritmo
es que necesita almacenar las muestras recibidas durante un ciclo correspondiente a la fre-
cuencia de la red eléctrica, y luego de tener disponible toda la información, se realizan los
cálculos correspondientes para obtener los coecientes de la transformada y los descriptores
estadísticos, generándose retrasos en la tarea de diagnóstico. En el documento no se dene
un tiempo estimado para el diagnóstico de las fallas, pero atendiendo a que los cálculos se
realizan después de un ciclo de red, el tiempo mínimo necesario para tener un resultado válido
es de aproximadamente 16.6 ms si la frecuencia del sistema eléctrico de potencia es de 60 Hz.
De la revisión bibliográca se observan los siguientes aspectos:
1. En los trabajos reportados se presenta el estudio de una sola etapa del convertidor del
sistema fotovoltaico, es decir, no existen referencias en las que se proponga un único
algoritmo tanto para el convertidor CD-CD como para el inversor de salida.
2. En general las técnicas basadas en modelos en el espacio de estados se utilizan en el

convertidor CD-CD y en el arreglo de paneles fotovoltaicos. Sin embargo, no se pueden
aplicar directamente a la etapa del inversor.
3. Existe una tendencia hacia el estudio de técnicas basadas en procesamiento de datos y

en métodos de inteligencia articial para el diagnóstico de fallas en el inversor, siendo la
transformada Wavelet una de las opciones más empleadas. Como desventaja se señala
que los coecientes de dicha transformada no se calculan en tiempo real, y esto genera
retrasos en la tarea de diagnóstico. En la mayoría de los casos se estudia solamente un
punto de operación y no todo el rango de irradiancias.
4. Los estudios de diagnóstico de fallas en los interruptores de potencia del inversor consi-
deran únicamente fallas de circuito abierto.
5. Aunque el software del sistema de control es uno de los elementos con los mayores índices
de fallas, no hay trabajos reportados que consideren el análisis en un amplio rango de
irradiancias para el circuito del inversor.
Capítulo 1 22
1.4. Diseño de la investigación
Problema Cientíco. A partir de la necesidad de concebir un sistema fotovoltaico con

la capacidad de detectar y aislar fallas se formula el siguiente problema de investigación:
- ¾Cómo se puede desarrollar un algoritmo de detección y aislamiento de fallas para los
componentes del convertidor que sea capaz de localizar los elementos bajo falla en sistemas
fotovoltaicos para distintos niveles de irradiancia?
Hipótesis. Si se utiliza un esquema de diagnóstico de fallas basado en los modelos del

comportamiento de las señales de los sensores en operación normal y bajo falla, es posible
mediante un proceso de comparación, la detección y el aislamiento de fallas en la topología
seleccionada.
Objetivo general de la tesis. Desarrollar técnicas de monitoreo y diagnóstico de fallas

en un convertidor de electrónica de potencia que interconecta generación fotovoltaica hacia la
red eléctrica.
Objetivos especícos
1. Diseñar un esquema de control para la topología modular seleccionada que sea válido y
estable para diferentes niveles de irradiancia.
2. Elaborar un algoritmo de diagnóstico de fallas de circuito abierto en los interruptores de

potencia en cada una de las etapas del convertidor basado en procesamiento de señales,
con la premisa de que sea simple, no incremente el costo del sistema fotovoltaico y que
opere en un amplio rango de irradiancias.
3. Diseñar un algoritmo adicional para diagnosticar fallas en al menos uno de los sensores
del sistema de control.
4. Validar mediante análisis y simulación los algoritmos propuestos.

23
Capı́tulo 2
Diseño del sistema de control automático
En este capítulo se presenta el procedimiento de diseño del sistema de control del conver-
tidor representado en la Figura 2.1.
El esquema de control se puede dividir en tres subsistemas:
1. Controlador para regular la tensión en las terminales del arreglo de paneles (vpv (t)).
Adicionalmente se implementa un algoritmo para el seguimiento de la máxima potencia
(MPPT) del arreglo el cual proporciona la referencia de tensión para el controlador
propuesto.
Capítulo 2 24
2. Controlador para regular la corriente de salida del inversor (is (t)). Con este controlador
se garantiza que la distorsión armónica de la corriente sea inferior al 5 %, que solamente
se transera potencia activa hacia la red eléctrica y que la corriente esté en fase con la
tensión de la red.
3. Controlador para regular la tensión en las terminales del condensador del bus de co-
rriente directa (vcd (t)). Este sistema de control proporciona la referencia al controlador
de corriente.
Se utiliza el software de simulación de circuitos eléctricos y electrónicos PSIM para la

validación de los controladores. En esta plataforma de simulación, se ajustan los parámetros
del bloque Solar Module (ver Tabla 2.1) para conseguir que este elemento sea capaz de entregar
1 kW de potencia en su punto de máxima generación (1000 W/m2 de irradiancia solar),
representando un arreglo de paneles equivalente.
Tabla 2.1: Características del arreglo equivalente de paneles fotovoltaicos.
Irradiancia máxima W/m2 S = 1000

Tensión de circuito abierto (V) VOC = 156.9
Corriente de corto circuito (A) ISC = 8.53
Tensión de máxima potencia (V) Vm = 125.3
Corriente de máxima potencia (A) Im = 7.98
Potencia máxima (W) Pm = 999.761
2.1. Diseño del controlador de la tensión del panel fotovoltaico
2.1.1. Algoritmo de extracción de la máxima potencia
Durante la operación del sistema fotovoltaico, las condiciones ambientales son variables
debido a que la irradiancia es diferente a cada instante, y que además depende de la nubosidad.
Lo anterior ha motivado el estudio de distintas técnicas que permitan extraer la máxima
potencia de los paneles fotovoltaicos dependiendo de las condiciones existentes [64], [65], [66],
[67], [68], [69]. El algoritmo implementado en este trabajo es el denominado Perturba y
Observa. Este método, representado en el diagrama de ujo de la Figura 2.2, se basa en
perturbar la tensión de referencia periódicamente y observar la variación en el valor de potencia
de los paneles. Se mide tanto la tensión como la corriente del arreglo fotovoltaico y si el valor
del incremento de la potencia es positivo, la tensión en el siguiente intervalo se incrementa, de
lo contrario, se disminuye. Este proceso se repite hasta conseguir que la tensión se mantenga
operando alrededor del punto de máxima potencia de la curva tensión-corriente de los paneles
ante las condiciones de irradiancia que estén presentes en ese momento. Se propone un umbral
th1 para distinguir un cambio brusco de la irradiancia, y de esta manera ajustar la cantidad
en la que se perturba la tensión del arreglo fotovoltaico. Esto permite un algoritmo MPPT
Diseño del sistema de control automático 25
adaptable que es capaz de funcionar con un velocidad de respuesta diferente frente a cambios
abruptos y lentos en los niveles de irradiancia.
Figura 2.2: Diagrama de ujo del algoritmo MPPT.
2.1.2. Diseño del controlador
A partir de considerar las conguraciones que se obtienen en el circuito para los dos estados
posibles del interruptor, y partiendo de los modelos reportados en la literatura [70], [71], [72]
para el convertidor CD-CD, y considerando el arreglo de paneles fotovoltaicos (ver Figura
2.1), se sintetiza el modelo linealizado expresado en las siguientes ecuaciones:
Capítulo 2 26
 
dv̂pv      
− rpv1Cpv − C1pv v̂pv 0 0

dt
 
 dˆ +  1−d  v̂o ,
     
= + (2.1)
   
dîLB voN  −
îLB N 
 
1   

dt

LB 0 LB Cpv
 
v̂pv
 
v̂pv = 1 0  îL  ,
  (2.2)
B
donde:
v̂pv : tensión en las terminales del arreglo de paneles fotovoltaicos,
îLB : corriente que circula por el inductor LB ,
v̂o : tensión a la salida del convertidor CD-CD,
dˆ: ciclo útil del interruptor de potencia,
voN : tensión nominal a la salida del convertidor CD-CD,
dN : ciclo útil nominal,
LB : inductor del convertidor CD-CD,
Cpv : condensador en las terminales del arreglo de paneles fotovoltaicos,
rpv : resistencia dinámica que dene la razón entre la tensión y corriente del arreglo de paneles
fotovoltaicos [71].
Como se necesita la función de transferencia de la planta, se transforman las ecuaciones en
el espacio de estados (2.1) y (2.2) a la representación en función de transferencia. Los valores
nominales del punto de operación y los parámetros especícos de (2.1) y (2.2) se resumen
en la Tabla 2.2, donde ipvN y vpvN corresponden a los valores nominales de la corriente y la
tensión del arreglo de paneles.
Tabla 2.2: Valores nominales del punto de operación.
vpvN vpvN
vpvN (V) ipvN (A) dN voN = 1−dN (V) rpv = ipvN (Ω) LB (mH)
126.06 7.93 0.5 252.12 15.9 1.5
Para obtener la función de transferencia de la planta se emplea:
−1
Gpv (s) = Ĉ SI − Â B̂ + D̂, (2.3)
donde Gpv (s) es la función de transferencia de la planta, y
− rpv1Cpv − C1pv
 
Â =  , (2.4)
 
1
LB 0
 
0
 
B̂ = 
 voN ,
 (2.5)
LB

Ĉ = 1 0 , (2.6)
D̂ = 0. (2.7)
Una vez que se sustituyen los valores correspondientes al punto de operación nominal se
obtiene la siguiente función de transferencia:
−5.603 × 108
Gpv (s) = (2.8)
s2 + 209.6s + 2.222 × 106
El diseño del controlador se basa en el método de respuesta en frecuencia. El diagrama de
bloques que se utiliza se muestra en la Figura 2.3. La señal de referencia
∗
Vpv se compara con
la tensión del arreglo fotovoltaico para producir la señal de error Epv (s), que posteriormente
es procesada por el controlador CF (s). Los criterios de diseño para este controlador son: un
margen de fase de 50o y la constante de error de posición estática kp = 50. Se seleccionan
estos parámetros para lograr que el sistema sea relativamente rápido, poco oscilatorio y para
reducir el error en estado estacionario.
Figura 2.3: Diagrama de bloques para el diseño del controlador de la tensión Vpv (s).
Considerando la función de transferencia de la planta Gpv (s), se propone un compensador

de adelanto CF (s) de la forma:
Tpv s + 1
CF (s) = k̂pv , (2.9)
αpv Tpv s + 1
donde k̂pv , Tpv y αpv son coecientes a determinar.

Para la función de transferencia de lazo abierto se tiene que
GHpv (s) = CF (s)Gpv (s), (2.10)
la constante de error de posición estática kp se dene como
−5.603 × 108
kp = lı́m GHpv (s) = k̂pv , (2.11)
s→0 2.222 × 106
con kp = 50 y la ecuación (2.11) entonces se calcula que
k̂pv = −0.198. (2.12)

Capítulo 2 28
El error en estado estacionario en términos de la constante de error de posición estática kp se

obtiene mediante
1 1
ess = = = 0.019. (2.13)
1 + kp 1 + 50
En la Figura 2.4 se presenta el diagrama de bode de la función de transferencia:
−5.603 × 108
Gpv1 (s) = k̂pv Gpv (s) = k̂pv , (2.14)
s2 + 209.6s + 2.222 × 106
en el cual se observa que para el valor de k̂pv calculado el sistema es estable. Sin embargo, el
margen de fase obtenido no es el deseado de acuerdo a los requerimientos de diseño.
Para lograr que la fase de la función de transferencia de lazo abierto esté por encima
de la recta de −180o en una cantidad igual al margen de fase deseado, se requiere que el
compensador con k̂pv igual a uno, representado en (2.15), aporte tal margen de fase.
Tpv s + 1
CF1 (s) = . (2.15)
αpv Tpv s + 1
El factor de atenuación (αpv ) se calcula considerando que ∆φpv = 48.849o ,
1 − sen (∆φpv ) 1 − sen (48.849o )
αpv = = = 0.141. (2.16)
1 + sen(∆φpv ) 1 + sen (48.849o )
60
24
Magnitud [db]
-12
-48
wcpv = 1:727 # 104 rad/s
-84 20 log10 j Gpv1 (jwcpv ) j= !8:510 db
-120
10!2 10!1 100 101 102 103 104 105 106 107
-36
Fase [grados]
-72
?^pv = 1:151o
-108
-144
-180
10!2 10!1 100 101 102 103 104 105 106 107
Frecuencia [rad/s]
Figura 2.4: Diagrama de Bode de la función Gpv1 (s).

En (2.16), el término ∆φpv corresponde a la diferencia entre el margen de fase requerido

(φpv ) y el margen de fase actual (φ̂pv ). Este último se puede obtener de la Figura 2.4
∆φpv = φpv − φ̂pv = 50o − 1.151o = 48.849o . (2.17)
En la frecuencia
1
wcpv = √ , (2.18)
αpv Tpv
la curva de magnitud de la función de transferencia de lazo abierto GHpv (s) tiene que ser igual
a cero dB. El valor absoluto de la función de transferencia CF (s) evaluada en wcpv resulta en
q
2
1 (Tpv √αpv1 Tpv ) + 1 1
|CF1 (j √ )| = q =√ = 2.664. (2.19)
αpv Tpv 2
(αpv Tpv √αpv1 Tpv ) + 1 αpv
Luego, para que se cumpla la igualdad

20 log10 |GHpv (jwcpv )| = 20 log10 |CF1 (jwcpv )||Gpv1 (jwcpv )| = 0, (2.20)
es necesario que
1
20 log10 |Gpv1 (jwcpv )| = −20 log10 |CF1 (jwcpv )| = −20 log10 √ = −8.510. (2.21)
αpv
Del diagrama de bode de la Figura 2.4 se tiene que 20 log10 |Gpv1 (jwcpv )| = −8.510 para
wcpv = 1.727 × 4
10 rad/s. A partir de (2.18) y del valor encontrado de wcpv , se calculan los
valores deTpv y αpv Tpv :
1
Tpv = √ = 1.543 × 10−4 , (2.22)
wcpv αpv
αpv Tpv = 2.174 × 10−5 . (2.23)
Por lo tanto, la función de transferencia del compensador propuesto es
1.543 × 10−4 s + 1
CF (s) = −0.198 . (2.24)
2.174 × 10−5 s + 1
En la Figura 2.5 se muestra el diagrama de bode del sistema con el controlador resultante.
Se observa que el margen de fase es de 49.5o y que el sistema compensado es estable.
Capítulo 2 30
55
Magnitud [db] 24
-7
-38
La frecuencia de cruce de ganancia es wcpv = 17:3 # 103 rad/s
-69
-100
10!2 10!1 100 101 102 103 104 105 106 107
0
wcpv = 17:3 # 103 rad/s
-36
Fase [grados]
?pv = 49:5o
-72
-108
-144
-180
10!2 10!1 100 101 102 103 104 105 106 107
Frecuencia [rad/s]
Figura 2.5: Diagrama de Bode del sistema compensado.
2.2. Diseño de los controladores del inversor
Los objetivos del sistema de control para el inversor de salida del convertidor se dividen
en dos etapas:
1. Sistema de control de la corriente. En este etapa se tiene el propósito de mantener una

forma de onda senoidal de la corriente de salida, que esté en fase con la tensión de la
red de manera que se transera solamente potencia activa. Se debe mencionar que se
emplea modulación por ancho de pulso senoidal.
2. Mantener la tensión del bus de cd constante.
A partir de la referencia [73] se puede construir el modelo del inversor representado en la

Figura 2.6, donde m(t), vcd (t), vs (t) y is (t) corresponden a la señal moduladora, la tensión
del bus de CD, la tensión de la red y la corriente en el lado de alterna del inversor de salida,
respectivamente. Los componentes pasivos Ls y Rs son el inductor y la resistencia en el lado
de alterna del inversor y que sirven como elementos de enlace con la red eléctrica.
Figura 2.6: Modelo del inversor.
2.2.1. Sistema de control de la corriente
En el esquema de la Figura 2.6, la corriente is (t) es la variable de salida y el objetivo de

control es que la corriente is (t) siga a una referencia sinusoidal en fase con la tensión de la
red. Para cumplir este objetivo, se propone el sistema de control en lazo cerrado de la Figura
2.7, en el cual la señal de referencia iref (t) se compara con is (t) y se genera una señal de
error ei (t). El compensador CI (s) procesa la señal de error y suministra la señal de control
ui (t). La señal ui (t) se divide por una cantidad igual a vcd (t) para compensar el escalamiento
provocado por la ganancia del inversor. El valor de vcd (t) no es constante, y por ello, se debe
medir e incorporar en esta parte del esquema. El saturador es necesario para adecuar los
valores de las señales que se le envían a los comparadores y evitar la sobremodulación. Con
el n de desacoplar las dinámicas entre el inversor y la red eléctrica a la que el sistema está
conectado, así como de reducir el impacto de los transitorios que pudieran ocurrir en esta
última, se utiliza el compensador Gf f (s).
Figura 2.7: Diagrama de control de la corriente con compensador de desacoplo.
En [73] se recomienda que la función de transferencia de Gf f (s) sea aproximadamente

igual a uno (Gf f (s) ≈ 1), para lograr que la tensión v̆s ≈ vs , y así, que la diferencia de
tensión aplicada al arreglo serie Rs Ls esté determinada por el controlador de corriente, o
dicho de otra manera: para que se cancele la dinámica de la tensión de la red. Por lo tanto,
se considera el diagrama de bloques simplicado de la Figura 2.8.
Capítulo 2 32
Figura 2.8: Diagrama de control simplicado para el diseño del controlador de corriente.
Al determinar la función de transferencia en lazo cerrado se tiene que
Is (s) GHI (s)

TIlc (s) = = , (2.25)
Iref (s) 1 + GHI (s)
donde la ganancia de lazo se dene como
GHI (s) = CI (s)GI (s). (2.26)
Entonces la función de transferencia utilizada para estudiar la respuesta en frecuencia del

sistema en lazo cerrado es
GHI (jw)
TIlc (jw) = , (2.27)
1 + GHI (jw)
que en coordenadas polares se puede escribir de la forma
TIlc (jw) = |TIlc (jw)|ejα , (2.28)
donde |TIlc (jw)| y α denotan el módulo y el ángulo de TIlc (jw), respectivamente. La respuesta
en estado estacionario del sistema en lazo cerrado ante una entrada sinusoidal con frecuencia
w, se escala en un factor igual a |TIlc (jw)| y se desfasa en una cantidad α respecto a la señal
de entrada. Para que la señal de salida siga a la referencia con error cero, es necesario que
|TIlc (jw)| sea igual a la unidad y α sea cero. Este requerimiento se logra si la ganancia de
lazo GHI (jw) es innita en la frecuencia de la señal de referencia, es decir, si dos polos de
GHI (jw) se localizan en ±jw0 , donde w0 es la frecuencia de la señal de referencia; entonces
|GHI (jw0 )| = +∞ y TIlc (jw) ≈ 1. Del análisis anterior, se puede concluir que los polos de la
transformada de Laplace de la señal de referencia deben estar incluidos en el compensador.
Si se considera que
CI (s) = k̂i CI1 (s)CI4 (s), (2.29)
1
GI (s) = , (2.30)
Ls s + Rs
1
CI1 (s) = , (2.31)
s2 + w02
donde w0 = 2π60 rad/s, entonces la función de transferencia de la ganancia de lazo abierto

se expresa como
1 1
GHI (s) = CI (s)GI (s) = k̂i CI (s) = k̂i CI4 (s)GI1 (s), (2.32)
s2 + w02 4 Ls s + Rs
donde
1 1
GI1 (s) = . (2.33)
s2 + w02 Ls s + Rs
El incorporar la ecuación (2.31) dentro de la función de transferencia del compensador
garantiza el requerimiento de error cero en estado estacionario para la frecuencia w0 . Los
demás ceros y polos del compensador (si son necesarios) deben colocarse de tal manera que
la función de transferencia del sistema en lazo cerrado tenga un margen de fase adecuado. En
este trabajo de investigación se propone la utilización de la técnica de respuesta en frecuencia
para el diseño del controlador. Los requerimientos que se denen son: (1) un margen de fase
∆φI = 50o para lograr un compromiso adecuado entre la rapidez de respuesta y el nivel del
sobretiro y, (2) que el ancho de banda del sistema de control en lazo cerrado sea igual a 6000
rad/s, para lograr que sea al menos 10 veces menor que la frecuencia de conmutación y con
esto atenuar los armónicos de alta frecuencia que se producen por la propia conmutación de
los interruptores del inversor.
10
-72
Magnitud [db]
-154
-236
-318
-400
10!2 10!1 100 101 102 103 104 105 106 107
0
0:82 rad/s
-54
Fase [grados]
-108
-162
0:082 rad/s
-216 w0 = 377 rad/s
-270
10!2 10!1 100 101 102 103 104 105 106 107
Frecuencia [rad/s]
Figura 2.9: Diagrama de Bode de la función de transferencia GI1 (s).

Capítulo 2 34
En la Figura 2.9 se muestra el diagrama de bode de la función de transferencia GI1 (s).

Debido al polo simple s = −R
Ls = −0.082,
s
el diagrama de fase decrece a razón de −45o /dec
y se mantiene en −90o para frecuencias mayores a 0.82 rad/s. Además, se observa un atraso
abrupto de la fase en la frecuencia de la señal de referencia w0 .
Es importante lograr que la curva de fase esté por encima de −180o para frecuencias
mayores a la frecuencia de cruce de ganancia (frecuencia en la cual la curva de magnitud se
cruza con la recta de 0 db). Para ello, se propone introducir un cero en el compensador con
el objetivo de cancelar el polo simple de la función GI1 (s). Sea:
CI4 (s) = CI2 (s)CI3 (s), (2.34)
entonces de la ecuación (2.29) se obtiene
CI (s) = k̂i CI1 (s)CI4 (s) = k̂i CI1 (s)CI2 (s)CI3 (s), (2.35)
o bien

1 Rs
CI (s) = k̂i 2 s+ CI3 (s), (2.36)
s + w02 Ls
donde
Rs
CI2 (s) = s + . (2.37)
Ls
Luego, la función de transferencia de lazo abierto se puede escribir como
1
Rs Ls 1
GHI (s) = k̂i CI2 (s)CI3 (s)GI1 (s) = k̂i CI3 (s) s + , (2.38)
Ls s + L s + w02
Rs 2
s
1
Ls
GHI (s) = k̂i CI3 (s) = k̂i CI3 (s)GI2 (s), (2.39)
s2 + w02
donde
1
Ls
GI2 (s) = . (2.40)
s2 + w02
En la Figura 2.10 se evidencia el efecto de introducir el cero en la función de transferencia

del compensador. Para bajas frecuencias, la curva de fase de la función de transferencia de
lazo abierto es cero suponiendo k̂i CI3 (s) = 1. En la frecuencia w0 , la curva de fase disminuye
hasta −180o y se mantiene constante para frecuencias superiores a este valor. En esta parte
del análisis se sugiere un compensador de adelanto en la función de transferencia de CI3 (s)
para lograr un margen de fase de al menos 50o .
10
-42
Magnitud [db]
-94
-146
wci = 4000 rad/s
!105:7280
-198 j GI2 (jwci ) j= 10 20
-250
10!2 10!1 100 101 102 103 104 105 106 107
-36
Fase [grados]
-72
-108
-144 377 rad/s
-180
10!2 10!1 100 101 102 103 104 105 106 107
Frecuencia [rad/s]
Figura 2.10: Diagrama de Bode de la función de transferencia GI2 (s).
El ancho de banda del sistema de control en lazo cerrado para −3 db y la frecuencia de

cruce de ganancia están correlacionados [73], y en general se satisface que wci < wbi < 2wci .
Además,
wbi ≈ 1.5wci , (2.41)
donde wbi es el ancho de banda del sistema de control a lazo cerrado para −3 db y wci es la
frecuencia de cruce de ganancia.
En una primera aproximación, el ancho de banda del sistema de control a lazo cerrado
se ja en 6000 rad/s, por lo que la frecuencia de cruce de ganancia considerada para el
compensador de adelanto, se puede obtener de la ecuación (2.41). Así se tiene que wci = 4000
rad/s.
La función de transferencia del compensador de adelanto es de la forma:
TI s + 1
CI3 (s) = , (2.42)
αI TI s + 1
donde αI es el factor de atenuación, determinado a partir de la ecuación (2.16). A continuación,

se necesita el margen de fase del diagrama de bode de la función GI2 (s), y de la Figura 2.10 se
puede determinar que es igual a cero (esto se verica una vez que la curva de fase se encuentra
Capítulo 2 36
1−sin (∆φI ) 1−sin (50)

en la recta de −180o ). Para αI = 1+sin (∆φI ) = 1+sin (50) = 0.133, la curva de amplitud de la
función de transferencia de lazo abierto en la frecuencia de cruce de ganancia tiene que ser
cero; lo que se expresa de la siguiente manera
20 log10 |k̂i CI3 (jwci )GI2 (jwci )| = 0, (2.43)

1 1
k̂i |CI3 j √ | |GI2 j √ | = 1, (2.44)
αI TI αI TI
1
k̂i = , (2.45)
|CI3 j √α1 T | |GI2 j √α1 T |
I I I I
1
k̂i = −105.7280 = 70.382 × 103 , (2.46)
√1 10( 20 )
αI

donde wci = √ 1 |CI3 j √α1 T | =
, √1 GI2 j √α1 T
αI T I I I αI y el valor absoluto de I I
se puede
obtener del diagrama de bode de GI2 (s) (Figura 2.10). Con el valor de wci y de αI , se calcula
el valor de TI :
1
TI = √ = 6.869 × 10−4 , (2.47)
wci αI
TI s+1 6.869×10−4 s+1

y de esta forma se obtiene la función de transferencia CI3 (s) = αI TI s+1 = 9.099×10−5 s+1
.
Sustituyendo (2.31), (2.37) y (2.42) en (2.35), se obtiene la función de transferencia del

compensador propuesto:
6.869 × 10−4 s + 1

1 Rs TI s + 1 3 s + 0.082
CI (s) = k̂i 2 s+ = 70.382 × 10
s + w02 Ls αI TI s + 1 s2 + w02 9.099 × 10−5 s + 1
(2.48)
El diagrama de bode de la función de transferencia de lazo abierto (GHI (s)) y en lazo cerrado
Is (s)
(TIlc (s) =
Iref (s) ) del sistema compensado se representa en la Figura 2.11. Se observa, que
o
para el sistema en lazo abierto el margen de fase es de 50 , siendo la frecuencia de cruce de
ganancia wci = 4000 rad/s. Además, se verica que el ancho de banda del sistema en lazo
cerrado cumple la restricción wci < wbi < 2wci .
En la Figura 2.12 se presenta una simulación de la corriente en el lado de alterna del
inversor considerando el controlador propuesto. Se muestra un cambio en el ángulo de fase de
la corriente de referencia en el instante de tiempo to . En ella se aprecia que la corriente is (t)
sigue a la referencia y que el tiempo de respuesta es de aproximadamente 1.9 ms.
100
GHI (s)
50 Is (s)
TIlc (s) = Iref (s)
Magnitud [db]
0
Is (jw)
-50 j Iref (jw) j= 1
wbi = 4930 rad/s
-100
-150
10!2 10!1 100 101 102 103 104 105 106 107
0
1 2 GHI (s)
Is (jw) Is (s)
-36 6
Iref (jw) = 0o TIlc (s) =
Fase [grados]
Iref (s)
-72
"?I = 50o
-108
wci = 4000 rad/s
-144
-180
10!2 10!1 100 101 102 103 104 105 106 107
Frecuencia [rad/s]
Figura 2.11: Diagrama de Bode de la función de transferencia de lazo abierto GHI (s) y de la función
de transferencia del sistema de control en lazo cerrado TIlc .
15
iref
9
is
1:9 ms
iref , is [A]
-3
-9
to
-15
0.2702 0.2952 0.3202

Tiempo [s]
Figura 2.12: Funcionamiento del controlador de corriente.
2.2.2. Sistema de control de la tensión del bus de CD
El inversor es la etapa del convertidor que se utiliza para transferir la energía hacia la red
eléctrica, y para ello, en el sistema se necesitan dos lazos de control: uno externo de tensión
y uno interno de corriente. El lazo externo se encarga de regular la tensión del bus de CD y
Capítulo 2 38
proporciona la referencia al lazo interno [74].
En la Figura 2.13 se representan de forma simplicada los dos lazos de control. El valor
pico de la corriente de referencia es la señal de salida del controlador del lazo externo de
tensión, que se multiplica por la componente sinusoidal proveniente del P LL, para conformar
la entrada del lazo interno.
En la topología de la Figura 2.1, la potencia de corriente directa del lado generador se

transere al lado de alterna, y el condensador Ccd se encarga de suministrar la diferencia de
potencia entre la entrada y la salida; como consecuencia, una componente oscilatoria del doble
de la frecuencia de línea aparece en el bus de CD [75].
Figura 2.13: Diagrama de bloques de los dos lazos de control.
2.2.2.1. Diseño del controlador de la tensión

Para el diseño del sistema de control de la tensión del bus de CD se utiliza el diagrama
de bloques propuesto en la referencia [74], representado en la Figura 2.14.
Figura 2.14: Diagrama de bloques del lazo de control externo.
En este diagrama de bloques se considera que:
VpN 1 −359.210
GV (s) = − = , (2.49)
2Ccd VcdN s s
√
donde VpN = 127 2 V, Ccd = 1000 µF, VcdN = 250 V. Para el diseño de este sistema de
control se propone que el margen de fase sea de 50o para lograr un compromiso adecuado
entre las oscilaciones y la rapidez de respuesta, y que el ancho de banda del sistema a lazo
cerrado sea de wbv = 113.097 rad/s. Con este ancho de banda se consigue una rapidez de
respuesta de 100 ms, manteniéndose el desacoplo entre el lazo de control interno y el lazo de
control externo.
En el diagrama de bode de la función GV (s) que se muestra en la Figura 2.15, se observa

o
que la curva de fase está sobre la recta de 90 . Por lo tanto, se propone incorporar a la función
de transferencia del controlador un polo en el origen, para lograr cancelar el efecto del ángulo
de 90o de la función GV (s). En este sentido, la constante k̂v debe ser negativa para situar
la curva de fase de la función de transferencia de lazo en la recta de −180o . Por lo tanto, se
propone el controlador de la forma:
k̂v
CV (s) = CV1 (s), (2.50)
s
Para el ancho de banda deseado, la frecuencia de cruce de ganancia del sistema en lazo
abierto está dada por (2.51). En este valor de frecuencia, la curva de magnitud de la función
GV1 (s) debe ser igual a cero, ecuación (2.52).
wb v
wcv = = 75.4 rad/s, (2.51)
1.5
k̂v
20 log10 |GV1 (s)| = 20 log10 | GV (s)|, (2.52)
s
2Ccd VcdN
|k̂v | = wc2v = 15.830. (2.53)
VpN
Por lo tanto k̂v = −15.830.
100
60
Magnitud [db]
20
-20
-60
-100
10!2 10!1 100 101 102 103 104 105 106 107
90
Fase [grados]
85
80
75
70
10!2 10!1 100 101 102 103 104 105 106 107
Frecuencia [rad/s]
Figura 2.15: Diagrama de Bode de la función GV (s).

Capítulo 2 40
Para lograr el margen de fase deseado, se propone un compensador de adelanto CV1 (s):
Tv s + 1
CV1 (s) = . (2.54)
αv Tv s + 1
El factor de atenuación αv se calcula para ∆φv = 50o . Se realiza esta consideración puesto
que la curva de fase de GV1 (s) está ubicada en la recta de −180o . Entonces
1 − sin (∆φv )
αv = = 0.136. (2.55)
1 + sin (∆φv )
La función de transferencia de lazo abierto en la frecuencia de cruce de ganancia tiene que

ser cero. Para ello, se propone otra constante (k̂c ) que permita obtener dicho resultado, tal
que
20 log10 |k̂c CV1 (s)GV1 (s)| = 0, (2.56)
√
y considerando que |CV1 (s)| = 1/ αv y que |GV1 (s)| = 1, entonces
√
k̂c = αv = 0.364. (2.57)
1
Con wcv = √
Tv αv , se puede determinar la constante Tv , y de ahí la función de transferencia
del controlador, con lo cual Tv = 0.036.
Por lo tanto, la función de transferencia del controlador para la tensión del bus de CD es:
k̂c k̂v Tv s + 1 −0.210s − 5.76

CV (s) = = . (2.58)
s αv Tv s + 1 0.005s2 + s
En la Figura 2.16 se observa que el margen de fase de la función de lazo abierto es de 50o
y que la frecuencia de corte wcv = 75.400 rad/s.
120
80
Magnitud [db] 40
w = 754 rad/s
0 db = !31:5
-40 wcv = 75:4 rad/s
-80
-120
10!2 10!1 100 101 102 103 104 105 106 107
-120 "?v = 50o

wcv = 75:4 rad/s
Fase [grados]
-140
-160
-180
10!2 10!1 100 101 102 103 104 105 106 107
Frecuencia [rad/s]
Figura 2.16: Diagrama de Bode de la función de transferencia de lazo abierto.
2.2.2.2. Estimador de la tensión del bus de CD

En el bus de CD se pueden plantear las siguientes relaciones para la potencia
Ppv = vcd (t)icd (t) = vcd (t) (ic (t) + id (t)) = vcd (t)ic (t) + vcd (t)id (t), (2.59)
dvcd (t) dis (t)

Ppv = Ccd vcd (t) + Ls is (t) + i2s (t)Rs + is (t)vs (t), (2.60)
dt dt
Sustituyendo is (t) = Ip sen (wt) y vs (t) = Vp sen (wt) en (2.60), resulta en
dvcd Ip2 Rs Ip Vp
Ppv = Ccd vcd + + − A cos (2wt + φ), (2.61)
dt 2 2
donde
s
2 2
wLs Ip2 Ip2 Rs Ip Vp

A= + + , (2.62)
2 2 2
 
wLs Ip2
−1  2
φ= tan Ip2 Rs
, (2.63)
I p Vp
2 + 2
Capítulo 2 42
Ip2 Rs

Ip Vp
Si k1 = Ppv − 2 + 2 entonces
Z t Z t Z t
k1 A
dt + cos (2wt + φ)dt = vcd dvcd . (2.64)
t0 Ccd t0 Ccd t0
Considerando Rs ≈ 0 ⇒ k1 ≈ 0 y que t0 = 0, se puede encontrar la tensión del bus de CD

como:
r
A A
vcd (t) = sen (2wt + φ) + Vo2 − sen (φ). (2.65)
wCcd wCcd
260
Ccd = 500 7F
255 Ccd = 1000 7F
250 Ccd = 2000 7F
vcd [V]
Ccd = 3000 7F
245
240
valor promedio
235
0 0.0033 0.0067 0.01 0.0133 0.0167

Tiempo [s]
Figura 2.17: Forma de onda de la tensión estimada del bus de CD para distintos valores de Ccd .
De acuerdo a la ecuación (2.65) y a la Figura 2.17, la tensión en el bus de CD tiene una

componente armónica del doble de la frecuencia de la red. Este comportamiento provoca que
se inyecte una componente de tercer armónico en la corriente de referencia. No obstante,
esto puede ser mitigado si el controlador de tensión logra ltrar esta componente de segundo
armónico. Otra variante que se propone en este trabajo es utilizar una estimación de la tensión
del bus de CD con el objetivo de atenuar el rizo de segundo orden antes de ser retroalimentado
al sistema de control.
En la Figura 2.18 se observa que si el controlador de la tensión del bus de CD (CV (s))
no atenúa lo suciente la magnitud de la señal en la frecuencia de 120 Hz, entonces, cuando
se multiplica la señal de control uv (t) por la componente de 60 Hz proveniente del PLL, se
produce una componente de tercer armónico en la corriente de referencia. Este fenómeno
se puede interpretar como un acoplamiento existente entre el controlador de tensión y el
controlador de corriente, y es por esto que es conveniente proponer el ancho de banda del
controlador de tensión al menos 10 veces menor que la frecuencia correspondiente al armónico
de 120 Hz.
Figura 2.18: Tercer armónico en la referencia de corriente.
120
72
Magnitud [db]
24 w = 754 rad/s
db = !25:1
-24
-72
-120
10!2 10!1 100 101 102 103 104 105 106 107
140
Fase [grados]
130
120
110
100
90
10!2 10!1 100 101 102 103 104 105 106 107
Frecuencia [rad/s]
Figura 2.19: Diagrama de bode del controlador de tensión del bus de CD.
A modo de ejemplo, (ver Figura 2.20a) se puede hacer referencia al caso en el que la
función de transferencia del controlador tiene en su curva de magnitud un valor de −25.1 db
(ver Figura 2.19) en la frecuencia correspondiente al segundo armónico. En este ejemplo, la
señal de realimentación del lazo de control le inyecta una componente de 120 Hz a la señal
de error ev (t). Luego esta señal se ltra cuando es procesada por el controlador de tensión,
y como resultado, la acción de control uv (t) no contiene información de la componente del
segundo armónico; por lo tanto, la señal de corriente no reproduce dicho armónico de baja
Capítulo 2 44
frecuencia. Este caso corresponde al controlador propuesto en (2.58), y en la Figura 2.21a se

muestra que es capaz de responder en aproximadamente 100 ms.
Si se desea que el controlador tenga una rapidez de respuesta mayor, es necesario aumentar
la frecuencia de cruce de ganancia del sistema en lazo abierto. En la Figura 2.21b el controlador
propuesto actúa de forma más rápida ya que la frecuencia de cruce de ganancia del sistema
en lazo abierto es de 24 Hz. Sin embargo, la componente de frecuencia de 120 Hz no se atenúa
lo suciente como para evitar que aparezca un tercer armónico en el espectro de frecuencia
de la corriente is (t), como puede observarse en la Figura 2.20b.
Se propone una solución a este problema mediante la utilización de un estimador de la
tensión del bus de CD, el cual permite reducir el rizo de 120 Hz antes de ser introducido a la
señal de retroalimentación. En la Figura 2.22a se observa que la amplitud de la componente
de 120 Hz de la señal de error, para un ancho de banda del controlador CV (s) de 24 Hz se
reduce signicativamente cuando se utiliza el estimador, y por lo tanto la componente de 180
Hz en la señal iref (t) es aproximadamente igual a cero. En la Figura 2.22b se observa que
para un aumento del ancho de banda del controlador de tensión a 36 Hz la componente de
180 Hz en la referencia de corriente también se puede considerar aproximadamente igual a
cero. En la Figura 2.23 se observa que cuando se utiliza el estimador, para cualquiera de los
anchos de banda (24 Hz y 36 Hz) del controlador CV (s) el tiempo de respuesta es menor en
relación con el tiempo de respuesta que se obtiene cuando se emplea un ancho de banda del
controlador de 12 Hz y no se emplea el estimador. La Figura 2.24 muestra un diagrama de
ujo del procedimiento para eliminar el rizo del segundo armónico. Primeramente, se debe
estimar la tensión a partir de la expresión (2.65) y luego, al valor estimado se le resta la señal
de referencia para obtener el rizo estimado, y éste se le sustrae a la lectura de la tensión del
bus de CD.
6 6
j evn j [V]
j evn j [V]
4 j ev120 Hz j= 4:2 4 j ev120 Hz j= 4:2
2 2
0 0
0 30 60 90 120 150 180 0 30 60 90 120 150 180
30 30
j uvn j [V]
j uvn j [V]
20 20
j uv120 Hz j: 0 j uv120 Hz j= 0:87
10 10
0 0
0 30 60 90 120 150 180 0 30 60 90 120 150 180
15 15
j isn j [A]
j isn j [A]
10 10
j is180 Hz j: 0 j is180 Hz j= 0:56
5 5
0 0
0 30 60 90 120 150 180 0 30 60 90 120 150 180
Frecuencia [Hz] Frecuencia [Hz]
(a) Ancho de banda igual a 12 Hz (b) Ancho de banda igual a 24 Hz
Figura 2.20: Armónicos en la referencia de corriente para distintos anchos de banda de CV (s).
1000 1000
800 800
Pmax [W]
Pmax [W]
600 600
400 400
200 200
0 0
0.2 0.28 0.36 0.44 0.52 0.6 0.2 0.28 0.36 0.44 0.52 0.6
275 100 ms 275

50 ms
vcd [V]
vcd [V]
245 250
215 225
0.2 0.28 0.36 0.44 0.52 0.6 0.2 0.28 0.36 0.44 0.52 0.6
Tiempo [s] Tiempo [s]
Figura 2.21: Respuesta del sistema para diferentes anchos de banda de CV (s).
Capítulo 2 46
6 6
j evn j [V]
j evn j [V]
4 4
2 j ev120 Hz j= 0:94 2 j ev120 Hz j= 0:96
0 0
0 30 60 90 120 150 180 0 30 60 90 120 150 180
30 30
j uvn j [V]
j uvn j [V]
20 20
10 j uv120 Hz j: 0 10 j uv120 Hz j: 0
0 0
0 30 60 90 120 150 180 0 30 60 90 120 150 180
15 15
j isn j [A]
j isn j [A]
10 10
5 j is180 Hz j: 0 5 j is180 Hz j: 0
0 0
0 30 60 90 120 150 180 0 30 60 90 120 150 180
Figura 2.22: Armónicos en la referencia corriente considerando el estimador para distintos anchos
de banda de CV (s).
1000 1000
800 800
Pmax [W]
Pmax [W]
600 600
400 400
200 200
0 0
0.2 0.28 0.36 0.44 0.52 0.6 0.2 0.28 0.36 0.44 0.52 0.6
275 275
50 ms 33:7 ms
vcd [V]
vcd [V]
250 250
225 225
0.2 0.28 0.36 0.44 0.52 0.6 0.2 0.28 0.36 0.44 0.52 0.6
Figura 2.23: Respuesta del sistema considerando el estimador para diferentes anchos de banda de
CV (s).
Figura 2.24: Diagrama de ujo para el estimador del bus de CD.
2.3. Sistema de control general
En esta sección se presentan dos simulaciones para validar el funcionamiento del sistema de
control general desarrollado en las secciones anteriores. En la Tabla 2.3 se tienen los parámetros
del convertidor utilizados para la simulación. En la Figura 2.25 se presenta el comportamiento
del sistema sin estimador cuando se utiliza un ancho de banda para el controlador de tensión
de 12 Hz. La irradiancia cambia de forma abrupta entre varios niveles, tal y como se representa
en la Figura 2.25a. El sistema logra operar en el punto de máxima potencia en cada condición,
y la tensión vpv (t) del arreglo de paneles sigue a la referencia. Se observa en la Figura 2.25c
que el incremento de la tensión es mayor cuando ocurren los cambios bruscos en los niveles de
irradiancia y esto es el resultado de utilizar el algoritmo de extracción de la máxima potencia
adaptable de acuerdo a la magnitud de los cambios en los niveles de irradiancia. En la Figura
2.25e se presenta el comportamiento de la corriente del arreglo de paneles solares cuando se
producen cambios en los niveles de irradiancia. En la Figura 2.25g se observa que la tensión
vo (t) es una réplica de la tensión vcd (t), la cual se regula en 250 V. En la Figura 2.25b se
observa que el tiempo de respuesta del controlador del bus de CD es de aproximadamente
100 ms cuando el ancho de banda del controlador es de 12 Hz, y además que el rizo es
menor cuando se transere menos potencia hacia la red eléctrica. La Figura 2.25d muestra el
comportamiento de la tensión vt (t) en las terminales de alterna del inversor de salida, y se
observa que oscila entre tres niveles debido a la modulación en los interruptores del inversor.
En la Figura 2.25h se muestra una ampliación de la Figura 2.25f en una ventana alrededor de
t = 0.8 s, donde se observa que vs e is están en fase, en todo momento, incluso en presencia
Capítulo 2 48
del cambio de irradiancia. En la Figura 2.26 se repite el análisis, pero esta vez utilizando el
estimador de la tensión del bus de CD y considerando un ancho de banda del controlador de
tensión de 36 Hz. En este segundo caso se muestra que la respuesta del sistema de control de
la tensión del bus de CD es mucho más rápida y que el THD de la corriente is (t) es menor
que en el caso anterior.
1000 295 100 ms

Pmax , Ppv [W]
750 280
265
vcd
500 250
Pmax
250 235
Ppv
220
0
0.2 0.6 1 1.4 1.8 2.2 0.2 0.6 1 1.4 1.8 2.2
(a) (b)
130 300
Vpv$ , vpv [V]
104
100
vt [V]
78
52 Vpv$ -100
26 vpv
0 -300
0.2 0.6 1 1.4 1.8 2.2 0.4374 0.5383 0.6392 0.7402 0.8411 0.942
(c) (d)
10 1.5
vs
8
vs , is [pu]
0.5 is
ipv [A]
6
4 -0.5
2
0 -1.5
0.2 0.6 1 1.4 1.8 2.2 0.2 0.6 1 1.4 1.8 2.2
(e) (f )
295 1.5
100 ms vs
vs , is [pu]
280
0.5
vo [V]
265 is
250 -0.5
235 vo
220 -1.5
0.2 0.6 1 1.4 1.8 2.2 0.4374 0.5383 0.6392 0.7402 0.8411 0.942
(g) (h)
Figura 2.25: Comportamiento general del sistema sin estimador para un ancho de banda de 12 Hz
del controlador de tensión del bus de CD.
1000 280
Pmax , Ppv [W]
750 33.9 ms
vcd [V]
265
500
Pmax 250
250 Ppv 235
0
0.2 0.6 1 1.4 1.8 2.2 0.2 0.6 1 1.4 1.8 2.2
(a) (b)
130 300
Vpv$ , vpv [V]
104
100
vt [V]
78
52 Vpv$ -100
26 vpv
0 -300
0.2 0.6 1 1.4 1.8 2.2 0.4374 0.5383 0.6392 0.7402 0.8411 0.942
(c) (d)
10 1.5
vs
8
vs , is [pu]
0.5 is
ipv [A]
6
4 -0.5
2
0 -1.5
0.2 0.6 1 1.4 1.8 2.2 0.2 0.6 1 1.4 1.8 2.2
(e) (f )
33.9 ms 1.5
280 vs
vs , is [pu]
0.5
vo [V]
265 is
250 -0.5
235
-1.5
0.2 0.6 1 1.4 1.8 2.2 0.4374 0.5383 0.6392 0.7402 0.8411 0.942
(g) (h)
Figura 2.26: Comportamiento general del sistema con estimador de la tensión del bus de CD para
un ancho de banda de 36 Hz del controlador de tensión.
Tabla 2.3: Parámetros del convertidor utilizados para la simulación.
Cpv (µF) 300 Ls (mH) 12.2 fmpp (Hz) 20

LB (mH) 1.5 Vo (V) 250 fsw (kHz) 10
√
Co (µF) 300 Vp (V) 127 2 fmsw (kHz) 20
Ccd (µF) 1000 Pm (W) 1000 fs (kHz) 9.9
Rs (mΩ) 1 Nt 1 fred (Hz) 60
Con los resultados obtenidos queda validada la operación del convertidor y del sistema
de control para el rango completo de condiciones de operación del sistema fotovoltaico y se
prosigue con el estudio del diagnóstico de fallas.
Capítulo 2 50
51
Capı́tulo 3
Algoritmos para el diagnóstico de fallas en
el convertidor de electrónica de potencia
En este capítulo se presentan los algoritmos aplicados para el diagnóstico de fallas en los
componentes del convertidor. Con el objetivo de no incrementar el costo y la complejidad
del sistema, todos los algoritmos propuestos emplean como base las señales proporcionadas
por los mismos sensores destinados para el sistema de control. En la Figura 3.1 se muestra
la topología seleccionada y las señales que se emplean como entrada para los algoritmos de
diagnóstico.
El término diagnóstico de fallas hace referencia a la determinación del tipo, tamaño, lo-
calización e instante de aparición de una falla, y esto incluye la detección, el aislamiento y la
estimación de la falla [51]. Las técnicas presentadas para la tarea de diagnóstico se basan en el
Capítulo 3 52
procesamiento de las señales de los sensores vpv (t), ipv (t), is (t) y vcd (t), empleando principal-
mente la transformada Wavelet en conjunto con fórmulas recursivas basadas en descriptores
estadísticos.
3.1. Transformada Wavelet
Esta transformada trabaja con señales en tiempo discreto, por lo tanto, se parte de la
forma general de una señal discreta:
f = (f1 , f2 , . . . , fN ) , (3.1)
donde N es un entero positivo que denota el total de las muestras de f. Los valores de f son
los N números reales f1 , f2 , . . . , fN . Estos valores son mediciones de una señal analógica que
se adquieren periódicamente con un determinado tiempo de muestreo [76]. En los instantes
de tiempo t = t1 , t2 , . . . , tN se tienen las muestras:
f1 = g(t1 ), f2 = g(t2 ), . . . , fN = g(tN ). (3.2)
Dentro de los tipos de transformada Wavelet que existen, se trabajará con la denominada
Daubechies de soporte cuatro (Daub4). La transformada Wavelet descompone una señal dis-
creta en dos subseñales con la mitad de su longitud original. Una de estas señales se denomina
señal promedio o tendencia y la otra detalle
uctuación. El primer nivel de descomposición
o
D1
a1 |d1 de la señal f a la primera señal de tendencia a , y a la primera
1

es el mapeo f 7−
−→
señal de uctuación d1 de la siguiente forma:

a1 = a11 , a12 , . . . , a1 N , (3.3)
2

1
d = d11 , d12 , . . . , d1 N . (3.4)
2
Para entender cómo se calcula cada valor a1m (en lo que sigue coeciente de tendencia ),
donde m∈ N, se dene el vector hk1 :
hk1 = (fk , fk+1 , fk+2 , fk+3 ) . (3.5)
Si el valor a1m se obtiene mediante
a1m = hm m m m
1 (1)α1 + h1 (2)α2 + h1 (3)α3 + h1 (4)α4 , (3.6)
entonces, el valor a1m+1 se calcula de la siguiente forma:
a1m+1 = hm+2
1 (1)α1 + hm+2
1 (2)α2 + hm+2
1 (3)α3 + hm+2
1 (4)α4 , (3.7)
√ √ √ √ √
1+√ 3 3+√ 3 3−√ 3 3−√ 3 1−√ 3
donde α1 = 4 2
, α2 = 4 2
, α3 = 4 2
, α3 = 4 2
, α4 = 4 2
.
Nótese que en las ecuaciones (3.6) y (3.7) se produce un corrimiento del vector f. En
este sentido, se puede interpretar un movimiento del vector de datos muestreados f hacia
Algoritmos para el diagnóstico de fallas en el convertidor de electrónica de potencia 53
la izquierda en dos posiciones, si se considera jo el vector hk1 , tal y como se muestra en la
Figura 3.2.
Figura 3.2: Corrimiento de dos posiciones del vector f.
En el caso de los valores d1m (en adelante coeciente de uctuación o coeciente de detalle )
se procede de forma similar, sólo que las constantes son diferentes. Si se dene el valor d1m
como
d1m = hm m m m
1 (1)β1 + h1 (2)β2 + h1 (3)β3 + h1 (4)β4 , (3.8)
entonces
d1m+1 = hm+2
1 (1)β1 + hm+2
1 (2)β2 + hm+2
1 (3)β3 + hm+2
1 (4)β4 , (3.9)
√ √ √ √ √
1−√ 3 3−3 3+√ 3 3−√ 3 −1−
√ 3.
donde β1 = 4 2
, β2 = √ ,
4 2
β3 = 4 2
, β3 = 4 2
, β4 = 4 2
D1
a1 7−→ a2 |d2 a1

La descomposición del nivel 2 es el mapeo − de la señal a la segunda
2
señal de tendencia a y a la segunda señal de
2
uctuación d .
En esta segunda transformación se denen los siguientes vectores:

a2 = a21 , a22 , . . . , a2 N , (3.10)
4

2
d = d21 , d22 , . . . , d2 N , (3.11)
4
donde los valores de a2m y d2m , se calculan a partir del vector
hk2 = a1k , a1k+1 , a1k+2 , a1k+3 ,

(3.12)
mediante las ecuaciones
a2m = hm m m m
2 (1)α1 + h2 (2)α2 + h2 (3)α3 + h2 (4)α4 , (3.13)
d2m = hm
2 (1)β1 + hm
2 (2)β2 + hm
2 (3)β3 + hm
2 (4)β4 , (3.14)
Capítulo 3 54
y al igual que en el caso del primer nivel, si los valores a2m y d2m se denen mediante las
expresiones (3.13) y (3.14), entonces
a2m+1 = hm+2
2 (1)α1 + hm+2
2 (2)α2 + hm+2
2 (3)α3 + hm+2
2 (4)α4 , (3.15)
d2m+1 = hm+2
2 (1)β1 + hm+2
2 (2)β2 + hm+2
2 (3)β3 + hm+2
2 (4)β4 . (3.16)
La transformada de Wavelet Daub4 se puede extender a niveles superiores (ver Figura

3.3), y en principio para lograr esto, se debe aplicar la transformada Wavelet del primer nivel
D1
ai−1 7−→ ai |di

(el mapeo − ) sobre la señal de tendencia del nivel anterior, tal y como se
explicó para la transformada Wavelet del segundo nivel. En el desarrollo de los algoritmos
propuestos en este trabajo de investigación, se aplican tres niveles de descomposición.
Anteriormente se denió el vector f con una dimensión N; sin embargo, en términos

prácticos este vector puede no tener una longitud denida. Cada uno de los coecientes x ij
(donde x puede ser a o d, i representa el nivel de descomposición y j el elemento del vector
que se procesa), se obtiene en la misma medida que se muestrea la señal de interés, lo que
permite reducir el tiempo en la toma de decisiones para el diagnóstico de fallas. Otro aspecto
que resulta de interés, es el tiempo necesario que debe transcurrir entre el cálculo del valor
actual x ij y el anterior xij−1 . Este tiempo depende del nivel de descomposición y en la Tabla
3.1 se muestra la información, donde Tm se reere al período de muestreo en la transformada
Wavelet Daub4.
Figura 3.3: Cuatro niveles de descomposición de la transformada Wavelet.

Tabla 3.1: Tiempos de muestreo para cada nivel de descomposición.
Muestras Tm
Nivel 1 2Tm
Nivel 2 4Tm
Nivel 3 8Tm
Nivel n 2n Tm
En la Figura 3.4 se presenta el algoritmo que calcula cada uno de los coecientes x ij a
partir de las muestras de una señal r(t).
Figura 3.4: Algoritmo para el cálculo de la transformada Wavelet de tres niveles.

Capítulo 3 56
El cálculo de los coecientes para cada uno de los niveles de descomposición se realiza
mediante las expresiones siguientes
aim = hi [0]α1 + hi [1]α2 + hi [2]α3 + hi [3]α4 , (3.17)
dim = hi [0]β1 + hi [1]β2 + hi [2]β3 + hi [3]β4 , (3.18)
donde hi es un vector asociado al nivel de descomposición i, en el que se realiza un desplaza-

miento hacia la izquierda para lograr el mismo efecto que el representado en la Figura 3.2. En
el resto del documento, las denominaciones akr(t) (t) y dkr(t) (t) hacen referencia a los coecientes
de tendencia o uctuación de la transformada Wavelet de nivel k de la señal r(t). La idea de
utilizar la variable t es para hacer notar que los coecientes de tendencia o de uctuación
son una función primaria del tiempo continuo.
3.2. Fórmulas recursivas basadas en descriptores estadísticos
La mayoría de los algoritmos de diagnóstico de fallas que se exponen en este trabajo se

basan en la utilización de fórmulas que tienen su origen en descriptores estadísticos, como se
mencionó anteriormente. En especíco, se emplean el valor promedio, la raíz media cuadrática,
la varianza y la curtosis. Cada una de estas variables se dene para un conjunto de datos; no
obstante, para los propósitos del diagnóstico de fallas es deseable que se puedan evaluar en
el menor tiempo posible. El cálculo recursivo y en línea de estas variables permite reducir el
tiempo en la toma de decisiones cuando se realiza la tarea de diagnóstico de fallas.
Para una señal arbitraria r(t) se puede denir la siguiente secuencia en el dominio de
tiempo discreto
x[n] = r(n Tm ), 0 ≤ n ≤ N, (3.19)
donde Tm es el período de muestreo y N es un número natural. Si se considera que existe

un rango limitado de valores de n, entonces la secuencia x[n] se puede interpretar como un
vector estacionario que contiene valores discretos de la señal continua r(t). Para que x[n] se
comporte como un vector no estacionario se puede denir una segunda variable, es decir,
x[n + i] = r((n + i)Tm ), (3.20)
donde el incremento de la variable i permite que la secuencia adquiera nuevos valores de la

señal r(t). En este caso, se puede entender a x[n + i] como un vector no estacionario que se
desplaza hacia la derecha en la medida que la nueva variable i se incrementa. En la Figura 3.5
se representa el movimiento de un vector para cada incremento de i, donde n ∈ {0, 1, 2, 3},
(N = 4) y el conjunto {r1 , r2 , r3 , r4 , r5 , r6 , r7 , r8 } son muestras de la señal r(t). Es importante
notar que el vector correspondiente a i + 1 contiene todos los elementos del vector anterior,
excepto la muestra localizada más a la izquierda en el vector correspondiente a i.
Figura 3.5: Corrimiento del vector de datos.
En las ecuaciones que se obtienen para el cálculo recursivo, no es necesario utilizar todos
los elementos del vector. Por ejemplo, en la Figura 3.5, el cálculo recursivo aplicado al vector
correspondiente a i + 1 requeriría la última muestra que se recibe r5 y la muestra r1 . Por
lo tanto, para la implementación en una plataforma digital, se necesitarían almacenar todos
los datos en un vector de longitud N y ejecutar un proceso de rotación hacia la izquierda, lo
cual generaría retrasos en los cálculos y la implementación no sería viable. Para evitar este
problema, se puede crear un vector de longitud N y almacenar los datos de forma circular,
por lo que las muestras r1 y r5 se encontrarían situadas en la misma posición del vector. En
la Figura 3.6 se ilustra lo descrito anteriormente para un vector de cuatro datos, y se puede
apreciar que una vez que el vector está lleno con la información correspondiente a las muestras
de la señal, la siguiente muestra se guarda de forma circular en la primera posición, donde
precisamente está disponible la muestra que se necesita para el cálculo recursivo. Luego, la
única operación siguiente por hacer, sería extraer el valor contenido en esa posición antes
de guardar la última muestra recibida. Con esta variante propuesta se ahorra tiempo de
procesamiento cuando el número de muestras del vector es grande; además, los cálculos no se
tienen que realizar con todos los elementos del vector.
Capítulo 3 58
Figura 3.6: Almacenamiento circular de los datos que se reciben.
En todas las expresiones que se deducen a continuación para el cálculo recursivo, se consi-
dera un vector no estacionario de longitud N . La terminología utilizada se resume en la Tabla
3.2. Para cualquiera de las expresiones, la representación x[i + 1] se reere al valor actual, y
x[i] a su valor anterior.
Tabla 3.2: Descriptores estadísticos y simbología.
Nomenclatura Descriptor estadístico

µ Valor promedio
RM S Raíz cuadrada de la media aritmética de

los cuadrados de los valores
σ Desviación típica
ξ Esperanza matemática
Ku curtosis
3.2.1. Cálculo recursivo del valor medio
El valor promedio de un vector de N datos se calcula según (3.21) para la iteración i:
N −1 N −1
1 X 1 1 X
µ[i] = x[n + i] = x[i] + x[n + i], (3.21)
N N N
n=0 n=1
y para la iteración i+1 se tiene:
N −1 N N −1
1 X 1 X 1 1 X
µ[i + 1] = x[n + i + 1] = x[n + i] = x[N + i] + x[n + i], (3.22)
N N N N
n=0 n=1 n=1
1 PN −1
despejando
N n=1 x[n + i] en (3.21) y sustituyendo en (3.22) se obtiene
1 1 x[N + i] − x[i]
µ[i + 1] = µ[i] − x[i] + x[N + i] = µ[i] + , (3.23)
N N N
donde se puede vericar que el valor promedio µ[i + 1] depende del valor promedio de la
iteración anterior µ[i], lo que demuestra la propiedad de la recursividad.
3.2.2. Cálculo recursivo del valor RM S

La raíz cuadrada de la media aritmética de los cuadrados de los elementos de un vector
de longitud N se resuelve a partir de la siguiente expresión para la iteración i:
v v
u N −1 u N −1
u1 X u1 1 X 2
RM S[i] = t 2
x [n + i] = t 2
x [i] + x [n + i], (3.24)
N N N
n=0 n=1
y para la iteración i+1 se puede escribir como:
v v
u N −1 u N
u1 X u1 X
RM S[i + 1] = t 2
x [n + i + 1] = t x2 [n + i],
N N
n=0 n=1
v
u
u1 N −1
1 X 2
= t x2 [N + i] + x [n + i], (3.25)
N N
n=1
1 PN −1
resolviendo para
N n=1 x2 [n + i] la ecuación (3.24) y sustituyendo en (3.25) se obtiene una
ecuación para el valor RMS de la iteración actual i+1 que depende del valor RMS de la
iteración anterior i:
r
x2 [N + i] − x2 [i]
RM S[i + 1] = RM S 2 [i] + . (3.26)
N
3.2.2.1. Cálculo recursivo de la varianza

La varianza de un vector de N datos para la iteración i se calcula mediante la expresión:
N −1 N −1
1 X 1 1 X
σ 2 [i] = (x[n + i] − µ[i])2 = (x[i] − µ[i])2 + (x[n + i] − µ[i])2 , (3.27)
N N N
n=0 n=1
Capítulo 3 60
PN −1
despejando n=1 (x[n + i] − µ[i])2 de (3.27) se tiene:
N
X −1
(x[n + i] − µ[i])2 = N σ 2 [i] − (x[i] − µ[i])2 , (3.28)
n=1
Para la iteración i+1 la ecuación (3.27) se puede escribir como:
N −1 N
1 X 2 1 X
2
σ [i + 1] = (x[n + i + 1] − µ[i + 1]) = (x[n + i] − µ[i + 1])2 ,
N N
n=0 n=1
N −1
1 1 X
σ 2 [i + 1] = (x[N + i] − µ[i + 1])2 + (x[n + i] − µ[i + 1])2 . (3.29)
N N
n=1
Sea
N
X −1 N
X −1
z= (x[n + i] − µ[i + 1])2 − (x[n + i] − µ[i])2 , (3.30)
n=1 n=1
entonces
N
X −1 N
X −1
µ2 [i + 1] − µ2 [i] .

z = (2µ[i] − 2µ[i + 1]) x[n + i] + (3.31)
n=1 n=1
Considerando que
l
X
µ2 [i + 1] − µ2 [i] = µ2 [i + 1] − µ2 [i] (l − j + 1),

(3.32)
n=j
N
X −1
x[n + i] = N µ[i + 1] − x[N + i], (3.33)
n=1
entonces la ecuación (3.31) se puede escribir como:
z = −N (µ[i] − µ[i + 1])2 + (µ[i] − µ[i + 1])(µ[i] + µ[i + 1] − 2x[N + i]). (3.34)
Sustituyendo (3.28) en (3.30) se tiene
N
X −1
(x[n + i] − µ[i + 1])2 = z + N σ 2 [i] − (x[i] − µ[i])2 , (3.35)
n=1
y por lo tanto, la ecuación (3.29) adopta la forma
1 1
σ 2 [i + 1] = (x[N + i] − µ[i + 1])2 + z + N σ 2 [i] − (x[i] − µ[i])2 . (3.36)
N N
A partir de la ecuación (3.36) se puede obtener la desviación típica de la iteración actual
i+1 en función de la desviación típica de la iteración anterior i tal y como se representa
en la ecuación (3.37).
r
1 1
σ[i + 1] = (x[N + i] − µ[i + 1])2 + z + N σ 2 [i] − (x[i] − µ[i])2 (3.37)
N N
3.2.3. Fórmula inspirada en la ecuación general de la esperanza matemá-

tica
La esperanza matemática se dene mediante la ecuación (3.38) para la iteración i:
N −1 N −1
1 X 1 1 X
ξ[i] = (x[n + i] − µ[i])4 = (x[i] − µ[i])4 + (x[n + i] − µ[i])4 , (3.38)
N N N
n=0 n=1
PN −1
resolviendo (3.38) para n=1 (x[n + i] − µ[i])4 se tiene
N
X −1
(x[n + i] − µ[i])4 = N ξ[i] − (x[i] − µ[i])4 , (3.39)
n=1
Para la iteración i+1 la esperanza matemática se puede escribir de la siguiente forma:
N −1 N
1 X 1 X
ξ[i + 1] = (x[n + i + 1] − µ[i + 1])4 = (x[n + i] − µ[i + 1])4 , (3.40)
N N
n=0 n=1
N −1
1 4 1 X
= (x[N + i] − µ[i + 1]) + (x[n + i] − µ[i + 1])4 . (3.41)
N N
n=1
Sea
N
X −1 N
X −1
z1 = (x[n + i] − µ[i + 1])4 − (x[n + i] − µ[i])4 , (3.42)
n=1 n=1
entonces
N
X −1 N
X −1
3 2 2
z1 = (4µ[i] − 4µ[i + 1]) x [n + i] + (6µ [i + 1] − 6µ [i]) x2 [n + i]
n=1 n=1
NX−1 N
X −1
+ (4µ3 [i] − 4µ3 [i + 1]) x[n + i] + (µ4 [i + 1] − µ4 [i]). (3.43)
n=1 n=1
Considerando que
N −1 N −1
1 X 3 1 3 1 X 3
A[i] = x [n + i] = x [i] + x [n + i], (3.44)
N N N
n=0 n=1
x3 [N + i] − x3 [i]
A[i + 1] = A[i] + , (3.45)
N
N
X −1
x3 [n + i] = N A[i + 1] − x3 [N + i], (3.46)
n=1
Capítulo 3 62
N
X −1
x2 [n + i] = N RM S[i + 1] − x2 [N + i], (3.47)
n=1
N
X −1
x[n + i] = N µ[i + 1] − x[N + i], (3.48)
n=1
entonces sustituyendo (3.46), (3.47) y (3.48) en (3.43), se tiene
z1 = (4µ[i] − 4µ[i + 1])(N Ai+1 − x3 [N + i]) + (6µ2 [i + 1] − 6µ2 [i])(N RM Si+1 − x2 [N + i]),
+ (4µ3 [i] − 4µ3 [i + 1])(N µ[i + 1] − x[N + i]) + (µ4 [i + 1] − µ4 [i])(N − 1).
(3.49)
La ecuación (3.39) se puede incorporar en (3.42) para obtener
N
X −1
(x[n + i] − µ[i + 1])4 = z1 + N ξ[i] − (x[i] − µ[i])4 (3.50)
n=1
Luego, la fórmula equivalente de la esperanza matemática a través de una ventana desli-

zante para la iteración i+1 se escribe como
1 1
ξ[i + 1] = (x[N + i] − µ[i + 1])4 z1 + (N ξ[i] − (x[i] − µ[i])4 ) (3.51)
N N
En (3.51) se observa que la iteración actual i+1 depende de la iteración anterior i, lo
cual muestra la propiedad de recursividad. Con esta última ecuación se puede obtener una
expresión que permite calcular la curtosis a través de una ventana deslizante:
ξ[i + 1]
Ku = (3.52)
σ 4 [i + 1]
3.3. Algoritmos para el diagnóstico de fallas en los componen-

tes del convertidor
Se considera como falla a una desviación no permitida de al menos una propiedad, ca-
racterística o parámetro de un sistema de su condición aceptable, usual o estándar [51]. En
este trabajo se contemplan las fallas de circuito abierto en los interruptores de potencia de
la topología propuesta (Figura 3.1). Las tareas que involucran el diagnóstico de fallas se pue-
den dividir en dos etapas: la primera se reere al proceso de detección (aquí se determina
la presencia de una falla en el sistema); y la segunda se encarga de localizar el componente
fallando. Como ya se mencionó, la propuesta del esquema de diagnóstico de fallas se sustenta
en la utilización de los mismos sensores que se emplean para el sistema de control, así como en
los descriptores estadísticos presentados en la sección anterior. Los algoritmos propuestos son
diferentes en cada etapa del convertidor fotovoltaico: convertidor CD-CD, enlace de media
frecuencia e inversor.
3.3.1. Algoritmo de diagnóstico de fallas para el inversor
En el inversor de salida del convertidor se analizan fallas individuales y en parejas en los

interruptores de potencia, así como fallas en el circuito de control (ver Tabla 3.3). Para cada
una de estas clasicaciones se consideran aquellas fallas en las que el interruptor queda en
circuito abierto y el diodo se mantiene en operación, y también se estudia el comportamiento
del circuito cuando ambos, interruptor y diodo, quedan abiertos simultáneamente. En las dos
situaciones, el algoritmo a implementar es el mismo, siendo más crítico el caso en el que ambos
dispositivos fallan al mismo tiempo.
Tabla 3.3: Clasicación de las fallas en el inversor.
Nombre de la falla Nomenclatura Grupo de falla

Interruptor S1 abierto FS1 IG1
Interruptores S1 y S2 abiertos FS12 IG1
Interruptores S1 y S3 abiertos momentáneamente Fctrl IG4
Las señales de cada uno de los sensores utilizados para el sistema de control tienen com-
portamientos característicos para cada una de las fallas representadas en la Tabla 3.3. Del
total de fallas que se analizan en el caso del inversor, existen algunas que no se pueden distin-
guir de otras. Por ejemplo, en la Figura 3.7, las señales de los sensores (vpv (t), ipv (t), vcd (t) e
is (t)) presentan el mismo comportamiento para las fallas a) y b), y por lo tanto, no es posible
distinguir una de la otra. En la tercera columna de la Tabla 3.3 se dene el Grupo de falla,
y bajo esta denominación, se agrupan las fallas de acuerdo a comportamientos similares que
pueden experimentar las señales de los sensores. Por ejemplo, fallas del grupo IG1 no pueden
distinguirse entre ellas, pero sí se puede distinguir entre una falla del grupo IG1 de otra del
grupo IG2.
Capítulo 3 64
(a) Falla FS1 (b) Falla FS12
(c) Falla FS3 (d) Falla FS34
(e) Falla FS13 (f ) Falla FS14
Figura 3.7: Fallas de interruptor abierto en el inversor, manteniéndose el diodo en operación.
En la Figura 3.8 se presenta el comportamiento de descriptores estadísticos de algunas

de las señales con las que se pueden implementar los algoritmos para el diagnóstico de fallas
de circuito abierto en el inversor. La terminología xr(t) se reere al descriptor estadístico x
de la señal r(t). Por ejemplo, µa1 (t) hace referencia al valor promedio de los coecientes de
is
tendencia del primer nivel de descomposición de la señal is (t). Uno de los aspectos que se
deben mencionar es que, la señal de los coecientes de tendencia es una versión amplicada
de la señal original, pero con la característica de que no contiene las componentes de alta
frecuencia. De forma general, la señal de tendencia reproduce las bajas frecuencias, mientras
que la señal de uctuación, las de alta frecuencia. El coeciente de tendencia del primer
nivel de descomposición de la transformada Wavelet de la señal is (t) se selecciona para el
diagnóstico de fallas de los grupos IG1 e IG2 , mientras que para las fallas del grupo IG3 se
utiliza el coeciente de tendencia del primer nivel de la señal vcd (t). Esta selección se realiza
para procesar la señal ltrada en lugar de la señal original y con ello eliminar el ruido existente
en las mediciones de los sensores. Para detectar fallas en el sistema de control (grupo IG4 )
se utiliza el tercer nivel de descomposición de la transformada Wavelet, en combinación con
el cálculo recursivo de la curtosis (ecuación (3.52)).
2
-4
7a1i [V]
-10
-16
s
-22
-28
0.22 0.25 0.28 0.31 0.34 0.37
Tiempo [s]
(a) Falla el interruptor S1 (b) Promedio de a1is cuando falla S1
30
23
7a1i [V]
16
s
9
2
-5
0.22 0.25 0.28 0.31 0.34 0.37
Tiempo [s]
(c) Falla el interruptor S3 (d) Promedio de a1is cuando falla S3
1400
1160
7a1v [V]
920
cd
680
440
1.25 1.38 1.51 1.64 1.77 1.9
Tiempo [s]
(e) Fallan los interruptores S1 y S3 (f ) Promedio de a1vcd cuando fallan S1 y S3
Figura 3.8: Comportamiento de las señales en presencia de fallas. a1x (t) representa los coecientes
de tendencia del nivel uno de la señal x y µ a1x (t) su valor promedio.
Capítulo 3 66
3.3.1.1. Algoritmo de diagnóstico de las fallas de los grupos IG1 e IG2

Para detectar las fallas de los grupos IG1 e IG2 se proponen dos soluciones: la primera
se basa en el valor promedio del coeciente de tendencia del nivel uno de la transformada
Wavelet; y la segunda utiliza la propia información contenida en el coeciente de tendencia.
Aunque en este trabajo se selecciona la segunda variante, se explicarán los principios de ambas
soluciones.
El valor promedio del coeciente de tendencia µa1 (t) es positivo cuando ocurre una falla
is
del grupo IG2 , y negativo cuando la falla corresponde al grupo IG1 . En la Figura 3.9 se
muestra el comportamiento de la señal promedio cuando ocurre una falla del grupo IG1 en el
semiciclo negativo de la señal del coeciente de tendencia. Se distinguen dos casos: el primero
se reere a que existe una falla tanto en el diodo como en el interruptor; y el segundo es
cuando sólo el diodo se mantiene en operación.
18 t0 18 t0
6 Ap 6 Ap
-6 An -6 An
a1is [A]
a1is [A]
Ap > An Ap = An
-18 -18
-30 -30
-42 -42
-54 -54
0.225 0.2322 0.2394 0.2466 0.2538 0.261 0.225 0.2322 0.2394 0.2466 0.2538 0.261
1.5 1.5
0.2 0.2
7a1i [A]
7a1i [A]
-1.1 -1.1
-2.4 -2.4
s
t0 t0
-3.7 -3.7
-5 -5
0.225 0.2322 0.2394 0.2466 0.2538 0.261 0.225 0.2322 0.2394 0.2466 0.2538 0.261
(a) (b)
Figura 3.9: Comportamiento del valor promedio cuando ocurre una falla del grupo IG1 .
Considerando el primer caso, cuando la falla ocurre en el instante t0 en la parte negativa

de la señal, el valor promedio no es negativo de forma instantánea (ver Figura 3.9a), es decir,
tiene que transcurrir cierto tiempo para que rebase el umbral a partir del cual se considera la
existencia de la falla. Por otro lado, el tiempo necesario que debe transcurrir para obtener un
resultado válido en el diagnóstico, depende del instante donde ocurre la falla, siendo mucho
mayor cuando la falla sucede al inicio de la semionda negativa.
En relación al segundo caso (Figura 3.9b), el valor promedio no se comporta de la misma
forma, pues como el diodo se mantiene en operación, las áreas tanto positiva como negativa
son iguales, y esto implica que desde el mismo momento en que el valor promedio comienza a
ser negativo, se puede considerar la existencia de la falla en cuestión.
Los niveles de irradiancia que percibe el arreglo de paneles a la entrada del convertidor, son
un factor fundamental en la determinación de los umbrales. De forma general, se puede decir
que para cada nivel de irradiancia se debe seleccionar un umbral diferente, y esto conduce
a la necesidad de realizar varias pruebas experimentales para determinar los umbrales en
cada nivel de irradiancia. En consecuencia, se debe disponer de una capacidad de memoria
considerable para lograr el almacenamiento de toda la información.
Una alternativa a la solución anterior, y que es la que se emplea en este trabajo de
investigación, se basa en el comportamiento de los propios coecientes de tendencia. Cuando
ocurre una falla del grupo IG1 , se experimenta una evolución de los coecientes de tendencia
hacia valores negativos para todos los instantes de tiempo posteriores al que ocurre la falla.
En el caso de las fallas del grupo IG2 los coecientes adoptan valores positivos.
El número total de coecientes de tendencia que se procesan en un ciclo de 60 Hz depende
de la frecuencia de muestreo. Teniendo en cuenta que en un ciclo de red se adquieren 256
muestras de la señal is (t), y que la frecuencia con la que se calculan los coecientes de tendencia
del primer nivel se reduce a la mitad (o bien el período de muestreo aumenta al doble, ver
Tabla 3.1), entonces el total de coecientes a procesar es igual a:
1 fp 1 15360 Hz
Ψ= = = 128, (3.53)
2n fred 2 60 Hz
donde n = 1 es el nivel de descomposición de la transformada Wavelet, Ψ es el total de
coecientes Wavelets en un ciclo de red, fp = 15360 Hz corresponde a la frecuencia de muestreo
y fred = 60 Hz es la frecuencia de un ciclo de red. Se puede deducir entonces que el total de
coecientes en medio ciclo de red es igual a 64.
Un indicador de la presencia de una falla del grupo IG1 se sustenta en el conteo de la
cantidad de coecientes de tendencia que se procesan cada vez que se inicia medio ciclo de
red, es decir, para que se presente una falla, el número total de estos coecientes tiene que ser
mayor a la mitad del total de coecientes de un ciclo de red. En la Figura 3.10a, el sistema
no experimenta ninguna falla del tipo que se están considerando hasta este momento, y por
lo tanto, el número de conteos no excede el valor correspondiente a medio ciclo de red (en
este caso 64). Por cada semiciclo de red, se habilita una variable que distingue el signo de los
coecientes procesados, y se agrega un contador, que al inicio de cada semiciclo tenga valor
cero ( para este propósito el algoritmo debe encargarse de ponerlo en cero en el inicio de cada
semiciclo de red), ver Figura 3.10c. Si se cumplen las condiciones de las expresiones
Ψactual > 74, (3.54)
Σ1 = −1, (3.55)
Capítulo 3 68
donde Ψactual es el total actual de coecientes procesados desde el inicio de cada medio ciclo
de red, y Σ1 es menor que cero cuando se procesan coecientes negativos, entonces, se puede
validar la ocurrencia de una falla del grupo IG1 . Por ejemplo, en la Figura 3.10a no existen
fallas y como resultado, el contador (Ψactual ) se pone a cero cada vez que se inicia un semiciclo
y alcanza un valor máximo de 64 antes de comenzar el siguiente semiciclo tal y como se muestra
en la Figura 3.10c. Por otro lado, se observa que la variable Σ1 es mayor que cero cuando se
procesan coecientes positivos, y menor que cero en el caso de que se procesen coecientes
negativos. En la Figura 3.10b, ocurre una falla del grupo IG1 en el semiciclo negativo, y en
este caso, no se procesan los coecientes positivos en el semiciclo siguiente, por lo que, el
contador no se pone a cero. Cuando el contador excede el umbral preestablecido (ver ecuación
(3.54)), entonces, se valida la presencia de una falla del grupo antes mencionado. El mismo
análisis se puede extender para el caso de las fallas del grupo IG2 .
Nótese que si la falla del tipo IG1 ocurre en el semiciclo positivo, entonces, se tendría que
esperar hasta el siguiente semiciclo positivo para poder validar la presencia de una falla. En
este sentido, es recomendable la utilización de otros dos contadores, uno para los coecientes
positivos y otro para los negativos. En la Figura 3.10g, el contador del semiciclo positivo se
mantiene constante después de la ocurrencia una falla del grupo IG1 , y la información que
es útil en este caso, es la derivada del contador positivo. Se debe tener en cuenta que para
Υpos = 0, el contador del semiciclo positivo (Ψpos ) se mantiene constante
∆Ψpos
Υpos = κ , κ = 2Tp ⇒ Υpos = ∆Ψpos (3.56)
2Tp
∆Ψneg
Υneg =κ , κ = 2Tp ⇒ Υneg = ∆Ψneg (3.57)
2Tp
donde Υpos es la derivada del contador positivo y Υneg la derivada del contador negativo.
En la Figura 3.10h, la falla ocurre al nalizar el semiciclo positivo, y por ello, no se valida
la existencia de la falla hasta el siguiente semiciclo. Con esta segunda variante, se amplia el
rango de operación del algoritmo y no se utiliza un umbral especíco para los distintos niveles
de irradiancia. Este análisis es factible para las fallas de los grupos IG1 e IG2 y también se
pueden incluir fallas simultáneas del interruptor y del diodo. En la Figura 3.11, se presenta
el algoritmo propuesto en forma de diagrama de ujo.
15 15
10 2
5
a1is [A]
a1is [A]
-11
0 -24 -No se procesa a1is > 0
-5 -37 -No se pone a cero *actual
-10
-15 -50
0.215 0.222 0.229 0.236 0.243 0.25 0.215 0.222 0.229 0.236 0.243 0.25
(a) Coeciente de tendencia sin falla (b) Coeciente de tendencia con falla
85 *actual < 64
*actual 130 *actual > 74
*actual ; '1
63 104
*actual
41 '1
78
19 52
-3 26
-25 0
0.215 0.222 0.229 0.236 0.243 0.25 0.215 0.222 0.229 0.236 0.243 0.25
(c) Contador Ψactual sin falla (d) Contador Ψactual con falla
15 15
2 2
a1is [A]
a1is [A]
-11 -11
-24 -24
-37 -37
-50 -50
0.215 0.222 0.229 0.236 0.243 0.25 0.215 0.222 0.229 0.236 0.243 0.25
(e) Falla al inicio del semiciclo (f ) Falla al nal del semiciclo
25 60 *pos = 61
20 48 (pos = 0
*pos
*pos
15 *pos = 23 36
10 (pos = 0 24
5 12
0 0
0.215 0.222 0.229 0.236 0.243 0.25 0.215 0.222 0.229 0.236 0.243 0.25
(g) Contador Ψpos con falla al inicio del semiciclo (h) Contador Ψpos con falla al nal del semiciclo
Figura 3.10: Coecientes de tendencia que se procesan cuando ocurren fallas del grupo IG1 .
Capítulo 3 70
Figura 3.11: Algoritmo de diagnóstico de fallas de los grupos IG1 e IG2 .

3.3.1.2. Algoritmo de diagnóstico de las fallas del grupo IG3

Las fallas del grupo IG3 se diagnostican a partir del promedio de los coecientes de
tendencia de la transformada Wavelet del primer nivel de la señal vcd (t). Cuando ocurren
fallas de este grupo, la corriente icd (t) se hace cero, por lo que se puede plantear el balance
de potencias en el bus de CD de la siguiente manera
dvcd (t)
Ppv = Pc = Ccd vcd (t), (3.58)
q dt
vcd (t) = 2Ppv t − 2Ppv t0 + vcd2 (t ), (3.59)
0
donde t0 representa el instante donde ocurre la falla, Ppv es la potencia promedio en los
terminales del arreglo de paneles y Pc es la potencia en el condensador Ccd .
Mediante la ecuación (3.59) se puede justicar el aumento de la tensión del bus de CD
cuando ocurre una falla del grupo IG3 (Figura 3.7e). La variación de la irradiancia de un valor
menor a otro mayor, es otra de las causas que justican el aumento momentáneo de la tensión
del bus de CD, y podría traer como consecuencia la operación incorrecta del algoritmo de
diagnóstico. La potencia instantánea (ppv (t)) en las terminales del panel se dene mediante la
ecuación (3.60), y su valor promedio es aproximadamente igual antes y después del instante
en el que aparece la falla. Los incrementos de los niveles de irradiancia provocan un aumento
progresivo de la potencia promedio. Estos comportamientos son indicadores que permiten
distinguir una falla de un cambio de irradiancia.
ppv (t) = vpv (t)ipv (t) (3.60)
El algoritmo de diagnóstico representado en la Figura 3.12, se basa en determinar la derivada

del promedio de los coecientes de tendencia. Cuando este valor sea positivo y mayor que un
umbral denido, se habilita un contador (Ψvcd ) para los coecientes de tendencia, de forma
1
tal que si la pendiente se mantiene por encima de dicho umbral después de procesar tres
coecientes de tendencia y la derivada de la potencia promedio es aproximadamente igual a
cero, entonces se valida la existencia de una falla del grupo IG3 . La derivada del promedio de
los coecientes de tendencia del primer nivel de la señal vcd (t) y la derivada del valor promedio
de la potencia instantánea se denen mediante las expresiones siguientes
∆µa1v
cd
Υvcd = κvcd = 120∆µa1v , (3.61)
2Tp cd
∆Ppv
Υppv = κppv = 120∆Ppv , (3.62)
Tp
donde Υvcd y Υppv son las derivadas del promedio de los coecientes de tendencia (av
1 ) y del
cd
promedio de la potencia instantánea (Ppv ), y κvcd , κppv son factores necesarios para lograr que
las derivadas adopten la forma Υvcd = 120∆µvcd y Υppv = 120∆Ppv respectivamente.
En la Figura 3.13 se presenta el algoritmo para obtener la derivada de la potencia promedio,
y en ella los contadores Ψpv1 y Ψpv2 se utilizan para validar que la pendiente (positiva o
negativa) de la potencia promedio sea mayor que un umbral denido.
Capítulo 3 72
Figura 3.12: Algoritmo para el diagnóstico de las fallas del grupo IG3 .
Figura 3.13: Algoritmo para el cálculo de la potencia promedio del arreglo de paneles.
3.3.1.3. Algoritmo de diagnóstico de las fallas del grupo IG4

Estas fallas se pueden manifestar cuando por alguna causa, la señal de control no llega
hasta los interruptores, o bien cuando por breves períodos de tiempo la señal proveniente del
sensor de la corriente is (t) no es retroalimentada al sistema de control. En ambos casos el
desempeño no se deteriora, y la potencia se puede transferir a la red eléctrica.
En la Figura 3.14 se muestra el comportamiento de la señal de corriente cuando sucede este
fenómeno, para dos niveles de irradiancia, así como la curtosis del coeciente de uctuación
de la transformada Wavelet de tercer nivel. Para los niveles de irradiancia mostrados en la
gráca, la falla puede detectarse con el mismo umbral. Sin embargo, es importante aclarar
que el proceso de diagnóstico se diculta cuando los niveles de irradiancia están por debajo
de los 100 W/m2 , o bien, cuando la falla ocurre cerca de los cruces por cero. El algoritmo de
diagnóstico se basa en la comparación de la curtosis con el umbral establecido, y se utiliza un
contador (Ψku ) para validar la falla. El algoritmo propuesto se muestra en la Figura 3.15.
2 20
1 12
is [A]
is [A]
4
0
-4
-1 -12
-2 -20
0.75 0.77 0.79 0.81 0.83 0.75 0.77 0.79 0.81 0.83
30 umbral = 5 30 umbral = 5
25 25
20 20
ku
ku
15 15
10 10
5 5
0 0
0.75 0.77 0.79 0.81 0.83 0.75 0.77 0.79 0.81 0.83
(a) (b)
Figura 3.14: Fallas del grupo IG4 . a) Irradiancia igual a 100 W/m2 . b) Irradiancia igual a 1000
2
W/m .
Capítulo 3 74
Figura 3.15: Algoritmo de diagnóstico de fallas del grupo IG4 .
3.3.2. Algoritmo de diagnóstico de fallas para el enlace de media frecuencia
En el enlace de media frecuencia (ver Figura 3.1) se diagnostican fallas de circuito abierto
en los interruptores de potencia y en los diodos del puente recticador. Las fallas se agrupan
de acuerdo al comportamiento de las señales de los sensores para cada uno de los escenarios.
En las Figuras 3.16 y 3.17 se presentan algunas combinaciones de fallas de circuito abierto que
se evalúan. En la Tabla 3.4 se resumen los grupos de fallas que se consideran en este análisis.
Tabla 3.4: Clasicación de las fallas en el enlace de media frecuencia.
Nombre de la falla Nomenclatura Grupo de falla

Interruptor Sa abierto FSa M F1
Interruptor Sb abierto FSb M F2
Interruptor Sc abierto FSc M F2
Interruptor Sd abierto FSd M F1
Diodo Df abierto FDf M F1
Diodo Dg abierto FDg M F2
Diodo Dh abierto FDh M F2
Diodo Di abierto FDi M F1
Interruptores Sa y Sd abiertos FSad M F1
Interruptores Sb y Sc abiertos FSbc M F2
Interruptores Sa y Sb abiertos FSab M F3
Interruptores Sa y Sc abiertos FSac M F3
Interruptores Sc y Sd abiertos FScd M F3
Interruptores Sb y Sd abiertos FSbd M F3
Diodos Df y Di abiertos FDf i M F1
Diodos Dg y Dh abiertos FDgh M F2
Diodos Df y Dg abiertos FDf g M F3
Diodos Df y Dh abiertos FDf h M F3
Diodos Dh y Di abiertos FDhi M F3
Diodos Dg y Di abiertos FDgi M F3
Las fallas en los interruptores de potencia pueden estudiarse considerando que el diodo
en antiparalelo se mantiene en operación, o bien se puede omitir. La técnica de diagnóstico
propuesta contempla ambos casos.
Capítulo 3 76
(a) Falla FSa (b) Falla FSad
(c) Falla FSb (d) Falla FSbc
(e) Falla FSab (f ) Falla FSac
(g) Falla FScd (h) Falla FSbd
Figura 3.16: Fallas en el puente de interruptores del enlace de media frecuencia.

(a) Falla FDf (b) Falla FDf i
(c) Falla FDg (d) Falla FDgh
(e) Falla FDf g (f ) Falla FDf h
(g) Falla FDhi (h) Falla FDgi
Figura 3.17: Fallas en el puente de diodos del enlace de media frecuencia.

Capítulo 3 78
3.3.2.1. Algoritmo de diagnóstico de las fallas de los grupos M F1 y M F2

La técnica de diagnóstico que se propone se basa en el estudio de la señal promedio de
los coecientes de uctuación del tercer nivel de la transformada Wavelet de la tensión del
bus de CD, vcd (t). Es importante señalar que los niveles de irradiancia afectan el desempeño
del algoritmo, por lo cual se necesita una tabla que relacione los umbrales obtenidos para
el valor promedio del coeciente de uctuación del tercer nivel con los distintos niveles de
irradiancia (ver Tabla 3.5). El umbral se calcula a partir de los datos de la Tabla 3.5, y
para este propósito se selecciona un valor de los que están en la columna derecha y que
corresponda al valor promedio de ppv (t) = vpv (t)ipv (t) y vpv (t). En la mayoría de los casos se
requiere realizar una interpolación lineal.
Tabla 3.5: Valores promedio para distintos niveles de irradiancia de los coecientes de uctuación de
la transformada Wavelet de tercer nivel de la señal vcd (t).
Irradiancia (W/m2 ) Umbral

200 895.507 10−6
400 1915.890 10−6
600 2394.891 10−6
800 4833.359 10−6
1000 4866.550 10−6
#10!3 #10!3
2
5 M F1
0
7d3v [mV]
7d3v [mV]
4 N ormal
-2 3
cd
cd
-4 M F1 2
N ormal 1
-6
0
1.35 1.4 1.45 1.5 1.55 1.6 1.35 1.4 1.45 1.5 1.55 1.6
(a) Falla del grupo M F1 para 100 W/m 2
(b) Falla del grupo M F2 para 100 W/m 2
0.02
0.05 M F1
7d3v [mV]
7d3v [mV]
0 0.04 N ormal
-0.02 0.03
M F1
cd
cd
-0.04 0.02
N ormal 0.01
-0.06 0
1.35 1.4 1.45 1.5 1.55 1.6 1.35 1.4 1.45 1.5 1.55 1.6
(c) Falla del grupo M F1 para 1000 W/m2 (d) Falla del grupo M F2 para 1000 W/m2
Figura 3.18: Señales para el diagnóstico del grupo de fallas M F1 y M F2 .
En la Figura 3.18 se presenta el comportamiento del valor promedio de los coecientes de

tendencia de la transformada Wavelet de tercer nivel (µd3 (t) ) para fallas del grupo M F1 y
v cd
M F2 en dos niveles de irradiancia diferentes. El valor promedio de las fallas del grupo M F1
es menor que cero independientemente del nivel de irradiancia que se analice, mientras que
para las fallas del grupo M F2 el valor promedio es positivo. Además, se debe señalar que el
umbral depende del nivel de irradiancia en el que esté operando el sistema.
El diagrama de ujo del algoritmo de diagnóstico de los grupos de fallas que se analizan
en esta sección se presenta en la Figura 3.19. Se debe destacar que la presencia de la falla
se valida mediante la utilización de un contador (ΨM F ), con el cual se pueden evaluar la
cantidad de ciclos necesarios que deben transcurrir para considerar la existencia de la falla.
Este método de diagnóstico es sensible a la variación de los parámetros del circuito, por lo
que su desempeño se puede mejorar con la utilización de algún algoritmo adicional que sea
capaz de adquirir los umbrales necesarios de forma automática. Este último aspecto, no se
contempla en esta investigación.
Figura 3.19: Algoritmo para el diagnóstico de los grupos de fallas M F1 y M F2 .

Capítulo 3 80
Figura 3.20: Algoritmo de diagnóstico de fallas de los grupos IG3 y M F3 .

3.3.2.2. Algoritmo de diagnóstico de las fallas del grupo M F3
Cuando se experimentan fallas del grupo M F3 , se deja de transferir la energía hacia el bus
de CD, por lo tanto, el condensador Ccd se descarga. Toda la potencia que se extrae del arreglo
de paneles la tiene que asumir el condensador Co , y como resultado, la tensión vo (t) aumenta
su valor progresivamente, siendo esto una condición de falla destructiva, y debe detectarse
tan pronto como sea posible. Para el algoritmo de diagnóstico se propone el valor promedio
de los coecientes de tendencia de la transformada Wavelet del primer nivel de la señal vcd (t),
y el esquema utilizado es una extensión del que se presenta en la Figura 3.13 para el inversor
de salida. La diferencia fundamental entre las dos variantes es que en este caso se necesita
evaluar cuanto tiempo el valor promedio de los coecientes exhibe una pendiente negativa.
En la Figura 3.20 se generaliza el algoritmo presentado anteriormente, y por consiguiente,

se señala que con los coecientes de tendencia del primer nivel de descomposición de la señal
vcd (t), se pueden diagnosticar fallas de los grupos IG3 y M F3 .
3.3.3. Algoritmo de diagnóstico de fallas en el convertidor CD-CD
Las fallas que se proponen para el análisis en el convertidor CD-CD son de circuito abierto
en el interruptor de potencia, ver Figura 3.21. Se consideran dos casos: el primero es cuando
dejan de operar tanto el interruptor como el diodo; y el segundo ocurre cuando el interruptor
falla pero el diodo se mantiene en operación. En cualquiera de los casos, el algoritmo imple-
mentado es el mismo. Es necesario destacar que la señal de corriente del panel fotovoltaico se
hace cero cuando ocurre la falla (en consecuencia los coecientes de tendencia de la transfor-
mada Wavelet del primer nivel de descomposición también), tal como se observa en la Figura
3.22, y por lo tanto no se extrae potencia del panel fotovoltaico para instantes posteriores.
Este hecho provoca una disminución de la tensión vcd (t), y es un aspecto a considerar cuando
se ejecuta el algoritmo de diagnóstico de fallas del grupo M F3 .
El algoritmo que se propone para el diagnóstico de fallas de circuito abierto en el con-
vertidor CD-CD, se basa en la derivada de los coecientes de tendencia del primer nivel de
descomposición de la transformada Wavelet de la señal ipv (t) y su diagrama de ujo se pre-
senta en la Figura 3.23. La derivada de estos coecientes se hace negativa cuando ocurre la
falla, y el signo de la derivada se mantiene constante hasta el momento en el que los coe-
cientes se hacen cero. En este sentido, se recomienda utilizar un contador (Ψipv ) que evalúe
la cantidad de tiempo en el que la derivada es negativa, y con ello, se puede emitir un criterio
de la ocurrencia de la falla. Con este n es importante contar la cantidad de coecientes de
tendencia de la señal ipv (t) que se procesan en cada ciclo de red. La derivada de los coecientes
de tendencia se dene como
∆a1ipv
Υipv = κipv = 120∆a1ipv , (3.63)
2Tp
donde Υipv es la derivada de los coecientes de tendencia, a1ipv son los coecientes de tendencia
y κipv es una constante necesaria para lograr que la derivada adopte la forma Υa1 = 120∆a1ipv .
ipv
Capítulo 3 82
Figura 3.21: Falla de circuito abierto en el interruptor del convertidor CD-CD.
8 12
10
6 8
a1ipv [A]
ipv [A]
4 6
4
2 2
0
0 -2
1.35 1.364 1.378 1.392 1.406 1.42 1.35 1.364 1.378 1.392 1.406 1.42
(a) (b)
Figura 3.22: Comportamiento de los coecientes de tendencia cuando ocurre una falla de circuito
abierto en el interruptor del convertidor CD-CD. a) Corriente ipv (t) cuando ocurre una falla de circuito
abierto. b) Coecientes de tendencia a1ipv (t) de la corriente ipv (t).
Figura 3.23: Algoritmo de diagnóstico de fallas en el convertidor CD-CD.

Figura 3.24: Algoritmo de diagnóstico de fallas general.

Capítulo 3 84
3.3.4. Algoritmo de diagnóstico de fallas general para la topología pro-

puesta
El esquema general del algoritmo de diagnóstico de fallas es una combinación de los al-
goritmos desarrollados anteriormente y en esta propuesta se considera el impacto que tienen
las fallas de los distintos componentes en cada uno de los algoritmos individuales (Figura
3.24). El caso más crítico en este sentido, son las fallas del grupo M F3 . Cuando los niveles de
irradiancia cambian abruptamente de un nivel alto a un nivel más bajo, la señal de tensión
vcd (t) disminuye su valor, y este comportamiento enmascara las fallas de este grupo.
Otro aspecto a considerar es que las fallas de los grupos M F1 y M F2 , son susceptibles a
los cambios en los niveles de irradiancia y a la variación de los parámetros del circuito. Sin
embargo, la existencia de una falla de los grupos M F1 y M F2 no inhabilita la operación del
sistema, y por lo tanto, no es necesario un diagnóstico rápido de este tipo de fallas.
Las fallas en el sistema de control estudiadas para el inversor no impiden que se pueda
transferir la energía a la red, siempre que se maniesten en cortos períodos de tiempo. Es
importante señalar que cuando las fallas de este tipo ocurren cerca de los cruces por cero de
la señal de corriente, el algoritmo propuesto no es capaz de percibir la existencia de éstas.
En la Tabla 3.6 se muestran las fallas que se pueden diagnosticar con el método general
propuesto. El algoritmo 1 se utiliza para diagnosticar fallas de circuito abierto en los interrup-
tores de potencia del inversor de salida. Se observa que una falla en la pareja de interruptores
S1 y S2 se puede distinguir de una falla que pueda ocurrir en los interruptores S3 y S4 . Con
el algoritmo 1 no se consiguen localizar fallas individuales de los interruptores. Esto signica
que si ocurre una falla en el interruptor S1 , se obtendría el mismo comportamiento que en el
caso de que fallara de forma individual el interruptor S2 , o bien la pareja de interruptores S1
y S2 , y por lo tanto no se podría lograr una identicación sobre cuál de los interruptores es
el que provoca la falla. La operación de este algoritmo es posible en una amplio rango de los
niveles de irradiancia (entre 50 - 1000 W/m2 ), y para este propósito no se necesita emplear
un umbral distinto para cada uno.
El algoritmo 2 es capaz de detectar la existencia de fallas de circuito abierto en las parejas

de interruptores siguientes: S1 - S3 , S1 - S4 , S3 - S2 y S4 - S2 . Aunque este algoritmo no
permite denir cuál de estas parejas de interruptores es la causa de la falla, se debe señalar
que su operación es satisfactoria para niveles de irradiancia por encima de los 100 W/m2 .
El algoritmo 3 contempla fallas momentáneas en los interruptores S1 - S3 , S3 - S4 del
inversor de salida, o bien en el sensor de la corriente is (t). En cualquiera de estas variantes es
posible detectar la existencia de este tipo de fallas para niveles de irradiancia por encima de los
100 W/m2 ; sin embargo, no se puede identicar cuál de estos interruptores individualmente
es la causa de la falla.
Los algoritmos 4 y 5 se proponen para el diagnóstico de fallas de circuito abierto en los

interruptores del enlace de media frecuencia. En el caso del algoritmo 4, aunque las fallas en
Sa , Sd , Df y Di se pueden distinguir de las fallas en Sb , Sc , Dg y Dh , no es posible determinar
por ejemplo, si la falla se debe al interruptor Sa o bien a Sd . Para este algoritmo se necesita
almacenar distintos umbrales para cada nivel de irradiancia, siendo además susceptible a la
variación de los parámetros del circuito.

Con el algoritmo 5 se pueden detectar fallas del enlace de media frecuencia en las parejas
de interruptores siguientes: Sa - Sb , Sa - Sc , Sb - Sd , Sc - Sd y en las parejas de diodos: Df -
Dg , Df - Dh , Dg - Di y Dh - Di ; sin embargo, no es posible determinar cuál de estas parejas de
interruptores o diodos es la causa de la falla. Con este algoritmo no es necesaria la utilización
de varios umbrales para el diagnóstico de los distintos escenarios de fallas.
El algoritmo 6 permite diagnosticar fallas de circuito abierto en el interruptor de potencia
del convertidor CD-CD. Con este algoritmo se utiliza un único umbral para todo el rango de
irradiancias.
Tabla 3.6: Fallas que se pueden diagnosticar con el algoritmo propuesto.
Fallas que se
Sección del
Algoritmo pueden diagnosticar
convertidor
con cada algoritmo
Algoritmo 1 FS12
Inversor de salida
Figura 3.11 FS34
FS13
Algoritmo 2 FS42
Inversor de salida
Figura 3.13 FS32
FS14
Algoritmo 3 FS13
Inversor de salida
Figura 3.15 FS42
FSad
Enlace de media Algoritmo 4 FSbc
Frecuencia Figura 3.19 FDf i
FDgh
FSab , FSac
Enlace de media Algoritmo 5 FScd , FSbd
frecuencia Figura 3.20 FDf g , FDf h
FDhi , FDgi
Falla en el
Convertidor Algoritmo 6 interruptor
cd-cd Figura 3.23 del convertidor
cd-cd
Capítulo 3 86
87
Capı́tulo 4
Resultados
En este capítulo se evalúan los algoritmos de diagnóstico de fallas propuestos para distintos
niveles de irradiancia, en cada uno de los escenarios de fallas para los cuales fueron conside-
rados. Los análisis contemplan varios grupos de fallas, que se distinguen unos de otros por el
comportamiento de las señales. La mayoría de los trabajos que se han reportado en la litera-
tura solamente consideran una irradiancia de operación; sin embargo, en esta investigación se
contempla todo el rango de operación del sistema fotovoltaico.
Con la inductancia de enlace Ls se garantiza cumplir con los requerimientos impuestos

por la norma IEEE 519-2014, que especica un nivel de THD menor al 5 % para la corriente
en el lado de alterna del inversor. El estándar IEEE 1547-2003 establece que si la magnitud
de los armónicos generados por el sistema de generación distribuida superan determinados
valores, entonces se debe desconectar de la red eléctrica.
Los distintos escenarios de fallas estudiados en el capítulo anterior provocan que se generen
armónicos no deseados y por lo tanto es deseable que las fallas puedan ser diagnosticadas en el
menor tiempo posible. Además, es necesario evitar la propagación de la falla y la destrucción
del sistema de generación en algunos casos, como por ejemplo, cuando ocurren fallas de circuito
abierto en los interruptores del inversor de salida.
4.1. Armónicos de corriente en operación normal
Con el valor de inductancia de enlace seleccionado Ls = 12.2 mH, el aporte de los ar-
mónicos de orden superior (fn > 19.5 kHz) a la distorsión armónica total es despreciable.
Uno de los aspectos que se deben considerar es que la THD es función de la potencia que
se extrae del arreglo fotovoltaico, y en sentido general se puede armar que mientras menos
potencia se transera hacia la red, la THD de la corriente is (t) aumenta. El ajuste del ancho
de banda del controlador de la tensión vcd (t) es otro elemento a considerar cuando se estudia
el contenido de armónicos de la corriente, y es importante que éste sea 10 veces menor que el
armónico de segundo orden con respecto a la fundamental. Los niveles de distorsión armónica
de la corriente is en el lado de alterna del inversor para dos niveles de irradiancia (500 W/m2
Capítulo 4 88
y 1000 W/m2 ) se muestran en la Figura 4.1, y en ambos casos la THD está por debajo del
valor establecido en la norma. La componente de corriente directa tiene que ser menor que el
0.5 % de la componente fundamental, y la magnitud de cada armónico individual inferior al
4 %. El comportamiento de la THD en función de la irradiancia se presenta en la Figura 4.2,
y en ella se puede observar que a mayor irradiancia menor THD, y viceversa.
5 10
3 6
is [A]
is [A]
1 2
-1 THD = 2:35% -2 THD = 2:08%
-3 -6
-5 -10
0.7834 0.7974 0.8114 0.8254 0.7835 0.7919 0.8003 0.8086 0.8170 0.8254
5 10
Ip60Hz = 10:2
4 Ip60Hz = 4:87 8
Ipn [A]
Ipn [A]
3 Ip0 = 0:0053 ! 0:11% de Ip60Hz 6 Ip0 = 0:018 ! 0:176% de Ip60Hz
2 4
Ip180Hz = 0:097 ! 1:99% de Ip60Hz Ip180Hz = 0:203 ! 1:99% de Ip60Hz
1 2
0 0
0 60 120 180 240 300 360 420 480 0 60 120 180 240 300 360 420 480
(a) (b)
Figura 4.1: Contenido armónico de is (t) considerando dos niveles de irradiancia y un ancho de banda
del controlador de tensión de 12 Hz. a) Irradiancia de 500 W/m2 . b) Irradiancia de 1000 W/m2 .
8 7.83
Nivel aceptable (5 %)
6
THD [%]
4
3.68
2
2.31 2.12 2.08 2.03
0
0 100 200 300 400 500 600 700 800 900 1000
Irradiancia [W=m2 ]
Figura 4.2: Comportamiento de la THD de la corriente is para diferentes niveles de irradiancia.
4.2. Relación entre el ancho de banda del controlador de la

tensión del bus de CD y los armónicos de corriente en el
inversor
La rapidez del sistema de control de la tensión vcd (t) depende del ancho de banda de su
controlador; mientras mayor sea este parámetro, más rápido será el sistema de control. En la
Figura 4.3 se muestra la regulación de la tensión del bus de CD para dos controladores con
Resultados 89
anchos de banda diferentes. Cuando se realiza un cambio de 1000 W a 0 W en la potencia

que se extrae de los paneles en el instante t = 0.95 s, la tensión del bus de CD se regula
a 250 V luego de 50 ms para el controlador con ancho de banda de 24 Hz, a diferencia de
los 100 ms que se obtienen cuando el ancho de banda es de 12 Hz. Además, se observa que
la corriente en el lado de alterna del inversor se iguala a cero cuando la potencia extraída
toma ese mismo valor. No obstante, a pesar de obtener un menor tiempo de respuesta con
el de ancho de banda de 24 Hz, no se logran cumplir los requerimientos del estándar IEEE
1547-2003, el cual exige una distorsión armónica de la corriente (en este caso is ) menor al
5 %. En la Figura 4.4 se muestra el contenido armónico de is para el controlador con ancho
de banda de 24 Hz y claramente se visualiza que la THD de la corriente está por encima del
5 % para los dos niveles de irradiancia de 500 W/m2 y 1000 W/m2 .
En otros trabajos de investigación se reportan tiempos de respuesta de alrededor de 100 ms
[74], [75], [77], [78]; sin embargo, se necesitan emplear controladores un poco más elaborados,
o bien la utilización de estimadores de la tensión del bus de CD.
1000 1000
800 800
Ppv [W]
600 Ppv [W] 600

400 400
200 200
0 0
0.75 0.85 0.95 1.05 1.15 0.75 0.85 0.95 1.05 1.15
270 50 ms 300
280
260 100 ms
vcd [V]
vcd [V]
260
250
240
240
220
230 200
0.75 0.85 0.95 1.05 1.15 0.75 0.85 0.95 1.05 1.15
15 15
9 9
is [A]
is [A]
3 3
-3 -3
-9 -9
-15 -15
0.75 0.85 0.95 1.05 1.15 0.75 0.85 0.95 1.05 1.15
(a) (b)
Figura 4.3: Regulación de la tensión del bus de CD para dos niveles de irradiancia diferentes. a)
Ancho de banda igual a 24 Hz. b) Ancho de banda igual a 12 Hz.
Capítulo 4 90
5 10
3 6
is [A]
is [A]
1 2
-1 THD = 6:013% -2 THD = 5:826%
-3 -6
-5 -10
0.1 0.11 0.12 0.13 0.14 0.15 0.1 0.11 0.12 0.13 0.14 0.15
5 10
Ip60Hz = 10:1
4 Ip60Hz = 4:81 8
Ipn [A]
Ipn [A]
3 Ip0 = 0:0077 ! 0:161% de Ip60Hz 6 Ip0 = 0:019 ! 0:187% de Ip60Hz
2 4
Ip180Hz = 0:283 ! 5:833% de Ip60Hz Ip180Hz = 0:585 ! 5:792% de Ip60Hz
1 2
0 0
0 60 120 180 240 300 360 420 480 0 60 120 180 240 300 360 420 480
(a) (b)
Figura 4.4: Armónicos de la corriente is (t) para un ancho de banda igual a 24 Hz. a) Irradiancia
igual a 500 W/m2 . b) Irradiancia igual a 1000 W/m2 .
4.3. Diagnóstico de fallas en el inversor
4.3.1. Fallas de los grupos IG1 e IG2

El tiempo necesario para la detección y localización de las fallas de circuito abierto de
los grupos IG1 e IG2 varía en función del ángulo eléctrico donde ocurre la falla dentro de
un semiciclo de red. En el diagnóstico de fallas de circuito abierto en los interruptores del
inversor de salida se emplean dos algoritmos. El primero se basa en el número de coecientes
de tendencia que se evalúan a partir de la señal is (t) en la mitad del período de un ciclo de red,
y el segundo utiliza la derivada de los contadores de los coecientes de tendencia de la misma
señal, donde uno de los contadores se incrementa cuando se procesan coecientes de tendencia
positivos, y el otro cuando son negativos. En la Figura 4.5a se observa el comportamiento de
las señales is (t) y a1is (t) S1 (ver
cuando ocurre una falla de circuito abierto en el interruptor
2
Figura 3.1) al inicio del semiciclo positivo para un nivel de irradiancia de 100 W/m . En esta
gura se observa el funcionamiento del algoritmo número dos, siendo capaz de realizar la tarea
de diagnóstico en 2.8 ms. Υpos
La detección de la falla en este caso ocurre cuando la derivada
del contador de coecientes positivos Ψpos de la señal a
1
is (t) es igual a cero, y como segundo
requisito se debe cumplir que Ψpos < 50 . Estas dos condiciones provocan que el contador Ψd4
se incremente, y si su valor es igual al umbral preestablecido, es decir umbral3 = 20, entonces
se valida la existencia de la falla. El contador Ψactual se hace cero alrededor de los cruces por
cero de la señal is (t), y solamente sobrepasa el umbral preestablecido (umbral1 = 74) cuando
se dejan de procesar los coecientes de tendencia positivos, lo cual también es un indicador
de falla; sin embargo, se debe notar que el algoritmo dos actúa más rápido debido a que es
más apropiado cuando la falla ocurre al inicio del semiciclo.
En la Figura 4.5b la falla de circuito abierto en el interruptor S1 ocurre al nalizar el

Resultados 91
semiciclo positivo de la corriente is , es decir en el instante t0 . A diferencia del caso anterior, la

falla se detecta cuando el contador Ψactual > umbral1 = 74 (instante t1 ). Nótese que aunque la
derivada Υpos se hace cero, el contador Ψd4 no se incrementa debido a que Ψpos > umbral2 =
50, y por lo tanto no se cumplen las dos condiciones para la ejecución del algoritmo dos.
Cuando la falla de circuito abierto del interruptor S1 ocurre en el semiciclo negativo de
la señal is (t), ya sea al inicio o al nal, tal y como se presenta en las Figuras 4.6a y 4.6b,
el inversor mantiene su operación normal mediante los interruptores S3 y S4 hasta que llega
el semiciclo positivo. Como la derivada Υneg es cero pero Ψneg > umbral2 = 50, el contador
Ψd5 no se incrementa y el diagnóstico se realiza con el algoritmo uno cuando el contador
Ψactual > 74.
En las Figuras 4.7 y 4.8 se presenta el comportamiento de las señales cuando ocurre una
S3 en el semiciclo positivo, para un nivel de irradiancia
falla de circuito abierto en el interruptor
de 100 W/m2 . En la Figura 4.7 el análisis es similar a cuando se abre S1 en el semiciclo negativo
de la señal is (t) y las fallas son detectadas por el algoritmo uno. Para el caso de la Figura
4.8a, se cumplen las dos condiciones: la derivada Υneg es cero y Ψneg < umbral2 = 50, por
lo tanto el contador Ψd5 se incrementa y el diagnóstico se ejecuta mediante el algoritmo dos.
En la Figura 4.8b la derivada Υneg es cero pero Ψneg > umbral2 = 50 y el algoritmo uno es
el que actúa.
El tiempo máximo para el diagnóstico no supera un ciclo de red, y esto es una consecuencia
del cálculo de los coecientes de tendencia en la misma medida que se van adquiriendo las
muestras. En las Figuras de 4.9 a la 4.12 se evalúa el desempeño del algoritmo para la máxima
irradiancia en las mismas condiciones que en el caso de irradiancia igual 100 W/m2 . En todas
las simulaciones presentadas se utilizan los mismos umbrales para todo el rango de irradiancias.
Para facilitar la interpretación de las guras de este capítulo, se denen las siguientes funciones
que se muestran en las ilustraciones de la parte superior:
( (
1 Si no hay falla 1 Cuando se diagnostica la falla
γ(t) = ν(t) = (4.1)
0 Cuando hay falla 0 Cuando no se diagnostica la falla
Capítulo 4 92
1.5 2:8 ms 1.5 12:2 ms

0.7 0.7
-0.1 -0.1
is [A]
is [A]
-0.9 is -0.9 is
-1.7 . -1.7 .
t0 t1
-2.5 8 -2.5 8
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
3 2
1
1 0
a1is (t)
a1is (t)
-1
-1
-2 t0 t1
-3 -3
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
120 *actual 120 *actual *actual > 74

96 umbral1 = 74 96 umbral1 = 74
*actual
72 *actual 72
48 48 t0
t1
24 24
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
54 70 *pos > 50 *pos

45 56
*pos , *neg
*pos , *neg
*pos *neg
36 42
*neg t0 umbral2 = 50
27
18 umbral2 = 50 28
9 14 t1
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
2 (pos 2 (pos
(pos , (neg
(pos , (neg
(neg t0 (neg
1 1
(pos = 0
t1
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
20 20 * d4
* d4
* d4 , * d5
* d4 , * d5
16 16 *d4 no se incrementa * d5
12 * d5 12 t0 umbral3 = 20
8 umbral3 = 20 8
4 4 t1
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
(a) (b)
Figura 4.5: Diagnóstico de fallas de circuito abierto en el interruptor S1 (grupo IG1 ) para 100 W/m2 .
a) Al inicio del semiciclo positivo. b) Al nalizar el semiciclo positivo.
Resultados 93
1.5 8:5 ms 1.5 3:5 ms

0.7 0.7
-0.1 -0.1
is [A]
is [A]
-0.9 is -0.9 is
-1.7 . -1.7 .
-2.5 8 -2.5 8
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
3 3
1 1
a1is (t)
a1is (t)
-1 -1
-3 -3
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
120 *actual 120 *actual

96 umbral1 = 74 96 umbral1 = 74
*actual
*actual
72 72
48 48
24 24
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
54 54
45 45
*pos , *neg
*pos , *neg
36 *pos 36 *pos
27 *neg 27 *neg
18 umbral2 = 50 18 umbral2 = 50
9 9
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
2 (pos 2 (pos
(pos , (neg
(pos , (neg
(neg (neg
1 1
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
20 20
* d4 * d4
* d4 , * d5
* d4 , * d5
16 16
12 * d5 12 * d5
8 umbral3 = 20 8 umbral3 = 20
4 4
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
(a) (b)
a) Al inicio del semiciclo negativo. b) Al nalizar el semiciclo negativo.
Capítulo 4 94
2.5 is 2.5 is
1.8 . 1.8 .
8:5 ms 3:3 ms
is [A]
is [A]
1.1 8 1.1 8
0.4 0.4
-0.3 -0.3
-1 -1
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
3 3
1 1
a1is (t)
a1is (t)
-1 -1
-3 -3
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167

96 umbral1 = 74 96 umbral1 = 74
*actual
72 *actual 72
48 48
24 24
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
54 54
45 45
*pos , *neg
36 *pos 36 *pos
*pos
27 *neg 27 *neg
18 umbral2 = 50 18 umbral2 = 50
9 9
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
2 (pos 2 (pos
(pos , (neg
(pos , (neg
(neg (neg
1 1
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
20 20
* d4 * d4
* d4 , * d5
* d4 , * d5
16 16
12 * d5 12 * d5
4 4
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
(a) (b)
a) Al inicio del semiciclo positivo. b) Al nalizar el semiciclo positivo.
Resultados 95
2.5 is 2.5 is
1.8 . 1.8 .
2:8 ms 12:5 ms
is [A]
is [A]
1.1 8 1.1 8
0.4 0.4
-0.3 -0.3
-1 -1
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
3 2
1
1
a1is (t)
a1is (t)
0
-1
-1
-3 -2
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167

96 umbral1 = 74 96 umbral1 = 74
*actual
*actual
72 72
48 48
24 24
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
54 54
45 45
*pos , *neg
*pos , *neg
36 *pos 36 *pos
27 *neg 27 *neg
18 umbral2 = 50 18 umbral2 = 50
9 9
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
2 (pos 2 (pos
(pos , (neg
(pos , (neg
(neg (neg
1 1
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
20 20
* d4 * d4
* d4 , * d5
* d4 , * d5
16 16
12 * d5 12 * d5
4 4
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
(a) (b)
a) Al inicio del semiciclo negativo. b) Al nalizar el semiciclo negativo.
Capítulo 4 96
15 3:3 ms 15 11:7 ms
6 6
-3 -3
is [A]
is [A]
-12 is -12 is
-21 . -21 .
-30 8 -30 8
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
15 15
4 3
-7 -9
a1is (t)
a1is (t)
-18 -21
-29 -33
-40 -45
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167

96 umbral1 = 74 96 umbral1 = 74
*actual
72 *actual 72
48 48
24 24
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
100 *pos 75 *pos

*neg 60 *neg
*pos , *neg
75
umbral2 = 50 45 umbral2 = 50
*pos
50
30
25 15
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
2
2 (pos (pos
(pos , (neg
(pos , (neg
(neg (neg
1 1
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
20 20
* d4 16 * d4
* d4 , * d5
* d4 , * d5
16
12 * d5 12 * d5
4 4
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
(a) (b)
Figura 4.9: Diagnóstico de fallas de circuito abierto en el interruptor S1 (grupo IG1 ) para 1000
W/m2 . a) Al inicio del semiciclo positivo. b) Al nalizar el semiciclo positivo.
Resultados 97
15 8:1 ms 15 3:1 ms
6 6
-3 -3
is [A]
is [A]
-12 is -12 is
-21 . -21 .
-30 8 -30 8
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
15 15
4 4
-7 -7
a1is (t)
a1is (t)
-18 -18
-29 -29
-40 -40
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167

96 umbral1 = 74 96 umbral1 = 74
*actual
*actual
72 72
48 48
24 24
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
75 *pos 70
60 *neg 56
*pos , *neg
*pos , *neg
*pos
45 umbral2 = 50 42 *neg
30 28 umbral2 = 50
15 14
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
2 (pos 2 (pos
(pos , (neg
(pos , (neg
(neg (neg
1 1
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
20 20
16 * d4 16 * d4
* d4 , * d5
* d4 , * d5
12 * d5 12 * d5
4 4
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
(a) (b)
W/m2 . a) Al inicio del semiciclo negativo. b) Al nalizar el semiciclo negativo.
Capítulo 4 98
30 is 30 is
22 . 22 .
is [A]
is [A]
14 8 14 8
8:1 ms 2:9 ms
6 6
-2 -2
-10 -10
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
40 40
29 29
18
a1is (t)
a1is (t)
18
7 7
-4 -4
-15 -15
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167

96 umbral1 = 74 96 umbral1 = 74
*actual
*actual
72 72
48 48
24 24
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
70 75
56 60
*pos , *neg
*pos , *neg
*pos
42 45 *neg
*pos
28 *neg 30 umbral2 = 50
14 umbral2 = 50 15
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
2 (pos 2 (pos
(pos , (neg
(pos , (neg
(neg (neg
1 1
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
20 20
* d4 16 * d4
* d4 , * d5
* d4 , * d5
16
12 * d5 12 * d5
4 4
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
(a) (b)
W/m2 . a) Al inicio del semiciclo positivo. b) Al nalizar el semiciclo positivo.
Resultados 99
30 is 15 is
12 ms
22 . 10 .
is [A]
is [A]
14 8 5 8
3:3 ms
6 0
-2 -5
-10 -10
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
40 15
29 5
a1is (t)
a1is (t)
18
7 -5
-4
-15
-15
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167

96 umbral1 = 74 96 umbral1 = 74
*actual
*actual
72 72
48 48
24 24
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
70 *pos 70 *pos
56 56 *neg
*pos , *neg
*pos , *neg
*neg
42 umbral2 = 50 42 umbral2 = 50
28 28
14 14
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
2 (pos 2 (pos
(pos , (neg
(pos , (neg
(neg (neg
1 1
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
20 20
16 * d4 16 * d4
* d4 , * d5
* d4 , * d5
12 * d5 12 * d5
4 4
0 0
0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167 0.7667 0.7767 0.7867 0.7967 0.8067 0.8167
(a) (b)
W/m2 . a) Al inicio del semiciclo negativo. b) Al nalizar el semiciclo negativo.
Capítulo 4 100
4.4. Diagnóstico de fallas en una rama del inversor de salida

(grupo IG3 ) y de fallas en una rama del inversor o del
puente de diodos del enlace de media frecuencia (grupo
M F3 )
En la Figura 4.13a se muestra el comportamiento de la derivada de los coecientes de
tendencia a1vcd (t) del primer nivel de descomposición de la transformada Wavelet de la señal
de tensión del bus de CD, cuando ocurre un cambio de irradiancia de 100 a 200 W/m2 en
t1 . Se puede observar que vcd (t) se encuentra regulada en 250 V antes de que ocurra la falla.
Los coecientes a1vcd son una versión escalada y ltrada de la señal original. Unos instantes
posteriores al momento en el que ocurre el cambio de irradiancia, la derivada Υvcd (t) de los
coecientes de tendencia alcanza valores positivos y comienza a crecer. La potencia que se
extrae del arreglo de paneles fotovoltaicos aumenta hasta establecerse en el siguiente punto
de operación y esto se logra mediante la operación del seguidor de máxima potencia. Una
vez que Υvcd (t) sobrepasa el umbral establecido, el algoritmo verica el signo de la derivada
Υppv de la señal Ppv , y como este valor es positivo entonces no se valida la presencia de fallas
simultáneas en los interruptores del inversor, y por lo tanto ν = 0.
En la Figura 4.13b se presenta el comportamiento de las mismas señales cuando ocurre
una falla de circuito abierto de forma simultánea en los interruptores S1 y S4 . En el instante
en el que la señal Υvcd (t) sobrepasa el umbral, la derivada de Υppv es aproximadamente igual
a cero, por lo que el algoritmo genera una señal que indica la presencia de fallas del grupo
IG3 .
En la Figura 4.14a ocurre el fenómeno opuesto, y por lo tanto cuando la irradiancia
disminuye de 200 a 100 W/m2 , la derivada Υvcd se reduce llegando a ser menor que −2. En
ese instante, se puede observar que Υppv es menor que cero, y esto es un indicador de que no
existen fallas simultáneas en dos interruptores de potencia de una misma rama en el inversor
del enlace de media frecuencia.
En la Figura 4.14b, los interruptores Sa y Sc quedan abiertos de forma simultánea, y
después de que la señal Υvcd (t) pasa a ser menor que el umbral establecido, se verica que
Υppv es aproximadamente igual a cero, por lo que el algoritmo determina la existencia de
fallas del grupo M F3 .
En las Figuras 4.15 y 4.16 se repiten los análisis anteriormente descritos pero esta vez
considerando otros niveles de irradiancia (de 500 a 1000 W/m2 y de 1000 a 500 W/m2 ). Bajo
estas nuevas condiciones, se comprueba que al igual que en los casos anteriores, la tensión del
bus de CD aumenta de forma progresiva cuando ocurren fallas del grupo IG3 , y disminuye para
fallas del grupo M F3 . Los cambios abruptos en los niveles de irradiancia tienden a enmascarar
este tipo de fallas. Sin embargo, con el algoritmo propuesto se distingue una situación de la
otra. Los tiempos requeridos en el diagnóstico se reducen cuando el sistema opera con altos
niveles de irradiancia, y en todos los casos se requiere menos de un ciclo de red para la tarea
de diagnóstico.
Resultados 101
260 255
253
255
vcd [V]
vcd [V]
251
250 249
247
245 t1 245
0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058 0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058
360 360
358 358
a1vcd [V]
a1vcd [V]
356 356
354 354
352 t1 352
350 350
0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058 0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058
10 (vcd 5 (vcd
(vcd [V=s]
(vcd [V=s]
6 3
t1
4 2
2 1
0 0
0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058 0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058
1 . 1 .
8 8:5 ms 8
., 8
., 8
t1
0 0
0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058 0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058
85
300
84
240
Ppv [W]
Ppv [W]
83
180
82
120 81
60 t1 80
0
0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058 0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058
Tiempo [s]
2.5
100
(ppv [W=s]
0.5
(ppv [W=s]
79.5 t1 -1.5
59 -3.5
38.5 -5.5
18 -7.5
-2.5
0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058 0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058
Tiempo [s]
Tiempo [s]
(a) (b)
Figura 4.13: Diagnóstico de fallas de circuito abierto en una rama del inversor de salida (grupo IG3 .
2
a) Comportamiento de las señales cuando ocurre un cambio de irradiancia de 100 a 200 W/m . b)
Diagnóstico de las fallas del grupo IG3 para 100 W/m2 .
Capítulo 4 102
250 250
249 249
vcd [V]
vcd [V]
248 248
247 247
246 246
245 245
0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058 0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058
355 355
354 354
a1vcd [V]
a1vcd [V]
353 353
352 352
351 351
350 350
0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058 0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058
2.5 2.5
(vcd (vcd
1.2 1.2
(vcd [V=s]
(vcd [V=s]
umbral = !2 umbral = !2
-0.1 -0.1
-1.4 -1.4
-2.7 -2.7
-4 -4
0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058 0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058
1 . 1 .
8 6:6 ms 8
., 8
., 8
0 0
0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058 0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058
100 85
80 84
Ppv [W]
Ppv [W]
83
60
82
40 81
20 80
0
0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058 0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058
2.5 2.5
(ppv [W=s]
(ppv [W=s]
-6 0.5
-14.5 -1.5
-23 -3.5
-31.5 -5.5
-40 -7.5
0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058 0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058
(a) (b)
Figura 4.14: Diagnóstico de fallas de circuito abierto en una rama del inversor del enlace de media
frecuencia (grupo M F3 ). a) Comportamiento de las señales cuando ocurre un cambio de irradiancia
de 100 a 40 W/m2 . b) Diagnóstico de las fallas del grupo M F3 para 100 W/m2 .
Resultados 103
265 290
261 281
vcd [V]
vcd [V]
257 272
253 263
249 254
245 245
0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058 0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058
375 405
370 392
a1vcd [V]
a1vcd [V]
365 379
360 366
355 353
350 340
0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058 0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058
20 (vcd 60 (vcd
(vcd [V=s]
(vcd [V=s]
12 36
8 24
4 12
0 0
0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058 0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058
3:3 ms
1 . 1 .
8 8
., 8
., 8
0 0
0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058 0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058
1000
1000
Ppv [W]
Ppv [W]
820
640 995
460
280
990
0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058 0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058
2.5
250
(ppv [W=s]
(ppv [W=s]
-1
199.5 -4.5
149 -8
98.5 -11.5
48 -15
-2.5
0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058 0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058
(a) (b)
Figura 4.15: Diagnóstico de fallas de circuito abierto en una rama del inversor de salida (grupo IG3 ).
a) Comportamiento de las señales cuando ocurre un cambio de irradiancia de 500 a 1000 W/m2 . b)
Diagnóstico de las fallas del grupo IG3 para 1000 W/m2 .
Capítulo 4 104
255 255
250 244
vcd [V]
vcd [V]
245 233
240 222
235 211
230 200
0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058 0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058
360 360
353 346
a1vcd [V]
a1vcd [V]
346 332
339 318
332 304
325
0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058 0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058
2.5 2.5
-2 -8
(vcd [V=s]
(vcd [V=s]
-6.5 -18.5
-11 -29
-15.5 (vcd -39.5 (vcd
-20 umbral = !2 -50 umbral = !2
0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058 0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058
1 . 1 .
8 977 7s 8
., 8
., 8
0 0
0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058 0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058
1000 1000
904 998
Ppv [W]
Ppv [W]
808 996
712 994
616 992
520 990
0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058 0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058
2.5 2.5
(ppv [W=s]
(ppv [W=s]
-48 0
-98.5 -2.5
-149 -5
-199.5 -7.5
-250 -10
0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058 0.7701 0.7772 0.7843 0.7915 0.7986 0.8058
(a) (b)
Figura 4.16: Diagnóstico de fallas de circuito abierto en una rama del inversor del enlace de media
frecuencia (grupo M F3 ). a) Comportamiento de las señales cuando ocurre un cambio de irradiancia
de 1000 a 500 W/m2 . b) Diagnóstico de las fallas del grupo M F3 para 1000 W/m2 .
Resultados 105
4.5. Fallas del grupo IG4
La pérdida de la señal que se necesita para activar los interruptores del inversor por
breves períodos de tiempo (65 µs) distorsiona la señal de corriente y esto puede modicar el
coeciente de distorsión armónica total permitido por el estándar IEEE 519-2014. La aparición
de fallas del grupo IG4 no afecta el desempeño general del sistema fotovoltaico. Sin embargo, es
deseable el diagnóstico de este tipo de fallas en su estado incipiente para evitar con anticipación
futuras fallas en los interruptores del inversor. Otra de las causas que puede provocar la
distorsión de la forma de onda de is (t) es la pérdida de la señal del sensor de esta corriente
durante cortos períodos de tiempo (µs). Las fallas del grupo IG4 se pueden detectar empleando
un único umbral para un amplio rango de irradiancias (100 a 1000 W/m ).
2
En la Figura 4.17a se presenta el desempeño del algoritmo cuando se pierde la señal de

control que se le aplica a los interruptores S1 y S3 , durante un intervalo de tiempo corres-
pondiente a 65 µs para un nivel de irradiancia de 100 W/m2 . En este escenario la corriente
is (t) disminuye momentáneamente, y aunque los coecientes de detalle d3is del tercer nivel de
descomposición de la transformada Wavelet de esta señal no reejan un patrón que indique
la presencia de este tipo de fallas, la curtosis de d3is se incrementa hasta sobrepasar el umbral
establecido en un valor de 5. Después de transcurridos 7.9 ms se diagnostica la presencia de
fallas del grupo IG3 . Cuando el valor de irradiancia se cambia a 1000 W/m2 , tal y como se
representa en la Figura 4.17b, se observa que con el mismo umbral se puede realizar la tarea
de diagnóstico.
Cuando la señal del sensor de la corriente is (t) se interrumpe en períodos de tiempo de
65 µs (ver Figuras 4.18 y 4.19), el comportamiento de la señal d3is (t) es diferente al descrito
anteriormente; sin embargo, con la curtosis se detecta la presencia de este tipo de fallas. En
las Figuras 4.18 y 4.19, se observa que con el mismo umbral se puede realizar el diagnóstico
independientemente del nivel de irradiancia que se analice. Es importante señalar que con este
algoritmo no se distingue entre una falla de circuito abierto momentánea en los interruptores
S1 y S3 , de una falla intermitente que pueda ocurrir en el sensor de corriente.
Capítulo 4 106
1 10
0.6 6
Falla
is [A]
is [A]
0.2 2
Falla
-0.2 -2
-0.6 -6
-1 -10
0.77 0.7791 0.7882 0.7973 0.8065 0.8156 0.77 0.7791 0.7882 0.7973 0.8065 0.8156
0.2 0.5
0.12 0.3
d3is [A]
d3is [A]
0.04 0.1
-0.04 -0.1
-0.12 -0.3
-0.2 -0.5
0.7701 0.7792 0.7883 0.7974 0.8065 0.8156 0.7701 0.7792 0.7883 0.7974 0.8065 0.8156
20 20
16 16
ku
ku
12 12
8 ku 8 ku
0 0
0.7701 0.7792 0.7883 0.7974 0.8065 0.8156 0.7701 0.7792 0.7883 0.7974 0.8065 0.8156
1 1
0.8 0.8
., 8
., 8
0.6 7:9 ms 0.6 7:9 ms

0.4 . 0.4 .
0.2 8 0.2 8
0 0
0.77 0.7791 0.7882 0.7973 0.8065 0.8156 0.77 0.7791 0.7882 0.7973 0.8065 0.8156
(a) (b)
Figura 4.17: Fallas del grupo IG4 cuando se pierde la señal de los interruptores S1 y S3 . a) Irradiancia
igual a 100 W/m2 . b) Irradiancia igual a 1000 W/m2 .
Resultados 107
1.5 3
0.9
1
is [A]
is [A]
0.3
-0.3 -1
-0.9 Falla Falla
-1.5 -3
0.1602 0.1681 0.1761 0.1841 0.1920 0.2 0.1602 0.1681 0.1761 0.1841 0.1920 0.2
0.2 0.3
0.11 0.14
d3is [A]
d3is [A]
0.02 -0.02
-0.07 -0.18
-0.16 -0.34
-0.25 -0.5
0.1602 0.1681 0.1761 0.1841 0.1920 0.2 0.1602 0.1681 0.1761 0.1841 0.1920 0.2
8 ku 15 ku
6.4 umbral = 5 12 umbral = 5
ku
ku
4.8 9
3.2 6
1.6 3
0 0
0.1602 0.1681 0.1761 0.1841 0.1920 0.2 0.1602 0.1681 0.1761 0.1841 0.1920 0.2
1 1
0.8 0.8
., 8
., 8
0.6 14:5 ms 0.6 12:4 ms

0.4 . 0.4 .
0.2 8 0.2 8
0 0
0.1602 0.1681 0.1761 0.1841 0.1920 0.2 0.1602 0.1681 0.1761 0.1841 0.1920 0.2
(a) (b)
Figura 4.18: Fallas del grupo IG4 cuando se pierde la señal de retroalimentación. a) Irradiancia igual
a 100 W/m2 . b) Irradiancia igual a 200 W/m2 .
Capítulo 4 108
6 12
4
6
2
is [A]
is [A]
0 0
-2
-6
-4
-6 Falla -12 Falla
0.1602 0.1681 0.1761 0.1841 0.1920 0.2 0.1602 0.1681 0.1761 0.1841 0.1920 0.2
0.2 0.5
-0.04 0.1
d3is [A]
d3is [A]
-0.28 -0.3
-0.52 -0.7
-0.76 -1.1
-1 -1.5
0.1602 0.1681 0.1761 0.1841 0.1920 0.2 0.1602 0.1681 0.1761 0.1841 0.1920 0.2
20 ku 15 ku
ku
ku
12 9
8 6
4 3
0 0
0.1602 0.1681 0.1761 0.1841 0.1920 0.2 0.1602 0.1681 0.1761 0.1841 0.1920 0.2
1 1
0.8 0.8
., 8
., 8
0.6 14:5 ms 0.6 12:9 ms

0.4 . 0.4 .
0.2 8 0.2 8
0 0
0.1602 0.1681 0.1761 0.1841 0.1920 0.2 0.1602 0.1681 0.1761 0.1841 0.1920 0.2
(a) (b)
Figura 4.19: Fallas del grupo IG4 cuando se pierde la señal de retroalimentación. a) Irradiancia igual
a 500 W/m2 . b) Irradiancia igual a 1000 W/m2 .
4.6. Fallas de circuito abierto en los interruptores Sa (grupo

M F1 ) y Sb (grupo M F2 ) del enlace de media frecuencia.
El diagnóstico de las fallas de los grupos M F1 y M F2 requiere que se conozca previamente
el valor promedio (µd3 ) de los coecientes de uctuación de tercer nivel de la señal vcd (t)
vcd
para distintos niveles de irradiancia. Esta caracterización depende de los parámetros del cir-
cuito, por lo que la efectividad del algoritmo se logra siempre y cuando subsistan las mismas
condiciones bajo las cuales se realizan las pruebas necesarias para obtener los datos de la
Tabla 3.5. Una alternativa se basa en lograr que el sistema de diagnóstico de fallas tenga la
capacidad de explorar posibles variaciones paramétricas cada cierto tiempo. En este trabajo
Resultados 109
solamente se considera el caso en el que el circuito opera siempre bajo las mismas condiciones.
Los tiempos necesarios para el diagnóstico de las fallas M F1 y M F2 varían en función de la
irradiancia, y en general se puede armar que este tipo de fallas se pueden diagnosticar en
menos de un ciclo de red. En la Figura 4.20 se aprecia que independientemente del nivel de
irradiancia, cuando el promedio de los coecientes de uctuación (µd3 ) es menor que cero, la
v cd
señalν(t) es igual a uno, y de esta forma se indica la existencia de una falla de circuito abierto
en el interruptor Sa (grupo M F1 ). Sin embargo, para diagnosticar fallas en el interruptor Sb
(grupo M F2 ) se necesita determinar el umbral correspondiente a la irradiancia en la que esté
operando el sistema. En la Figura 4.21 se presenta el diagnóstico de las fallas del grupo M F2 ,
donde se muestra un umbral diferente para cada caso.
250.8 254.8
251.35
vcd [V]
vcd [V]
250.4
247.9
250
244.45
249.6 241
0.1701 0.1760 0.1820 0.1880 0.1940 0.2 0.1701 0.1760 0.1820 0.1880 0.1940 0.2
0.05 0.5
d3vcd [V]
d3vcd [V]
0 0
-0.05 -0.5
0.1701 0.1760 0.1820 0.1880 0.1940 0.2 0.1701 0.1760 0.1820 0.1880 0.1940 0.2
!3
#10
5 0.05
7d3v 7d3v
3 cd 0.03 cd
umbral1 = 0 umbral1 = 0
7d3v [V]
7d3v [V]
1 0.01
cd
cd
-1 -0.01
-3 -0.03
-5 -0.05
0.1701 0.1760 0.1820 0.1880 0.1940 0.2 0.1701 0.1760 0.1820 0.1880 0.1940 0.2
1 . 1 .
9:5 ms 8 9 ms 8
., 8
., 8
0.5 0.5
0 0
0.1701 0.1760 0.1820 0.1880 0.1940 0.2 0.1701 0.1760 0.1820 0.1880 0.1940 0.2
(a) (b)
Figura 4.20: Diagnóstico de fallas del grupo M F1 . a) Irradiancia igual a 100 W/m2 . b) Irradiancia
2
igual a 1000 W/m .
Capítulo 4 110
250.8 254.8
vcd [V]
vcd [V]
250.4 250.8
250 246.8
249.6
242.8
0.1701 0.1760 0.1820 0.1880 0.1940 0.2 0.1701 0.1760 0.1820 0.1880 0.1940 0.2
0.05 0.5
d3vcd [V]
d3vcd [V]
0 0
-0.05 -0.5
0.1701 0.1760 0.1820 0.1880 0.1940 0.2 0.1701 0.1760 0.1820 0.1880 0.1940 0.2
!3
#10
4 umbral 0.04 umbral
3.2 7d3v 0.032 7d3v
7d3v [V]
7d3v [V]
cd cd
2.4 0.024
cd
1.6 cd 0.016
0.8 0.008
0 0
0.1701 0.1760 0.1820 0.1880 0.1940 0.2 0.1701 0.1760 0.1820 0.1880 0.1940 0.2
1 . 1 .
10:5 ms 8 5:3 ms 8
., 8
., 8
0.5 0.5
0 0
0.1701 0.1760 0.1820 0.1880 0.1940 0.2 0.1701 0.1760 0.1820 0.1880 0.1940 0.2
(a) (b)
Figura 4.21: Diagnóstico de fallas del grupo M F2 . a) Irradiancia igual a 100 W/m2 . b) Irradiancia
2
igual a 1000 W/m .
4.7. Diagnóstico de fallas en el convertidor CD-CD
El estudio de diagnóstico de las fallas de circuito abierto en el convertidor CD-CD se basa

en la derivada de los coecientes de tendencia de primer nivel de la corriente ipv (t). Se debe
mencionar que independientemente del nivel de irradiancia, cuando ocurren fallas de este tipo
los coecientes de tendencia a1ipv de la corriente ipv (t) se hacen cero, y disminuyen su valor
con una pendiente negativa. Se pudiera asumir que los cambios abruptos en los niveles de
irradiancia afectan el desempeño del algoritmo; sin embargo, cuando esto ocurre, el tiempo
necesario para que los coecientes de tendencia se hagan cero es mucho más rápido que en el
caso de fallas de circuito abierto. En la Figura 4.22, se observa que el diagnóstico de fallas
se logra en un tiempo menor a un ciclo de red para dos niveles de irradiancia diferentes: 50
Resultados 111
W/m2 y 1000 W/m2 . Cuando el interruptor del convertidor CD-CD se abre, los coecientes de
tendencia a
1
ipv (t) decrecen hasta alcanzar el valor cero, y durante todo ese tiempo la pendiente
de esa señal es negativa. La falla de circuito abierto en el convertidor CD-CD se diagnostica
cuando la pendiente de la señal a1ipv (t) es menor que cero por más de medio ciclo de red.
0.3 10
0.24 8
ipv [A]
ipv [A]
0.18 6
0.12 4
0.06 2
0 0
0.1701 0.1760 0.1820 0.1880 0.1940 0.2 0.1701 0.1760 0.1820 0.1880 0.1940 0.2
0.4 10
a1ipv [A]
a1ipv [A]
0.2 5
0 0
0.1701 0.1760 0.1820 0.1880 0.1940 0.2 0.1701 0.1760 0.1820 0.1880 0.1940 0.2
0.5 100
(ipv (ipv
0.3 60
(ipv [A=s]
(ipv [A=s]
umbral = 0 umbral = 0
0.1 20
-0.1 -20
-0.3 -60
-0.5 -100
0.1701 0.1760 0.1820 0.1880 0.1940 0.2 0.1701 0.1760 0.1820 0.1880 0.1940 0.2
1 . 1 .
8:3 ms 8 8:5 ms 8
., 8
., 8
0.5 0.5
0 0
0.1701 0.1760 0.1820 0.1880 0.1940 0.2 0.1701 0.1760 0.1820 0.1880 0.1940 0.2
(a) (b)
Figura 4.22: Diagnóstico de falla de circuito abierto en el interruptor del convertidor CD-CD a)
Irradiancia igual a 50 W/m2 . b) Irradiancia igual a 1000 W/m2 .
Capítulo 4 112
4.8. Desempeño de los algoritmos de diagnóstico de fallas pro-

puestos
En la Tabla 4.1 se resumen los tiempos estimados para el diagnóstico de fallas de cada
uno de los algoritmos propuestos considerando las simulaciones presentadas en este capítulo.
Se debe mencionar que es complejo obtener los tiempos mínimo y máximo exactos necesarios
para el diagnóstico, pues dependen de los niveles de irradiancia. Sin embargo, es válido aclarar
que en cualquiera de los casos analizados el tiempo de diagnóstico máximo no supera un ciclo
de red (16.66 ms).
En la Figura 4.23 se muestra el tiempo de diagnóstico para algunos escenarios de fallas
en función de la irradiancia. Cuando ocurre una falla de circuito abierto en alguno de los
interruptores del inversor de salida, por ejemplo en el interruptor S1 , el tiempo necesario
para el diagnóstico depende del ángulo eléctrico donde ocurre la falla. En la Figura 4.23a se
presenta el tiempo de diagnóstico cuando ocurre una falla de circuito abierto en el interruptor
S1 al nalizar el semiciclo positivo de de la corriente is (t), y se observa que los tiempos de
diagnóstico no superan un ciclo de red. Sin embargo, si la falla ocurriera al inicio del semiciclo,
los tiempos pudieran ser inferiores. En la Figura 4.23b se observa que para altos valores de
irradiancia, el diagnóstico de fallas de circuito abierto en una rama del inversor de salida se
realiza en un tiempo inferior a medio ciclo de red. Vale la pena resaltar que estas fallas también
pueden ser diagnosticadas por el algoritmo diseñado para fallas individuales de circuito abierto
en estos interruptores. Aunque los tiempos presentados en la Figura 4.23c no superan los 10
ms en relación con las fallas de circuito abierto de los interruptores del enlace de media
frecuencia, por ejemplo interruptor Sa , es importante aclarar que una falla de este tipo no
afecta el desempeño general del sistema. Los tiempos estimados para el diagnóstico de las fallas
de circuito abierto en una rama del inversor del enlace de media frecuencia se presentan en la
Figura 4.23d, y en ella se observa que para bajos niveles de irradiancia el algoritmo tiende a ser
más lento. En la Figura 4.23e se visualiza que el tiempo de diagnóstico para la falla de circuito
abierto en el interruptor del convertidor CD-CD se mantiene aproximadamente constante para
distintos niveles de irradiancia, y esto es una consecuencia de denir la existencia de la falla
después de procesar una misma cantidad de coecientes de tendencia de la señal ipv (t) para
cualquier nivel de irradiancia.
Tabla 4.1: Tiempos mínimo y máximo estimados para el diagnóstico de falla.
Grupo de falla Tiempo estimado mínimo Tiempo estimado máximo

IG1 e IG2 1.5 ms 12.5 ms
IG3 y M F3 977 µs 8.5 ms
IG4 7.9 ms 14.5 ms
M F1 y M F2 5.3 ms 10.5 ms
Interruptor Sbst 8.2 ms 8.5 ms
Resultados 113
Tiempo [ms]
12.5 15
Tiempo [ms]
12 12.47 12 12.59
11.5 12.07 12.07 11.94 11.94 11.94 9
11 6 5.04 4.26 3.87 3.61 3.35
10.5 3
10 0
0 200 400 600 800 1000 0 200 400 600 800 1000
Irradiancia [W=m2 ] Irradiancia [W=m2 ]
(a) (b)
15 10
Tiempo [ms]
Tiempo [ms]
12 8 6.87
9 6
6 8.43 7.91 8.95 8.66 8.43 4 2.44
6.87 1.53
3 2 1.27 1.01 1.01
0 0
0 200 400 600 800 1000 0 200 400 600 800 1000
Irradiancia [W=m2 ] Irradiancia [W=m2 ]
(c) (d)
10
Tiempo [ms]
8
8.17 8.43 8.43 8.3 8.43 8.3
6
4
2
0
0 200 400 600 800 1000
Irradiancia [W=m2 ]
(e)
Figura 4.23: Tiempos de diagnóstico en función de la irradiancia. a) Algoritmo de diagnóstico de

fallas de circuito abierto en el interruptor S1 del inversor de salida (grupo IG1 ). b) Algoritmo de
diagnóstico de fallas de circuito abierto en los interruptores S1 y S3 del inversor de salida (grupo
IG3 ). c) Algoritmo de diagnóstico de fallas en el interruptor Sa del enlace de media frecuencia (grupo
M F1 ). d) Algoritmo de diagnóstico de fallas en los interruptores Sa y Sb del enlace de media frecuencia
(grupo M F3 ). e) Algoritmo de diagnóstico de fallas en el interruptor del convertidor CD-CD.
4.9. Comparación de los resultados obtenidos con los trabajos

reportados en la literatura
En la Tabla 4.2 se presenta una comparación en cuanto al tiempo de diagnóstico del

algoritmo propuesto y los reportados en la literatura. Se observa que aunque se logran tiempos
por debajo de 1 ms tanto para fallas en el convertidor CD-CD [11],[56] como en el inversor [58],
los análisis consideran un solo nivel de irradiancia. Sin embargo, con los algoritmos propuestos
en esta investigación, a pesar de que el tiempo estimado oscila entre 8 y 12 ms en dependencia
de la etapa de conversión de potencia que se considere, el funcionamiento es factible en un
amplio rango de irradiancias, y además el grado de complejidad es menor. Otro aspecto que
se debe resaltar es que no se encontraron referencias en las que se diagnostiquen fallas de
circuito abierto en los interruptores de potencia del enlace de media frecuencia, a diferencia
del estudio que se presentó en este proyecto de tesis, donde se dene un tiempo máximo para
Capítulo 4 114
el diagnóstico inferior a 10 ms. A pesar de que el software del sistema de control presenta
altos índices de fallas [2], existen pocas referencias [3],[54] en las cuales se dediquen esfuerzos
en este sentido. El algoritmo para detectar fallas en el sistema de control basado en la curtosis
de los coecientes de detalle de la transformada Wavelet de la señal de corriente en el lado de
alterna del inversor de salida, es una variante que permite resolver este problema, y además
exhibe un tiempo de diagnóstico de aproximadamente 14 ms para el peor caso. Finalmente se
debe agregar que los algoritmos diseñados en esta investigación, no se evaluaron considerando
el sistema de control en lazo abierto. Sin embargo, aunque el algoritmo para detectar fallas
individuales en los interruptores del inversor de salida se pudiera extender a otras topologías,
puede operar cuando el sistema está en lazo abierto, debido a que solamente se requiere la
información de los coecientes de tendencia.
Tabla 4.2: Tiempos para el diagnóstico de fallas reportados en la literatura.
Tiempos de diagnóstico de fallas

Referencia Convertidor Inversor Observaciones
cd-cd de salida
[3] ≥ 16 ms *
[8] 50 ms *
Se necesitan más variables

[11] 67 µs - que las requeridas para el
sistema de control convencional
[52] 71.6 ms - *
[54] 33 ms - *
Se debe tener un conocimiento

exacto del comportamiento del
[56] < 66 µs -
sistema y no se consideran
varios niveles de irradiancia.
Se realiza el estudio para un

[58] - 0.91 ms
único nivel de irradiancia
[60] - 20 ms *

[61] - 12 ms
único nivel de irradiancia
[63] - 20 ms *

Método propuesto 8.3 ms 12 ms
un amplio rango de irradiancias
∗ No se realizan observaciones debido a que los tiempos de diagnóstico son mayores en relación con
el método propuesto.
115
Conclusiones
En este trabajo de tesis se cumplieron los objetivos propuestos y se vericó la hipótesis

planteada. Se derivan las siguientes conclusiones:
1. La topología seleccionada permite transferir la potencia hacia la red eléctrica con un

nivel de distorsión armónica en la señal de corriente inferior al 5 %, y es apropiada para
extenderse a una estructura multinivel en la conguración de inversores conectados en
cascada. El ajuste de 12 Hz para el ancho de banda del controlador de tensión del bus
de CD, así como la selección del valor de la inductancia de enlace en 12.2 mH permiten
garantizar el nivel de distorsión armónica de la señal de corriente por debajo del 5 %
para niveles de irradiancia superiores a 200 W/m2 .
2. Para lograr reducir el tiempo de respuesta del sistema de control del bus de CD de
100 ms (reportado en la literatura) a 33 ms, se emplea un estimador de la tensión del
bus de CD que permite atenuar la componente armónica de segundo orden antes de ser
retroalimentada al sistema de control.
3. No es recomendable utilizar un controlador PI para regular la tensión del bus de CD

cuando el sistema experimenta cambios abruptos en los niveles de irradiancia, por ejem-
plo de 1000 a 0 W/m2 .
4. Las fallas de circuito abierto en los interruptores del inversor provocan un contenido
armónico no deseado en las señales de tensión y corriente del convertidor del sistema
fotovoltaico. En los primeros ciclos después de ocurrida una falla, los valores que alcanzan
la tensión y la corriente pueden destruir los componentes del convertidor. Las fallas de
circuito abierto más críticas, como pueden ser en los interruptores del inversor de salida
o del enlace de media frecuencia, se diagnostican en menos de un ciclo de red, asumiendo
que la plataforma digital es capaz de completar los cálculos de todos los algoritmos en
un tiempo inferior a 65 µs.
5. Los sistemas fotovoltaicos operan en distintos niveles de irradiancia, y este aspecto

aumenta la complejidad de los algoritmos de diagnóstico de fallas. Sin embargo, las
Conclusiones 116
técnicas propuestas en esta investigación no tienen un alto grado de complejidad y son

efectivas en un amplio rango de irradiancias (de 100 a 1000 W/m2 ).
6. Se diseñó y validó el sistema de control completo con operación estable en todo el rango
de potencias de operación, incluyendo el algoritmo MPPT.
7. El costo del sistema fotovoltaico no se incrementa con la incorporación del esquema de

diagnóstico de fallas propuesto debido a que se utilizan los mismos sensores que posee
el sistema de control.
8. El esquema general de diagnóstico de fallas incorpora 5 algoritmos independientes que se

basan en técnicas de procesamiento de señales. Aunque en algunos de ellos es necesaria la
utilización de varios umbrales, los valores seleccionados son útiles en un amplio rango de
irradiancias (100 - 1000 W/m2 ). La única excepción es el algoritmo de diagnóstico para
fallas en los interruptores de potencia (o de los diodos) del enlace de media frecuencia,
ya que el valor del umbral debe denirse en función de la irradiancia.
Aportaciones
1. Los algoritmos de diagnóstico de fallas propuestos operan en un amplio rango de irra-

diancias (100 - 1000 W/m2 ). Mientras que en los trabajos reportados sobre la detección
de fallas, se realiza el análisis para niveles jos de irradiancia.
2. El cálculo de los coecientes de tendencia se realiza conforme se van adquiriendo las

muestras, y también se propone un procesamiento recursivo de los descriptores estadís-
ticos, lo que permite reducir los tiempos requeridos para el diagnóstico de fallas. Los
trabajos de diagnóstico de fallas en sistemas fotovoltaicos que se basan en la transfor-
mada Wavelet, sólo realizan los cálculos de los coecientes de tendencia una única vez
en cada ciclo de red después de almacenar toda la información en un vector de datos,
generando retrasos en la tarea de diagnóstico.
3. El cálculo recursivo basado en la curtosis permite realizar la tarea de diagnóstico en un

tiempo menor al que se propone en la literatura, y además se utiliza un único umbral
para todo el rango de irradiancias. En los trabajos reportados se utiliza la varianza para
detectar fallas en el control o en el sensor de corriente del inversor de salida, pero estos
análisis se realizan para una sola potencia de operación, y además no se realiza el cálculo
recursivo basado en este descriptor. Cuando se analizan varios rangos de irradiancias,
la información de la varianza deja de ser útil si se tiene en cuenta que se necesita un
umbral diferente para cada nivel de irradiancia.
4. La utilización de la derivada de los coecientes de tendencia de la transformada Wavelet

en el algoritmo de diagnóstico de fallas de circuito abierto del convertidor CD-CD,
permite obtener una técnica de diagnóstico que no tiene un alto grado de complejidad,
como es el caso de otras propuestas que se basan en modelos del sistema en el espacio de
Conclusiones 117
estados. Además, los costos por concepto de implementación en una plataforma digital
se reducen debido a que no se requiere de un procesador de alta gama.
5. Se emplean los coecientes de detalle del tercer nivel de descomposición de la transfor-

mada Wavelet para el diagnóstico de fallas de circuito abierto en los interruptores del
enlace de media frecuencia. Esto no se encuentra en la literatura.
Trabajos Futuros
• Construir un prototipo experimental basado en la topología propuesta.
• Aplicar el esquema de diagnóstico de fallas desarrollado al prototipo experimental.
• Diseñar un prototipo experimental de la topología propuesta en conguración multinivel.
• Desarrollar un esquema de diagnóstico de fallas para la topología en conguración mul-

tinivel.
• Proponer un esquema de reconguración de la topología en conguración multinivel que

emplee un esquema de diagnóstico de fallas como base.
Conclusiones 118
119
Bibliografía
[1] M. Ram, M. Child, A. Aghahosseini, D. BogdaNov, and A. Poleva. Comparing Electricity

Production Costs of Renewables to Fossil and Nuclear Power Plants in G20 Countries.
Greenpeace, 2017. (Citado en la p. 1.)
[2] P. Hacke, S. Lokanath, P. Williams, A. Vasan, P. Sochor, G. Tamizhmani, H. Shinohara,

and S. Kurtz. A Status Review of Photovoltaic Power Conversion Equipment Reliability,
Safety, and Quality Assurance Protocols. Renewable and Sustainable Energy Reviews,
82:10971112, Feb 2018. (Citado en las pp. 1, 2, 12 y 114.)
[3] I. S. Kim. On-Line Fault Detection Algorithm of A Photovoltaic System Using Wavelet
Transform. Solar Energy, 126:137145, Mar 2016. (Citado en las pp. 2, 21 y 114.)
[4] I. S. Kim. Fault Detection Algorithm of the Photovoltaic System Using Wavelet Trans-
form. In India International Conference on Power Electronics 2010 (IICPE2010), pages
16, 28-30 Jan 2011. (Citado en las pp. 2 y 21.)
[5] T. Suman, O. P. Mahela, and S. R. Ola. Detection of Transmission Line Faults in the
Presence of Solar PV Generation Using Discrete Wavelet. In 2016 IEEE 7th Power India
International Conference (PIICON), pages 16, 25-27 Nov 2016. (Citado en las pp. 2
y 19.)
[6] I. M. Karmacharya and R. Gokaraju. Fault Location in Ungrounded Photovoltaic System

Using Wavelets and ANN. IEEE Transactions on Power Delivery, PP(99):11, 2017.
(Citado en las pp. 2 y 18.)
[7] I. S. Kim. Islanding Detection Technique Using Wavelet Energy in Grid-Connected PV

System. International Journal of Electronics, 103(8):13811396, Aug 2016. (Citado en
la p. 3.)
[8] Z. Huang, Z. Wang, and H. Zhang. Multiple Open-Circuit Fault Diagnosis Based on
Multistate Data Processing and Subsection Fluctuation Analysis for Photovoltaic Inver-
ter. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 67(3):516526, Mar 2018.
(Citado en las pp. 3, 19 y 114.)
BIBLIOGRAFÍA 120
[9] M. Dhimish, V. Holmes, B. Mehrdadi, M. Dales, and P. Mather. Photovoltaic Fault

Detection Algorithm Based on Theoretical Curves Modelling and Fuzzy Classication
System. Energy, 140:276290, Dec 2017. (Citado en las pp. 3 y 20.)
[10] A. Livera, M. Theristis, G. Makrides, and G. E. Georghiou. On-Line Failure Diag-

nosis of Grid-Connected Photovoltaic Systems Based on Fuzzy Logic. IEEE 12th
In
International Conference on Compatibility, Power Electronics and Power Engineering
(CPE-POWERENG 2018), pages 16, 10-12 Apr 2018. (Citado en las pp. 3 y 19.)
[11] D. R. Espinoza-Trejo, E. Diez, E. Bárcenas, C. Verde, G. Espinosa-Pérez, and G. Bossio.
Model-Based Fault Detection and Isolation in a MPPT Boost Converter for Photovoltaic
Systems. In IECON 2016 - 42nd Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics
Society, pages 21892194, 23-26 Oct 2016. (Citado en las pp. 3, 6, 12, 15, 113 y 114.)
[12] Solar Generation 6. Solar Photovoltaic Electricity Empowering the World. Greenpeace.
EPIA, 2011. (Citado en la p. 5.)
[13] M. B. Marzuki, R. T. Naayagi, and V. T. Phan. Modelling and Simulation of Multilevel

Inverter for Grid Connected Photovoltaic System. In 2016 IEEE Region 10 Conference
(TENCON), pages 859863, 22-25 Nov 2016. (Citado en la p. 5.)
[14] B. Xiao, L. Hang, J. Mei, C. Riley, L. M. Tolbert, and B. Ozpineci. Modular Cascaded H-
Bridge Multilevel PV Inverter with Distributed MPPT for Grid-Connected Applications.
IEEE Transactions on Industry Applications, 51(2):17221731, Mar 2015. (Citado en las
pp. 5 y 9.)
[15] Annual Energy Outlook 2017. IEA, 2017. (Citado en la p. 5.)
[16] S. Essakiappan, H. S. Krishnamoorthy, P. Enjeti, R. S. Balog, and S. Ahmed. Multi-

level Medium-Frequency Link Inverter for Utility Scale Photovoltaic Integration. IEEE
Transactions on Power Electronics, 30(7):36743684, Jul 2015. (Citado en las pp. 5 y 8.)
[17] M. R. Islam, Y. Guo, and J. Zhu. A Multilevel Medium-Voltage Inverter for Step-
Up-Transformer-Less Grid Connection of Photovoltaic Power Plants. IEEE Journal of
Photovoltaics, 4(3):881889, May 2014. (Citado en las pp. 5 y 9.)
[18] M. K. Alam, F. Khan, J. Johnson, and J. Flicker. A Comprehensive Review of Catastrop-

hic Faults in PV Arrays: Types, Detection, and Mitigation Techniques. IEEE Journal of
Photovoltaics, 5(3):982997, May 2015. (Citado en las pp. 6 y 12.)
[19] R. Hariharan, M. Chakkarapani, G. Saravana Ilango, and C. Nagamani. A Method to

Detect Photovoltaic Array Faults and Partial Shading in PV Systems. IEEE Journal of
Photovoltaics, 6(5):12781285, Sep 2016. (Citado en la p. 6.)
[20] J. Johnson, B. Pahl, C. Luebke, T. Pier, T. Miller, J. Strauch, S. Kuszmaul, and W. Bo-
wer. Photovoltaic DC Arc Fault Detector Testing At Sandia National Laboratories. In
BIBLIOGRAFÍA 121
2011 37th IEEE Photovoltaic Specialists Conference, pages 003614003619, 19-24 Jun
2011. (Citado en la p. 6.)
[21] G. Wang, C. C. Youn, and A. M. Stankovic. DC-Side High Impedance Ground Fault
Detection for Transformerless Single-Phase PV Systems. In 2015 North American Power
Symposium (NAPS), pages 16, Oct 2015. (Citado en la p. 6.)
[22] Z. Yi and A. H. Etemadi. Fault Detection for Photovoltaic Systems Based on Multi-
Resolution Signal Decomposition and Fuzzy Inference Systems. IEEE Transactions on
Smart Grid, 8(3):12741283, May 2017. (Citado en las pp. 6 y 12.)
[23] T. Basso and N. Friedman. IEEE 1547 National Standard for Interconnecting Distribu-
ted Generation: How Could It Help My Facility. Journal Article NREL/JA-560-34875,
National Renewable Energy Laboratory, 2003. (Citado en la p. 6.)
[24] S. B. Kjaer, J. K. Pedersen, and F. Blaabjerg. A Review of Single-Phase Grid-

Connected Inverters for Photovoltaic Modules. IEEE Transactions on Industry Applica-
tions, 41(5):12921306, Sep 2005. (Citado en las pp. 6 y 7.)
[25] S. Z. Mohammad Noor, A. M. OMar, N. N. Mahzan, and I. R. Ibrahim. A Review of

In 2013 IEEE
Single-Phase Single Stage Inverter Topologies for Photovoltaic System.
4th Control and System Graduate Research Colloquium, pages 6974, Aug 2013. (Citado
en la p. 6.)
[26] I. D. Pharne and Y. N. Bhosale. A Review on Multilevel Inverter Topology. In 2013

International Conference on Power, Energy and Control (ICPEC), pages 700703, 6-8
Feb 2013. (Citado en la p. 6.)
[27] S. H. Shehadeh, H. H. Aly, and M. E. El-Hawary. Photovoltaic Multi-Level Inverters

2015 IEEE 28th Canadian Conference on Electrical and Computer Engi-
Technology. In
neering (CCECE), pages 648655, 3-6 May 2015. (Citado en la p. 6.)
[28] V. Vekhande and B. G. Fernandes. Central Multilevel Current-Fed Inverter with Module
Integrated DC-DC Converters for Grid-Connected PV Plant. In 2013 IEEE Energy
Conversion Congress and Exposition, pages 19331940, Sep 2013. (Citado en las pp. 7
y 8.)
[29] V. Garg, S. K. Sinha, and M. P. Dave. Phase Shifted PWM Cascaded Multilevel Inverter
for Solar PV Grid Integration. In 2016 IEEE 1st International Conference on Power
Electronics, Intelligent Control and Energy Systems (ICPEICES), pages 15, 4-6 Jul
[30] V. S. Prasadarao K, P. Sudha Rani, and G. Tabita. A New Multi Level Inverter Topology
for Grid Interconnection of PV Systems. In 2014 Power and Energy Systems: Towards
Sustainable Energy, pages 15, Mar 2014. (Citado en las pp. 7 y 9.)
BIBLIOGRAFÍA 122
[31] M. K. Lingam and P. Samuel. Grid Integration of PV System Using Marx Multilevel
Inverter. 2016 IEEE Uttar Pradesh Section International Conference on Electrical,
In
Computer and Electronics Engineering (UPCON), pages 647652, 9-11 Dec 2016. (Citado
en las pp. 7 y 9.)
[32] J. M. Sandoval, V. Cárdenas, M. A. Barrios, M. González, and A. Aganza Torres. Large

Scale Photovoltaic Structures with Medium-Frequency Isolation. In 2016 13th Interna-
tional Conference on Electrical Engineering, Computing Science and Automatic Control
(CCE), pages 16, 26-30 Sep 2016. (Citado en la p. 8.)
[33] X. Yan and A. Hamza. Control Strategy of Cascaded H-Bridge Inverter for Grid Con-
2014 IEEE Conference and Expo
nected with Solar Photovoltaic Conversion Systems. In
Transportation Electrication Asia-Pacic (ITEC Asia-Pacic), pages 15, 31 Aug-3
Sept 2014. (Citado en la p. 9.)
[34] S. Kouro, C. Fuentes, M. Perez, and J. Rodriguez. Single DC-Link Cascaded H-Bridge
Multilevel Multistring Photovoltaic Energy Conversion System with Inherent Balanced
Operation. In IECON 2012 - 38th Annual Conference on IEEE Industrial Electronics
Society, pages 49985005, 25-28 Oct 2012. (Citado en la p. 9.)
[35] G. Ramya and R. Ramaprabha. Switching Loss and THD Analysis of Modular Multilevel
Converter with Dierent Switching Frequency. In 2015 IEEE 11th International Confe-
rence on Power Electronics and Drive Systems, pages 336340, 9-12 Jun 2015. (Citado
en la p. 9.)
[36] R. Otero-De-Leon and N. Mohan. Full-Bridge Modular Multilevel Converter with High
Frequency Link for Photovoltaic Applications. In 2015 IEEE 24th International Sympo-
sium on Industrial Electronics (ISIE), pages 294299, Jun 2015. (Citado en la p. 9.)
[37] G. Brando, A. Dannier, A. Del Pizzo, and R. Rizzo. A High Performance Control Tech-
nique of Power Electronic Transformers in Medium Voltage Grid-Connected PV Plants.
In the XIX International Conference on Electrical Machines - ICEM 2010, pages 16,
6-8 Sep 2010. (Citado en la p. 9.)
[38] T. Janssen and H. Krishnaswami. Voltage and Current Control of A Multi-Port NPC
2016 IEEE 17th
Inverter Conguration for A Grid-Connected Photovoltaic System. In
Workshop on Control and Modeling for Power Electronics (COMPEL), pages 17, Jun
[39] M. Trabelsi, H. Abu-Rub, and B. Ge. 1-MW Quasi-Z-Source Based Multilevel PV Energy
Conversion System. In 2016 IEEE International Conference on Industrial Technology
(ICIT), pages 224229, 14-17 Mar 2016. (Citado en la p. 10.)
[40] D. Sun, B. Ge, F. Z. Peng, A. R. Haitham, D. Bi, and Y. Liu. A New Grid-Connected
PV System Based on Cascaded H-Bridge Quasi-Z Source Inverter. In 2012 IEEE Inter-
national Symposium on Industrial Electronics, pages 951956, May 2012. (Citado en la
p. 10.)
BIBLIOGRAFÍA 123
[41] W. Zhao, H. Choi, G. Konstantinou, M. Ciobotaru, and V. G. Agelidis. Cascaded H-

Bridge Multilevel Converter for Large-Scale PV Grid-Integration with Isolated DC-DC
Stage. In2012 3rd IEEE International Symposium on Power Electronics for Distributed
Generation Systems (PEDG), pages 849856, Jun 2012. (Citado en la p. 10.)
[42] A. K. Morya, A. Shukla, and S. Doolla. Control of Grid Connected Cascaded H-Bridge
Multilevel Converter During Grid Voltage Unbalance for Photovoltaic Application. In
IECON 2013 - 39th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society, pages
79907995, 10-13 Nov 2013. (Citado en la p. 10.)
[43] H. Choi, W. Zhao, M. Ciobotaru, and V. G. Agelidis. Large-Scale PV System Based on

the Multiphase Isolated DC/DC Converter. In 2012 3rd IEEE International Symposium
on Power Electronics for Distributed Generation Systems (PEDG), pages 801807, Jun
[44] A. A. R. F. E. Cardoso, N. C. Foureaux, J. A. S. Brito, and B. J. Cardoso F. Sic

Based Cascaded Multilevel Converter for Solar Applications: Downscaled Prototype De-
velopment. In2015 IEEE 13th Brazilian Power Electronics Conference and 1st Southern
Power Electronics Conference (COBEP/SPEC), pages 16, 29 Nov-2 Dec 2015. (Citado
en las pp. 10 y 11.)
[45] M. González, B. Raison, S. Bacha, and L. Bun. Fault Diagnosis in A Grid-Connected

Photovoltaic System By Applying A Signal Approach. In IECON 2011 - 37th Annual
Conference of the IEEE Industrial Electronics Society, pages 13541359, 7-10 Nov 2011.
(Citado en las pp. 12 y 18.)
[46] A. Drews, A.C. De Keizer, H.G. Beyer, E. Lorenz, J. Betcke, W.G.J.H.M. Van Sark,
W. Heydenreich, E. Wiemken, S. Stettler, P. Toggweiler, S. Bonger, M. Schneider,
G. Heilscher, and D. Heinemann. Monitoring and Remote Failure Detection of Grid-
Connected PV Systems Based on Satellite Observations. Solar Energy, 81(4):548564,
Apr 2007. (Citado en la p. 12.)
[47] U. Jahn and W. Nasse. Operational Performance of Grid-Connected PV Systems on

Buildings in Germany. Progress in Photovoltaics: Research and Applications, 12(6):441
448, 2004. (Citado en la p. 12.)
[48] J. A. Pecina Sánchez. Diagnóstico de Fallas en Convertidores Multinivel NPC para

Sistemas Fotovoltaicos Interconectados con la Red. Tesis de Doctorado, Feb 2017. (Citado
en las pp. 12 y 17.)
[49] S. Ceballos, J. Pou, E. Robles, I. Gabiola, J. Zaragoza, J. L. Villate, and D. Boroyevich.

Three-Level Converter Topologies with Switch Breakdown Fault-Tolerance Capability.
IEEE Transactions on Industrial Electronics, 55(3):982995, Mar 2008. (Citado en la
p. 12.)
BIBLIOGRAFÍA 124
[50] S. R. Madeti and S. N. Singh. A Comprehensive Study on Dierent Types of Faults and
Detection Techniques for Solar Photovoltaic System. Solar Energy, 158:161185, Dec
[51] C. Verde. Monitoreo y Diagnóstico Automático de Fallas en Sistemas Dinámicos. TRI-

LLAS, page 248, 2014. (Citado en las pp. 14, 51 y 62.)
[52] P. Jain, L. Jian, J. Poon, C. Spanos, S. R. Sanders, J. X. Xu, and S. K. Panda. A

Luenberger Observer-Based Fault Detection and Identication Scheme for Photovoltaic
DC-DC Converters. In IECON 2017 - 43rd Annual Conference of the IEEE Industrial
Electronics Society, pages 50155020, 29 Oct-1 Nov 2017. (Citado en las pp. 16 y 114.)
[53] Z. Cen and P. Stewart. Condition Parameter Estimation for Photovoltaic Buck Conver-
ters Based on Adaptive Model Observers. IEEE Transactions on Reliability, 66(1):148
160, Mar 2017. (Citado en la p. 16.)
[54] P. Jain, J. X. Xu, S. K. Panda, J. Poon, C. Spanos, and S. R. Sanders. Fault Diagnosis
via PV Panel-Integrated Power Electronics. pages 16. IEEE, Jun 2016. (Citado en las
pp. 16 y 114.)
[55] E. Ribeiro, A. J. M. Cardoso, and C. Boccaletti. Open-Circuit Fault Diagnosis in Inter-

leaved DC-DC Converters. IEEE Transactions on Power Electronics, 29(6):30913102,
Jun 2014. (Citado en la p. 16.)
[56] E. Jamshidpour, P. Poure, and S. Saadate. Photovoltaic Systems Reliability Improve-

ment By Real-Time FPGA-Based Switch Failure Diagnosis and Fault-Tolerant DC - DC
Converter. IEEE Transactions on Industrial Electronics, 62(11):72477255, Nov 2015.
(Citado en las pp. 17, 113 y 114.)
[57] K.O. Mtepele, J.A. Pecina-Sanchez, D.U. Campos-Delgado, and A.A. Valdez-Fernandez.
Open Circuit Fault Diagnosis Strategy for A Generalized N-Levels CHB Multilevel Con-
verters. Memories of Automatic Control National Congress, Sep 2016. (Citado en la
p. 17.)
[58] S. M. Jung, J. S. Park, H. W. Kim, K. Y. Cho, and M. J. Youn. An MRAS-Based

Diagnosis of Open-Circuit Fault in PWM Voltage-Source Inverters for PM Synchronous
Motor Drive Systems. IEEE Transactions on Power Electronics, 28(5):25142526, May
2013. (Citado en las pp. 17, 113 y 114.)
[59] N. M. A. Freire, J. O. Estima, and A. J. M. Cardoso. A Voltage-Based Approach Without

Extra Hardware for Open-Circuit Fault Diagnosis in Closed-Loop PWM AC Regenerative
Drives. IEEE Transactions on Industrial Electronics, 61(9):49604970, Sep 2014. (Citado
en la p. 18.)
BIBLIOGRAFÍA 125
[60] M. Dong, H. Dong, L. Wang, J. Yang, L. Li, and Y. Wang. A Simple Open-Circuit
Detection Strategy for A Single-Phase Grid-Connected PV Inverter Fed From Power Op-
timizers. IEEE Transactions on Power Electronics, 33(4):27982802, Apr 2018. (Citado
en las pp. 18 y 114.)
[61] V. F. Pires, D. Foito, and T. G. Amaral. Fault Detection and Diagnosis in A PV Grid-
Connected T-Type Three Level Inverter. pages 933937. IEEE, Nov 2015. (Citado en
las pp. 20 y 114.)
[62] S. G. Srivani and U. B. Vyas. Fault Detection of Switches in Multilevel Inverter Using
IEEE Transactions on Power Electronics, 7th International
Wavelet and Neural Network.
Conference on Power Systems (ICPS), page 6, 2017. (Citado en la p. 20.)
[63] H. T. Do, X. Zhang, N. V. Nguyen, S. S. Li, and T. T. T. Chu. Passive-Islanding

Detection Method Using the Wavelet Packet Transform in Grid-Connected Photovoltaic
Systems. IEEE Transactions on Power Electronics, 31(10):69556967, Oct 2016. (Citado
en las pp. 20 y 114.)
[64] S. Kundu, N. Gupta, and KuMar P. Review of Solar Photovoltaic Maximum Power Point
Tracking Techniques. In 2016 7th India International Conference on Power Electronics
(IICPE), pages 16, 17-19 Nov 2016. (Citado en la p. 24.)
[65] C. W. Priananda, A. Rajagukguk, D. C. Riawan, and M. Ashari. New Approach of

Maximum Power Point Tracking for Static Miniature Photovoltaic Farm Under Partially
Shaded Condition Based on New Cluster Topology. In 2017 15th International Conferen-
ce on Quality in Research (Qir): International Symposium on Electrical and Computer
Engineering, pages 444449, 24-27 Jul 2017. (Citado en la p. 24.)
[66] A. Sayal. MPPT Techniques for Photovoltaic System Under Uniform Insolation and
Partial Shading Conditions. In 2012 Students Conference on Engineering and Systems,
pages 16, 16-18 Mar 2012. (Citado en la p. 24.)
[67] N. Zinelaabidine, M. Karim, B. Bossou, and M. Taoussi. MPPT Algorithm Control for
Grid Connected PV Module. In 2017 International Conference on Advanced Technologies
for Signal and Image Processing (ATSIP), pages 16, 22-24 May 2017. (Citado en la
p. 24.)
[68] R. Teodorescu, M. Liserre, and P. Rodriguez. Grid Converters for Photovoltaic and Wind
Power Systems. Piscataway, N.J. : Chichester, West Sussex ; Hoboken, N.J, 2011. IEEE;
Wiley. (Citado en la p. 24.)
[69] H. Nademi, A. Elahidoost, and L. E. Norum. Comparative Analysis of Dierent MPPT

Schemes for Photovoltaic Integration of Modular Multilevel Converter. pages 15. IEEE,
Jun 2016. (Citado en la p. 24.)
BIBLIOGRAFÍA 126
[70] D. Gonzalez, C. A. Ramos-Paja, C. Carrejo, S. Serna, and A. Saavedra. Modeling and

Control of Grid-Connected Photovoltaic Systems for 100 Hz Oscillations Mitigation. In
2011 IEEE Second Latin American Symposium on Circuits and Systems (LASCAS),
pages 14, February 2011. (Citado en la p. 25.)
[71] H. Snani, M. Amarouayache, A. Bouzid, A. Lashab, and H. Bounechba. A Study of

Dynamic Behaviour Performance of DC/DC Boost Converter Used in the Photovoltaic
System. In Environment and Electrical Engineering (EEEIC), 15th International Con-
ference on, pages 19661971. IEEE, 10-13 Jun 2015. (Citado en las pp. 25 y 26.)
[72] F. Beltrame, H. C. Sartori, and J. R. Pinheiro. Analysis of Dierent Designs for the Boost
Power Electronics Conference and 1st Southern
Converter Applied to PV Systems. In
Power Electronics Conference (COBEP/SPEC), 13th Brazilian, pages 16. IEEE, 29
Nov-2 Dec 2015. (Citado en la p. 25.)
[73] A. Yazdani and R. Iravani. Voltage-Sourced Converters in Power Systems: Modeling,

Control, and Applications. Hoboken, N.J, 2010. IEEE Press John Wiley. (Citado en las
pp. 30, 31 y 35.)
[74] N. E. Zakzouk, A. K. Abdelsalam, A. A. Helal, and B. W. Williams. PV Single-Phase

Grid-Connected Converter: DC-Link Voltage Sensorless Prospective. IEEE Journal of
Emerging and Selected Topics in Power Electronics, 5(1):526546, Mar 2017. (Citado en
las pp. 38 y 89.)
[75] Y. Hu, W. Xiao, W. Cao, Y. Du, and S. Finney. DC-Link Voltage Control Strategy for
Reducing Capacitance and Total Harmonic Distortion in Single-Phase Grid-Connected
Photovoltaic Inverters. IET Power Electronics, 8(8):13861393, Aug 2015. (Citado en
las pp. 38 y 89.)
[76] J. Walker. A Primer on Wavelets and Their Scientic Applications, Second Edition.
volume 29 of Studies in Advanced Mathematics. Chapman and Hall/CRC, Jan 2008.
(Citado en la p. 52.)
[77] A. Yazdani and P. P. Dash. A Control Methodology and Characterization of Dynamics for
a Photovoltaic (PV) System Interfaced with a Distribution Network. IEEE Transactions
on Power Delivery, 24(3):15381551, Jul 2009. (Citado en la p. 89.)
[78] F. He, Z. Zhao, L. Yuan, and S. Lu. A DC-Link Voltage Control Scheme for Single-Phase
Grid-Connected PV Inverters. pages 39413945. IEEE, Energy Conversion Congress and
Exposition (ECCE), 2011. (Citado en la p. 89.)

Falla en SSFV

Cargado por

Copyright:

Formatos disponibles

Falla en SSFV

Cargado por

Información del documento

Descripción original:

Título original

Derechos de autor

Formatos disponibles

Compartir este documento

Compartir o incrustar documentos

Opciones para compartir

¿Le pareció útil este documento?

¿Este contenido es inapropiado?

Copyright:

Formatos disponibles

Falla en SSFV

Cargado por

Copyright:

Formatos disponibles

Universidad Autónoma de San Luis Potosí

“Diagnóstico de Fallas basado en Procesamiento de Señales para el

Que para obtener el grado de:

Maestro en Ingeniería Eléctrica

San Luis Potosí, S. L. P. Agosto de 2018

CIEP-FI-09 Rev. julio de 2018

Centro de Investigación y Estudios de Posgrado

Maestría en Ingeniería Eléctrica

Opción: Control Automático

Diagnóstico de Fallas basado en Procesamiento de Señales para el

Ing. Yuniel León Ruiz

Dr. Mario Arturo González García Dr. Ricardo Álvarez Salas

Dr. Homero Miranda Vidales

San Luis Potosí, S.L.P., agosto de 2018

Área de Investigación y Estudios de Posgrado

El presente trabajo que lleva por título:

“Diagnóstico de Fallas basado en Procesamiento de Señales para el Convertidor de Electrónica de Potencia

Nombre y Firma del autor

CIEP-FI-10 Rev. Junio 2017

A México y al Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología (CONACYT) por la beca otorgada.

A todos los que de una forma u otra me han apoyado, GRACIAS.

En este proyecto de tesis se proponen algoritmos de diagnóstico de fallas de circuito abierto

La esencia del esquema de diagnóstico de fallas consiste en comparar el comportamiento

1. Convertidor CD-CD: se utiliza la derivada de los coecientes de tendencia del primer

3. Inversor de salida: se considera la información de los coecientes de tendencia del primer

4. Inversor de salida: se diseña un segundo algoritmo basado en la curtosis de los coecientes

5. Enlace de media frecuencia e inversor de salida: se evalúa el signo de la derivada de los

Índice de guras xvii

Índice de tablas xxi

Simbología y acrónimos xxiii

1. Estado del arte y selección de una topología del convertidor de electrónica

1.2. Convertidores de potencia para sistemas fotovoltaicos . . . . . . . . . . . . . . 6

1.2.1. Topologías de convertidores y tendencias de soluciones encontradas en

1.2.2. Selección de una topología para el desarrollo de la tesis . . . . . . . . . 11

1.3. Diagnóstico de fallas en sistemas fotovoltaicos . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12

1.3.1. Condiciones de falla . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12

1.3.2. Fallas típicas en sistemas fotovoltaicos . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14

1.3.3. Técnicas de detección y aislamiento de fallas . . . . . . . . . . . . . . 14

1.3.3.1. Métodos generales de diagnóstico de fallas . . . . . . . . . . . 14

1.3.3.2. Métodos de diagnóstico de fallas en sistemas fotovoltaicos . . 15

1.3.3.3. Diagnóstico de fallas basado en modelos . . . . . . . . . . . . 15

1.3.3.4. Diagnóstico de fallas basado en procesamiento de señales . . 18

1.4. Diseño de la investigación . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22

2. Diseño del sistema de control automático 23

2.1.1. Algoritmo de extracción de la máxima potencia . . . . . . . . . . . . . 24

2.1.2. Diseño del controlador . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25

2.2. Diseño de los controladores del inversor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30

2.2.1. Sistema de control de la corriente . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31

2.2.2. Sistema de control de la tensión del bus de CD . . . . . . . . . . . . . 37

2.2.2.1. Diseño del controlador de la tensión . . . . . . . . . . . . . . 38

2.2.2.2. Estimador de la tensión del bus de CD . . . . . . . . . . . . 41

2.3. Sistema de control general . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47

3. Algoritmos para el diagnóstico de fallas en el convertidor de electrónica de

3.2. Fórmulas recursivas basadas en descriptores estadísticos . . . . . . . . . . . . 56

3.2.1. Cálculo recursivo del valor medio . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58

3.2.2. Cálculo recursivo del valor RM S . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59

3.2.2.1. Cálculo recursivo de la varianza . . . . . . . . . . . . . . . . 59

3.2.3. Fórmula inspirada en la ecuación general de la esperanza matemática . 61

1. Convertidor CD-CD: se utiliza la derivada de los coecientes de tendencia del primer

3. Inversor de salida: se considera la información de los coecientes de tendencia del primer

4. Inversor de salida: se diseña un segundo algoritmo basado en la curtosis de los coecientes

Índice de guras xvii

1.5. Clasicación de las fallas en el lado de CD y CA de un sistema fotovoltaico. . 14

2.2. Diagrama de ujo del algoritmo MPPT. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25

2.8. Diagrama de control simplicado para el diseño del controlador de corriente. . 32

2.24. Diagrama de ujo para el estimador del bus de CD. . . . . . . . . . . . . . . . 47

3.22. Comportamiento de los coecientes de tendencia cuando ocurre una falla de